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公开(公告)号：KR100778887B1
公开(公告)日：2007-11-22
申请号：KR1020060005377
申请日：2006-01-18
Applicant: 재단법인서울대학교산학협력재단 , 삼성전자주식회사
IPC: G02B5/20
Abstract: 본 발명은, 제1표면 및 제2표면을 갖는 기판;및 상기 제1표면과 상기 제2표면을 관통하는 적외선 및 테라파 영역의 파장이하 크기의 관통구들의 주기적 또는 비주기적인 배열구조를 포함하고, 여기서, 상기 제1표면상으로 입사하는 입사광의 투과 공진 특성이 상기 관통구의 형상에 의해 제어되는 고 투과성을 갖는 필터와, 제1표면 및 제2표면을 갖는 기판;및 상기 제1표면과 상기 제2표면을 관통하고, 상기 제1표면상으로 입사하는 입사광의 편광 방향을 기준으로 대칭적인 형상을 갖는 파장이하 크기의 관통구들의 주기적 또는 비주기적인 배열구조를 포함하고, 여기서, 상기 입사광의 단일의 투과 공진 특성이 상기 관통구의 형상에 의해 제어되는 고 투과성을 갖는 단일 공진 필터와, 제1표면 및 제2표면을 갖는 기판;및 상기 제1표면과 상기 제2표면을 관통하고, 상기 제1표면상으로 입사하는 입사광의 편광 방향을 기준으로 비대칭적인 형상을 갖는 파장이하 크기의 관통구들의 주기적 또는 비주기적인 배열구조를 포함하고, 여기서, 상기 입사광의 하나 이상의 투과 공진 특성이 상기 관통구의 상기 비대칭적인 형상에 의해 제어되는 고 투과성을 갖는 다중 공진 필터 등을 제공한다.
형태공진, 투과공진, 금속막, 테라헤르쯔-
公开(公告)号：KR100904825B1
公开(公告)日：2009-06-25
申请号：KR1020060087116
申请日：2006-09-09
Applicant: 재단법인서울대학교산학협력재단 , 삼성전자주식회사
CPC classification number: B82Y30/00 , C12Q1/6837 , C12Q2563/155 , C12Q2563/131 , C12Q2563/107
Abstract: 본 발명은 DNA 칩의 DNA 혼성화(hybridization) 측정방법에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 탐침 나노파티클 DNA(probe nanoparticle DNA)를 이용한 DNA 칩의 빛의 산란 정도를 측정하는 것을 특징으로 하는 상기 DNA 칩의 DNA 혼성화 측정방법에 관한 것이다. 상기 DNA 혼성화 측정방법은 DNA 칩의 혼성화를 측정하는 새로운 검출방법으로 형광물질의 표지나 그에 따른 별도의 고가의 광학기계 없이 저가의 램프가 설치된 스캐너 등으로 DNA 칩의 DNA 혼성화 정도를 손쉽게 확인할 수 있게 되어 DNA 칩의 활용을 용이하게 하여 DNA 칩의 활성화에 기여한다.
DNA 칩, 혼성화, 산란현상-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：KR1020080023278A
公开(公告)日：2008-03-13
申请号：KR1020060087116
申请日：2006-09-09
Applicant: 재단법인서울대학교산학협력재단 , 삼성전자주식회사
CPC classification number: B82Y30/00 , C12Q1/6837 , C12Q2563/155 , C12Q2563/131 , C12Q2563/107
Abstract: A method for detecting DNA hybridization of a DNA chip is provided to improve detection convenience by using scattering phenomenon through an inexpensive scanner instead of labeling of fluorescent material and expensive optical devices therefor, so that the availability of the DNA chip is improved. A DNA hybridization of a DNA chip is detected by measuring the light scattering degree of the DNA chip by using a probe nanoparticle DNA with a laser scanner or digital camera. A method for detecting DNA hybridization of a DNA chip comprises the steps of: reacting the capture DNA of the DNA chip for inspection with a probe nanoparticle DNA to induce hybridization; (ii) removing the unhybridized probe nanoparticle DNA; and (iii) measuring the light scattering degree of the DNA chip, wherein the nanoparticle is made of silica, gold, polystyrene or quantum dot and contains a fluorescent material TMR(tetramethyl rhodamine) or radioactive isotope in the inside or on the outside surface.
Abstract translation: 提供了用于检测DNA芯片的DNA杂交的方法，以通过廉价的扫描器使用散射现象来改进检测方便性，而不是标记荧光材料和昂贵的光学器件，从而提高了DNA芯片的可用性。 通过使用具有激光扫描仪或数码相机的探针纳米颗粒DNA测量DNA芯片的光散射度来检测DNA芯片的DNA杂交。 用于检测DNA芯片的DNA杂交的方法包括以下步骤：将用于检测的DNA芯片的捕获DNA与探针纳米颗粒DNA反应以诱导杂交; （ii）除去未杂交的探针纳米颗粒DNA; 和（iii）测量DNA芯片的光散射度，其中纳米颗粒由二氧化硅，金，聚苯乙烯或量子点制成，并且在内部或外表面上含有荧光材料TMR（四甲基罗丹明）或放射性同位素。
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公开(公告)号：KR100808753B1
公开(公告)日：2008-02-29
申请号：KR1020060130091
申请日：2006-12-19
Applicant: 재단법인서울대학교산학협력재단 , 삼성전자주식회사
CPC classification number: G01Q60/22
Abstract: A device and a method for measuring an electric field vector, and a microscope including the device are provided to precisely measure and research characteristic of light generated from a quantum dot and a fluorescent material and interaction between the quantum dot and the fluorescent material. A device for measuring an electric field vector includes an imperforate probe(92), an object lens(93), an optical iris(94), a polarizing plate(95), a first beam split member(96), a second beam split member(97), and an electric field vector obtaining unit(99). The first beam split member splits a first split light from incident light. The second beam split member splits a second split light from light passing through a sample(90), the imperforate probe, the object lens, the optical iris, and the polarizing plate one by one. The object lens measures interference characteristic of the first and the second split lights. The object lens determines a relative phase difference between the first and the second split lights.
Abstract translation: 提供了用于测量电场矢量的装置和方法以及包括该装置的显微镜，以精确地测量和研究由量子点和荧光材料产生的光的特性以及量子点和荧光材料之间的相互作用。 用于测量电场矢量的装置包括无孔探针（92），物镜（93），光学虹膜（94），偏振片（95），第一光束分割构件（96），第二光束分割 构件（97）和电场矢量获取单元（99）。 第一光束分离构件分裂来自入射光的第一分裂光。 第二光束分离部件从通过样品（90），无孔探针，物镜，光学虹膜和偏振片的光中逐个分割第二分离光。 物镜测量第一和第二分光灯的干涉特性。 物镜确定第一和第二分光灯之间的相对相位差。
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公开(公告)号：KR100736358B1
公开(公告)日：2007-07-06
申请号：KR1020050106976
申请日：2005-11-09
Applicant: 재단법인서울대학교산학협력재단
Abstract: 본 발명은 나노구조를 탐침의 끝 부분에 선택적으로 흡착시키는 기술에 관한 것으로, 탐침 현미경의 탐침 끝 부분에 나노구조가 직접 선택적으로 흡착되거나, 링커분자를 거쳐 선택적으로 흡착되는 방법 및 그 탐침이 장착되어 해상도가 향상된 탐침 현미경에 관한 것이다.
탐침 현미경, 탐침, 나노입자, 나노구조, 선택적 흡착-
公开(公告)号：KR1020060052558A
公开(公告)日：2006-05-19
申请号：KR1020050106976
申请日：2005-11-09
Applicant: 재단법인서울대학교산학협력재단
Abstract: 본 발명은 나노구조를 탐침의 끝 부분에 선택적으로 흡착시키는 기술에 관한 것으로, 탐침 현미경의 탐침 끝 부분에 나노구조가 직접 선택적으로 흡착되거나, 링커분자를 거쳐 선택적으로 흡착되는 방법 및 그 탐침이 장착되어 해상도가 향상된 탐침 현미경에 관한 것이다.
탐침 현미경, 탐침, 나노입자, 나노구조, 선택적 흡착-
公开(公告)号：KR1020070076232A
公开(公告)日：2007-07-24
申请号：KR1020060005377
申请日：2006-01-18
Applicant: 재단법인서울대학교산학협력재단 , 삼성전자주식회사
IPC: G02B5/20
CPC classification number: G02B5/204 , G02B5/208 , G02B5/30 , B29D11/00644
Abstract: A shape resonance terahertz or infrared filter is provided to secure single, dual, triple, or more transmission resonance wavelengths by properly designing the shape of perforated holes periodically aligned. A shape resonance terahertz or infrared filter with high transmissivity for transmitting the incident light more than 90% is composed of a substrate having a first surface(10) and a second surface, and a periodic or aperiodic arrangement structure of perforated holes(12) penetrating through the first and second surfaces and having the size smaller than a wavelength of an infrared and terahertz region. The transmission resonance characteristic of the light incident to the first surface is controlled by the shape of the perforated hole. The substrate is made of materials having free electrons such as metal or a semiconductor.
Abstract translation: 提供形状共振太赫兹或红外滤光器以通过适当地设计周期性排列的穿孔的形状来确保单一，双重，三重或更多透射谐振波长。 具有用于透射入射光的透射率高于90％的形状共振太赫兹或红外滤光器由具有第一表面（10）和第二表面的基底以及穿透孔（12）的周期性或非周期性排列结构组成 通过第一表面和第二表面，其尺寸小于红外和太赫兹区域的波长。 入射到第一表面的光的透射谐振特性由穿孔的形状来控制。 衬底由具有自由电子的材料制成，例如金属或半导体。
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