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公开(公告)号：CN107941351A
公开(公告)日：2018-04-20
申请号：CN201610890674.2
申请日：2016-10-12
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
CPC classification number: G01J5/522 , G01J5/0896 , G01J2005/0048
Abstract: 一种在真空低温条件下应用的红外定标光源，该红外定标光源主要包括外壳及机械安装接口、黑体辐射面、支撑结构、真空封装窗口、供电线路，黑体辐射面置于壳体内，壳体顶部在黑体辐射膜上方留有圆形光阑，黑体辐射面与光阑所在平面平行，壳体设有用于穿过供电线路的孔，壳体外表面具有较高的发射率，内表面具有较低的发射率，黑体辐射膜正对光阑的一面作为黑体辐射面，具有高发射率，用于发射红外辐射；黑体辐射膜另一面具有低发射率，支撑结构，其采用耐高温、低热导率的陶瓷材料制成，供电线路用于为所述黑体辐射面供电，进而控制所述黑体辐射面的温度。
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公开(公告)号：CN107941147A
公开(公告)日：2018-04-20
申请号：CN201711143078.9
申请日：2017-11-17
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
Abstract: 本发明提供了一种大型系统三维坐标非接触在线测量方法，该所用到的测量装置包括摄相机、激光位移传感器、投影仪和控制系统；摄相机、激光位移传感器、投影仪分别通过电缆与控制系统相连，使用激光位移传感器对被测对象的死角处进行高精度扫描，激光位移传感器将扫描得到的图像传输至控制系统。本发明采用单目视觉信息、结构光与激光位移探测数据融合，可高精度对三维尺寸进行测量，可用于大型复杂曲面、复杂结构的关键部件加工时状态监测和质量检验。
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公开(公告)号：CN107561008A
公开(公告)日：2018-01-09
申请号：CN201610515851.9
申请日：2016-07-01
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01N21/01
Abstract: 本发明提供了一种用于真空紫外漫反射板BRDF特性测量的测量装置，包括：依次设置于光路中的标准光源、真空紫外单色分光单元、真空紫外准直光学单元、真空仓内二维旋转机构、真空紫外探测单元和控制单元。采用本发明能够对真空紫外漫反射板的双向反射分布函数进行精确测量，波段范围120nm～200nm，测量角度范围为±60°：真空度：≤1×10-3Pa，测量不确定度：≤6％(k＝2)；本发明能够及时发现真空紫外载荷设计过程中存在的缺陷，减少其研制过程中的反复，节省研制经费，缩短研制周期，避免影响整体进度的顺利开展；同时有效保证了真空紫外空间载荷获取数据的准确性，对获取准确测量数据有着重大意义。
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公开(公告)号：CN107062989A
公开(公告)日：2017-08-18
申请号：CN201710124732.5
申请日：2017-03-03
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: F41G3/32
CPC classification number: F41G3/32
Abstract: 本发明涉及光学测试技术领域，尤其涉及一种基于微型帕尔贴阵列的红外动态场景模拟器，包括控制计算机、驱动电路、微型帕尔贴阵列和投影镜头；控制计算机通过VGA接口与驱动电路连接，驱动电路通过寻址线与帕尔贴阵列相连接，帕尔贴阵列放置于投影镜头的焦平面上；控制计算机用于产生视频矩阵模拟信号，并发送给驱动电路；驱动电路对视频矩阵模拟信号进行解析，并进行模数转换，然后向微型帕尔贴阵列发送数字驱动信号；微型帕尔贴阵列产生温场分布图像，并辐射至投影镜头；投影镜头产生无穷远处的无渐晕的红外动态场景。本发明可实现低温高分辨率红外动态场景的模拟，有效提高低温红外动态场景模拟精度，满足不同导引头的测试需求。
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公开(公告)号：CN103175608B
公开(公告)日：2016-06-08
申请号：CN201310065834.6
申请日：2013-03-04
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
Abstract: 本发明涉及紫外-真空紫外辐射计量测试领域，具体的讲是一种紫外光源均光装置，包括复数个漫射器，驱动单元；每个所述的漫射器用于对特定波段的入射紫外光进行均光和聚焦；所述驱动单元用于根据测试的需要调节相应的漫射器位于光路中。通过本发明实施例，由于采用了工作于110nm-400nm紫外光波段范围的复数个漫射镜均光和聚焦，保证了以点光源或面光源作为紫外光源时的光谱辐照度校准既可以产生很好的余弦校正效应，又能保证系统的信噪比。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN105417491A
公开(公告)日：2016-03-23
申请号：CN201510924564.9
申请日：2015-12-14
Applicant: 苏州诺联芯电子科技有限公司 , 北京振兴计量测试研究所
CPC classification number: B81C1/00015 , B81C1/0069
Abstract: 本发明提供了一种定标黑体光源的制备方法，包括如下步骤：提供薄片衬底，并在衬底表面制作第一绝缘层；在第一绝缘层背离所述衬底的一侧的表面制作加热源，所述加热源具有可与外电路实现电性连接的引线区；在加热源背离第一绝缘层的一侧的表面制作第二绝缘层；在第一绝缘层或第二绝缘层背离衬底的一侧的表面制作温度传感器；使温度传感器与引线区背离所述衬底的一侧形成向外暴露以与外电路实现电性连接的引线通道；在第二绝缘层背离加热源的一侧的表面制作黑体薄膜。所述定标黑体光源升温、降温速度快，温度稳定时间仅需5-10分钟，对于面积在5cm2的光源芯片，辐射温度达到500℃时，功耗仅在50W以下，并且体积小，易于集成在成像系统内部。
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公开(公告)号：CN105372848A
公开(公告)日：2016-03-02
申请号：CN201510846694.5
申请日：2015-11-27
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
CPC classification number: G02F1/0102 , G02F1/17 , G02F1/23
Abstract: 一种红外微辐射阵列，属于红外动态仿真技术领域，涉及红外动态场景生成器件。本发明的红外微辐射阵列主要包括基底、微辐射元、导热层、封装窗口等，其微辐射元将可见光及近红外波段的动态图像，转换为具有一定帧频的中波红外和长波红外的动态图像，减少了衍射现象，提高了图像质量，可作为红外动态场景模拟系统的核心器件，解决了在中波波段和长波波段复杂战场环境的高动态、高分辨率、大动态范围场景模拟技术的难题，具有广泛的应用前景。
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公开(公告)号：CN103954366A
公开(公告)日：2014-07-30
申请号：CN201410174914.X
申请日：2014-04-28
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01J5/00
Abstract: 本发明公开了一种用于真空低温条件下的超大面源黑体校准系统。本系统包括红外信号传输光学系统、光调制器、红外探测器、AD信号采集卡、二维扫描装置、计算机控制单元；其中红外信号传输光学系统位于待校准面源黑体之前，安装在二维扫描转置上，红外信号传输光学系统的输出端与光调制器输入端连接；红外探测器用于接收光调制器的输出信息，其输出端经AD信号卡与计算机控制单元连接；待校准面源黑体、红外信号传输光学系统、光调制器、红外探测器、AD信号采集卡、二维扫描装置位于同一真空仓内。本发明能够实现真空低温条件下超大面源黑体校准的系统，填补了此项技术空白。
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公开(公告)号：CN103677011A
公开(公告)日：2014-03-26
申请号：CN201310626223.4
申请日：2013-11-28
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
Abstract: 本发明公开了一种适用于真空条件下面源黑体宽温度范围控制系统。本系统包括温度控制仪表、程控电源、温度传感器、制冷装置、加热片和面源黑体辐射源；其中，所述加热片、所述温度控制仪表分别设置于所述面源黑体辐射源上，所述温度控制仪表的第一路控制信号输出端经所述程控电源与所述加热片连接，所述温度控制仪表的第二路控制信号输出端与所述制冷装置的控制端连接，所述制冷装置与所述面源黑体辐射源连接；所述温度传感器所述温度控制仪表的信号输入端连接。本系统可以有效的提高面源黑体的温度控制范围，特别是制冷方式，能够使得面源黑体控制温度下限达到190K，能逼真的模拟真空低温红外辐射标准源。
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