公开(公告)号：CN110726742B

公开(公告)日：2023-05-12

申请号：CN201910510399.0

申请日：2019-06-13

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 小林信太郎 ,  稻叶克彦 ,  光永徹

IPC: G01N23/20008 ,  G01T1/36 ,  G01N23/20

Abstract: 本发明提供一种X射线分析装置及其光轴的调整方法，能够每当进行使用分析器的测量时不进行光轴调整，缩短测量时间、降低测量成本。X射线分析装置包括：样品台，用于支持样品；N维检测器(N是整数1或2)；以及分析器，包括1或多个分析器晶体，所述N维检测器的检测面具有第一检测区域和与所述第一检测区域分离配置并且与所述第一检测区域区分检测的第二检测区域，所述样品产生的衍射X射线所行进的多条光路包括直接到达所述第一检测区域的第一光路和经由所述1或多个分析器晶体而到达的第二光路，所述N维检测器根据所述第一检测区域的X射线检测进行所述第一光路的测量，根据所述第二检测区域的X射线检测进行所述第二光路的测量。

公开(公告)号：CN112986291A

公开(公告)日：2021-06-18

申请号：CN202011435523.0

申请日：2020-12-10

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 小林信太郎 ,  稻叶克彦 ,  小中尚

IPC: G01N23/20016 ,  G01N23/20025

Abstract: 本发明提供一种控制装置、系统、方法以及程序，有效利用衍射计的测角器所具备的轴，即便不具有特别的轴结构，也能够进行伴随轴的精密的入射角度的控制。控制装置对试样的姿势进行控制，其具备：输入部，接受表示试样相对于轴的倾斜的倾斜信息的输入；调整量决定部，使用倾斜信息，决定用于相对于变化的值来对试样面法线或者晶格面法线与散射矢量的偏离量进行修正的ω值以及χ值的调整量；和驱动指示部，在X射线衍射测定时，基于所决定的ω值以及χ值的调整量，与试样的轴旋转相应地驱动测角器。这样，能够将消除不受轴的旋转的影响的试样的倾斜角度的调整角度，变换为独立于轴旋转的ω值以及χ值的调整量。

公开(公告)号：CN102297874A

公开(公告)日：2011-12-28

申请号：CN201110106069.9

申请日：2011-04-27

Applicant: 株式会社理学 ,  凸版印刷株式会社

Inventor： 中野朝雄 ,  齐藤纯一 ,  崔海龙 ,  稻叶克彦 ,  野野口雅弘

IPC: G01N23/223 ,  G01N21/958

Abstract: 本发明涉及一种检查方法及装置，从导电性的观点出发检查液晶显示装置上附着的异物。该方法检查液晶显示装置用的基板上附着的异物中是否含有金属元素，每隔检查对象的上述基板的规定张数对不存在异物的部位测定1次预先测定的比较用荧光X射线光谱和上述基板的异物所附着的1个或多个部位的荧光X射线光谱，对多个X射线光谱进行数据处理，从而高精度地判定上述异物是否含有金属元素。

公开(公告)号：CN110726742A

公开(公告)日：2020-01-24

申请号：CN201910510399.0

申请日：2019-06-13

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 小林信太郎 ,  稻叶克彦 ,  光永徹

IPC: G01N23/20008 ,  G01T1/36 ,  G01N23/20

Abstract: 本发明提供一种X射线分析装置及其光轴的调整方法，能够每当进行使用分析器的测量时不进行光轴调整，缩短测量时间、降低测量成本。X射线分析装置包括：样品台，用于支持样品；N维检测器(N是整数1或2)；以及分析器，包括1或多个分析器晶体，所述N维检测器的检测面具有第一检测区域和与所述第一检测区域分离配置并且与所述第一检测区域区分检测的第二检测区域，所述样品产生的衍射X射线所行进的多条光路包括直接到达所述第一检测区域的第一光路和经由所述1或多个分析器晶体而到达的第二光路，所述N维检测器根据所述第一检测区域的X射线检测进行所述第一光路的测量，根据所述第二检测区域的X射线检测进行所述第二光路的测量。

公开(公告)号：CN107525817A

公开(公告)日：2017-12-29

申请号：CN201710451664.3

申请日：2017-06-15

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 小林信太郎 ,  稻叶克彦

IPC: G01N23/207

CPC classification number: G01N23/207 ,  G01C9/00 ,  G01N23/20008 ,  G01N23/201 ,  G01N2223/316 ,  G01N2223/61 ,  G21K1/02

Abstract: 本发明涉及X射线衍射装置。在以测角仪圆的中心点为中心的角度的各角度中利用X射线检测器来检测在向样品照射X射线时在样品处衍射的衍射X射线由此得到衍射X射线的X射线衍射角度的X射线衍射装置中，具有具备针孔的针孔构件，针孔使从样品以通过测角仪圆的中心点的方式衍射的X射线通过，其以外的衍射X射线由针孔构件所遮蔽。