Photoelectron multiplication system and microscope
    1.
    发明专利
    Photoelectron multiplication system and microscope 审中-公开
    光电倍增系统和微电脑

    公开(公告)号:JP2006237003A

    公开(公告)日:2006-09-07

    申请号:JP2006045428

    申请日:2006-02-22

    CPC classification number: H01J43/30

    Abstract: PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a photoelectron multiplication system that is so structured as to be able to measure even an extremely weak optical signal with a structurally simple means; and to provide a microscope having the system. SOLUTION: This photoelectron multiplication system including a detection tube, and an acceleration voltage supply unit for supplying an acceleration voltage necessary for operating the detection tube is characterized by arranging the detection tube 1 and the acceleration voltage supply unit 2 on the sides different from each other of a thermal separation element 3. COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI

    Abstract translation: 要解决的问题:提供一种光电子倍增系统,其结构是能够以结构简单的方式测量甚至极弱的光信号; 并提供具有该系统的显微镜。 解决方案:该光电子倍增系统包括检测管和用于提供操作检测管所需的加速电压的加速电压提供单元,其特征在于将检测管1和加速电压提供单元2布置在不同的侧面上 (C)2006,JPO&NCIPI

    2.
    发明专利
    未知

    公开(公告)号:DE102007004598A1

    公开(公告)日:2008-08-07

    申请号:DE102007004598

    申请日:2007-01-30

    Abstract: An electronic circuit for protecting a photomultiplier against overloads is provided. The photomultiplier has a cathode, an anode, a plurality of dynodes and a voltage divider. The circuit includes a high-voltage source, which applies a high voltage to the photomultiplier. A protective switch is set up for preventing a current flow through the anode. A comparison device is configured for comparing a load signal characterizing the loading of the anode with a maximum load signal and for driving the protective switch in accordance with this comparison.

    Verfahren und Vorrichtung zum Untersuchen einer Probe

    公开(公告)号:DE102012009780A1

    公开(公告)日:2013-11-21

    申请号:DE102012009780

    申请日:2012-05-18

    Abstract: Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Untersuchen einer Probe in Bezug auf die Lebensdauer eines angeregten Zustandes, insbesondere einer Fluoreszenzlebensdauer, und/oder in Bezug auf einen mit einer Lebensdauer eines angeregten Zustandes, insbesondere einer Fluoreszenzlebensdauer, korrelierten Eigenschaft einer Probe, wobei ein Probenbereich mit einer Folge von Anregungslichtpulsen beleuchtet wird. Das Verfahren ist dadurch gekennzeichnet, dass zeitlich zwischen den Anregungslichtpulsen jeweils ausschließlich innerhalb eines Detektionszeitfensters jeweils die Lichtmenge und/oder die Anzahl der Photonen des von dem Probenbereich ausgehenden Detektionslichtes, insbesondere Fluoreszenzlichtes, gemessen wird, wobei wenigstens zwei Detektionszeitfenster zeitlich unterschiedlich lang sind.

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