公开(公告)号：CN105723245B

公开(公告)日：2019-04-09

申请号：CN201480063747.X

申请日：2014-09-08

Applicant: 通用电气公司

Inventor： K.H.安 ,  A.J.库图尔 ,  G.帕萨萨拉蒂 ,  赵日安 ,  J.J.刘

IPC: G01T1/20 ,  H01L27/30

Abstract: 公开了一种有机x射线检测器和制作有机x射线检测器的方法。x射线检测器包括设置在基底上的TFT阵列、设置在TFT阵列上的有机光电二极管层、设置在光电二极管层上的隔层，以及设置在隔层上的闪烁体层，使得隔层包括至少一种无机材料。

公开(公告)号：CN105723245A

公开(公告)日：2016-06-29

申请号：CN201480063747.X

申请日：2014-09-08

Applicant: 通用电气公司

Inventor： K.H.安 ,  A.J.库图尔 ,  G.帕萨萨拉蒂 ,  赵日安 ,  J.J.刘

IPC: G01T1/20 ,  H01L27/30

CPC classification number: H01L27/308 ,  G01T1/2018 ,  H01L27/14663 ,  H01L27/283 ,  H01L51/0097 ,  H01L51/447 ,  H01L51/448 ,  Y02E10/549 ,  Y02P70/521

Abstract: 公开了一种有机x射线检测器和制作有机x射线检测器的方法。x射线检测器包括设置在基底上的TFT阵列、设置在TFT阵列上的有机光电二极管层、设置在光电二极管层上的隔层，以及设置在隔层上的闪烁体层，使得隔层包括至少一种无机材料。