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公开(公告)号：CN114509757B
公开(公告)日：2023-07-18
申请号：CN202210026245.6
申请日：2022-01-11
Applicant: 电子科技大学 , 电子科技大学长三角研究院(湖州)
Abstract: 本发明公开了一种腔体内二次诱发无源互调源的甄别与筛选方法，属于无源互调检测与定位技术领域。本发明所述方法主要包括以下步骤：将待测相控阵模块置入金属腔体中，启动待测相控阵模块，利用金属腔体内部底面的天线阵列接收信号；对天线阵列接收的信号进行电磁成像并读取PIM源的位置；将可调散射体组成平面阵列放至金属腔体内部侧面和/或顶面；再次启动待测相控阵模块，读取PIM源的位置；对比两次读取的PIM源的位置，重复存在的PIM源作为待测相控阵模块自身固有产生的PIM源。本发明所述方法采用无源的散射体阵列可以有效地筛选出腔体内二次诱发PIM源，无需在基于时间反演的电磁成像方法中加入其他优化方法，普适性强、成本低且操作简单。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN114509757A
公开(公告)日：2022-05-17
申请号：CN202210026245.6
申请日：2022-01-11
Applicant: 电子科技大学 , 电子科技大学长三角研究院(湖州)
Abstract: 本发明公开了一种腔体内二次诱发无源互调源的甄别与筛选方法，属于无源互调检测与定位技术领域。本发明所述方法主要包括以下步骤：将待测相控阵模块置入金属腔体中，启动待测相控阵模块，利用金属腔体内部底面的天线阵列接收信号；对天线阵列接收的信号进行电磁成像并读取PIM源的位置；将可调散射体组成平面阵列放至金属腔体内部侧面和/或顶面；再次启动待测相控阵模块，读取PIM源的位置；对比两次读取的PIM源的位置，重复存在的PIM源作为待测相控阵模块自身固有产生的PIM源。本发明所述方法采用无源的散射体阵列可以有效地筛选出腔体内二次诱发PIM源，无需在基于时间反演的电磁成像方法中加入其他优化方法，普适性强、成本低且操作简单。
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公开(公告)号：CN116722891A
公开(公告)日：2023-09-08
申请号：CN202310290950.1
申请日：2023-03-23
Applicant: 电子科技大学长三角研究院(湖州)
IPC: H04B1/7097 , H04L25/02 , H04B7/185 , H04L27/00
Abstract: 本发明提供了一种卫星通信系统的无源互调对消方法、装置。通过基于卫星通信的扩频码、调制方式初估计出本地的三阶PIM参考信号，将PIM参考信号发送至接收机；对接收机接收的PIM信号做FFT计算，获取PIM信号的频率，用以估计频偏后的PIM信号频率；对所接收的PIM信号与PIM参考信号进行互相关计算，从而估计PIM信号的时延；根据PIM信号的频偏、以及PIM信号的时延，补偿至PIM参考信号，采用最小均方LMS算法重构真实的PIM信号对PIM干扰信号进行抑制；将LMS算法重构的PIM信号相位反转，输入至接收机中，完成PIM干扰信号的对消。通过给出了复杂卫星通信信道传输下的冲击响应估计，更利于重构PIM信号，算法简单。
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公开(公告)号：CN114844776A
公开(公告)日：2022-08-02
申请号：CN202210430587.4
申请日：2022-04-22
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于时间反演时域特性的电磁成像定位方法及装置，属于故障辐射源电磁成像定位技术领域。本发明所述方法主要包括以下步骤：辐射源发射信号，时间反演镜接收辐射信号，进行时间反转后辐射出去，对时间反演镜进行子阵列划分并记录待测件处的时域回传电场，对时域回传电场进行预处理和归一化处理后，定义空间成像谱，进而找到故障源的空间位置。本发明所述方法及装置能够在多散射体的复杂环境下，利用时间反演镜各个阵元回传信号在辐射源处产生的回传电场能够在同一时刻达到聚焦峰值，在非辐射源处无法在同一时刻达到峰值的时间反演时域聚焦同步性与对称性对辐射源进行超分辨成像定位。
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公开(公告)号：CN114844776B
公开(公告)日：2023-04-18
申请号：CN202210430587.4
申请日：2022-04-22
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于时间反演时域特性的电磁成像定位方法及装置，属于故障辐射源电磁成像定位技术领域。本发明所述方法主要包括以下步骤：辐射源发射信号，时间反演镜接收辐射信号，进行时间反转后辐射出去，对时间反演镜进行子阵列划分并记录待测件处的时域回传电场，对时域回传电场进行预处理和归一化处理后，定义空间成像谱，进而找到故障源的空间位置。本发明所述方法及装置能够在多散射体的复杂环境下，利用时间反演镜各个阵元回传信号在辐射源处产生的回传电场能够在同一时刻达到聚焦峰值，在非辐射源处无法在同一时刻达到峰值的时间反演时域聚焦同步性与对称性对辐射源进行超分辨成像定位。
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公开(公告)号：CN119125858A
公开(公告)日：2024-12-13
申请号：CN202411285257.6
申请日：2024-09-13
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01R31/3185 , G01R31/317
Abstract: 该发明公开了一种针对FPGA云系统的无环低功率的硬件缺陷检测电路，涉及FPGA硬件安全领域。本发明针对FPGA云系统的无环低功率的硬件缺陷检测电路可以成功地躲避FPGA云系统的结构检测(即，环型振荡器和高扇出节点)和动态监控(即，时实的功率和温度)，对FPGA云系统中的硬件缺陷进行有效的检测。此外，由于本发明限制了检测电路在FPGA上的消耗的功率和产生的温度，所以检测电路对FPGA云系统没有损害。
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