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公开(公告)号:ITUA20164741A1
公开(公告)日:2017-12-29
申请号:ITUA20164741
申请日:2016-06-29
Applicant: ST MICROELECTRONICS SRL , ST MICROELECTRONICS CROLLES 2 SAS , ST MICROELECTRONICS ROUSSET
Inventor: CONTE ANTONINO , CASTALDO ENRICO , BIANCHI RAUL ANDRES , LA ROSA FRANCESCO
IPC: G04F10/10
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132.
公开(公告)号:FR3012673B1
公开(公告)日:2017-04-14
申请号:FR1360743
申请日:2013-10-31
Applicant: ST MICROELECTRONICS ROUSSET
Inventor: LA ROSA FRANCESCO , NIEL STEPHAN , REGNIER ARNAUD , DELALLEAU JULIEN
IPC: H01L27/115 , G11C11/21 , H01L29/788
Abstract: L'invention concerne une mémoire comprenant au moins une ligne de mot (WLi) comprenant une rangée de cellules mémoire à grille divisée (C ) comprenant chacune une section de transistor de sélection comportant une grille de sélection (SG) et une section de transistor à grille flottante comportant une grille flottante (FG) et une grille de contrôle (CG). Selon l'invention, la mémoire comprend un plan de source (SP) commun aux cellules mémoire de la ligne de mot, pour collecter des courants de programmation (Ip) traversant des cellules mémoire lors de leur programmation, et les sections de transistor de sélection des cellules mémoire sont connectées au plan de source (SP). Un circuit de contrôle de courant de programmation (PCCT) est configuré pour contrôler le courant de programmation (Ip) traversant les cellules mémoire en agissant sur une tension de sélection (VS) appliquée à une ligne de sélection (SL).
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公开(公告)号:FR3003418B1
公开(公告)日:2016-07-29
申请号:FR1352324
申请日:2013-03-15
Applicant: ST MICROELECTRONICS ROUSSET
Inventor: RIZZO PIERRE , VALLESPIN NATHALIE , PAPART EMMANUEL
Abstract: L'invention concerne un procédé d'anticollision pour dispositif NFC (1) dans lequel en mode lecteur, on surveille une variation d'une information représentative de l'amplitude du signal dans une antenne (14) du dispositif, et si cette information excède un seuil, on provoque une commutation du dispositif en mode carte.
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134.
公开(公告)号:FR3025649A1
公开(公告)日:2016-03-11
申请号:FR1458431
申请日:2014-09-09
Applicant: ST MICROELECTRONICS ROUSSET
Inventor: LA ROSA FRANCESCO , NIEL STEPHAN , REGNIER ARNAUD
IPC: G11C16/02 , H01L29/788
Abstract: L'invention concerne un procédé de commande d'une mémoire comprenant des cellules mémoire jumelles (C11, C12) formées dans un substrat semi-conducteur (PW), chaque cellule mémoire comprenant un transistor à grille flottante (FGT) comportant une grille de contrôle d'état (CG), en série avec un transistor de sélection (ST) comportant une grille de contrôle de sélection (SGC) verticale, commune aux deux cellules mémoire, et une source connectée à une ligne de source (n0) enterrée, commune aux cellules mémoire, les drains des transistors à grille flottante d'une paire de cellules mémoire jumelles étant connectés à une même ligne de bit (BL), le procédé comprenant une étape de commande d'une cellule mémoire de manière à la rendre passante pour relier la ligne de source à une ligne de bit (BL, MBL, PBL) reliée à la masse, pendant une étape de programmation ou de lecture d'une autre cellule mémoire.
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公开(公告)号:FR3025353A1
公开(公告)日:2016-03-04
申请号:FR1458239
申请日:2014-09-03
Applicant: ST MICROELECTRONICS ROUSSET
Inventor: LA ROSA FRANCESCO
IPC: G11C5/00 , G11C7/00 , H01L21/8239
Abstract: L'invention concerne une mémoire non volatile (MEM2) comprenant des lignes de bit (BLj, BLj+1), un premier secteur (SO) effaçable par page comprenant des cellules mémoire d'un premier type (Mi,j, Mi,j+1), et un second secteur (S1) effaçable par mot ou par bit comprenant des cellules mémoire d'un second type (Ci-n,j/2). Les cellules mémoire du premier type comprennent un seul transistor à grille flottante (Ti,j, Ti,j+1) et les cellules mémoire du second type (Ci-n,j/2, Ci-n-1,j/2) comprennent un premier transistor à grille flottante (TRi-n,j/2) et un second transistor à grille flottante (TEi-n,j/2) dont les grilles flottantes sont reliées électriquement, le second transistor à grille flottante d'une cellule mémoire du second type permettant d'effacer individuellement la cellule mémoire.
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公开(公告)号:FR3023647A1
公开(公告)日:2016-01-15
申请号:FR1456740
申请日:2014-07-11
Applicant: ST MICROELECTRONICS ROUSSET
Inventor: BOIVIN PHILIPPE , DELALLEAU JULIEN
IPC: G11C5/00
Abstract: L'invention concerne une mémoire sur substrat semi-conducteur (SUB), comprenant : au moins une ligne de donnée (DL), au moins une ligne de sélection (SL), au moins une ligne de référence (RL), au moins une cellule mémoire (MC11, MC12) comprenant un transistor de sélection (ST11) ayant une grille de contrôle (GT1) connectée à la ligne de sélection, une première borne de conduction connectée à un élément à impédance variable (VZ), le transistor de sélection et l'élément à impédance variable reliant la ligne de référence à la ligne de donnée, le transistor de sélection (ST11) comprenant une grille verticale enterrée (GT1) réalisée dans une tranchée (11) formée dans le substrat (SUB), et une région de canal (CH) en regard d'une première face de la tranchée, entre une première région dopée profonde (SDP1) et une seconde région dopée (DDP) à la surface du substrat reliée à l'élément à impédance variable (VZ).
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公开(公告)号:FR3022056A1
公开(公告)日:2015-12-11
申请号:FR1455258
申请日:2014-06-10
Applicant: ST MICROELECTRONICS ROUSSET
Inventor: TEGLIA YANNICK
Abstract: L'invention concerne un procédé de détection d'une attaque par refroidissement d'un circuit intégré, comportant les étapes suivantes : échantillonner périodiquement un signal fourni par au moins un oscillateur en anneau (71, 72, 73) ; et vérifier que la proportion d'état "1" et d'états "0" du résultat de l'échantillonnage soit dans une plage de valeurs.
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公开(公告)号:FR2984553B1
公开(公告)日:2015-11-06
申请号:FR1161673
申请日:2011-12-15
Applicant: PROTON WORLD INT NV , ST MICROELECTRONICS ROUSSET
Inventor: MARINET FABRICE , MODAVE JEAN-LOUIS , VAN ASSCHE GILLES , VAN KEER RONNY
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公开(公告)号:FR3018630A1
公开(公告)日:2015-09-18
申请号:FR1451979
申请日:2014-03-11
Inventor: STEFFEN FRANCIS , MATHEY DELPHINE , ASSAUD GILBERT , BRECHIGNAC REMI
Abstract: Boîtier électronique comprenant au moins une puce de circuits intégrés (3), des moyens de support (2, 16) de la puce et des moyens de connexion électrique (15) et présentant au moins une perforation profonde d'affaiblissement (19) aménagée dans lesdits moyens de support réduisant la résistance du boîtier à la flexion perpendiculairement à ladite plaque de support.
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公开(公告)号:FR3017981A1
公开(公告)日:2015-08-28
申请号:FR1451599
申请日:2014-02-27
Applicant: ST MICROELECTRONICS ROUSSET
Inventor: TAILLIET FRANCOIS
Abstract: L'invention concerne un procédé de programmation d'une mémoire EEPROM comportant : un premier mode (MODE1) dans lequel une écriture dans des cellules s'effectue sous une première tension (HT1) ; et un deuxième mode (MODE2) dans lequel l'écriture s'effectue sous une deuxième tension (HT2), inférieure à la première.
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