Abstract:
Le dispositif de fonction physiquement non clonable (DIS) comprend un ensemble de transistors MOS (TR1i, TR2j) montés en diodes présentant une distribution aléatoire de tensions de seuil respectives, et comportant N premiers transistors et au moins un deuxième transistor. Au moins un nœud de sortie de ladite fonction est capable de délivrer un signal dont le niveau dépend de la comparaison entre un courant obtenu à partir d'un courant circulant dans ledit au moins un deuxième transistor et un courant obtenu à partir d'un courant de référence égal ou sensiblement égal à la moyenne des courants circulant dans les N premiers transistors. Un premier moyen (FM1i) est configuré pour imposer sur chaque premier transistor une tension de grille respective fixe quelle que soit la valeur du courant circulant dans ce premier transistor, et un deuxième moyen (SM2j) est configuré pour imposer sur chaque deuxième transistor une tension de grille respective fixe quelle que soit la valeur du courant circulant dans ce deuxième transistor.
Abstract:
La présente description concerne un circuit (1) d'activation cyclique d'une fonction électronique (2) comportant un comparateur à hystérésis (14) de commande de la charge d'un élément capacitif (C) d'alimentation de ladite fonction.
Abstract:
L'invention concerne une puce électronique comprenant une pluralité de barres dopées enterrées (9) et un circuit de détection d'une anomalie d'une caractéristique électrique des barres.
Abstract:
Dispositif électronique (CI) comprenant au moins un circuit logique (CL) qui comporte une première borne (B1) destinée à recevoir une tension d'alimentation (Vdd), une deuxième borne (B2) destinée à recevoir une tension de référence (GND), et au moins une borne de sortie (S), la borne de sortie (S) étant configurée pour délivrer un signal pouvant être dans un état haut ou un état bas, au moins un circuit auxiliaire (AUX) couplé entre la première borne (B1) et la deuxième borne (B2) et configuré pour générer ou non de façon aléatoire un courant supplémentaire entre la première borne (B1) et la deuxième borne (B2) à chaque changement d'état du signal sur la borne de sortie (S).
Abstract:
La présente description concerne un dispositif d'alimentation de circuit électronique, configuré pour : faire passer, dans un premier conducteur (251) connecté à un nœud (150), un premier courant (I1') image d'un deuxième courant (I2) consommé par le circuit électronique ; faire passer un troisième courant (I3) dans un deuxième conducteur connecté audit nœud, une première branche d'un miroir de courant (174) faisant passer le troisième courant ; faire passer un quatrième courant (I4) constant dans un troisième conducteur connecté audit nœud ; consommer un cinquième courant (I5) image du troisième courant ; et réguler un potentiel dudit nœud (150) en agissant sur un potentiel de grille d'un transistor (T210) électriquement en série avec une deuxième branche du miroir de courant.
Abstract:
La présente description concerne un dispositif (300) d'alimentation de circuit électronique, configuré pour : faire passer, dans un premier conducteur (351) connecté à un noeud (150), un premier courant (I1') image d'un deuxième courant (I2) consommé par le circuit électronique ; faire passer un troisième courant (I3) dans un deuxième conducteur (353) connecté audit nœud ; réguler un potentiel dudit noeud à une valeur constante (VCST) en agissant sur le troisième courant ; faire passer un quatrième courant (I4) constant dans un troisième conducteur (352) connecté audit nœud ; et consommer un cinquième courant (I5) image du troisième courant.
Abstract:
L'invention concerne une puce électronique comprenant : une pluralité de premières barres semiconductrices d'un premier type de conductivité et de deuxièmes barres semiconductrices d'un deuxième type de conductivité disposées de manière alternée et contiguë sur une région (3) du premier type de conductivité ; deux contacts de détection (17) disposés aux extrémités de chaque deuxième barre ; un circuit de détection (19) de la résistance entre les contacts de détection de chaque deuxième barre ; des tranchées d'isolement (11) s'étendant dans les deuxièmes barres sur une première profondeur entre des éléments de circuit ; et des murs d'isolement (32) s'étendant sur toute la largeur de chaque deuxième barre sur une deuxième profondeur supérieure à la première profondeur.