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公开(公告)号：CN106849765A
公开(公告)日：2017-06-13
申请号：CN201611104454.9
申请日：2016-12-05
Applicant: 重庆华数机器人有限公司 , 佛山三电智能科技有限公司
IPC: H02P5/74
CPC classification number: H02P5/74
Abstract: 本发明涉及一种基于EtherCAT的直流共母线伺服驱动装置，直流共母线伺服驱动装置包括：伺服驱动组件、伺服电机组件、控制单元和整流单元，整流单元和控制单元均连接伺服驱动组件，伺服驱动组件连接伺服电机组件；控制单元包括EtherCAT主站模块；伺服驱动组件包括依次连接的至少一个伺服驱动单元，伺服电机组件包括至少一个伺服电机，每个伺服驱动单元连接一个伺服电机；每个伺服驱动单元均连接整流单元；每个伺服驱动单元包括EtherCAT从站模块，每个EtherCAT从站模块均连接EtherCAT主站模块。本发明的有益效果是：EtherCAT实时工业以太网拓扑结构方便，成本低廉，体积较小，能够根据实际应用需求增加或减少伺服驱动器的个数，拆装方便。
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公开(公告)号：CN110727216B
公开(公告)日：2022-04-29
申请号：CN201910898230.7
申请日：2019-09-23
Applicant: 重庆智能机器人研究院 , 重庆华数机器人有限公司
IPC: G05B19/042
Abstract: 本发明涉及一种编码器的数据读取方法、装置和读取数据的装置。该编码器读取数据的装置包括ARM和FPGA，以及存储程序。还涉及一种编码器的数据读取方法，该方法包括：上电时，FPGA分析来自编码器的复位反馈信号；根据所述分析结果，在确定所述编码器复位之后，所述FPGA向ARM发送复位成功信号；所述ARM接收到所述复位成功信号，则控制使能信号。还涉及一种编码器的数据读取装置，该数据读取装置包括：分析模块、发送模块、控制模块。通过本发明在系统上电时，加入ARM端对FPGA端和编码器状态的确认，保障了ARM端读取数据的正确性，提高了编码器数据传输的准确性。
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公开(公告)号：CN110727216A
公开(公告)日：2020-01-24
申请号：CN201910898230.7
申请日：2019-09-23
Applicant: 重庆智能机器人研究院 , 重庆华数机器人有限公司
IPC: G05B19/042
Abstract: 本发明涉及一种编码器的数据读取方法、装置和读取数据的装置。该编码器读取数据的装置包括ARM和FPGA，以及存储程序。还涉及一种编码器的数据读取方法，该方法包括：上电时，FPGA分析来自编码器的复位反馈信号；根据所述分析结果，在确定所述编码器复位之后，所述FPGA向ARM发送复位成功信号；所述ARM接收到所述复位成功信号，则控制使能信号。还涉及一种编码器的数据读取装置，该数据读取装置包括：分析模块、发送模块、控制模块。通过本发明在系统上电时，加入ARM端对FPGA端和编码器状态的确认，保障了ARM端读取数据的正确性，提高了编码器数据传输的准确性。
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公开(公告)号：CN110542544A
公开(公告)日：2019-12-06
申请号：CN201910609877.3
申请日：2019-07-08
Applicant: 重庆智能机器人研究院 , 重庆华数机器人有限公司
Abstract: 本发明涉及一种伺服驱动器测试平台，包括测试桌体、启动面板、伺服驱动器单元、测试电机、支架及用于固定伺服驱动器单元的浮动测试夹具，测试桌体上侧设有工作面，浮动测试夹具固定于工作面上，伺服驱动器单元设于浮动测试夹具与工作面之间，启动面板和测试电机均设于浮动测试夹具的一侧，且启动面板和测试电机均固定于工作面上，支架固定于测试桌体一侧用于放置测试电脑。本发明的伺服驱动器的测试平台能够应用于工业机器人驱动器样机研发测试、样机的可靠性测试、及批量测试，可以有效的提升测试效率，减少测试工期，安装方便，适合批量生产的测试环境。
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公开(公告)号：CN110531685B
公开(公告)日：2024-09-27
申请号：CN201910912627.7
申请日：2019-09-25
Applicant: 重庆智能机器人研究院 , 重庆华数机器人有限公司
IPC: G05B19/042 , H04L12/40
Abstract: 本发明涉及一种数据处理领域,特别涉及一种EtherCAT总线多轴从站系统。所述系统包括：一个控制多轴数据的从站控制器、一个处理多轴数据的微处理器和一个多轴驱动电路，所述从站控制器通过所述微处理器与所述多轴驱动电路连接，所述从站控制器通过对象字典进行多轴控制。所述系统还包括：光电隔离器、带网络变压器接口及电可擦可编程只读存储器EEPROM。所述系统不仅解决了传统驱动方案的成本高占空间大的问题还解决了单芯片控制多轴的技术问题。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN110333403B
公开(公告)日：2021-09-14
申请号：CN201910499128.X
申请日：2019-06-10
Applicant: 重庆智能机器人研究院 , 重庆华数机器人有限公司
Abstract: 本发明公开了一种电磁抱闸的异常检测装置及方法，涉及机电控制技术领域。包括信号控制器、光耦输入电路、开关控制电路、检测电路、光耦输出电路以及处理器；信号控制器、光耦输入电路、开关控制电路、电磁抱闸装置、检测电路以及光耦输出电路依次连接，处理器与信号控制器和光耦输出电路连接，处理器控制信号控制器发送控制信号；光耦输入电路将控制信号耦合进入开关控制电路中；开关控制电路根据控制信号控制电磁抱闸装置；检测电路检测电磁抱闸装置，并获得检测信号；光耦输出电路将检测信号耦合进入处理器中；处理器根据控制信号和检测信号判定电磁抱闸装置是否存在异常。本发明根据检测信号能够准确地判断电磁抱闸的状态是否出现异常。
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公开(公告)号：CN110531685A
公开(公告)日：2019-12-03
申请号：CN201910912627.7
申请日：2019-09-25
Applicant: 重庆智能机器人研究院 , 重庆华数机器人有限公司
IPC: G05B19/042 , H04L12/40
Abstract: 本发明涉及一种数据处理领域,特别涉及一种EtherCAT总线多轴从站系统。所述系统包括：一个控制多轴数据的从站控制器、一个处理多轴数据的微处理器和一个多轴驱动电路，所述从站控制器通过所述微处理器与所述多轴驱动电路连接，所述从站控制器通过对象字典进行多轴控制。所述系统还包括：光电隔离器、带网络变压器接口及电可擦可编程只读存储器EEPROM。所述系统不仅解决了传统驱动方案的成本高占空间大的问题还解决了单芯片控制多轴的技术问题。
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公开(公告)号：CN110333403A
公开(公告)日：2019-10-15
申请号：CN201910499128.X
申请日：2019-06-10
Applicant: 重庆智能机器人研究院 , 重庆华数机器人有限公司
Abstract: 本发明公开了一种电磁抱闸的异常检测装置及方法，涉及机电控制技术领域。包括信号控制器、光耦输入电路、开关控制电路、检测电路、光耦输出电路以及处理器；信号控制器、光耦输入电路、开关控制电路、电磁抱闸装置、检测电路以及光耦输出电路依次连接，处理器与信号控制器和光耦输出电路连接，处理器控制信号控制器发送控制信号；光耦输入电路将控制信号耦合进入开关控制电路中；开关控制电路根据控制信号控制电磁抱闸装置；检测电路检测电磁抱闸装置，并获得检测信号；光耦输出电路将检测信号耦合进入处理器中；处理器根据控制信号和检测信号判定电磁抱闸装置是否存在异常。本发明根据检测信号能够准确地判断电磁抱闸的状态是否出现异常。
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公开(公告)号：CN106330016B
公开(公告)日：2018-08-14
申请号：CN201610968476.3
申请日：2016-10-27
Applicant: 重庆华数机器人有限公司
IPC: H02P6/17 , H02P25/022
Abstract: 本发明公开了一种交流伺服电机的速度检测方法，包括步骤：S1，启动交流伺服电机，读取并保存安装于交流伺服电机上的绝对式编码器的起始位置；S2，每隔预设的间隔时间t，读取并保存绝对式编码器的当前位置，得到k个检测位置；S3，获取对应于k个检测位置的交流伺服电机转动的k‑1个位置的值；S4，将交流伺服电机速度的检测次数k与预设的滑动参数x进行比较，得到比较结果；S5，根据比较结果、间隔时间t、交流伺服电机速度的检测次数、交流伺服电机转动的k‑1个位置的值以及滑动参数x，计算得到交流伺服电机的速度。本发明的有益效果是：在电机低速运转时，提高系统的检测精度，获得理想的速度特性和伺服性能。
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公开(公告)号：CN110542544B
公开(公告)日：2021-03-02
申请号：CN201910609877.3
申请日：2019-07-08
Applicant: 重庆智能机器人研究院 , 重庆华数机器人有限公司
Abstract: 本发明涉及一种伺服驱动器测试平台，包括测试桌体、启动面板、伺服驱动器单元、测试电机、支架及用于固定伺服驱动器单元的浮动测试夹具，测试桌体上侧设有工作面，浮动测试夹具固定于工作面上，伺服驱动器单元设于浮动测试夹具与工作面之间，启动面板和测试电机均设于浮动测试夹具的一侧，且启动面板和测试电机均固定于工作面上，支架固定于测试桌体一侧用于放置测试电脑。本发明的伺服驱动器的测试平台能够应用于工业机器人驱动器样机研发测试、样机的可靠性测试、及批量测试，可以有效的提升测试效率，减少测试工期，安装方便，适合批量生产的测试环境。
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