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    撮像装置と撮像方法
    132.
    发明专利
    撮像装置と撮像方法 审中-公开

    公开(公告)号：JP2018029280A

    公开(公告)日：2018-02-22

    申请号：JP2016160549

    申请日：2016-08-18

    Applicant: ソニー株式会社

    Inventor： 三谷 均 ,  若園 雅史

    IPC: G03B15/00 ,  G03B11/00 ,  H04N5/235

    CPC classification number: G01J4/04 ,  G01J3/447 ,  G01J4/00 ,  G01J2004/002 ,  H04N5/2355

    Abstract: 【課題】動きぼけを生じにくい広ダイナミックレンジの撮像を行えるようにする。 【解決手段】撮像部13は、入射光に基づいて画素信号を生成する複数の画素を所定の偏光方向の偏光画素と非偏光画素で構成する。偏光回転部11は撮像部13の入射面側に設けられて偏光方向を回転させて撮像部13に入射させる。画像信号処理部14は、偏光画素の感度に基づき利得調整を行い、利得調整後の画像信号を用いた画像合成によって、動きぼけを生じにくい広ダイナミックレンジな撮像画を生成する。また、偏光回転部11で偏光方向を回転させることでダイナミックレンジを変更できる。 【選択図】 図1

    Image map spectroscopic polarization method
    133.
    发明专利
    Image map spectroscopic polarization method 审中-公开

    公开(公告)号：JP2013546000A

    公开(公告)日：2013-12-26

    申请号：JP2013544519

    申请日：2011-11-30

    Applicant: ウィリアム・マーシュ・ライス・ユニバーシティWilliam Marsh Rice University

    Inventor： ケスター，ロバート・ティ ,  トカチェク，トマシュ・エス

    IPC: G01J3/447

    CPC classification number: G01J3/447 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0224 ,  G01J3/2823 ,  G01J4/04

    Abstract: A method for imaging a sample, the method includes, during a single acquisition event, receiving a first polarization-encoded EM field for a first point and a second polarization-encoded EM field for a second point. The method further includes re-directing the first polarization-encoded EM field along a first pre-determined direction to a first location on a dispersing re-imager and the second polarization-encoded EM field along a second pre-determined direction to a second location on the dispersing re-imager. The method further includes spectrally dispersing the first polarization-encoded EM field to obtain a first spectrum, re-imaging the first spectrum onto a first location on a detector, spectrally dispersing the second polarization-encoded EM field to obtain a second spectrum, re-imaging the second spectrum onto a second location on the detector, and detecting the first re-imaged spectrum and the second re-imaged spectrum.

    Circular polarization dichroism spectrophotometer including alignment mechanism
    134.
    发明专利
    Circular polarization dichroism spectrophotometer including alignment mechanism 有权
    圆偏振二极管光谱仪，包括对准机构

    公开(公告)号：JP2013205275A

    公开(公告)日：2013-10-07

    申请号：JP2012075506

    申请日：2012-03-29

    Applicant: Jasco Corp ,  日本分光株式会社

    Inventor： SUNAMI TETSUJI ,  KOSHOBU JUN

    IPC: G01N21/19 ,  G01J3/02 ,  G01J3/45 ,  G01J4/04 ,  G01N21/35

    CPC classification number: G01J3/447 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/0237 ,  G01N21/19

    Abstract: PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a circular dichroism dispersion meter including an alignment mechanism to automatically and correctly adjust positions of respective apparatuses.SOLUTION: A PEM 20 alternately and periodically allows linear polarization from a polarizer 18 to be counterclockwise or clockwise rotation circular polarization. The circular polarization is radiated to a sample and then a detector 24 performs detection. An AC signal is obtained from a lock-in amplifier 38, and a control PC 30 measures a VCD spectrum. A standard sample for a D-body test is arranged in a sample arrangement unit 21. While monitoring a VCD spectrum, a condenser lens position and direction adjustment mechanism 54 adjusts the position and direction of a condenser lens 22. At the same time, a detector rotation mechanism 56 aligns the direction of the detector to obtain coincidence with a reference spectrum. While monitoring a VCD spectrum with an L-body, the position and direction of the condenser lens 22 and the direction of the detector are aligned to perform adjustment so as to obtain symmetry with the VCD spectrum with a D-body.

    Abstract translation: 要解决的问题：提供一种圆形二色性分散计，其包括对准机构，以自动且正确地调整各个装置的位置。解决方案：PEM 20交替地和周期性地允许来自偏振器18的线性偏振是逆时针或顺时针旋转的圆偏振。 将圆偏振辐射到样品，然后检测器24进行检测。 从锁定放大器38获得AC信号，并且控制PC 30测量VCD光谱。 用于D体测试的标准样品被布置在样本排列单元21中。在监视VCD光谱时，聚光透镜位置和方向调节机构54调节聚光透镜22的位置和方向。同时， 检测器旋转机构56对准检测器的方向以获得与参考光谱的一致。 在利用L体监视VCD光谱的同时，将聚光透镜22的位置和方向以及检测器的方向对齐以进行调整，以便利用D体的VCD光谱获得对称性。

    Method for identifying scenes from the multi-wave polarization image
    135.
    发明专利
    Method for identifying scenes from the multi-wave polarization image 审中-公开

    公开(公告)号：JP2012526269A

    公开(公告)日：2012-10-25

    申请号：JP2012509001

    申请日：2010-05-03

    Applicant: アンスティテュ ドオプティク ,  テールズ

    Inventor： アルイニ、メディ ,  ゴデーユ、フランソワ ,  ドルフィ、ダニエル ,  ブニエール、アーノー ,  ベルジン、ジェラール

    IPC: G01J3/32 ,  G01J3/447 ,  G01N21/17 ,  G01N21/21 ,  G01N21/27

    CPC classification number: G01N21/21 ,  G01J3/447 ,  G01J4/04

    Abstract: 本発明は、決められた方向に従って偏光されたＮ（Ｎは、３以上の整数である）波長のビームでシーン（１）を照明するステップを含む、シーン（１）の画像を識別するための方法である。 それには、以下のステップ、すなわち、
    − 前記方向に従って偏光された画像、すなわちｉが１からＮまで変わる、Ｘ
    ‖ （λ
    ｉ ）で示されたＮ画像（１１）、および前記方向に垂直な方向に従って偏光された画像、すなわちＸ
    ⊥ （λ
    ｉ ）で示されたＮ画像（１２）であって、これらの画像Ｘ
    ⊥ （λ
    ｉ ）が画像Ｘ
    ‖ （λ
    ｉ ）と空間的に異なる画像の、各波長用の同時取得ステップと、
    − Ｘ
    ‖ （λ
    ｉ ）およびＸ
    ⊥ （λ
    ｉ ）の線形結合である強度画像の、各波長用の計算ステップであって、したがってこれらのＮ強度画像に対して、各画素用に強度スペクトルが対応するステップと、
    − Ｘ
    ‖ （λ
    ｉ ）およびＸ
    ⊥ （λ
    ｉ ）の関数として計算された強度比に基づいた偏光コントラスト画像の、各波長用の計算ステップであって、したがってこれらのＮ偏光コントラスト画像に対して、各画素用に偏光コントラストスペクトルが対応するステップと、
    − 分光偏光コントラスト画像と名付けられ、かつＳＰＣ画像と呼ばれる、シーンの画像の計算ステップであって、この画像の各画素が、検討される画素の強度スペクトルおよびコントラストスペクトルに基づいて取得されるステップと、
    が含まれる。

    分光解析装置及び分光解析方法
    138.
    发明专利
    分光解析装置及び分光解析方法 有权

    公开(公告)号：JPWO2008099442A1

    公开(公告)日：2010-05-27

    申请号：JP2008557904

    申请日：2007-12-21

    Applicant: 国立大学法人東京工業大学

    Inventor： 長谷川　健 ,  健 長谷川

    IPC: G01N21/21

    CPC classification number: G01N21/21 ,  G01J3/447 ,  G01N21/31 ,  G01N21/8422

    Abstract: 赤外光だけでなく可視光や紫外光、さらにはX線等、任意の波長の光を用いて、いかなる屈折率の薄膜支持体であっても高精度に薄膜解析が可能な分光解析装置を提供する。分光解析装置は、光源1と偏光フィルタ2と検出部3と回帰演算部4と吸光度スペクトル算出部5とからなる。光源1は、異なる入射角θnで被測定部位に光を照射する。偏光フィルタ2は、s偏光成分を遮蔽する。検出部3は、透過スペクトルSを検出する。回帰演算部4は、透過スペクトルSと、混合比率Rとを用いて、回帰分析により面内モードスペクトルsip及び面外モードスペクトルsopを得る。吸光度スペクトル算出部5は、支持体に薄膜が支持されている状態と支持されていない状態で得られる結果を基に、薄膜面内モード吸光度スペクトルAip及び薄膜面外モード吸光度スペクトルAopを算出する。

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