执行修复操作的装置
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN114999560A

    公开(公告)日:2022-09-02

    申请号:CN202110670296.8

    申请日:2021-06-17

    Inventor: 李东范 郑亨洙

    Abstract: 本申请公开了执行修复操作的装置。该装置包括:启动控制电路,其被配置为:当执行第一启动操作时,通过从熔丝电路接收第一熔丝数据和熔丝信息来锁存所述第一熔丝数据,以及被配置为:当执行第二启动操作时,通过基于所述熔丝信息从所述熔丝电路接收第二熔丝数据来锁存所述第二熔丝数据;以及断裂控制电路,其被配置为通过基于所述熔丝信息使所述熔丝电路断裂来将故障地址储存为所述第二熔丝数据。

    用于生成操作电压的电子器件和电子系统

    公开(公告)号:CN115775587A

    公开(公告)日:2023-03-10

    申请号:CN202210035649.1

    申请日:2022-01-13

    Inventor: 李东范 郑亨洙

    Abstract: 本发明公开了用于生成操作电压的电子器件和电子系统。该电子器件可以包括:控制脉冲生成电路,其在测试时段期间基于参考码来选择性地生成第一控制脉冲和第二控制脉冲中的一个;以及电压控制码生成电路,其基于第一控制脉冲和第二控制脉冲对电压控制码的逻辑位组执行加法运算或减法运算,以设置操作电压的电压电平。

    存储器件
    3.
    发明授权

    公开(公告)号:CN107086046B

    公开(公告)日:2021-03-16

    申请号:CN201610862651.0

    申请日:2016-09-28

    Inventor: 尹泰植 李东范

    Abstract: 存储器件可以包括:包括多个对应的第一输入端子的多个第一感测放大器、包括多个对应的第二输入端子的多个第二感测放大器,多个第一感测放大器和第二感测放大器适用于将经由相应的多个第一输入端子和多个第二输入端子而接收到的数据放大,以及将放大的数据输出,所述放大的数据包括由多个第一感测放大器输出的第一数据和第二数据以及由多个第二感测放大器输出的第三数据和第四数据;多个第一管道锁存器,适用于以特定间隔来锁存和输出第一数据和第二数据;多个第二管道锁存器,适用于以特定间隔来锁存和输出第三数据和第四数据;以及输入/输出线,耦接到多个第一管道锁存器和多个第二管道锁存器,适用于输出第一、第二、第三和第四数据。

    存储器件
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN107086046A

    公开(公告)日:2017-08-22

    申请号:CN201610862651.0

    申请日:2016-09-28

    Inventor: 尹泰植 李东范

    Abstract: 存储器件可以包括:包括多个对应的第一输入端子的多个第一感测放大器、包括多个对应的第二输入端子的多个第二感测放大器,多个第一感测放大器和第二感测放大器适用于将经由相应的多个第一输入端子和多个第二输入端子而接收到的数据放大,以及将放大的数据输出,所述放大的数据包括由多个第一感测放大器输出的第一数据和第二数据以及由多个第二感测放大器输出的第三数据和第四数据;多个第一管道锁存器,适用于以特定间隔来锁存和输出第一数据和第二数据;多个第二管道锁存器,适用于以特定间隔来锁存和输出第三数据和第四数据;以及输入/输出线,耦接到多个第一管道锁存器和多个第二管道锁存器,适用于输出第一、第二、第三和第四数据。

    用于控制修复操作的半导体器件

    公开(公告)号:CN115705902A

    公开(公告)日:2023-02-17

    申请号:CN202210008870.8

    申请日:2022-01-06

    Abstract: 本公开涉及用于控制修复操作的半导体器件。该半导体器件包括标志生成电路,该标志生成电路被配置为:接收根据基于熔丝组选择信号从熔丝组中选择的熔丝组所生成的区域熔丝数据和使用熔丝数据,以及基于区域熔丝数据和使用熔丝数据来生成存储体资源标志以控制对尚未被执行修复操作的存储体的修复操作。半导体器件还包括修复控制电路,该修复控制电路被配置为基于存储体资源标志来控制对共用熔丝组的存储体的修复操作。

    配置成执行测试操作的装置

    公开(公告)号:CN114913909A

    公开(公告)日:2022-08-16

    申请号:CN202110664163.X

    申请日:2021-06-16

    Inventor: 郑亨洙 李东范

    Abstract: 本公开涉及配置成执行测试操作的装置。装置包括:选择数据生成电路,被配置为根据是否进入故障测试而从熔丝数据生成选择数据或生成具有预设测试输入图案的选择数据;以及故障标志生成电路,被配置为通过锁存选择数据来生成锁存数据,并通过检测锁存数据是否具有预设测试图案来生成故障标志。

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