-
公开(公告)号:TWI495857B
公开(公告)日:2015-08-11
申请号:TW102137795
申请日:2013-10-18
Applicant: 蘋果公司 , APPLE INC.
Inventor: 尹葉 , YIN, YE , 馬庫 賈布利爾 , MARCU, GABRIEL , 吳佳穎 , WU, JIAYING
IPC: G01J3/46
CPC classification number: G01J3/28 , G01J3/0218 , G01J3/0243 , G01J3/0291 , G01J3/0294 , G01J3/0297 , G01J3/462 , G01J3/465 , G01J3/50 , G01J3/502 , G01J3/506 , G01J3/51 , G01J3/513 , G01J3/524
-
公开(公告)号:TWI411769B
公开(公告)日:2013-10-11
申请号:TW098127865
申请日:2009-08-19
Applicant: 柯尼卡美能達光電股份有限公司 , KONICA MINOLTA SENSING, INC.
Inventor: 清水晉二 , SHIMIZU, SHINJI , 唐崎敏彥 , KARASAKI, TOSHIHIKO , 山元廣治 , YAMAMOTO, KOJI , 清井計彌 , KIYOI, KAZUYA , 長井慶郎 , NAGAI, YOSHIROH , 靍谷克敏 , TSURUTANI, KATSUTOSHI
CPC classification number: G01J3/51 , G01J3/02 , G01J3/0264 , G01J3/0294
-
公开(公告)号:TWI460406B
公开(公告)日:2014-11-11
申请号:TW098111186
申请日:2009-04-03
Applicant: 蘭姆研究公司 , LAM RESEARCH CORPORATION
Inventor: 維納寇帕 維傑亞庫瑪C , VENUGOPAL, VIJAYAKUMAR C. , 派博 艾利克 , PAPE, ERIC , 布斯 珍 保羅 , BOOTH, JEAN-PAUL
CPC classification number: G01N21/274 , G01J3/02 , G01J3/0205 , G01J3/0218 , G01J3/0294 , G01J3/443 , G01N21/68
-
94.高密度多通道檢測裝置 HIGH DENSITY MULTI-CHANNEL DETECTING DEVICE 审中-公开
Simplified title: 高密度多信道检测设备 HIGH DENSITY MULTI-CHANNEL DETECTING DEVICE公开(公告)号:TW200726955A
公开(公告)日:2007-07-16
申请号:TW095101406
申请日:2006-01-13
Inventor: 王浩偉 WANG HAU-WEI , 楊富翔 YANG FU-SHIANG , 潘鼎翔 PAN, DING-HSIANG
CPC classification number: G01J3/02 , G01J3/0208 , G01J3/0216 , G01J3/0218 , G01J3/0294 , G01N21/8422
Abstract: 一種高密度多通道檢測裝置,用以檢測一樣本。此高密度多通道檢測裝置至少包含:光源、準直透鏡、分光鏡以及高密度多通道影像裝置。光源是用以射出一光束。準直透鏡配置在光源前且在光束的光路上,將光束修正為平行光。分光鏡用以將準直透鏡射出的光束反射至樣本,並使從樣本反射的光束穿透該分光鏡。高密度多通道影像裝置配置在接收穿透該分光鏡光束的位置上,對樣本進行檢測。高密度多通道影像裝置具有光收集器以及接收來自光收集器光束的多通道核心模組,並且利用光收集器,使入射到多通道核心模組的光束為平行於多通道核心模組的光軸。
Abstract in simplified Chinese: 一种高密度多信道检测设备,用以检测一样本。此高密度多信道检测设备至少包含:光源、准直透镜、分光镜以及高密度多信道影像设备。光源是用以射出一光束。准直透镜配置在光源前且在光束的光路上,将光束修正为平行光。分光镜用以将准直透镜射出的光束反射至样本,并使从样本反射的光束穿透该分光镜。高密度多信道影像设备配置在接收穿透该分光镜光束的位置上,对样本进行检测。高密度多信道影像设备具有光收集器以及接收来自光收集器光束的多信道内核模块,并且利用光收集器,使入射到多信道内核模块的光束为平行于多信道内核模块的光轴。
-
公开(公告)号:JP2018515158A
公开(公告)日:2018-06-14
申请号:JP2017548421
申请日:2016-03-16
Applicant: グルコビスタ・インコーポレイテッド
Inventor: ゲルリッツ,ヨナタン , オストリツキー,アレクサンダー , ゲルリッツ,ロテム
IPC: G01N21/3577 , G01N21/17 , A61B5/1455
CPC classification number: A61B5/1455 , A61B5/14532 , A61B5/7203 , A61B5/7246 , A61B5/7278 , A61B2562/0233 , G01J3/021 , G01J3/0291 , G01J3/0294 , G01J3/08 , G01J3/108 , G01J2005/0048
Abstract: 濃度補正システムは、赤外検出器と、赤外放射の総放射を生成するコンポーネントとを含む。ミラーアセンブリは、補正構造と測定構造との間で切換可能なミラーを含む。補正構造では、ミラーは検出器に入射するミラー信号を生成する。また、ミラーアセンブリは、体外赤外放射が検出器に達するのを阻害する。測定構造では、ミラーアセンブリは検出器で体外赤外放射を受け入れる。濃度補正方法は、体外赤外放射を受け入れると同時に、総放射の第1の部分を受け入れることとを含む。濃度を示す測定値が検出器から記録される。総放射の第2の部分はミラーで反射され、検出器に入射するミラー信号を生成する。ミラー信号に応じた補正値が検出器から記録されて、測定値の補正に使用される。 【選択図】図1
-
公开(公告)号:JP6340084B2
公开(公告)日:2018-06-06
申请号:JP2016558381
申请日:2015-03-20
Applicant: ハイパーメツド・イメージング・インコーポレイテツド
Inventor: ダーティー,マーク,アンソニー , ユドフスキー,ドミートリー , ティルマン,マイケル , ミーネン,ピーター
CPC classification number: H04N5/332 , G01J3/0205 , G01J3/0208 , G01J3/0272 , G01J3/0278 , G01J3/0283 , G01J3/0289 , G01J3/0291 , G01J3/0294 , G01J3/10 , G01J3/108 , G01J3/2823 , G01J3/36 , G01J2003/106 , G01J2003/1213 , G01J2003/2826 , G06T2207/10016 , H04N5/2254 , H04N5/2256 , H04N5/2354
-
公开(公告)号:JP5666459B2
公开(公告)日:2015-02-12
申请号:JP2011532307
申请日:2009-10-19
Inventor: シャン,リアン−チン , シャン,アンドリュー
CPC classification number: G01J3/02 , G01J3/0208 , G01J3/0294 , G01J3/18 , G02B5/1861
-
公开(公告)号:JP5440110B2
公开(公告)日:2014-03-12
申请号:JP2009260259
申请日:2009-11-13
Applicant: 株式会社リコー
CPC classification number: G01J3/2823 , G01J3/02 , G01J3/0205 , G01J3/0208 , G01J3/0216 , G01J3/0229 , G01J3/0262 , G01J3/0294 , G01J3/04 , G01J3/26 , G01J3/2803 , G01J3/51 , G01J3/513 , G01J2003/2806 , H04N9/045
-
公开(公告)号:JPWO2010137176A1
公开(公告)日:2012-11-12
申请号:JP2011515831
申请日:2009-05-29
Applicant: トヨタ自動車株式会社
Inventor: 船山 竜士 , 竜士 船山 , 川真田 進也 , 進也 川真田 , 泰容 横地 , 泰容 横地 , 雅人 遠藤 , 雅人 遠藤 , 康浩 吉田 , 康浩 吉田 , 北浜 謙一 , 謙一 北浜
IPC: G01J3/36
CPC classification number: G01J3/0229 , G01J3/02 , G01J3/021 , G01J3/0235 , G01J3/0294 , G01J3/04 , G01J3/32 , G01J3/36
Abstract: 2つ以上の互いに異なる測定部分を含む測定対象に対して、各測定部分からの光のスペクトル測定に要する測定時間を短縮するスペクトル測定装置を提供する。スペクトル測定装置は、2本以上のスリット12bを有するスリット群12Gと、スリット群12Gによって抽出された光をスリット12bごとに分光する分光器14と、分光器14によって分光されたスリット12bごとの各成分の強度を測定する測定器15とを備える。各スリット12bは、2以上の互いに異なる測定部分を含む測定対象20に対して、当該測定対象20からの光のうちから、各測定部分からの光を抽出する。
-
公开(公告)号:JPWO2010126118A1
公开(公告)日:2012-11-01
申请号:JP2011511461
申请日:2010-04-28
Applicant: イマジニアリング株式会社
CPC classification number: G01J3/18 , G01J3/02 , G01J3/0205 , G01J3/0208 , G01J3/0216 , G01J3/0218 , G01J3/0229 , G01J3/0294 , G01J3/2803 , G01J3/36 , G01J3/443
Abstract: 製造が容易で、小型化が可能であって、特定の波長帯域について高い波長分解能を実現できる分光器を提供するために、入射光を波長に応じて異なる方向に偏向させて分離させる回折格子331と、この回折格子331を経た光が入射されこの光を拡散させる少なくとも一の光学素子332aと、この光学素子332aを経た光を受光するラインセンサ333とを備えることにより、ラインセンサ333に入射される特定の波長帯域の光のみを選択的に拡大して受光するようにした。
-
-
-
-
-
-
-
-
-