公开(公告)号：TW201534877A

公开(公告)日：2015-09-16

申请号：TW104103952

申请日：2015-02-05

Applicant: 濱松赫德尼古斯股份有限公司 ,  HAMAMATSU PHOTONICS K. K.

Inventor： 能野隆文 ,  YOKINO, TAKAFUMI ,  柴山勝己 ,  SHIBAYAMA, KATSUMI

IPC: G01J3/02

CPC classification number: G01J3/0256 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0286 ,  G01J3/0289 ,  G01J3/0291 ,  G01J3/04 ,  G01J3/18 ,  G01J3/36

Abstract: 本發明之分光器1A包括：光檢測元件20，其設置有光通過部21、第1光檢測部22及第2光檢測部26；支持體30，其以形成空間S之方式固定於光檢測元件20；第1反射部11，其設置於支持體30，且於空間S內將通過光通過部21之光L1反射；第2反射部12A，其設置於光檢測元件20，且於空間S內將由第1反射部11反射之光L1反射；及分光部40A，其設置於支持體30，且於空間S內將由第2反射部12A反射之光L1對第1光檢測部22分光並且反射。第2光檢測部26係於包圍第2反射部12A之區域配置有複數個。

Abstract in simplified Chinese: 本发明之分光器1A包括：光检测组件20，其设置有光通过部21、第1光检测部22及第2光检测部26；支持体30，其以形成空间S之方式固定于光检测组件20；第1反射部11，其设置于支持体30，且于空间S内将通过光通过部21之光L1反射；第2反射部12A，其设置于光检测组件20，且于空间S内将由第1反射部11反射之光L1反射；及分光部40A，其设置于支持体30，且于空间S内将由第2反射部12A反射之光L1对第1光检测部22分光并且反射。第2光检测部26系于包围第2反射部12A之区域配置有复数个。

公开(公告)号：TW200938817A

公开(公告)日：2009-09-16

申请号：TW097122241

申请日：2008-06-13

Applicant: 濱松赫德尼古斯股份有限公司 HAMAMATSU PHOTONICS K.K.

Inventor： 柴山勝己 SHIBAYAMA, KATSUMI

IPC: G01J

CPC classification number: G01J3/02 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/024 ,  G01J3/0259 ,  G01J3/0262 ,  G01J3/0286 ,  G01J3/0291 ,  G01J3/18

Abstract: 本發明係在以封裝件3之內壁面27、29、28限制本體部4朝背面4b之平行方向及垂直方向移動的狀態下,以封裝件3直接支撐分光模組,藉此在謀求小型化的情形下,也可確實地支撐分光模組2,並充分確保封裝件3之入射口22a與分光模組2之分光部6及光檢測元件7彼此之位置精度。又,藉由將導線23埋入封裝件3並以導線導出部26予以導出及支撐,在以金屬線焊接來將導線23與光檢測元件7加以電性連接之際,可使封裝件3之導線導出部26本身扮演基座之角色,防止分光模組2之破損及移位等。

Abstract in simplified Chinese: 本发明系在以封装件3之内壁面27、29、28限制本体部4朝背面4b之平行方向及垂直方向移动的状态下,以封装件3直接支撑分光模块,借此在谋求小型化的情形下,也可确实地支撑分光模块2,并充分确保封装件3之入射口22a与分光模块2之分光部6及光检测组件7彼此之位置精度。又,借由将导线23埋入封装件3并以导线导出部26予以导出及支撑,在以金属线焊接来将导线23与光检测组件7加以电性连接之际,可使封装件3之导线导出部26本身扮演基座之角色,防止分光模块2之破损及移位等。

公开(公告)号：TW200848707A

公开(公告)日：2008-12-16

申请号：TW097106675

申请日：2008-02-26

Applicant: 瑪特索有限公司 METROSOL, INC.

Inventor： 戴爾A 哈瑞森 HARRISON, DALE A. ,  安東尼T 海斯 HAYES, ANTHONY T.

IPC: G01J

CPC classification number: G01J3/02 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0232 ,  G01J3/0237 ,  G01J3/0256 ,  G01J3/0262 ,  G01J3/0286 ,  G01J3/14 ,  G01J3/2803 ,  G01J3/36

Abstract: 本發明提供一種光譜分析工具。在一實施例中,描述一種可在真空紫外(VUV)中執行中解析度光譜分析所利用的高效構件。在一實施例中,該等技術可用作一適合與一陣列偵測器結合使用之高通量光譜儀,該高通量光譜儀用以使VUV中及周圍之波長以產生一大體上平場焦平面之方式空間色散。一些實施例利用基於稜鏡之光譜儀。一些實施例利用可移動及/或可位於該光譜儀內之偵測元件。在一些實施例中,可提供準直光作為至該光譜儀之一輸入。

Abstract in simplified Chinese: 本发明提供一种光谱分析工具。在一实施例中,描述一种可在真空紫外(VUV)中运行中分辨率光谱分析所利用的高效构件。在一实施例中,该等技术可用作一适合与一数组侦测器结合使用之高通量光谱仪,该高通量光谱仪用以使VUV中及周围之波长以产生一大体上平场焦平面之方式空间色散。一些实施例利用基于棱镜之光谱仪。一些实施例利用可移动及/或可位于该光谱仪内之侦测组件。在一些实施例中,可提供准直光作为至该光谱仪之一输入。

公开(公告)号：TW201546423A

公开(公告)日：2015-12-16

申请号：TW104114181

申请日：2015-05-04

Applicant: 克萊譚克公司 ,  KLA-TENCOR CORPORATION

Inventor： 馬可爾德 馬克 ,  MCCORD, MARK ,  關 育 ,  GUAN, YU ,  喬治 詹姆士 ,  GEORGE, JAMES

IPC: G01J1/02

CPC classification number: G01J1/04 ,  G01J1/0252 ,  G01J1/0403 ,  G01J1/18 ,  G01J1/42 ,  G01J3/0251 ,  G01J3/0286 ,  G01J2001/1673 ,  G01J2001/4247 ,  H05B33/0815 ,  H05B33/089

Abstract: 本發明提供用於測試發光二極體(LED)(例如，測量一LED之光學輻射)之方法及裝置。在一方法中，將一脈寬調變(PWM)信號提供至該LED。該PWM信號之一或多個特性經變動以提供對應於該LED之一目標接面溫度Tj之一正向電壓Vf。當該LED獲得該目標接面溫度時，測量該LED之該光學輻射。

Abstract in simplified Chinese: 本发明提供用于测试发光二极管(LED)(例如，测量一LED之光学辐射)之方法及设备。在一方法中，将一脉宽调制(PWM)信号提供至该LED。该PWM信号之一或多个特性经变动以提供对应于该LED之一目标接面温度Tj之一正向电压Vf。当该LED获得该目标接面温度时，测量该LED之该光学辐射。

公开(公告)号：TW200916739A

公开(公告)日：2009-04-16

申请号：TW097121327

申请日：2008-06-06

Applicant: 濱松赫德尼古斯股份有限公司 HAMAMATSU PHOTONICS K.K.

Inventor： 鈴木智史 SUZUKI, TOMOFUMI ,  柴山勝己 SHIBAYAMA, KATSUMI ,  能野隆文 YOKINO, TAKAFUMI ,  伊藤將師 ITO, MASASHI ,  海慕特 特基曼 TEICHMANN, HELMUT ,  戴特瑪 席勒 HILLER, DIETMAR ,  歐里其 史塔克 STARKER, ULRICH

IPC: G01J

CPC classification number: G01J3/2803 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0202 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/0243 ,  G01J3/0259 ,  G01J3/0262 ,  G01J3/0286 ,  G01J3/0291 ,  G01J3/04

Abstract: 本發明之分光模組1係包含:本體部2,使光L1,L2穿透;分光部3,將由本體部2之前面2a入射於本體部2之光L1加以分光而向前面2a側反射;光檢測元件4,包含檢測藉由分光部3加以分光而反射之光L2之光檢測部41,並藉由倒裝焊接而電性連接於形成在本體部2之前面2a之布線9;及下填材料12,填充於光檢測元件4之本體部2側,並使光L1,L2穿透;光檢測元件4具有使向分光部3行進之光L1通過之光通過孔42;在光檢測元件4中之本體部2側之後面4a,係以包圍光通過孔42之光出射開口42b之方式形成有矩形環狀之凸部43。

Abstract in simplified Chinese: 本发明之分光模块1系包含:本体部2,使光L1,L2穿透;分光部3,将由本体部2之前面2a入射于本体部2之光L1加以分光而向前面2a侧反射;光检测组件4,包含检测借由分光部3加以分光而反射之光L2之光检测部41,并借由倒装焊接而电性连接于形成在本体部2之前面2a之布线9;及下填材料12,填充于光检测组件4之本体部2侧,并使光L1,L2穿透;光检测组件4具有使向分光部3行进之光L1通过之光通过孔42;在光检测组件4中之本体部2侧之后面4a,系以包围光通过孔42之光出射开口42b之方式形成有矩形环状之凸部43。

公开(公告)号：TW203650B

公开(公告)日：1993-04-11

申请号：TW080103006

申请日：1991-04-17

Applicant: 休斯飛機公司

Inventor： 杜魯門 ,  施亦福

IPC: G01J ,  G01N

CPC classification number: G01J3/1838 ,  G01J3/0237 ,  G01J3/0256 ,  G01J3/0259 ,  G01J3/0286 ,  G01J3/0289 ,  G01J3/2803 ,  G01N21/3504 ,  G01N2201/067

Abstract: 本發明係有關於一種用以分析出自紅外線光源之輻射的色散式全像分光計者。該全像分光計包括一個在一個面上有一全像透鏡，另一個面上有許多偵檢器，且在相對之二個面上有一對微分電極之壓電塊。出自光源而投射於全像透鏡上之幅射線被分散成各種分支波長且被導引朝向偵檢器行列。全像透鏡上記錄得有一個全像干擾圖型以使預定波長之分支幅射線被充分擴散而使特定波長之幅射線落在偵檢器行列中之特別的偵檢器元件上。藉著在電極上施加電壓即可於壓電塊內造成一個電場以使壓電塊收縮或膨脹。壓電塊內之此項變化使從全像透鏡到偵檢器行列之幅射線改變方向。所以，光源與全像透鏡間之失調可受到補償以致於調整壓電塊即可使各個波長之幅射線落於預期之偵檢器元件。此外，尚可將不同波長所發出之幅射線由此一偵測器元件導引至另一偵檢器元件上。該偵測器行列為自我掃瞄式，故而可在某一頻率範圍內將某一吸收光譜測量出來並記錄下來。

Abstract in simplified Chinese: 本发明系有关于一种用以分析出自红外线光源之辐射的色散式全像分光计者。该全像分光计包括一个在一个面上有一全像透镜，另一个面上有许多侦检器，且在相对之二个面上有一对微分电极之压电块。出自光源而投射于全像透镜上之幅射线被分散成各种分支波长且被导引朝向侦检器行列。全像透镜上记录得有一个全像干扰图型以使预定波长之分支幅射线被充分扩散而使特定波长之幅射线落在侦检器行列中之特别的侦检器组件上。借着在电极上施加电压即可于压电块内造成一个电场以使压电块收缩或膨胀。压电块内之此项变化使从全像透镜到侦检器行列之幅射线改变方向。所以，光源与全像透镜间之失调可受到补偿以致于调整压电块即可使各个波长之幅射线落于预期之侦检器组件。此外，尚可将不同波长所发出之幅射线由此一侦测器组件导引至另一侦检器组件上。该侦测器行列为自我扫瞄式，故而可在某一频率范围内将某一吸收光谱测量出来并记录下来。

公开(公告)号：KR101872995B1

公开(公告)日：2018-07-02

申请号：KR1020160164825

申请日：2016-12-06

Applicant: (주)옵토레인

Inventor： 원준호 ,  이도영 ,  최경학 ,  최안식

IPC: G02B5/22 ,  G03F7/00 ,  G03F7/20

CPC classification number: G01N21/6428 ,  B01L3/50851 ,  C12Q1/686 ,  G01J1/0252 ,  G01J1/0488 ,  G01J3/0286 ,  G01J3/4406 ,  G01J3/443 ,  G01J3/51 ,  G01J2003/468 ,  G01N21/21 ,  G01N2021/6471 ,  G02B5/22

Abstract: 광각이미션필터는베이스매질, 포토레지스트, 및안료를포함한다. 상기베이스매질은평평한형상으로배치되고투명하며여기광에의해형광이나인광을발생시키지않는재질을포함한다. 상기포토레지스트는상기베이스매질내에배치되고, 열경화, 광경화, 및건조로이루어지는그룹에서선택되는어느하나이상의방법에의해고체상태로고정된다. 상기안료는상기베이스매질내에배치되고, 일정한파장의광을흡수한다. 상기포토레지스트에의해상기여기광을 1차적으로필터링하고상기안료에의해상기여기광을 2차적으로필터링하여상기여기광의입사각과무관하게필터링이가능한광학특성을갖는다.

公开(公告)号：KR1020160118221A

公开(公告)日：2016-10-11

申请号：KR1020167017139

申请日：2015-02-03

Applicant: 하마마츠 포토닉스 가부시키가이샤

Inventor： 요키노다카후미 ,  시바야마가츠미

IPC: G01J3/18 ,  G01J3/02

CPC classification number: G01J3/18 ,  G01J3/0256 ,  G01J3/0286 ,  G01J3/0291 ,  G01J3/2803 ,  G01J3/36

Abstract: 분광기(1A)는, 반도체재료로이루어지는기판(24), 기판(24)에마련된광 통과부(21), 및기판(24)에만들어넣어진광 검출부(22)를가지는광 검출소자(20)와, 광검출소자(20)와대향하는베이스벽부(31), 및베이스벽부(31)와일체적으로형성되고, 광검출소자(20)가고정된측벽부(32, 33)를가지며, 광검출부(22)에전기적으로접속된배선(13)이마련된지지체(30)와, 베이스벽부(31)에서의공간(S)측의표면(31a)에마련된분광부(40)를구비한다. 배선(13)의단부(13a)는, 광검출소자(20)의단자(25)에접속되어있다. 배선(13)의단부(13b)는, 베이스벽부(31)에서의공간(S)측과는반대측의표면(31b)에위치하고있다.

公开(公告)号：KR1020160018540A

公开(公告)日：2016-02-17

申请号：KR1020157034932

申请日：2014-06-11

Applicant: 레이던 컴퍼니

Inventor： 야네비흐,제프리피. ,  그리핀,에릭제이. ,  브레스트,마이클엘. ,  매컬리스터,케네스엘.

IPC: G03B9/08 ,  F01L9/04 ,  G01J3/02 ,  G01R31/06 ,  G03B9/22

CPC classification number: G03B9/08 ,  F02D41/20 ,  F02M26/53 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0286 ,  G01R31/06 ,  G03B9/22 ,  H01F7/1844 ,  H02P7/2913

Abstract: 초고진공에서그리고극저온환경에서작동가능한장치(10)이다. 장치는모터가각각의제1 위치에각각배치될때 제1 형상을갖는애퍼처(15)를형성하는셔터조립체(12)를구동하도록구성된쌍안정성솔레노이드모터(18)를갖고, 애퍼처는모터가각각의제2 위치에각각배치될때 제2 형상을갖는다. 모터에응답하는액추에이터(30)는모터가애퍼처의형상을변경하도록셔터조립체를위치설정할때에만극저온셔터조립체로부터단열된다. 장치는 FLIR 및다른열 민감성장치에사용을위해적합하다.

Abstract translation: 可在超高真空和低温环境中操作的装置。 该装置具有双稳电磁铁电动机，其被配置为当电动机各自设置在相应的第一位置时驱动限定具有第一形状的孔的活门组件，并且其中当所述电动机各自设置在相应的第一位置时，所述孔具有第二形状 第二名 响应于电动机的致动器与低温快门组件热隔离，除了当电动机定位快门组件以改变孔的形状时。 该设备适用于FLIR和其他热敏设备。

公开(公告)号：KR101280917B1

公开(公告)日：2013-07-02

申请号：KR1020127016577

申请日：2006-06-23

Applicant: 사이머 엘엘씨

Inventor： 라팍로버트제이.

IPC: G01J3/28 ,  G01J3/51

CPC classification number: G01J3/26 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0202 ,  G01J3/0237 ,  G01J3/027 ,  G01J3/0286 ,  G01J3/0291 ,  G01J3/28

Abstract: 레이저 입력으로부터 방출된 광의 스펙트럼의 대역폭을 측정하기 위한 대역폭 측정기 장치 및 방법으로서, 레이저로부터 방출된 광의 대역폭을 나타내는 제1파라미터를 나타내는 제1출력 및 레이저로부터 방출된 광의 대역폭을 나타내는 제2파라미터를 나타내는 제2출력을 제공하는 광 대역폭 모니터; 및 실제 대역폭 파라미터를 계산하기 위해, 광 대역폭 모니터에 특정의 미리계산된 교정 변수를 사용하는 다변수 방정식의 일부로서 제1출력 및 제2출력을 사용하는 대역폭 계산 장치를 포함하고, 다변수 방정식은 대칭 민감 항을 포함하는 레이저 입력으로부터 방출된 광의 스펙트럼의 대역폭을 측정하기 위한 대역폭 측정기 장치 및 방법이 개시된다.