超声波回波检测方法及装置

    公开(公告)号:CN107462637A

    公开(公告)日:2017-12-12

    申请号:CN201710775900.7

    申请日:2017-08-31

    Inventor: 李坤 武飞 顾富斌

    Abstract: 本发明实施例提供了一种超声波回波检测方法及装置,其中,方法包括:对预先设置于工件表面的超声压电材料施加超声波激发信号,以在工件表面产生朝向工件底部方向传播的超声波;对从工件底部返回到工件表面的超声波回波进行检测。本发明通过对设置在工件表面的超声压电材料的工件施加超声波激发信号使之产生朝向工件底部方向传播的超声波,该超声波能够贯穿工件内部并从工件底部返回,由于该超声波贯穿了工件内部从表面到底部的整个部分,能够准确地获得工件内部的完整结构特性,从而可以便于后续基于超声波回波对工件进行身份识别、状态检测等工件检查操作,提高工件检查的效率及准确率。

    金属板实际复杂缺陷磁声阵列导波散射成像方法

    公开(公告)号:CN106525975A

    公开(公告)日:2017-03-22

    申请号:CN201610952378.0

    申请日:2016-11-02

    Applicant: 清华大学

    Abstract: 本发明提出一种金属板实际复杂缺陷磁声阵列导波散射成像方法,包括:采用可控发射方向EMAT作为激励换能器,采用全向EMAT作为接收换能器;每个可控发射方向EMAT都按预设的发射角度范围和角度步长激发导波,全向接收EMAT在每次有导波激发时都接收导波信号;利用导波信号走时筛选出构成散射组的发射EMAT和接收EMAT;根据散射组间距、发射角度和导波信号走时求解散射点位置和散射边方向;将得到的所有散射点按照各自的散射边方向进行曲线拟合,形成实际复杂缺陷的清晰轮廓图像。本发明能够对金属板的实际复杂缺陷进行高精度成像,对散射点位置和散射边方向的求解准确、运算速度快,对实际复杂缺陷的成像效率高。

    一种FIR多相内插滤波超声相控阵波束延时方法

    公开(公告)号:CN105738482A

    公开(公告)日:2016-07-06

    申请号:CN201610107441.0

    申请日:2016-02-26

    Inventor: 刘桂雄 唐文明

    CPC classification number: G01N29/221

    Abstract: 本发明公开了一种FIR多相内插滤波超声相控阵波束延时方法,该方法包括:通过聚焦法激励多阵元探头,对反射波进行接收延时聚焦;回波升采样,采样率从fs提升到I·fs,同时I路分解,形成相邻两路1/(I·fs)的延时精度;通过FIR多相内插滤波器实现抗镜像滤波滤除高频成分。本发明提供的方案基于FPGA精准的时序控制、快速并行处理能力,结合数字信号处理技术,提出升采样插零技术,对信号I倍内插零再滤波,通过FIR滤波器实现抗镜像滤波滤除高频成分,超声回波采样率从fs提升到I·fs,同时I路分解,形成相邻两路1/(I·fs)的延时精度。

    光声摄像系统和光声摄像装置

    公开(公告)号:CN103442646A

    公开(公告)日:2013-12-11

    申请号:CN201280013458.X

    申请日:2012-06-08

    Abstract: 光声摄像系统,具备如下:超声波波源(1),其用于将由具有按预定的时间间隔重复的时间波形的声音信号所构成的超声波照射到被摄物体(4)上;声透镜(6),其按照接收被照射到被摄物体(4)上的超声波(2)的散射波的方式配置,且将所述散射波转换成平面波;透光性声介质(8),其在相对于声透镜(6)为被摄物体(4)的相反侧的区域的、且包含声透镜(6)的光轴(7)的区域设置;光源(11),其出射单色光平面波,且按照使单色光平面波的行进方向与声透镜(6)的光轴(7)以90度和180度以外的角度交叉的方式配置;成像透镜(16),其按照使在透光性声介质(8)中发生的单色光平面波的衍射光(201)会聚的方式配置;图像接收部(17),其将由成像透镜(16)成像的光学像(18)作为图像信息取得;畸变校正部(15),其对光学像(18)的畸变、或由所述图像信息所生成的图像的畸变进行校正。

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