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公开(公告)号:CN104507376B
公开(公告)日:2016-08-24
申请号:CN201380040599.5
申请日:2013-10-04
Applicant: 奥林巴斯株式会社
Inventor: 本田一树
CPC classification number: G02B23/26 , A61B1/00096 , A61B1/00177 , A61B1/00179 , A61B1/00181 , A61B1/0615 , A61B1/0623 , G01B11/14 , G01J1/0425 , G01J1/0448 , G01J1/42 , G02B23/2423 , G02B23/243 , G02B23/2469 , G02B26/02
Abstract: 本发明的目的在于,提供以使针对前方和侧方的照明光量平衡适当的方式进行配光并得到良好的内窥镜图像的内窥镜,因此,该内窥镜成为具有:使前方观察对象像成像的第1物镜(21)、使侧方观察对象像成像的圆周状的第2物镜(22)、测定第1物镜与其前方观察对象之间的距离的第1距离检测部(9a、41)、测定第2物镜与其侧方观察对象之间的距离的第2距离检测部(9a、42)、将从光源10射出的照明光引导至插入部前端侧的光导(32a)、将来自光导的光分配给第1物镜的前方和第2物镜的侧方的光分配部件(32)、改变第1物镜的前方射出光和第2物镜的侧方射出光的光量比例的光量可变单元(45)、以及根据第1距离信号和第2距离信号控制光量可变单元的控制部(9b)。
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公开(公告)号:CN102359816B
公开(公告)日:2015-01-07
申请号:CN201110191734.9
申请日:2007-09-20
Applicant: 特洛伊科技有限公司
Inventor: 珍妮弗·杰拉尔迪-弗拉泽 , 吉姆·弗拉泽 , 乔尔·海林
CPC classification number: G01J1/02 , C02F1/008 , C02F1/32 , C02F1/325 , C02F2201/3223 , C02F2201/326 , G01J1/0271 , G01J1/029 , G01J1/04 , G01J1/0448 , G01J1/0488
Abstract: 本文公开了一种用于检测来自辐射源的辐射的光辐射传感器系统。该系统包括:壳体,该壳体具有的远端部分和近端部分,远端部分用于接受来自辐射源的辐射。设置在壳体中的第一(例如,工作)传感器元件。设置在壳体中的第二(例如,基准)传感器元件,第二传感器元件被构造为检测和响应从辐射源接受的入射辐射。被构造为在给定的时间点导致来自辐射源的辐射仅照射在第一(例如,工作)传感器元件和第二(例如,基准)传感器元件中的一个传感器元件的第一活动单元。
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公开(公告)号:CN101821595A
公开(公告)日:2010-09-01
申请号:CN200880106717.7
申请日:2008-09-12
Applicant: 波光股份有限公司
CPC classification number: G01J1/4257 , G01J1/04 , G01J1/0411 , G01J1/0448
Abstract: 根据典型实施方式,用于测量激光束的测量装置包括放大透镜系统,其具有在激光束的光束路径中接连布置并且焦点重合的总共两个透镜(10,12)的,以及像机(74),其布置在两个透镜(10,12)之后在最后透镜(12)的焦点中并且包括从被放大的激光束产生电子图像的电子图像传感器。透镜(10,12)与摄像机(74)一起可沿着光束路径相对测量装置的参照点(46)调整,以便能以此方式找到激光束的光束腰部和确定激光束的直径分布。测量装置还包括适配器(42),其围绕光束路径用于耦接测量装置到提供激光束的激光系统。在这种情况中,适配器(42)形成用于激光系统的停止面(46),该停止面基于激光束的光束轴线(16)轴向地定向,并允许测量装置被原地耦接到激光系统的安装场所。
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公开(公告)号:CN101583856A
公开(公告)日:2009-11-18
申请号:CN200780034898.2
申请日:2007-09-20
Applicant: 特洛伊科技有限公司
Inventor: 珍妮弗·杰拉尔迪-弗拉泽 , 吉姆·弗拉泽 , 乔尔·海林
CPC classification number: G01J1/02 , C02F1/008 , C02F1/32 , C02F1/325 , C02F2201/3223 , C02F2201/326 , G01J1/0271 , G01J1/029 , G01J1/04 , G01J1/0448 , G01J1/0488
Abstract: 本文公开了一种用于检测来自辐射源的辐射的光辐射传感器系统。该系统包括:具有用于接受来自辐射源的辐射的远端部分和近端部分的壳体;与近端部分相连通的传感器元件,该传感器元件被构造为检测和响应从辐射源接受的入射辐射;和被构造为相对于传感器元件至少在第一位置和第二位置之间移动的活动单元。在壳体位于第一位置和第二位置中的至少一个位置时辐射路径在辐射源和传感器元件之间被确定。壳体相对于传感器元件的移动导致照射在传感器元件上的辐射强度的变化。在高度优选的实施例中,辐射传感器系统是使传感器系统适于配以一个或多个不同的辐射源、液体厚度层和/或UVT条件使用的标准设计。在这种高度优选的形式中,传感器系统可以具有对诸如传感器运转、辐射源输出、液体(例如水)UVT、辐射源故障(例如围绕辐射源的保护套的故障)之类的参数的嵌入式诊断。本辐射传感器系统的其它优点包括:集成的基准传感器的结合,安全并且迅速的基准传感器测试,UVT测量能力和/或相对低廉的成本以及容易制造。
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公开(公告)号:CN101484967A
公开(公告)日:2009-07-15
申请号:CN200780023921.8
申请日:2007-06-06
Applicant: 瓦里安半导体设备公司
IPC: H01J37/304 , H01J37/244 , H01J37/317
CPC classification number: H01J37/3171 , G01J1/04 , G01J1/0437 , G01J1/0448 , G01J1/4257 , G01J2001/4261 , H01J37/244 , H01J2237/2446 , H01J2237/24507 , H01J2237/24542 , H01J2237/24578 , H01J2237/30472 , H01J2237/31703
Abstract: 一种束密度量测系统(140),其包括遮罩(150)、束感测器(142,242)以及致动器(156)。束感测器在束(104,204)的行进方向上位于遮罩下游。束感测器经组态以感测该束的强度,且束感测器具有长维度以及短维度。致动器相对于束感测器而转译遮罩,其中随着相对于束感测器而转译遮罩,遮罩阻断来自束感测器的束的至少一部分,且其中与遮罩相对于束感测器的位置的改变相关联的强度的测得值表示该束在束感测器的长维度所界定的第一方向上的束密度分布。
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公开(公告)号:CN1869596A
公开(公告)日:2006-11-29
申请号:CN200610078446.1
申请日:2006-05-26
Applicant: 株式会社电装
CPC classification number: G01J1/22 , G01J1/04 , G01J1/0403 , G01J1/0418 , G01J1/0437 , G01J1/044 , G01J1/0448 , G01J1/0462
Abstract: 一种光学传感器包括放置在壳中的光接收器件、可旋转地安置到所述壳的附着表面的外部滤光器、以及随同所述外部滤光器的旋转而一起旋转以调节入射到所述光接收器件的光接收表面上的光的量的光截断部件。在这个光学传感器中,所述光截断部件具有固定在其中心的旋转轴,并且具有用于在绕所述旋转轴的旋转方向上的一范围内调节入射在所述光接收器件的光接收表面上的光的量的光调节机构。因而,可以高精度任意调节所述光学传感器的灵敏度。
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公开(公告)号:CN108387312A
公开(公告)日:2018-08-10
申请号:CN201710063962.5
申请日:2017-02-03
Applicant: 山东华光光电子股份有限公司
CPC classification number: G01J1/4257 , G01J1/0448
Abstract: 一种利用滤光实现可调档位的激光功率计,包括驱动电源、激光器、可调档位滤光片和传感器,激光器与驱动电源连接,可调档位滤光片包括至少一级滤光片,第一级滤光片设置在激光器的出光方向上,后一级滤光片设置在前一级滤光片的出光方向上,传感器设置于最后一级滤光片的出光方向上,每级滤光片的透射率借由光学镀膜实现。该激光功率计通过对激光的透射衰减,用同一个光电传感器接收后对光功率检测,拓宽了常规功率计的可测功率范围,通过选择不同倍率的可调档位滤光片,也实现跳度较大的测试,测量相应时间短,测试效率高。
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公开(公告)号:CN104136902B
公开(公告)日:2018-01-23
申请号:CN201380005404.3
申请日:2013-01-07
Applicant: 卡斯蒂安测试与服务公司
CPC classification number: G01M11/04 , F21V13/02 , F21V14/06 , G01J1/0411 , G01J1/0448 , G01J1/08 , G01J1/4257 , G02B15/161 , G02B27/30
Abstract: 一种光学系统,包括:称为准直光波(OLcol)的平面光波的生成装置(106),和准直光波偏置装置(114),用于提供称为测试光波(OLtest)的光波,所述偏置装置(114)呈现可调的焦距。
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公开(公告)号:CN105698926A
公开(公告)日:2016-06-22
申请号:CN201511035919.5
申请日:2015-11-25
Applicant: 贺利氏特种光源美国有限责任公司
Inventor: K·A·赫尔姆斯 , T·A·都姆布科夫斯基 , J·R·埃利奥特
IPC: G01J1/42
CPC classification number: G01J1/429 , B05D3/061 , G01J1/0271 , G01J1/0403 , G01J1/0414 , G01J1/0437 , G01J1/0448 , G01J1/0462 , G01J1/42 , G01J2001/4247
Abstract: 一种可调节光探测器装置,可以包括具有底面的基板。光探测器装置可以还包括固定至基板底面的光电池。光探测器装置可以还包括具有固定至基板底面以封闭光电池的顶部的金属块,其中在金属块内形成从金属块的顶部延伸至金属块的底部的开口,以形成用于光传输通过金属块到达光电池的孔。光探测器装置可以还包括可插入金属块中以改变孔的开口区域的构件。
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公开(公告)号:CN103443600B
公开(公告)日:2016-05-04
申请号:CN201280005343.6
申请日:2012-01-10
Applicant: UL有限责任公司
CPC classification number: G01J1/02 , G01C3/085 , G01J1/0219 , G01J1/0228 , G01J1/0242 , G01J1/0266 , G01J1/04 , G01J1/0411 , G01J1/0437 , G01J1/0448 , G01J1/0466 , G02B7/32
Abstract: 本发明涉及光测量装置及其使用方法。该装置用于测量从远处光源散发出来的光的光度量。与发明人所知的其他装置相比,此装置能更精确地测量选定光的光场。
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