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公开(公告)号：KR101551486B1
公开(公告)日：2015-09-08
申请号：KR1020140005281
申请日：2014-01-15
Applicant: 조선대학교산학협력단
Abstract: 본발명은전단간섭법을이용한변형측정장치에관한것으로서, 측정대상체를지지할수 있도록지지부와, 지지부에지지된측정대상체에광을조사하는메인광원부와, 측정대상체에조사된후 반사된광을제1경로와제1경로와직교되는방향인제2경로로분할하여출력하는빔스플릿터와, 빔스플릿터에서제1경로로진행되는광을반사시켜빔스플릿터로재입사되게설치된기준미러와, 빔스플릿터에서제2경로로진행되는광을반사시켜빔스플릿터로재입사되게설치된가변미러와, 가변미러를제2경로를중심으로좌우방향및 상하방향에대해틸팅시킬수 있도록된 틸팅부와, 기준미러와가변미러로부터빔스플릿터에재입사되어제3경로로출력되는광을촬상하는촬상부와, 틸팅부를제어하여가변미러의틸팅각도를조정하면서촬상부에의해촬상된간섭무늬를수신하여표시부를통해표시되게처리하는처리유니트를구비한다. 이러한전단간섭법을이용한변형측정장치에의하면, 가변미러가두 축방향에대해기울임이가능하여결함측정정밀도를높일수 있다.
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公开(公告)号：KR1020140101113A
公开(公告)日：2014-08-19
申请号：KR1020130014315
申请日：2013-02-08
Applicant: 조선대학교산학협력단
Abstract: The present invention relates to a jig for welding. In particular, the jig can measure deforming force imposed on a base material when a butt welding process is performed on the planar base materials. The jig for welding of the present invention includes a base table; a first clamp which is installed on one side of the base table to fix a first base material on the base table; a second clamp which is installed on the other side of the base table to face the first clamp and fixes a second base material to be welded with the first base material on the base table; and a stress measuring part which is installed on the first clamp or the second clamp to measure stress generated on the first base material or the second base material.
Abstract translation: 本发明涉及一种焊接用夹具。 特别地，当在平面基材上进行对接焊接工艺时，夹具可以测量施加在基材上的变形力。 本发明的焊接用夹具包括：基台; 第一夹具，其安装在基座的一侧，以将第一基材固定在基台上; 第二夹具，其安装在所述基台的另一侧以面对所述第一夹具，并将与所述第一基材的待焊接的第二基材固定在所述基台上; 以及应力测量部件，其安装在所述第一夹具或所述第二夹具上，以测量在所述第一基材或所述第二基材上产生的应力。
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公开(公告)号：KR1020080113787A
公开(公告)日：2008-12-31
申请号：KR1020070062691
申请日：2007-06-26
Applicant: 조선대학교산학협력단
CPC classification number: G03B17/561 , F16M11/04 , G03B17/04 , H04N5/2252
Abstract: A tilting device is provided to regulate and fix an object to the desired direction easily. A tilting device comprises a sphere which is located apart from the top surface of a base(10) and fixed to the base by the medium of a leg, a table(40) in which a leg receiving groove(41) is formed on the bottom surface in order to tilt left and right and a fastening member for fixing the object is provided on the upper side, and a stopper(50) consisting of a button unit for pulling back a taper pin and releasing the unity force with the sphere.
Abstract translation: 提供倾斜装置以容易地将物体调节和固定到期望的方向。 倾斜装置包括：球体，其位于与基座（10）的顶表面分开并且通过腿的介质固定到基座;桌子（40），其上形成有腿部容纳槽（41） 底部表面以向左和向右倾斜，并且用于固定物体的紧固构件设置在上侧;以及止动件（50），其由用于拉回锥形销的按钮单元和用球体释放单位力构成。
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公开(公告)号：KR101458633B1
公开(公告)日：2014-11-11
申请号：KR1020130014315
申请日：2013-02-08
Applicant: 조선대학교산학협력단
Abstract: 본 발명은 용접용 지그에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 평판 형상의 모재를 맞대기 용접하는 경우 모재에 발생하는 변형력을 측정할 수 있는 용접용 지그에 관한 것이다.
본 발명의 용접용 지그는 베이스테이블과, 베이스테이블의 일측에 설치되어 제 1모재를 상기 베이스테이블에 고정시키는 제 1클램프와, 제 1클램프와 마주하도록 상기 베이스테이블의 타측에 설치되어 상기 제 1모재와 용접되는 제 2모재를 상기 베이스테이블에 고정시키는 제 2클램프와, 제 1 또는 제 2클램프에 설치되어 용접시 제 1모재 또는 제 2모재에서 발생하는 응력을 측정하기 위한 응력측정부를 구비한다.-
公开(公告)号：KR1020100128531A
公开(公告)日：2010-12-08
申请号：KR1020090046971
申请日：2009-05-28
Applicant: 조선대학교산학협력단
Abstract: PURPOSE: A device for reducing time required for measuring tire failures is provided to remarkably reduce measuring time by completing failure detection of both side wheels and threads. CONSTITUTION: A device for reducing time required for measuring tire failures comprises a vacuum chamber(1) and a non-destructive measuring unit. The non-destructive measuring unit detects the failure of a tire put into the vacuum chamber. A rotation drive unit and a position change unit are formed in the vacuum chamber. Multiple bars are radially protruded from the rotation drive unit in order to rotate the tire. The position change unit changes the position of the bars or the tire in order to photograph the tire.
Abstract translation: 目的：减少测量轮胎故障所需时间的设备，通过完成两侧轮和螺纹的故障检测，显着缩短测量时间。 构成：用于减少测量轮胎故障所需时间的装置包括真空室（1）和非破坏性测量单元。 非破坏性测量单元检测放入真空室中的轮胎的故障。 旋转驱动单元和位置改变单元形成在真空室中。 多个杆从旋转驱动单元径向突出以便轮胎旋转。 位置改变单元改变条或轮胎的位置以便拍摄轮胎。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：KR1020100080248A
公开(公告)日：2010-07-08
申请号：KR1020080138895
申请日：2008-12-31
Applicant: 조선대학교산학협력단
Abstract: PURPOSE: A fixture for optical parts is provided to facilitate the height of a post due to a pressure projection of a post holder when an experimenter rotates a post in one direction or an opposite direction. CONSTITUTION: A fixture for optical parts comprises a base(30), a post holder(20), a post(10), a base for fixing optical parts, and a jig. One or more semicircular grooves(11) are formed on the outer surface of the post in a longitudinal direction. A pressure projection is formed on the inner side of the post holder. The pressure projection presses the outer surface of the post and fixes the height by turning the post in one direction so that a semicircular groove deviates.
Abstract translation: 目的：提供一种用于光学部件的固定装置，以便在实验者沿一个方向或相反方向转动柱体时由于柱保持器的压力突起而促进柱的高度。 构成：用于光学部件的夹具包括基座（30），柱保持器（20），柱（10），用于固定光学部件的基座和夹具。 一个或多个半圆形槽（11）沿纵向方向形成在柱的外表面上。 在柱保持器的内侧形成压力突起。 压力突起按压柱的外表面并通过在一个方向上转动柱来固定高度，使得半圆形槽偏离。
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公开(公告)号：KR1020090076014A
公开(公告)日：2009-07-13
申请号：KR1020080001729
申请日：2008-01-07
Applicant: 조선대학교산학협력단
Abstract: An improvement method of a measurement result using an optical interference method is provided to improve the accuracy of the measurement result by objectively determining photosensitivity. An improvement method of a measurement result using an optical interference method comprises: a step of respectively receiving reference light and object light from an interferometer in order to make an image through a CCD camera; a step of comparing the reference light image and the optical sensitivity of a part of the object light(1,2); and a step of performing measuring using the optical interference method, if the optical sensitivity is within a set reference range. If the optical sensitivity is out of the set reference range, the measuring of the reference and object light is repeatedly performed.
Abstract translation: 提供使用光学干涉法的测量结果的改进方法，以通过客观地确定感光度来提高测量结果的精度。 使用光学干涉法的测量结果的改进方法包括：分别从干涉仪接收参考光和物体光以通过CCD照相机进行图像的步骤; 比较对象光（1,2）的一部分的参考光图像和光学灵敏度的步骤; 以及如果光学灵敏度在设定的参考范围内，则使用光学干涉法进行测量的步骤。 如果光学灵敏度超出设定的参考范围，则重复执行参考和物体光的测量。
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公开(公告)号：KR100996294B1
公开(公告)日：2010-11-23
申请号：KR1020080048223
申请日：2008-05-23
Applicant: 조선대학교산학협력단
Abstract: 본 발명에 따른 마이켈슨 간섭계를 이용한 익스텐소미터는 시료의 인장 또는 압축에 따른 미세 길이 변화를 측정하기 위한 것으로, 레이저 광원과, 상기 레이저 광원의 전면에 설치되는 빔분할 수단과, 상기 레이저 광원과 동축상으로 설치되며 상기 빔 분할수단에 의해 분할된 빔을 반사시키는 시료의 일측에 설치되는 가동미러와, 상기 빔분할수단의 상부측에 설치되어 빔 분할수단에 의해 분할된 빔을 반사시키는 것으로 기준 광경로를 이루기 위한 고정미러와, 상기 빔 분할수단의 하부에 설치되어 기준광경로를 통하여 입사되는 광신호와, 상기 가동미러와 빔 분할수단을 통하여 입사되는 광신호를 검출하여 가동미러의 이동거리를 검출하기 위한 광검출기를 구비한다.
본 발명의 마이켈슨 간섭계를 이용한 익스텐소미터는 인장, 압축, 온도변화등에 의해 미세하게 변하는 시료의 길이 뿐만아니라 길이 변화측정을 위한 각종 장치에 널리 사용가능하다.
레이저광원, 빔 스프리터, 고정미러, 반사미러.-
公开(公告)号：KR1020080065731A
公开(公告)日：2008-07-15
申请号：KR1020070002740
申请日：2007-01-10
Applicant: 조선대학교산학협력단
IPC: G01J3/46
Abstract: A non-destructive measurement apparatus of chromaticity and brightness is provided to maximize application of the conventional shearography by optimizing measuring environment and estimating lifespan of an object. A non-destructive measurement apparatus(100) of chromaticity and brightness includes a color CCD(Charge Coupled Device) camera(10), a memory unit(20), a brightness comparing unit(30), and a lifespan estimating unit(40). The color CCD camera obtains chromaticity and brightness of an object(50). The memory unit stores the chromaticity and brightness information obtained by the CCD camera. The brightness comparing unit optimizes measuring environment by comparing the brightness information before and after change of the object stored in the memory unit. The lifespan estimating unit estimates lifespan of the object by comparing the chromaticity information obtained from the object with the chromaticity information stored in the memory unit.
Abstract translation: 提供色度和亮度的非破坏性测量装置，以通过优化测量环境和估计物体的使用寿命来最大限度地利用传统的剪切。 色度和亮度的非破坏性测量装置（100）包括彩色CCD（电荷耦合器件）相机（10），存储器单元（20），亮度比较单元（30）和寿命估计单元（40） 。 彩色CCD相机获得物体的色度和亮度（50）。 存储单元存储由CCD摄像机获得的色度和亮度信息。 亮度比较单元通过比较存储在存储单元中的对象改变之前和之后的亮度信息来优化测量环境。 寿命估计单元通过将从对象获得的色度信息与存储在存储单元中的色度信息进行比较来估计对象的寿命。
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公开(公告)号：KR1020150085424A
公开(公告)日：2015-07-23
申请号：KR1020140005281
申请日：2014-01-15
Applicant: 조선대학교산학협력단
Abstract: 본발명은전단간섭법을이용한변형측정장치에관한것으로서, 측정대상체를지지할수 있도록지지부와, 지지부에지지된측정대상체에광을조사하는메인광원부와, 측정대상체에조사된후 반사된광을제1경로와제1경로와직교되는방향인제2경로로분할하여출력하는빔스플릿터와, 빔스플릿터에서제1경로로진행되는광을반사시켜빔스플릿터로재입사되게설치된기준미러와, 빔스플릿터에서제2경로로진행되는광을반사시켜빔스플릿터로재입사되게설치된가변미러와, 가변미러를제2경로를중심으로좌우방향및 상하방향에대해틸팅시킬수 있도록된 틸팅부와, 기준미러와가변미러로부터빔스플릿터에재입사되어제3경로로출력되는광을촬상하는촬상부와, 틸팅부를제어하여가변미러의틸팅각도를조정하면서촬상부에의해촬상된간섭무늬를수신하여표시부를통해표시되게처리하는처리유니트를구비한다. 이러한전단간섭법을이용한변형측정장치에의하면, 가변미러가두 축방향에대해기울임이가능하여결함측정정밀도를높일수 있다.
Abstract translation: 本发明涉及一种使用剪切方法的变形测量装置，包括：支撑单元，用于支撑被测量物体; 用于将光照射到由支撑单元支撑的被测量物体的主光源; 分束器，其将被照射到待测量物体上的反射的光分成与第一路径垂直的方向的第一路径和第二路径，并输出光; 基础反射镜，其安装成允许光通过反射从分束器到达第一路径的光线重新进入分束器; 安装的可变镜，以通过反射从分束器到达第二路径的光来允许光重新进入分束器; 倾斜单元，用于基于所述第二路径相对于水平和垂直方向倾斜所述可变镜; 成像单元，用于对从基镜和可变镜重新进入分束器的光进行成像并输出到第三路径; 以及处理单元，通过接收由成像单元成像的干涉条纹，通过控制倾斜单元来调节可变反射镜的倾斜角度，通过显示单元显示干涉条纹。 本发明通过使可变反射镜相对于两轴方向倾斜来提高缺陷测量精度的效果。
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