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公开(公告)号:CN102798832B
公开(公告)日:2014-12-31
申请号:CN201110139844.0
申请日:2011-05-27
Applicant: 美新半导体(无锡)有限公司
IPC: G01R35/00
Abstract: 本发明涉及一种磁传感器测试方法及其系统,其为将待测磁传感器的X轴与地磁场方向平行,使用校准过的磁传感器测试装置读出待测磁传感器的X轴的输出,然后根据测试获得的输出数据计算得出待测磁传感器X轴的偏置输出和灵敏度。本发明涉及的磁传感器测试方法及其系统,利用地球磁场进行测试,极大地降低了磁传感器的生产成本,同时还提高了测试效率,有利于磁传感器的大规模生产和普及。
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公开(公告)号:CN102798832A
公开(公告)日:2012-11-28
申请号:CN201110139844.0
申请日:2011-05-27
Applicant: 美新半导体(无锡)有限公司
IPC: G01R35/00
Abstract: 本发明涉及一种磁传感器测试方法及其系统,其为将待测磁传感器的X轴与地磁场方向平行,使用校准过的磁传感器测试装置读出待测磁传感器的X轴的输出,然后根据测试获得的输出数据计算得出待测磁传感器X轴的偏置输出和灵敏度。本发明涉及的磁传感器测试方法及其系统,利用地球磁场进行测试,极大地降低了磁传感器的生产成本,同时还提高了测试效率,有利于磁传感器的大规模生产和普及。
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