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公开(公告)号：CN103364177B
公开(公告)日：2017-03-01
申请号：CN201310058976.X
申请日：2013-02-25
Applicant: 大塚电子株式会社
Inventor： 江南世志
IPC: G01M11/02
CPC classification number: G01J1/4257 , G01J1/0228 , G01J1/0242 , G01J1/0403 , G01J1/0488 , G01J1/4228 , G01J3/505 , G01J3/51 , G01J2001/4247
Abstract: 本发明提供一种用于测量光源的配光特性的配光特性测量装置和配光特性测量方法。配光特性测量装置包括以具有规定的相对关系的方式配置的多个检测器。一个检测器的检测范围的至少一部分与邻接的其它检测器的检测范围重复。配光特性测量装置还包括：驱动单元，其将多个检测器作为一体来进行驱动，由此更新多个检测器相对于光源的位置关系；以及计算单元，其根据由多个检测器在相同的时刻获取到的各个检测结果，进行与多个检测器的相对关系和检测范围的重复中的至少一方相应的处理，计算光源的配光特性。
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公开(公告)号：CN106061945A
公开(公告)日：2016-10-26
申请号：CN201480076845.7
申请日：2014-09-26
Applicant: 大塚电子株式会社
IPC: C07D213/24 , C09K11/06 , G01N21/78 , G01N33/58
CPC classification number: C07D213/06 , C07D213/127 , C07D213/30 , C07D213/38 , C09K11/06 , C09K2211/1011 , C09K2211/1029 , C09K2211/1044 , G01N33/582
Abstract: 本发明的课题在于提供一种双光子吸收化合物，所述双光子吸收化合物的水溶性优异，且可在近红外波长区域内吸收双光子而被激发从而发出红色荧光。式(1)表示的化合物的水溶性优异，且可在近红外波长区域内吸收双光子而被激发从而发出红色荧光。式(1)中，X1及X2表示下述式(2)，且可以相同或不同，Y表示环数为2～4的稠合多环基，式(2)中，R1表示C1～C3的烷基，Z‑表示针对吡啶鎓阳离子的反阴离子，波浪线表示针对Y的共价键。X1‑Y‑X2 (1)
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公开(公告)号：CN105890746A
公开(公告)日：2016-08-24
申请号：CN201610086088.2
申请日：2016-02-15
Applicant: 大塚电子株式会社
Abstract: 提供一种即使是指向性强的光源也能够以更高的精度测量该光源的配光特性的配光特性测量装置以及配光特性测量方法。配光特性测量装置包括：摄像部，其被配置为与光源分离规定距离；移动机构，其在维持光源与摄像部之间的距离的状态下，使摄像部相对于光源的位置关系连续变化；以及处理单元，其计算光源的配光特性。处理单元获取在第一摄像条件下拍摄到的多个图像数据以及在与第一摄像条件不同的第二摄像条件下拍摄到的多个图像数据，并且根据在第一摄像条件下以及在第二摄像条件下拍摄到的图像数据所包含的与关注相对位置对应的第一图像信息以及第二图像信息，来决定与关注相对位置对应的校正后的图像信息。
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公开(公告)号：CN104246456B
公开(公告)日：2016-08-17
申请号：CN201280072460.4
申请日：2012-07-30
Applicant: 大塚电子株式会社
IPC: G01J1/00
CPC classification number: G01J1/06 , G01J1/0223 , G01J1/0403 , G01J1/0488 , G01J1/4257 , G01J2001/4247
Abstract: 本发明提供一种光学测量装置(1)，包括：中空的圆筒状构件(2)，其在一个平面上具有第一开口(10)，并且在另一平面上具有第二开口(18)；旋转机构(52、54)，其用于使圆筒状构件绕圆筒状构件的中心轴即第一轴线旋转；支承部(20、22)，其用于将光源(30)配置于测量位置，该测量位置在第一轴线上，且该测量位置为所照射的光穿过第一开口而入射到圆筒状构件的内部的位置；第一反射部(12)，其配置在圆筒状构件的内部，用于反射从光源穿过第一开口而入射的光；第二反射部(14)，其用于反射圆筒状构件的内部的光，使该光穿过第二开口而沿第一轴线向圆筒状构件的外部传播；以及至少一个的第三反射部(16)，其用于使第一反射部的反射光入射到第二反射部。
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公开(公告)号：CN103969230A
公开(公告)日：2014-08-06
申请号：CN201410040012.7
申请日：2014-01-27
Applicant: 大塚电子株式会社
IPC: G01N21/64
Abstract: 本发明提供一种能够在更短时间内测量荧光体的光学性能的测量装置以及测量方法。测量装置(1)具备：光源(52)，其用于对荧光体照射激励光；受光部(10)，其用于接收激励光中的透过了荧光体的光以及通过激励光而由荧光体产生的荧光；以及检测部(200)，其用于检测由受光部接收到的光。受光部包括：壳体(12)，其在激励光的照射方向上具有规定长度；光漫射部(14)，其被配置在壳体的荧光体一侧；以及窗(18)，其被配置在壳体的与光漫射部相反一侧，用于将所入射的荧光引导到检测部。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101932926A
公开(公告)日：2010-12-29
申请号：CN200980000111.X
申请日：2009-01-20
Applicant: 大塚电子株式会社
Inventor： 大久保和明
IPC: G01N21/64
CPC classification number: G01N21/645 , G01J3/0254 , G01J3/0262 , G01N21/276 , G01N2021/6417 , G01N2201/0655
Abstract: 将作为量子效率的测量对象部的试样(OBJ1)以及具有已知的反射率特性的标准体(REF1)分别安装到设置于平面镜(5)的试样窗(2)上。根据在分别安装了试样(OBJ1)以及标准体(REF1)的情况下由光谱仪测量到的各个光谱来测量试样(OBJ1)的量子效率。通过使观测窗(3)的开口面与试样(OBJ1)或者标准体(REF1)的露出面实质上一致，抑制接受激发光(L1)而由试样(OBJ1)产生的荧光以及由试样(OBJ1)反射的激发光(L1)直接入射到观测窗(3)。
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公开(公告)号：CN101825785A
公开(公告)日：2010-09-08
申请号：CN201010128709.1
申请日：2010-03-03
Applicant: 大塚电子株式会社
Inventor： 杉田一纮
IPC: G02F1/13
Abstract: 本发明提供一种反射型液晶盒的倾角测定方法以及测定装置。从光源(21)的光中取出直线偏振分量的光，以使该光的光轴(B)成为与反射型液晶盒(23)的法线倾斜的角度(θ)的方式，对反射型液晶盒(23)照射该偏振分量的光，根据被反射型液晶盒(23)的反射层(23a)反射的光的与偏振分量成直角的方向的偏振分量中的光强度，求出光强度反射率(Rc)，使用该光强度反射率(Rc)、液晶的正常光折射率(no)及异常光折射率(ne)、角度(θ)、液晶的厚度(d)、以及反射层(23a)的折射率(nr)，求出液晶的倾角(β)。能够对反射型液晶盒的倾角进行测定。
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公开(公告)号：CN100536581C
公开(公告)日：2009-09-02
申请号：CN03826714.4
申请日：2003-06-30
Applicant: 大塚电子株式会社
IPC: H04N13/04
CPC classification number: H04N5/2259 , H04N17/04
Abstract: 本发明提供一种画面的运动图像质量测量评价装置，具有：可旋转的反射镜(2)；通过反射镜(2)对画面进行拍摄的摄像机(3)；控制部(6)，控制部(6)如果根据画面(5)的亮度变化检测出在画面(5)上放映的运动图像所包含的测量图案通过了画面(5)的规定位置，则在该检测时刻，向反射镜(2)提供旋转时机，在反射镜(2)开始旋转之后，控制反射镜(2)使其追随该测量图案的运动而旋转，即使不取得反射镜(2)的旋转与运动图像信号的电气同步，也可以向反射镜(2)提供旋转时机，从而可以利用简单的结构，来测量画面的运动图像质量。
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公开(公告)号：CN101256113A
公开(公告)日：2008-09-03
申请号：CN200810081083.6
申请日：2008-02-26
Applicant: 大塚电子株式会社
Inventor： 泷沢雅也
Abstract: 本发明提供一种显微测量装置，所述显微测量装置具有：被相对镜筒(11)固定、并用于会聚来自物镜(Lo)的平行光线的第1中间透镜(L1)；半透半反镜(HM)，使通过所述物镜(Lo)和所述第1中间透镜(L1)的光的一部分通过、一部分反射；在被所述半透半反镜(HM)反射的光通过的位置上被设置成可沿该光路(C)移动的第2中间透镜(L2)；检测器(16)，设置在所述第2中间透镜(L2)的前面并且被设置成可沿光路(C)移动；移动机构(M1、M2)，移动所述第2中间透镜(L2)和检测器(16)，使得所述检测器(16)的成像位置与来自所述样品(S)的光被第2中间透镜(L2)会聚后的会聚点一致；以及调节所述移动机构(M1、M2)的移动量的控制部(20)。本发明不更换物镜便可以改变倍率和/或检测范围。
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公开(公告)号：CN101135784A
公开(公告)日：2008-03-05
申请号：CN200710147125.7
申请日：2007-08-30
Applicant: 大塚电子株式会社
CPC classification number: G02B21/086 , G01N21/25 , G02B5/201
Abstract: 本发明提供开口可变检查光学系统及彩色滤光片的评价方法。本发明的构成包括具有多边形的透射部分的可变开口单元(13)，在试样S的位置形成透射可变开口单元(13)的光的投光点的聚光光学系统(12a、12b)，上述可变开口单元(13)，可以使上述多边形的形状和大小改变。无须更换开口单元就可以改变投光点U的尺寸。
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