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公开(公告)号：CN107437491B
公开(公告)日：2019-08-02
申请号：CN201710373123.3
申请日：2017-05-24
Applicant: 萨默费尼根有限公司
Inventor： V·V·考弗陶恩
CPC classification number: H01J49/423 , H01J49/426 , H01J49/4285
Abstract: 一种用于分析样本的系统包含线性离子阱、嵌入DC电极、电压控制器和RF控制电路。所述线性离子阱包含第一对阱电极和第二对阱电极，其彼此隔开并且包围阱内部。所述第二对阱电极中的一个电极包含阱出口。所述嵌入DC电极定位成邻近于所述阱出口。所述电压控制器向所述嵌入DC电极施加DC电压。所述RF控制电路向所述第一对阱电极施加主RF电压，向所述第二对阱电极施加所述主RF的一部分，增加施加于所述第一对阱电极的所述主RF，并且向所述第二对阱电极施加辅助RF电压。
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公开(公告)号：CN106128932A
公开(公告)日：2016-11-16
申请号：CN201610290324.2
申请日：2016-05-04
Applicant: 塞莫费雪科学(不来梅)有限公司
Inventor： A·A·马卡罗夫
IPC: H01J49/42
CPC classification number: H01J49/4245 , H01J49/062 , H01J49/4295 , H01J49/423 , H01J49/426
Abstract: 一种将离子注射到静电阱中的方法，其包括：在离子源中产生离子；将离子从所述离子源传输到所述离子源下游的离子存储装置；从所述离子存储装置将离子释放到所述离子存储装置下游的离子导引件；以及从所述离子导引件中作为脉冲将离子加速到轨道静电阱中以用于质量分析，其中在离子从所述离子导引件离开时离子的平均速度基本上高于离子从所述离子存储装置离开时的离子的平均速度，其中在从所述离子存储装置释放离子与从所述离子导引件加速离子之间存在延迟。以及适用于所述方法的设备。
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公开(公告)号：CN104011828A
公开(公告)日：2014-08-27
申请号：CN201280063254.7
申请日：2012-12-21
Applicant: 塞莫费雪科学(不来梅)有限公司
IPC: H01J49/00
CPC classification number: H01J49/4215 , H01J49/0027 , H01J49/005 , H01J49/063 , H01J49/105 , H01J49/426
Abstract: 质谱仪碰撞/反应室多极杆(80)和方法。该多极杆可以具有第一和第二部分(82，90)和一个在其间的中间部分(86)，该第一和第二部分在第一和第二q值下进行操作，该第一和第二q值小于该中间部分处的一个第三q值。该多极杆的低质量截止可以通过将q值从一个第一值变化到至少一个第二值来控制。该多极杆具有安置在一个中心轴线附近并且具有一个对应的第一部分、第二部分、和在其间的在径向上更靠近该中心轴线的中间部分的多极电极(80)。通常，该q值从在入口端(20)处的一个第一相对低的值改变到至少一个第二相对更高的值。这在提供低质量截止以去除不希望的/干扰性离子并且帮助减少背景计数的同时，提供了相对高的接收和离子传输。有利地，下游存在q值上的进一步变化，至在出口端(30)处的一个第三、相对低的值，优选与该第一q值相同。
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公开(公告)号：CN107799381A
公开(公告)日：2018-03-13
申请号：CN201710930910.3
申请日：2017-10-09
Applicant: 清华大学 , 北京清谱科技有限公司
CPC classification number: H01J49/005 , H01J49/063 , H01J49/4255 , H01J49/426
Abstract: 本发明公开了一种质谱仪，包括：第一线性离子阱和第二线性离子阱，第一线性离子阱和第二线性离子阱串联且间隔设置，构设出沿轴向方向延伸的离子通道，该离子通道包括位于两侧的囚禁区域和位于中部的碰撞区域；第一电极，第一电极设于第一线性离子阱的一端；第二电极，第二电极设于第一线性离子阱和第二线性离子阱之间；第三电极，第三电极设于第二线性离子阱的另一端；离子检测器其特征在于，对第一线性离子阱和第二线性离子阱加载不同的电压，从而在第一线性离子阱和第二线性离子阱之间形成电压差驱动离子沿着离子通道轴向传输，向碰撞区域通入气体，使得离子与气体发生碰撞而碎裂。根据本发明实施例的质谱仪解离方便且易于实现。
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公开(公告)号：CN105513937A
公开(公告)日：2016-04-20
申请号：CN201511001138.4
申请日：2015-12-28
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: H01J49/42
CPC classification number: H01J49/426
Abstract: 本发明提出了一种高效隔离离子阱内离子的操作方法。高效隔离离子阱内离子的操作方法是先共振激发碎裂指定离子的周边的离子，再隔离指定离子，共振激发出其他离子的方法。如此，实现既不损失被指定隔离的离子，又能有效将其他离子逐出离子阱。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN104576288A
公开(公告)日：2015-04-29
申请号：CN201310516436.1
申请日：2013-10-28
Applicant: 北京理工大学
CPC classification number: H01J49/10 , H01J49/4225 , H01J49/426
Abstract: 本发明提供了一种基于线性离子阱的离子连续收集装置，其包括用于向线性离子阱x向电极对中的一个电极和/或y向电极对中的一个电极上施加直流偏置电压的电压施加装置，或者将线性离子阱的离子入射口设置于端盖电极的非中心处，或者将二者结合。本发明还提供了一种基于线性离子阱的离子连续收集方法以及一种低丰度离子的富集系统和方法。本发明提供的离子连续收集装置可有效抑制高能离子在离子阱中的逃逸，实现宽能量范围离子的连续收集。本发明提供的离子收集方法可实现离子的连续进样，提高了宽能量范围离子在离子阱中的囚禁率。本发明提供的低丰度离子富集系统和方法可用于低丰度离子的富集和检测。
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公开(公告)号：CN105719943B
公开(公告)日：2018-06-12
申请号：CN201510954182.0
申请日：2015-12-17
Applicant: 萨默费尼根有限公司
Inventor： J·W·史密斯
CPC classification number: H01J49/4215 , H01J49/0031 , H01J49/426 , H01J49/429
Abstract: 提供了用于扫描多极滤质器的频率和电压，同时保持在一系列质量内的扫描期间每质量基本上相同数目的AC周期的技术。例如，通过控制加速离子到滤质器内的DC轴向电压、施加到该滤质器上的DC解析电压、施加到该滤质器上的AC电压幅值、和该AC电压的AC频率，可以获得质谱。这些设置可以被控制为使得不同质荷比的离子是在该滤质器内经过基本上相同数目的AC周期。为了实现该相同数目的AC周期，在该扫描过程中改变该AC频率。对于低质量，可以使用较高的AC频率。对于高质量，可以使用较低的AC频率。
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公开(公告)号：CN103988278B
公开(公告)日：2016-10-26
申请号：CN201280061435.6
申请日：2012-11-26
Applicant: 塞莫费雪科学(不来梅)有限公司
Inventor： A·A·马卡洛夫
CPC classification number: H01J49/10 , G01N27/622 , H01J49/0027 , H01J49/0031 , H01J49/0481 , H01J49/06 , H01J49/063 , H01J49/401 , H01J49/4215 , H01J49/423 , H01J49/425 , H01J49/426 , H01J49/427 , H01J49/4295
Abstract: 提供了一种离子光谱仪，该离子光谱仪包括：一个离子源，该离子源被安排为连续地产生具有第一质荷比范围的离子；以及一个离子阱，该离子阱被安排为沿着一条轴线接收来自该离子源的离子，并且与该轴线正交地喷射具有第二质荷比范围的离子，该第二质荷比范围比该第一质荷比范围更窄。在某些实施方案中，该离子源产生的离子连续地流入该离子阱中。另外地或可替代地，离子光学器件接收从该离子阱喷射的离子并且在没有实质性碎裂的情况下冷却这些离子。一个离子分析器接收从该离子阱或离子光学器件喷射的离子并且根据这些离子的至少一种特性来分离这些离子。
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公开(公告)号：CN105931943A
公开(公告)日：2016-09-07
申请号：CN201610307268.9
申请日：2016-05-10
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: H01J49/42
CPC classification number: H01J49/426 , H01J49/4275
Abstract: 本发明提供的基于线性离子阱的离子反应控制方法和离子反应控制装置，包括通过在线性离子阱内先施加射频电场和偏置电场，以使得正负离子在同时导入时彼此分离并存储于离子阱中，然后通过保持、改变电场强度等参数或是反复施加和撤销电场，实现对离子存储和反应状态的精确控制，最后通过施加激发电场将待测离子射出，通过检测设备完成对正负离子的同时检测。
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公开(公告)号：CN104362070A
公开(公告)日：2015-02-18
申请号：CN201410647270.1
申请日：2014-11-14
Applicant: 复旦大学
CPC classification number: H01J49/426 , G01N27/62 , H01J49/022
Abstract: 本发明属于质谱分析测试技术领域，具体为离子阱质量分析器中直流电压驱动的串级质谱分析方法。本发明方法具体包括离子选择隔离、碰撞诱导解离和质量分析三个阶段；在碰撞诱导解离阶段，通过在离子阱质量分析器电极上施加非对称波形射频工作电压，使得在离子阱中心产生偏置直流电压；此偏置直流电压将使得被隔离的具有一定质荷比的母体离子偏离离子阱束缚中心获得能量而被激发.被激发到高能量状态的离子，可以与与离子阱中的中性分子发生碰撞并解离，实现串级质谱分析。本发明优点在于,它不需要额外的直流电源，仅通过软件的控制即可实现偏置直流电压,实现时序控制，可以显著简化实验装置和方法。
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