验证用于互连测量的解嵌器的技术

    公开(公告)号:CN108701072B

    公开(公告)日:2022-05-31

    申请号:CN201780011755.3

    申请日:2017-03-16

    Inventor: X·叶 K·肖

    Abstract: 用于验证解嵌器以用于互连测量的技术包括验证计算设备。验证计算设备用于测量通过单个被测设备发送的第一信号,并测量通过一组复制的被测设备发送的第二信号。一组复制的被测设备中的每个被测设备与单个被测设备实质上相同。另外,验证计算设备将解嵌器应用于测量的第一信号以消除测试固定装置对测量的第一信号的影响,将解嵌器应用于测量的第二信号以消除测试固定装置对测量的第二信号的影响,将解嵌的第一信号与其自身级联以生成级联的解嵌的第一信号,并将级联的解嵌的第一信号与解嵌的第二信号进行比较以确定级联的解嵌的第一信号是否与解嵌的第二信号匹配。

    验证用于互连测量的解嵌器的技术

    公开(公告)号:CN112147419A

    公开(公告)日:2020-12-29

    申请号:CN202010770645.9

    申请日:2017-03-16

    Inventor: X·叶 K·肖

    Abstract: 用于验证解嵌器以用于互连测量的技术包括验证计算设备。验证计算设备用于测量通过单个被测设备发送的第一信号,并测量通过一组复制的被测设备发送的第二信号。一组复制的被测设备中的每个被测设备与单个被测设备实质上相同。另外,验证计算设备将解嵌器应用于测量的第一信号以消除测试固定装置对测量的第一信号的影响,将解嵌器应用于测量的第二信号以消除测试固定装置对测量的第二信号的影响,将解嵌的第一信号与其自身级联以生成级联的解嵌的第一信号,并将级联的解嵌的第一信号与解嵌的第二信号进行比较以确定级联的解嵌的第一信号是否与解嵌的第二信号匹配。

    实现CPAD缓和效应的装置和方法

    公开(公告)号:CN104734690A

    公开(公告)日:2015-06-24

    申请号:CN201410858280.X

    申请日:2014-11-20

    CPC classification number: H03K17/04123 H03K17/162 H03K17/6871 H03K19/0185

    Abstract: 本发明提供了实现CPAD缓和效应的装置和方法,其中,装置被配置为实现Cpad缓和效应。该装置可包括耦合到电流源的具有第一状态和第二状态的开关。该装置还可包括耦合到该开关的焊盘,并该焊盘具有基于第一开关状态和第二开关状态的改变来进行充电和放电的焊盘电容。该装置还可包括耦合到该开关和该焊盘的电阻器,并且该电阻器被配置为被调节以减少对该焊盘的充电时间或放电时间。

    验证用于互连测量的解嵌器的技术

    公开(公告)号:CN112147419B

    公开(公告)日:2024-04-23

    申请号:CN202010770645.9

    申请日:2017-03-16

    Inventor: X·叶 K·肖

    Abstract: 用于验证解嵌器以用于互连测量的技术包括验证计算设备。验证计算设备用于测量通过单个被测设备发送的第一信号,并测量通过一组复制的被测设备发送的第二信号。一组复制的被测设备中的每个被测设备与单个被测设备实质上相同。另外,验证计算设备将解嵌器应用于测量的第一信号以消除测试固定装置对测量的第一信号的影响,将解嵌器应用于测量的第二信号以消除测试固定装置对测量的第二信号的影响,将解嵌的第一信号与其自身级联以生成级联的解嵌的第一信号,并将级联的解嵌的第一信号与解嵌的第二信号进行比较以确定级联的解嵌的第一信号是否与解嵌的第二信号匹配。

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