公开(公告)号：CN117940733A

公开(公告)日：2024-04-26

申请号：CN202280060967.1

申请日：2022-09-08

Applicant: 瑞尼斯豪公司

Inventor： 杰米·约翰·白金汉 ,  M·J·A·赫姆斯 ,  史蒂芬·爱德华·卢默斯

IPC: G01B5/012 ,  G01B7/016

Abstract: 描述了一种用于坐标定位设备(比如机床)的扫描探针，该扫描探针包括探针本体，该探针本体通过应变感测结构(100)连接到触针支架(102)。应变感测结构具有内部部分(202)，该内部部分通过多个可弯折构件(204)连接到外部部分(200)。每个可弯折构件(204)的近侧端部(220)附接到内部部分(202)，每个可弯折构件(204)的远侧端部(222)附接到外部部分(200)。内部部分和外部部分(200，202)以中心轴线为中心，并且多个可弯折构件(204)包括至少一个应变感测元件(210)。每个可弯折构件(204)的近侧端部和远侧端部(220，222)绕中心轴线以不同角度定位。这种布置使得能够获取扫描测量和接触触发式测量两者。

公开(公告)号：CN112469957A

公开(公告)日：2021-03-09

申请号：CN201980027915.2

申请日：2019-04-23

Applicant: 瑞尼斯豪公司

Inventor： 史蒂芬·爱德华·卢默斯 ,  M·J·A·赫姆斯

IPC: G01B1/00 ,  G01B5/012 ,  G01B7/012 ,  G01B5/28 ,  G01B7/34

Abstract: 描述了一种表面光洁度触针(50)，该表面光洁度触针包括长形触针轴(52；100)、以及从该长形轴突出的用于接触待测量的表面的接触元件(56；102)。该接触元件(56；102)是可变形的，并且该触针轴包括用于固持该接触元件(56；102)的夹具，该接触元件(56；102)通过夹具而变形。该接触元件(56；102)可以包括金属，例如铬钢或镍钛诺。该接触元件(56；102)包括一个或多个弱化区域(82)，以在被夹具固持时引起所需要的变形。该表面光洁度触针(50)可以与表面光洁度测量测头(20)等一起使用。

公开(公告)号：CN112292576A

公开(公告)日：2021-01-29

申请号：CN201980027603.1

申请日：2019-04-23

Applicant: 瑞尼斯豪公司

Inventor： 史蒂芬·爱德华·卢默斯 ,  M·J·A·赫姆斯

IPC: G01B7/34 ,  G01B5/28

Abstract: 描述了一种用于多向扫描探测头(22)的表面光洁度触针(50；190)。该触针包括具有纵向轴线(L)的长形触针轴(52；120；140)以及从长形轴(52；120；140)突出的用于接触待测量的表面(70，72)的一个或多个接触元件(56；124，126；144，146，148；196，198)。一个或多个接触元件(56；124，126；144，146，148；196，198)被配置成能够在相对于表面(70，72)沿与纵向轴线(L)不平行的测量方向(M1，M2；M3)移动触针轴(52；120；140)期间测量表面光洁度。多向扫描探测头(22)可以由坐标测量机或机床承载。还描述了相关联的方法。

公开(公告)号：CN116604402A

公开(公告)日：2023-08-18

申请号：CN202310568896.2

申请日：2019-04-23

Applicant: 瑞尼斯豪公司

Inventor： 史蒂芬·爱德华·卢默斯 ,  M·J·A·赫姆斯

IPC: B23Q17/20 ,  G01B7/34 ,  G01B5/28

Abstract: 描述了一种用于多向扫描探测头(22)的表面光洁度触针(50；190)。该触针包括具有纵向轴线(L)的长形触针轴(52；120；140)以及从长形轴(52；120；140)突出的用于接触待测量的表面(70，72)的一个或多个接触元件(56；124，126；144，146，148；196，198)。一个或多个接触元件(56；124，126；144，146，148；196，198)被配置成能够在相对于表面(70，72)沿与纵向轴线(L)不平行的测量方向(M1，M2；M3)移动触针轴(52；120；140)期间测量表面光洁度。多向扫描探测头(22)可以由坐标测量机或机床承载。还描述了一种用于获取表面光洁度测量值的多向扫描探测头和使用所述的多向扫描探测头来测量物体的表面光洁度的方法。

公开(公告)号：CN112469957B

公开(公告)日：2022-10-14

申请号：CN201980027915.2

申请日：2019-04-23

Applicant: 瑞尼斯豪公司

Inventor： 史蒂芬·爱德华·卢默斯 ,  M·J·A·赫姆斯

IPC: G01B1/00 ,  G01B5/012 ,  G01B7/012 ,  G01B5/28 ,  G01B7/34

Abstract: 描述了一种表面光洁度触针(50)，该表面光洁度触针包括长形触针轴(52；100)、以及从该长形轴突出的用于接触待测量的表面的接触元件(56；102)。该接触元件(56；102)是可变形的，并且该触针轴包括用于固持该接触元件(56；102)的夹具，该接触元件(56；102)通过夹具而变形。该接触元件(56；102)可以包括金属，例如铬钢或镍钛诺。该接触元件(56；102)包括一个或多个弱化区域(82)，以在被夹具固持时引起所需要的变形。该表面光洁度触针(50)可以与表面光洁度测量测头(20)等一起使用。