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公开(公告)号：CN102798832A
公开(公告)日：2012-11-28
申请号：CN201110139844.0
申请日：2011-05-27
Applicant: 美新半导体(无锡)有限公司
IPC: G01R35/00
Abstract: 本发明涉及一种磁传感器测试方法及其系统，其为将待测磁传感器的X轴与地磁场方向平行，使用校准过的磁传感器测试装置读出待测磁传感器的X轴的输出，然后根据测试获得的输出数据计算得出待测磁传感器X轴的偏置输出和灵敏度。本发明涉及的磁传感器测试方法及其系统，利用地球磁场进行测试，极大地降低了磁传感器的生产成本，同时还提高了测试效率，有利于磁传感器的大规模生产和普及。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102798832B
公开(公告)日：2014-12-31
申请号：CN201110139844.0
申请日：2011-05-27
Applicant: 美新半导体(无锡)有限公司
IPC: G01R35/00
Abstract: 本发明涉及一种磁传感器测试方法及其系统，其为将待测磁传感器的X轴与地磁场方向平行，使用校准过的磁传感器测试装置读出待测磁传感器的X轴的输出，然后根据测试获得的输出数据计算得出待测磁传感器X轴的偏置输出和灵敏度。本发明涉及的磁传感器测试方法及其系统，利用地球磁场进行测试，极大地降低了磁传感器的生产成本，同时还提高了测试效率，有利于磁传感器的大规模生产和普及。
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公开(公告)号：CN102866374A
公开(公告)日：2013-01-09
申请号：CN201110187030.4
申请日：2011-07-05
Applicant: 美新半导体(无锡)有限公司
IPC: G01R35/00
Abstract: 本发明涉及一种基于探针的磁传感器测试方法及其系统，其中基于探针的磁传感器测试方法，包括以下步骤：根据待测磁传感器的电路制作包括探针的探针卡，将待测磁传感器放置在测试台上；在X轴上设置至少一个磁线圈，通过控制所述磁线圈的电流大小和方向，来控制所述测试台X轴上的磁场方向及磁场强度；根据待测磁传感器的输出，计算出待测磁传感器X轴的偏置输出和/或灵敏度；通过电机控制所述探针与测试台上待测磁传感器的接触，直至测试台上待测磁传感器全部测试完毕。本发明涉及的基于探针的磁传感器测试方法及其系统，大大提高测试密度及测试效率，使得磁传感器的测试更具灵活性，且有效降低测试成本，有利于磁传感器的大规模生产和应用。
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公开(公告)号：CN102866374B
公开(公告)日：2016-02-24
申请号：CN201110187030.4
申请日：2011-07-05
Applicant: 美新半导体(无锡)有限公司
IPC: G01R35/00
Abstract: 本发明涉及一种基于探针的磁传感器测试方法及其系统，其中基于探针的磁传感器测试方法，包括以下步骤：根据待测磁传感器的电路制作包括探针的探针卡，将待测磁传感器放置在测试台上；在X轴上设置至少一个磁线圈，通过控制所述磁线圈的电流大小和方向，来控制所述测试台X轴上的磁场方向及磁场强度；根据待测磁传感器的输出，计算出待测磁传感器X轴的偏置输出和/或灵敏度；通过电机控制所述探针与测试台上待测磁传感器的接触，直至测试台上待测磁传感器全部测试完毕。本发明涉及的基于探针的磁传感器测试方法及其系统，大大提高测试密度及测试效率，使得磁传感器的测试更具灵活性，且有效降低测试成本，有利于磁传感器的大规模生产和应用。
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公开(公告)号：CN103090900B
公开(公告)日：2015-07-01
申请号：CN201110350115.X
申请日：2011-11-08
Applicant: 美新半导体(无锡)有限公司
IPC: G01D18/00
Abstract: 本发明涉及一种集成传感器的测试方法及其测试系统，其为依次将待测集成传感器的磁传感器和加速度传感器的X轴与地磁场和重力场方向平行，使用校准过的集成传感器测试装置依次读出待测集成传感器的X轴的磁场和重力场的测试输出，然后根据测试获得的输出数据计算得出待测集成传感器X轴的偏置输出和灵敏度。本发明涉及的集成传感器的测试方法及其测试系统，一次性的完成集成传感器的磁传感器和加速度传感器的测试，极大地提高了测试效率，并在一定程度上降低了集成传感器的生产成本，有利于集成传感器的大规模生产和普及。
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公开(公告)号：CN103090900A
公开(公告)日：2013-05-08
申请号：CN201110350115.X
申请日：2011-11-08
Applicant: 美新半导体(无锡)有限公司
IPC: G01D18/00
Abstract: 本发明涉及一种集成传感器的测试方法及其测试系统，其为依次将待测集成传感器的磁传感器和加速度传感器的X轴与地磁场和重力场方向平行，使用校准过的集成传感器测试装置依次读出待测集成传感器的X轴的磁场和重力场的测试输出，然后根据测试获得的输出数据计算得出待测集成传感器X轴的偏置输出和灵敏度。本发明涉及的集成传感器的测试方法及其测试系统，一次性的完成集成传感器的磁传感器和加速度传感器的测试，极大地提高了测试效率，并在一定程度上降低了集成传感器的生产成本，有利于集成传感器的大规模生产和普及。
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