公开(公告)号：CN106979957A

公开(公告)日：2017-07-25

申请号：CN201710369442.7

申请日：2017-05-23

Applicant: 中国科学院上海应用物理研究所

Inventor： 滑文强 ,  杨春明 ,  王玉柱 ,  李秀宏 ,  边风刚 ,  王劼

IPC: G01N23/201

CPC classification number: G01N23/201

Abstract: 本发明涉及一种用于掠入射X射线小角散射实验的真空冷热台，包括：提供一密闭空间的腔体；与密闭空间相通的真空接头；设置于密闭空间内的变温块，变温块的线缆和液氮进出管道穿过变温块固定密封窗与密闭空间外部的控温装置连接，变温块的顶表面上设置有两个突起螺丝头；用于放置样品的样品托盘，其上分布着中心对称的多个角度定位孔，角度定位孔与突起螺丝头角度配合；固定于腔体上的彼此相对的入射密封窗和出射密封窗，X射线从入射密封窗穿过并以0°～2°的掠入射角度照射到样品上产生散射X射线，其穿过出射密封窗后进入探测器。冷热台通过变温块和样品托盘对样品进行变温，既保证了样品的均匀变温，又能实现样品的面内旋转实验。

公开(公告)号：CN103837556A

公开(公告)日：2014-06-04

申请号：CN201310414907.8

申请日：2013-09-12

Applicant: 住友橡胶工业株式会社

Inventor： 间下亮 ,  岸本浩通 ,  增井友美

IPC: G01N23/201 ,  G01N23/202

CPC classification number: G01N23/202 ,  G01N23/201 ,  G01N2223/1006 ,  G01N2223/1016 ,  G01N2223/106 ,  G01N2223/623

Abstract: 本发明提供用于评估聚合物材料中能量损耗的方法，其中所述方法能以出色的测量精度对试样之间的性能差异进行充分评估；用于评估聚合物材料耐崩裂性的方法，其中所述方法在短时间内以低成本提供具有出色测量精度的评估；以及用于评估聚合物材料耐磨性的方法，其中，所述方法能以出色的测量精度对试样之间的性能差异进行充分评估。本发明涉及用于评估聚合物材料的能量损耗、耐崩裂性、和耐磨性的方法，所述方法包括用X射线或中子辐照聚合物材料以进行X射线散射测量或中子散射测量。

公开(公告)号：CN101606082A

公开(公告)日：2009-12-16

申请号：CN200780048788.1

申请日：2007-10-26

Applicant: 洛斯阿拉莫斯国家安全股份有限公司

Inventor： 拉里·J·舒尔茨 ,  亚历克塞·V·克利门科 ,  安德鲁·M·弗雷泽 ,  克里斯托弗·L·莫里斯 ,  康斯坦丁·N·博罗兹丁 ,  约翰·C·奥鲁姆 ,  迈克尔·J·索桑 ,  尼古拉斯·W·亨加特纳

IPC: G01T1/16 ,  G01T1/00

CPC classification number: G01N23/201 ,  G01N23/20 ,  G01V5/0025 ,  G01V5/0075 ,  G06F17/18

Abstract: 用于带电粒子探测的系统、装置、计算机程序产品和方法包括带电粒子层析数据的物体体积散射密度剖面的统计重建，以使用统计多重散射模型确定带电粒子散射的概率分布，并使用期望最大化(ML/EM)算法确定物体体积散射密度的实质最大似然性估计，以重建物体体积散射密度。能够从所重建的体积散射密度剖面中识别占据感兴趣的体积的物体的存在和/或类型。带电粒子层析数据可以是来自扫描包裹、集装箱、车辆或货物的μ介子跟踪器的宇宙射线μ介子层析数据。能够使用可在计算机上执行的计算机程序实现这样的方法。

公开(公告)号：CN108738342A

公开(公告)日：2018-11-02

申请号：CN201680082490.1

申请日：2016-12-19

Applicant: LM ,  WP ,  专利控股有限公司

Inventor： L.尼尔森 ,  K.贾斯普尔森

IPC: G01N23/201 ,  B29C70/38 ,  B29C51/14 ,  G01B15/00 ,  G01N23/205 ,  G01N23/02

CPC classification number: G01N23/201 ,  B29C51/14 ,  G01B15/00 ,  G01N23/02 ,  G01N23/205

Abstract: 本公开内容涉及一种用于检测细长结构（诸如风力涡轮机叶片部件）中的纤维未对准的方法。该细长结构具有沿着纵向方向的长度并且包括多个堆叠的增强纤维层。该多个纤维层包括具有基本上在纵向方向上单向对准的取向的纤维。该方法包括通过在相比于纤维的取向的角度上发射x射线射束来沿着长度的至少一部分扫描细长结构。该方法包括检测散射射线，并且确定被检测到的散射射线的强度。该方法包括基于所确定的强度来估计纤维未对准的大小。

公开(公告)号：CN105008904B

公开(公告)日：2018-07-27

申请号：CN201480012351.2

申请日：2014-01-07

Applicant: 布鲁克AXS公司

Inventor： J·金克

IPC: G01N23/201

CPC classification number: G01N23/207 ,  G01N23/201 ,  G01N2223/501 ,  G01N2223/61 ,  G01N2223/6116

Abstract: 种通过位置敏感检测器使用平面内掠入射衍射检查晶体样本的表面的装置。x射线源照射样本的个延伸区域,并且对于晶体的具有适当晶格取向的区段,产生个细长的衍射信号。然后可以改变样本和x射线束的相对位置以照射样本的不同区域,使得衍射信号对应于这些其他区域。通过扫描整个样本,可以生成样本表面的空间走向。所述系统可以用来定位样本表面上的晶体边界、缺陷或者衰减材料的存在。

公开(公告)号：CN105699407B

公开(公告)日：2018-07-13

申请号：CN201610056588.1

申请日：2012-09-11

Applicant: 住友橡胶工业株式会社

Inventor： 间下亮 ,  岸本浩通

IPC: G01N23/201 ,  G01N23/202

CPC classification number: G01N23/201 ,  G01N23/202 ,  G01N2223/1016 ,  G01N2223/106 ,  G01N2223/623 ,  G01N2223/627

Abstract: 本申请提供测定精度优良、且对各试样的性能差也能充分评价的评价高分子材料的回弹弹性模量、硬度或能量损失的方法。本发明涉及通过向高分子材料照射X射线或中子束，实施X射线散射测定或中子束散射测定，从而评价高分子材料的回弹弹性模量、硬度或能量损失的方法。

公开(公告)号：CN104807841B

公开(公告)日：2018-01-26

申请号：CN201410544535.5

申请日：2014-10-15

Applicant: 财团法人工业技术研究院

Inventor： 傅尉恩 ,  吴文立

IPC: G01N23/201

CPC classification number: G01N23/201

Abstract: 本揭露提供一种增加穿透式小角度X光散射(tSAXS)的散射强度的装置，包含:增强光栅元件，设置于与待测光栅元件相距在入射X光的纵向相干长度内；以及提供纳米级精确度的放置机构，可调置增强光栅元件与待测光栅元件的横向及纵向相对对位或位置，达纳米级精确度。

公开(公告)号：CN107525817A

公开(公告)日：2017-12-29

申请号：CN201710451664.3

申请日：2017-06-15

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 小林信太郎 ,  稻叶克彦

IPC: G01N23/207

CPC classification number: G01N23/207 ,  G01C9/00 ,  G01N23/20008 ,  G01N23/201 ,  G01N2223/316 ,  G01N2223/61 ,  G21K1/02

Abstract: 本发明涉及X射线衍射装置。在以测角仪圆的中心点为中心的角度的各角度中利用X射线检测器来检测在向样品照射X射线时在样品处衍射的衍射X射线由此得到衍射X射线的X射线衍射角度的X射线衍射装置中，具有具备针孔的针孔构件，针孔使从样品以通过测角仪圆的中心点的方式衍射的X射线通过，其以外的衍射X射线由针孔构件所遮蔽。

公开(公告)号：CN107074576A

公开(公告)日：2017-08-18

申请号：CN201580051692.5

申请日：2015-09-25

Applicant: 宇部兴产株式会社

Inventor： 野北里花 ,  日元武史 ,  冈田文夫 ,  松永泰蔵

IPC: C01F11/18 ,  G01N23/20 ,  G01N23/201

CPC classification number: C01F11/18 ,  G01N23/20 ,  G01N23/201

Abstract: 本发明为高分散性碱土金属化合物微粉末，该微粉末以碱土金属化合物为主要成分，在碱土金属微粒的表面附着有表面活性剂，用小角X射线散射法照射波长0.154nm的X射线进行测定，在散射角2θ为0.2～1.0°的范围内，在散射强度中具有散射峰。本发明为微粉末分散性评价方法，在粉末状态下对碱土金属化合物微粉末分散在溶剂中时的分散性进行评价，具有：X射线照射工序，用小角X射线散射法对碱土金属化合物微粉末照射X射线，得到规定范围散射角下的散射强度的光谱；散射强度分析工序，根据该光谱，分析在散射角2θ为0.2～1.0°的范围内是否具有散射强度的散射峰；分散性推定工序，基于该散射峰的检测结果，推定溶剂中的碱土金属化合物微粉末的分散性。

公开(公告)号：CN106290426A

公开(公告)日：2017-01-04

申请号：CN201610955590.2

申请日：2016-10-27

Applicant: 中国科学院上海应用物理研究所

Inventor： 贺周同 ,  曾建荣 ,  田丰 ,  唐辉 ,  戚威 ,  汪雪 ,  张灿 ,  夏汇浩

IPC: G01N23/201

CPC classification number: G01N23/201

Abstract: 本发明公开了一种用于小角X射线散射实验的原位装置。该装置包括：真空及气氛保护系统、应力加载及测量系统、温度加载及测量系统；本发明在应力加载系统中采用拉-压应力转换设计实现在应力加载过程中样品的自对中；本发明在加温及测量系统中采用特殊设计，在实现宽X射线通道的同时保证温度场的均匀，同时样品的加温温度可达1100摄氏度。本发明结构简单、性能可靠、测量精度高，可在真空或气氛保护环境下同时对样品进行温度、应力加载。本发明配合同步辐射小角X射线散射线站使用，可对被测样品进行在力学使役环境下的微观变形，损伤和断裂过程进行原位检测，为揭示脆性材料样品的形变、微观结构在应力下的变化提供了有效、可靠的测试手段。