基于相位调制的激光扫描饱和结构光照明的显微方法及装置

    公开(公告)号:CN107092086A

    公开(公告)日:2017-08-25

    申请号:CN201710103657.4

    申请日:2017-02-24

    Applicant: 浙江大学

    Abstract: 本发明公开一种基于相位调制的激光扫描饱和结构光照明的显微方法,包括:将准直后的照明光束转换为线偏光;在线偏光上加载第一方向的0‑π相位,并调整线偏光的偏振方向;利用偏振方向调整后的线偏光对样品进行扫描,形成激发样品产生荧光的第一激光扫描饱和结构光照明图案,并收集得到第一荧光信号;在线偏光上加载第二方向的0‑π相位,并适应调整线偏光的偏振方向;利用偏振方向调整后的线偏光对样品进行扫描,形成激发样品产生荧光的第二激光扫描饱和结构光照明图案,并收集得到第二荧光信号;对第一荧光信号和第二荧光信号进行处理,得到横向分辨率提升的超分辨图像。本发明还公开一种基于相位调制的激光扫描饱和结构光照明的显微装置。

    光学照射设备和方法

    公开(公告)号:CN102047099A

    公开(公告)日:2011-05-04

    申请号:CN200980119491.9

    申请日:2009-05-18

    Abstract: 一种用于检测来自样本(36)的2D区域的光的光学系统包括用于收集来自样本的收集区的光的收集透镜(34)。光检测器(44)位置相对于样本固定,并且反射器装置(61)将收集的光定向到检测器。反射器装置包括可动部件并且收集透镜(34)可相对于样本运动。收集透镜和可动部件可被配置成限定不同的收集区,并且所述部件的运动实现来自收集区的光定向到光检测器(44)的基本上不变的区域。这种布置避免了对于庞大检测器的需要以便检测来自通过跨样本扫描而形成的2D样本区域的信号。

    Three dimensional scanning system
    7.
    发明授权
    Three dimensional scanning system 失效
    三维扫描系统

    公开(公告)号:US5276546A

    公开(公告)日:1994-01-04

    申请号:US945526

    申请日:1992-09-16

    Abstract: A part scanning and part calibration method for the inspection of printed circuit boards and integrated circuits includes a camera and two rotating mirrors to scan an image of a pattern mask retical upon which a precise pattern has been deposited. Small parts are placed upon the retical to be inspected. The third overhead mirror is provided to view the part under inspection from another perspective. The scene of the part is triangulated and the dimensions of the system can thus be calibrated. A precise retical mask is provided with dot patterns which provide an additional set of information needed for calibration. By scanning more than one dot pattern the missing state values can be resolved using an iterative trigonomic solution.

    Abstract translation: 用于检查印刷电路板和集成电路的部件扫描和部件校准方法包括相机和两个旋转镜,用于扫描已经沉积精确图案的图案掩模图案的图像。 小部件放置在被检查的retical上。 提供第三顶置反射镜以从另一个角度来观察被检查的部件。 该部件的场景是三角形的,因此可以校准系统的尺寸。 提供了精确的掩模掩模,其具有提供校准所需的另外一组信息的点图案。 通过扫描多个点阵图,可以使用迭代的三叉型解决方案来解决缺失的状态值。

    Photothermisches Untersuchungsverfahren, Einrichtung zu seiner Durchführung und Verwendung des Verfahrens
    8.
    发明公开
    Photothermisches Untersuchungsverfahren, Einrichtung zu seiner Durchführung und Verwendung des Verfahrens 失效
    光热检测方法,其工作安排和方法的利用

    公开(公告)号:EP0394932A3

    公开(公告)日:1992-03-25

    申请号:EP90107682.8

    申请日:1990-04-23

    Abstract: Innerhalb eines portablen Meßkopfes (A) befindet sich die Laserlichtquelle (FL), vorzugsweise ein direkt modulierter, diodengepumpter Neodym/YAG-Laser. Dessen Laserstrahl (f₁) wird lichtleiterfrei über eine Scanner-Anordnung (5) und eine Doppeloptik (6) auf die Scan-Zone der zu untersuchenden Materialprobe (B) gerichtet. Die Anstrahl-Meßbahn ist z.B. mäanderförmig mit Strahlablenkung in x- und y-Richtung. Die Doppeloptik (6) läßt die von der Probe (B) emittierten IR-Lichtsignale (- Δ f₃) durch. Diese werden über die Scanner-Anordnung (5) und einen Koppelspiegel (4b) in Form eines dichroitischen Spiegels, welcher die Laserstrahlen (f₁) in der einen Richtung reflektiert und in der anderen Richtung in Bezug auf die IR-Lichtsignale (- Δ f₃) wie ein durchlässiges Fenster wirkt, über eine IR-Optik (7) auf einen IR-Detektor (8) fokussiert und von diesem in entsprechende elektrische Signale umgeformt. Der Meßkopf (A) ist über ein flexibles elektrisches Verbindungskabel mit einer elektronischen Bilderzeugungseinheit verbunden, von welcher die elektrischen Signale zur Steuerung des Lasers (FL) und zur Strahlführung kommen. Gegenstand der Erfindung sind auch eine Reihe vorteilhafter Verwendungen des Verfahrens sowie eine Einrichtung zu dessen Durchführung.

    Appareil et procédé de détection et de numération de particules fluorescentes, portées par un support solide
    9.
    发明公开
    Appareil et procédé de détection et de numération de particules fluorescentes, portées par un support solide 失效
    装置和方法,用于检测和荧光的计数,在固体载体颗粒承载。

    公开(公告)号:EP0333561A1

    公开(公告)日:1989-09-20

    申请号:EP89400656.8

    申请日:1989-03-08

    Applicant: CHEMUNEX

    Abstract: La présente invention est relative à un appa­reil de détection et de numération de particules fluores­centes ou rendues fluorescentes, portées par un support so­lide et à un procédé de détection desdites particules, à l'aide dudit appareil.
    L'appareil de détection et de numération de particules, présentes normalement, ou éventuellement conte­nues en tant que contaminants, dans un fluide liquide ou gazeux, ou dans un produit notamment alimentaire ou d'hygiène, par fluorimétrie, comprend une source lumineuse (10), des moyens de focalisation (12) du faisceau issu de ladite source lumineuse et au moins un moyen de détection (40) de la lumière fluorescente émise par les particules (60) présentes, et comprend en outre :
    - un support (50) approprié à la collecte des particules naturellement fluorescentes ou rendues fluo­rescentes à l'aide d'au moins un colorant approprié choisi dans le groupe qui comprend les colorants vitaux, les colo­rants de viabilité positive et des substances fluorescentes portées par des anticorps et/ou des sondes nucléiques,
    - des moyens de balayage (21, 31, 35) de la totalité de la surface du support à analyser, par ledit faisceau lumineux,
    - et, un microprocesseur (45) de traitement pourvu d'au moins un moyen d'enregistrement et de comptage simultané des signaux électriques transmis par le/les dispositifs de détection (40) et le système de balayage (21, 31, 35).

    Abstract translation: 设备,用于检测和计数颗粒,其荧光或荧光制成,由固体载体携带,并用于通过所述设备的方式检测所述颗粒的方法。 用于检测和计数粒子通常存在或可以包含在液体或气体流体中的污染物的形式的装置,或在尤其是产物的食品或卫生型产品,通过荧光,包括:光源(10) 装置,用于聚焦(12)从所述光源和用于检测至少一个装置(40)的荧光由存在的颗粒(60)所发射的,因此,一个梁包括:一个支撑件(50)适合于收集颗粒,其自然 荧光或通过从包括重要的污渍,以积极的活力和通过抗体和/或核酸探针携带荧光物质上的污渍的组中选择至少一种合适的染色剂的手段已经进行了荧光; 装置,用于扫描(21,31,35),所述支撑表面的整体由所述光束来分析; 并设置有至少一个微处理器(45)装置,用于记录和计数同时电信号反式由检测装置(一个或多个)(40)和扫描系统(21,31,35)mitted。

    Line scanning mechanical streak systems and methods for phosphorescence lifetime imaging

    公开(公告)号:US11815456B2

    公开(公告)日:2023-11-14

    申请号:US17445945

    申请日:2021-08-25

    Inventor: Meng Cui

    Abstract: Systems and methods for analyzing samples, such as tissue samples, and measuring the emissions when these samples are exposed to light are disclosed. Embodiments include illuminating multiple target locations on a sample with laser light, which may first be manipulated by a scanner, and receiving decaying emissions from the target location. At least some embodiments include the emissions traveling backwards along a substantial portion of the laser light pathway and being received by a detector. Additional embodiments include converting the received emissions into streak lines of position versus time, converting the streak lines to plots of signal strength versus time, and curve fitting the plots to determine representative decay times. In some embodiments, the decay times are presented as plots of position on the surface of the sample versus emission strength, which may be color coded. Some embodiment dwell on each target location for multiple scans of the laser.

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