公开(公告)号：CN102645295B

公开(公告)日：2014-08-13

申请号：CN201210099852.1

申请日：2012-04-06

Applicant: 王伟中

Inventor： 王伟中 ,  黄吉宏 ,  宋泊锜 ,  陈维仁 ,  赖冠廷

IPC: G01L1/24

CPC classification number: G01L1/24 ,  G01L1/241 ,  G01N21/23

Abstract: 一种量化材料未知应力与残余应力的装置，用于量化一待测物的未知应力与残余应力，该装置包括：一光源、一偏光镜、一第一四分之一波片、一标准试片、一第二四分之一波片、一检光镜、一施载单元、一光谱仪及一检测模块；该光源用于产生多波长或单波长之光；该偏光镜设置于该光源前方，且其一面面对该光源以使光产生偏振；该第一四分之一波片设置于该偏光镜前方，且其一面面对该光源以使光产生圆偏振；本发明还揭露量化材料未知应力与残余应力的方法。

公开(公告)号：CN102645295A

公开(公告)日：2012-08-22

申请号：CN201210099852.1

申请日：2012-04-06

Applicant: 王伟中

Inventor： 王伟中 ,  黄吉宏 ,  宋泊锜 ,  陈维仁 ,  赖冠廷

IPC: G01L1/24

CPC classification number: G01L1/24 ,  G01L1/241 ,  G01N21/23

Abstract: 一种量化材料未知应力与残余应力的装置，用于量化一待测物的未知应力与残余应力，该装置包括：一光源、一偏光镜、一第一四分之一波片、一标准试片、一第二四分之一波片、一检光镜、一施载单元、一光谱仪及一检测模块；该光源用于产生多波长或单波长之光；该偏光镜设置于该光源前方，且其一面面对该光源以使光产生偏振；该第一四分之一波片设置于该偏光镜前方，且其一面面对该光源以使光产生圆偏振；本发明还揭露量化材料未知应力与残余应力的方法。