公开(公告)号：CN106164635A

公开(公告)日：2016-11-23

申请号：CN201580019444.2

申请日：2015-04-13

Applicant: 富士胶片株式会社

Inventor： 林卓弘

IPC: G01L1/24 ,  G01L1/00

CPC classification number: G01L1/241 ,  B32B7/06 ,  B32B7/12 ,  B32B15/082 ,  B32B15/085 ,  B32B15/088 ,  B32B15/09 ,  B32B15/092 ,  B32B15/20 ,  B32B23/04 ,  B32B23/042 ,  B32B27/08 ,  B32B27/16 ,  B32B27/18 ,  B32B27/281 ,  B32B27/304 ,  B32B27/308 ,  B32B27/32 ,  B32B27/325 ,  B32B27/36 ,  B32B27/365 ,  B32B2250/02 ,  B32B2250/03 ,  B32B2250/04 ,  B32B2250/05 ,  B32B2250/44 ,  B32B2307/202 ,  B32B2307/306 ,  B32B2307/40 ,  B32B2307/412 ,  B32B2307/416 ,  B32B2307/422 ,  B32B2307/51 ,  B32B2307/516 ,  B32B2307/518 ,  B32B2307/584 ,  B32B2307/706 ,  B32B2307/708 ,  B32B2307/7242 ,  B32B2307/732 ,  C08G61/00 ,  C08G61/08 ,  C08G2261/3325 ,  C08G2261/418 ,  G01B11/16

Abstract: 通过本发明，可提供应力测定方法、包含上述直线偏振膜和上述相位差膜的应力测定用构件、以及包含上述应力测定用构件和包含光弹性层的应力显示构件的应力测定用装置，所述应力测定方法是包括对包含被测定物的具有光弹性的物品照射依次透过直线偏振膜和相位差膜后的光的工序、及依次隔着上述相位差膜和上述直线偏振膜检测来源于上述光的由上述物品反射的反射光的工序的应力测定方法，上述相位差膜的在波长为550nm的光下的面内延迟Re(550)满足100nm≤Re(550nm)≤700nm，上述相位差膜的在波长为450nm的光下的面内延迟Re(450)满足Re(450)/Re(550)≥0.9。

公开(公告)号：CN102648405A

公开(公告)日：2012-08-22

申请号：CN201080052086.2

申请日：2010-11-19

Applicant: 独立行政法人产业技术综合研究所

Inventor： 坂井一文 ,  野中一洋 ,  山口信介

IPC: G01N21/956 ,  H01L21/66

CPC classification number: G01N21/9505 ,  G01L1/241 ,  G01N21/21 ,  H01L22/12 ,  H01L2924/0002 ,  H01L2924/00

Abstract: 一种检查缺陷的方法、进行缺陷检查后的晶圆或者使用该晶圆制造的半导体元件、晶圆或者半导体元件的质量管理方法以及缺陷检查装置。通过偏振器（8）对来自光源装置（7）的光赋予了偏振光后向被检查体（W）倾斜入射，对其散射光使用配置在暗视场且具有偏振光分离元件（12）的CCD摄像装置（10）进行拍摄，基于得到的P偏振光分量图像与S偏振光分量图像，求出偏振光分量强度、和作为它们的比的偏振光方向。根据通过在未对被检查体施加应力的状态下与对被检查体施加静荷重而在被检查体的光照射侧的面上施加了作为拉伸应力的静应力的状态下的拍摄而得到的图像，求出偏振光分量强度、偏振光方向，通过与规定的阈值进行对比来进行缺陷的检测、分类。能够高精度地检测被检查体的内部析出物、空洞缺陷、表面的异物或者划伤、表层的裂缝的缺陷，能够通过确定缺陷的种类对缺陷进行分类。通过对半导体元件制作用晶圆检查缺陷，进行质量管理，使得不良品大幅度地减少。

公开(公告)号：CN106928657A

公开(公告)日：2017-07-07

申请号：CN201710159052.7

申请日：2017-03-17

Applicant: 河南理工大学

Inventor： 刘希亮 ,  郭佳奇 ,  王建华 ,  龚健 ,  罗静 ,  于建新 ,  许来斌

IPC: C08L63/00 ,  C08L67/00 ,  C08K5/12 ,  C08G59/42 ,  G01L1/24 ,  B29C35/02 ,  B29C33/38

CPC classification number: C08L63/00 ,  B29C33/38 ,  B29C35/02 ,  C08G59/4207 ,  G01L1/241 ,  C08L67/00 ,  C08K5/12

Abstract: 本发明公开了一种用于光弹实验测试的环氧树脂板的生产方法，该方法以环氧树脂、顺丁烯二酸酐为、邻苯二甲酸二丁酯和聚酯树脂作为原料，通过对原料用量的调配，并优化混合原料的固化工艺，能够制得不同性能的环氧树脂板。本发明方法简单，原材料丰富，易生产，光学灵敏度高，透明度好，时间边缘效应小，能制作出弹性模量从1.29MPa～57.32MPa，泊松比从0.35～0.68的新型环氧树脂光弹性材料，可用来制作机械、水利、土木等工程中的结构相似模型，是平面应力模型光弹性实验的优良材料。

公开(公告)号：CN106052914A

公开(公告)日：2016-10-26

申请号：CN201610580204.6

申请日：2016-07-21

Applicant: 清华大学

Inventor： 孙富春 ,  方斌 ,  张春 ,  郭峰 ,  刘华平 ,  杨超

IPC: G01L1/24 ,  B25J13/08

CPC classification number: G01L1/24 ,  B25J13/084 ,  G01L1/241

Abstract: 本发明涉及一种基于视觉的触觉测量传感器，属于机器人传感器技术领域。基于视觉的触觉传感器包括图像采集摄像头、带标记点的弹性体、发光二极管等以及必要的结构组件，采用半导体工艺和微机械加工技术做成。当传感器与物体的直接接触时，弹性体会受力产生形变，标记点相应的会发生位移，由图像采集摄像头捕捉标记点位移前后的图像信息。通过施加力前后的图像信息的对比，计算标记点的位移信息，再利用弹性原理由标记点位移信息计算出传感器的受力情况。本发明设计的基于视觉的触觉传感器能够提供触觉、滑觉、压觉等三维力信息的测量，能应用于机器人灵巧手的触觉感知领域。

公开(公告)号：CN105938031A

公开(公告)日：2016-09-14

申请号：CN201610232929.6

申请日：2016-04-15

Applicant: 上海洞舟实业有限公司

Inventor： 郑岩 ,  陈磊 ,  郭素文 ,  梁志琴 ,  陈佳 ,  段科 ,  杨明 ,  边静宇 ,  耿树范 ,  费运启 ,  赵谡龄 ,  孟立建 ,  李长胜 ,  张其胜

IPC: G01L1/24

CPC classification number: G01L1/241

Abstract: 一种压力发光传感器薄膜，它包括含有高灵敏压力弹性形变发光材料与弹性树脂橡胶的混合发光材料薄膜，其特征在于：高灵敏压力发光材料与弹性树脂橡胶均匀混合，再制备成0.01毫米到10毫米厚度薄膜，其具有弹性伸缩特性，当有外力作用于发光材料薄膜表面时发射出高强度可见光。

公开(公告)号：CN105283744A

公开(公告)日：2016-01-27

申请号：CN201380077247.7

申请日：2013-06-05

Applicant: EV集团E·索尔纳有限责任公司

Inventor： B.波瓦扎伊 ,  A.派克

IPC: G01L1/24 ,  G01L1/25 ,  H01L21/66

CPC classification number: G01L1/242 ,  G01L1/24 ,  G01L1/241 ,  G01L1/247 ,  G01L1/25 ,  G01L5/0047 ,  G01L9/0076 ,  G01L11/02 ,  G01N23/046 ,  G01N2021/1787 ,  G01N2223/419 ,  G06F3/0325 ,  G06F3/041 ,  G06F3/042 ,  G06F3/0421 ,  G06F3/0423 ,  G06F3/0428 ,  G06F2203/04109 ,  H01L22/12

Abstract: 本发明涉及一种用于确定在将压力施加至第一压力体(5)与第二压力体(6)之间的至少一个测量层(3)的情况下的压力地图的测量装置，其具有：至少一个发射器(7)，其布置在该测量层(3)的周边边缘(3u)上，以沿贯穿该测量层(3)延伸的第一信号路段及贯穿该测量层(3)延伸的至少一个其它信号路段来发射电磁波形式的信号；至少一个接收器(8)，其布置在该周边边缘(3u)上，以接收一个或多个第一信号路段及其它信号路段的信号(9)，该信号穿过该测量层(3)由该发射器发送，且可在施加压力时改变。此外，本发明涉及一种相应的方法。

公开(公告)号：CN102645295A

公开(公告)日：2012-08-22

申请号：CN201210099852.1

申请日：2012-04-06

Applicant: 王伟中

Inventor： 王伟中 ,  黄吉宏 ,  宋泊锜 ,  陈维仁 ,  赖冠廷

IPC: G01L1/24

CPC classification number: G01L1/24 ,  G01L1/241 ,  G01N21/23

Abstract: 一种量化材料未知应力与残余应力的装置，用于量化一待测物的未知应力与残余应力，该装置包括：一光源、一偏光镜、一第一四分之一波片、一标准试片、一第二四分之一波片、一检光镜、一施载单元、一光谱仪及一检测模块；该光源用于产生多波长或单波长之光；该偏光镜设置于该光源前方，且其一面面对该光源以使光产生偏振；该第一四分之一波片设置于该偏光镜前方，且其一面面对该光源以使光产生圆偏振；本发明还揭露量化材料未知应力与残余应力的方法。

公开(公告)号：CN101400977A

公开(公告)日：2009-04-01

申请号：CN200780008442.9

申请日：2007-03-06

Applicant: 独立行政法人产业技术综合研究所

Inventor： 徐超男 ,  寺崎正 ,  今井祐介 ,  山田浩志

IPC: G01L1/24

CPC classification number: G01L1/241

Abstract: 提供一种用于记录应力历史的应力历史记录系统，其包括：包含根据机械性外力而发光的应力发光材料的发光装置；以及记录因来自该发光装置的发光而发生的光反应的历史的记录装置。这样，实现了采用应力发光材料的记录应力历史的技术。

公开(公告)号：CN106662491B

公开(公告)日：2019-07-09

申请号：CN201580029402.7

申请日：2015-06-02

Applicant: 学校法人冲绳科学技术大学院大学学园

Inventor： M·M·班迪 ,  M·文卡德森 ,  S·D·曼德雷

IPC: G01L1/24 ,  G01L1/00

CPC classification number: G01L1/241 ,  B25J13/081

Abstract: 用于基于光弹性法获得力的系统和方法。提供了用于获得力的方法和系统，其中所述系统包括由光弹性材料制成的具有多个表面的块体、以及一个或多个在块体周围配置的偏光器，所述多个表面包括第一表面，在所述第一表面上物体正在向块体施加力，并且其中所述方法包括通过同时地使用三个偏光器来测量光弹性强度并且在时间上顺序地获得每一组光弹性强度以获得一系列测得的光弹性强度、以及基于与测得的和预测的光弹性强度之间的差异相关的量通过使用优化方法获得力。

公开(公告)号：CN107870267A

公开(公告)日：2018-04-03

申请号：CN201611175005.3

申请日：2016-12-19

Applicant: 现代自动车株式会社

Inventor： 李相欣 ,  全成熏 ,  李韩柱 ,  张铉煜 ,  李基镇 ,  韩道锡

IPC: G01R29/10 ,  G01R29/08

CPC classification number: G02B27/286 ,  G01L1/241 ,  G02F1/009 ,  G02F1/0131 ,  G02F1/0136 ,  G01R29/10 ,  G01R29/0885

Abstract: 本发明涉及一种成像系统，包括：安装在天线模块周围的指示器，其中，指示器的光学特性根据由天线模块形成的电磁场而改变；成像装置，用于对指示器的光学特性的改变进行成像；发射器，用于朝向天线模块辐射无线电波；和接收器，用于从天线模块接收信号。