公开(公告)号：CN104792272B

公开(公告)日：2018-01-30

申请号：CN201410217328.9

申请日：2014-05-22

Applicant: 王伟中

Inventor： 王伟中 ,  黄吉宏 ,  宋泊锜 ,  李孟修

IPC: G01B11/06

CPC classification number: G01B11/0675

Abstract: 一种厚度在线实时检测的光学干涉装置，包括光源，用以产生高同调性点扩束的球面光波；屏幕，设置于该光源前方，用以将高同调性点扩束的球面光波自斜向角度照射一待测试件时产生的干涉条纹成像于其上；影像撷取单元，设置于该屏幕前方，用以撷取该屏幕上的干涉条纹并转换为数字影像；以及影像处理模块，与该影像撷取单元连结，用以分析干涉条纹的数字影像并进行数值计算，以取得该待测试件的全场厚度分布。如此，利用高同调性点扩束的球面光波以斜向角度照射待测试件进行瞬时且大范围面积的全场厚度量测，适用于实时在线检测，符合快速在线检测的量测时间短及范围大等要求，对待测试件以非接触及非破坏性方式进行量测。

公开(公告)号：CN102645295A

公开(公告)日：2012-08-22

申请号：CN201210099852.1

申请日：2012-04-06

Applicant: 王伟中

Inventor： 王伟中 ,  黄吉宏 ,  宋泊锜 ,  陈维仁 ,  赖冠廷

IPC: G01L1/24

CPC classification number: G01L1/24 ,  G01L1/241 ,  G01N21/23

Abstract: 一种量化材料未知应力与残余应力的装置，用于量化一待测物的未知应力与残余应力，该装置包括：一光源、一偏光镜、一第一四分之一波片、一标准试片、一第二四分之一波片、一检光镜、一施载单元、一光谱仪及一检测模块；该光源用于产生多波长或单波长之光；该偏光镜设置于该光源前方，且其一面面对该光源以使光产生偏振；该第一四分之一波片设置于该偏光镜前方，且其一面面对该光源以使光产生圆偏振；本发明还揭露量化材料未知应力与残余应力的方法。

公开(公告)号：CN104792272A

公开(公告)日：2015-07-22

申请号：CN201410217328.9

申请日：2014-05-22

Applicant: 王伟中

Inventor： 王伟中 ,  黄吉宏 ,  宋泊锜 ,  李孟修

IPC: G01B11/06

CPC classification number: G01B11/0675

Abstract: 一种厚度在线实时检测的光学干涉装置，包括光源，用以产生高同调性点扩束的球面光波；屏幕，设置于该光源前方，用以将高同调性点扩束的球面光波自斜向角度照射一待测试件时产生的干涉条纹成像于其上；影像撷取单元，设置于该屏幕前方，用以撷取该屏幕上的干涉条纹并转换为数字影像；以及影像处理模块，与该影像撷取单元连结，用以分析干涉条纹的数字影像并进行数值计算，以取得该待测试件的全场厚度分布。如此，利用高同调性点扩束的球面光波以斜向角度照射待测试件进行瞬时且大范围面积的全场厚度量测，适用于实时在线检测，符合快速在线检测的量测时间短及范围大等要求，对待测试件以非接触及非破坏性方式进行量测。

公开(公告)号：CN102645295B

公开(公告)日：2014-08-13

申请号：CN201210099852.1

申请日：2012-04-06

Applicant: 王伟中

Inventor： 王伟中 ,  黄吉宏 ,  宋泊锜 ,  陈维仁 ,  赖冠廷

IPC: G01L1/24

CPC classification number: G01L1/24 ,  G01L1/241 ,  G01N21/23

Abstract: 一种量化材料未知应力与残余应力的装置，用于量化一待测物的未知应力与残余应力，该装置包括：一光源、一偏光镜、一第一四分之一波片、一标准试片、一第二四分之一波片、一检光镜、一施载单元、一光谱仪及一检测模块；该光源用于产生多波长或单波长之光；该偏光镜设置于该光源前方，且其一面面对该光源以使光产生偏振；该第一四分之一波片设置于该偏光镜前方，且其一面面对该光源以使光产生圆偏振；本发明还揭露量化材料未知应力与残余应力的方法。