公开(公告)号：CN103175786B

公开(公告)日：2017-10-20

申请号：CN201210551626.2

申请日：2012-12-18

Applicant: 株式会社堀场制作所

Inventor： 板谷隆宏 ,  中谷茂

IPC: G01N21/3504 ,  G01J3/453 ,  G01J3/02

CPC classification number: G16C20/10 ,  G01J3/027 ,  G01J3/4535 ,  G01N21/3504 ,  G01N2021/3595 ,  G01N2201/129

Abstract: 本发明提供在对一个或多个测量对象成分进行的定量分析中能同时降低干扰影响与测量误差的样品气体分析装置与样品气体分析装置用方法。样品气体分析装置（100）使用向样品照射光而得到的光谱对所述样品中的一个或多个测量对象成分进行定量分析，并根据从开始产生样品气体到经过规定时间为止的第一产生条件以及经过所述规定时间后的第二产生条件对在多变量分析中使用的库数据进行切换，当处于第一产生条件时，使用对测量对象外成分的干扰影响进行了修正的第一库数据对多个测量对象成分进行定量分析，当处于第二产生条件时，使用没有对测量对象外成分的干扰影响进行修正的第二库数据对多个测量对象成分进行定量分析。

公开(公告)号：CN104704332B

公开(公告)日：2017-08-15

申请号：CN201280074734.3

申请日：2012-07-16

Applicant: 福斯分析有限公司

Inventor： 哈坎·韦德尔斯柏克

IPC: G01J3/04 ,  G01J3/02

CPC classification number: G01J3/0229 ,  G01J3/027 ,  G01J3/04 ,  G01J3/10

Abstract: 一种光谱仪(20)，该光谱仪包括：一个用于光辐射的输入端(24)；一个用于按照波长使从该输入端(24)传递的入射光辐射色散的色散元件，如凹面聚焦反射衍射光栅(22)；一个输出端(28)和一个空间光调制器“SLM”(26)，该输出端和该空间光调制器被安置成用于接收该色散元件所色散的一个输入光辐射波长区域并且可操作用于选择性地引导所接收到的波长区域的多个波长部分以便在该输出端(28)处进行接收。该输入端(24)被配置成用于提供多个入射场光阑，如入射狭缝(C，D)，通过这些入射场光阑中的每一个在使用时照亮该色散元件(22)并且这些入射场光阑中的每一个被定位成用于与该色散元件(22)合作以在该SLM(26)处生成一个不同色散波长区域。

公开(公告)号：CN104937386B

公开(公告)日：2017-07-04

申请号：CN201480004750.4

申请日：2014-03-12

Applicant: 松下电器(美国)知识产权公司

Inventor： 手塚忠则 ,  中村刚

IPC: G01J3/50 ,  G01J3/51 ,  G01J3/10 ,  G01J3/02 ,  G01N21/3563 ,  G01N21/55

CPC classification number: G01N21/55 ,  G01J3/027 ,  G01J3/108 ,  G01J3/46 ,  G01J3/501 ,  G01J3/513 ,  G01J2003/466 ,  G01N21/25 ,  G01N21/27 ,  G01N21/3563 ,  G01N2021/1765

Abstract: 一种推断装置，使用红外光被物体反射后的反射光，包括：单一的输入部(201)，包括在红外光的波段具有第一分光灵敏度特性的第一像素、和在红外光的波段具有与第一分光灵敏度特性不同的第二分光灵敏度特性的第二像素；以及推断部(203)，基于反射光的第一像素的输出值即第一输出值、反射光的第二像素的输出值即第二输出值，对物体的颜色或者材料的至少一方进行推断。

公开(公告)号：CN106768323A

公开(公告)日：2017-05-31

申请号：CN201710007187.1

申请日：2017-01-05

Applicant: 浙江大学

Inventor： 王杭州 ,  南立文 ,  黄慧 ,  宋宏 ,  陈鹰

IPC: G01J3/02 ,  G01J3/28

CPC classification number: G01J3/027 ,  G01J3/0286 ,  G01J3/28 ,  G01J2003/283 ,  G01J2003/2843

Abstract: 本发明公开了一种适用于寒冷环境下的光谱仪自适应控制方法，涉及自动控制技术，包括以下步骤：1)入射光强度粗测；2)光谱仪总体输出最大值确定；3)光谱仪总体输出分解；4)光谱仪最佳曝光时间top确定；5)光谱仪自适应测量，将光谱仪曝光时间设定为top进行测量。本发明的有益效果是该自适应控制方法通过预估入射光强度并自动调节曝光时间的方式，使得光谱仪能够自动适应外界环境温度和光场强度的变化，尤其在恶劣寒冷环境下，进行自适应测量，减少器件由于温度变化产生的测量误差，从而得到满意的测量结果。

公开(公告)号：CN105579816B

公开(公告)日：2017-05-03

申请号：CN201480039159.2

申请日：2014-05-07

Applicant: 株式会社日本医化器械制作所 ,  株式会社相马光学

Inventor： 原田京一 ,  浦明子

IPC: G01J3/28 ,  A01G7/00

CPC classification number: G01J3/0264 ,  A01G7/045 ,  G01J3/027 ,  G01J3/0294 ,  Y02P60/146

Abstract: [问题]提出一种能够实时地知道在每个波长的光合光子通量密度的可实践的量子计。[解决方案]通过分光镜单元1中的入射光学系统13而入射在分散元件12上的测量光由分散元件12分散，并且在检测器14上被转换成光电信号。在每个波长的每个光电信号(光谱数据)经接口构件16和26被发送给处理单元2，处理单元2是通用计算机。已安装有光合光子通量密度测量程序4和专用装置驱动器262的处理单元2通过处理接收的光谱数据来计算在每个波长的光合光子通量密度的分布，并且在显示器24上显示在每个波长的光合光子通量密度的分布。

公开(公告)号：CN106546329A

公开(公告)日：2017-03-29

申请号：CN201610925927.5

申请日：2016-10-29

Applicant: 中国科学院云南天文台

Inventor： 余晓光 ,  常亮 ,  范玉峰 ,  辛玉新 ,  王晓丽 ,  张居甲 ,  王传军 ,  白金明

IPC: G01J3/02

CPC classification number: G01J3/027

Abstract: 本发明所提供的一种天文光谱仪自动曝光系统，包括由光谱仪和光子探测装置构成的光耦合监控系统，光谱仪中设平面反光镜、透镜，通过平面反光镜、透镜，光谱仪中的光信号耦合到光束传输介质中，光束传输介质连接光子探测装置，光子探测装置包括光子探测器、光子计数模块，通过通讯接口与监控计算机相连，监控计算机外接CCD控制系统，监控计算机设有软件控制系统，平面反光镜与准直光路成45°角；透镜与平面反光镜中心光路垂直。本发明还提供了上述系统的控制方法；本发明具有：(1)对高色散谱仪星光耦合效率实时监测，并判断望远镜工作中引起耦合效率降低的原因。(2)自动计算光谱信噪比，从而确定CCD曝光时间，实现自动停止CCD曝光。

公开(公告)号：CN106233105A

公开(公告)日：2016-12-14

申请号：CN201580022231.5

申请日：2015-04-14

Applicant: 柯尼卡美能达株式会社

Inventor： 长井庆郎

IPC: G01J3/50

CPC classification number: G01J3/52 ,  G01J3/027 ,  G01J3/50

Abstract: 在本发明的测色装置以及该方法中，通过输送部对彩色图进行输送，从而取得所述彩色图的整体图像，通过输送部对彩色图进行再输送，从而取得所述彩色图的部分图像，基于这些所述整体图像以及所述部分图像，求得在所述输送和所述再输送之间产生的所述彩色图的位置偏差量。并且，一边以该求得的位置偏差量对测量位置进行校正，一边通过测色部对所述彩色图中的多个色标各自的颜色进行测量。

公开(公告)号：CN103718007B

公开(公告)日：2016-10-26

申请号：CN201280038297.X

申请日：2012-06-07

Applicant: 株式会社隆创

Inventor： 川端秀树 ,  木岛明良

IPC: G01J3/50 ,  A61B5/055 ,  A61B6/00 ,  A61B6/03

CPC classification number: G06T7/408 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/0248 ,  G01J3/0264 ,  G01J3/027 ,  G01J3/0278 ,  G01J3/0289 ,  G01J3/0291 ,  G01J3/2823 ,  G01J3/50 ,  G01J3/513 ,  G06T7/90

Abstract: 本发明的目的在于准确地对齐将要测量的多个物体的对应测量点，并且根据两个测量点处的测量的结果评估将要测量的物体。测量系统（100）设置有测量装置（10）和PC（20），并且测量装置（10）设置有测量将要测量的物体的测量点的分光部（12）和用于实时地对测量点的周边进行拍摄的摄像头（16）。PC（20）在显示部（22）的显示画面上显示由测量装置（10）的摄像头（16）拍摄并且显示的评估介质的连续图像信息的评估图像以重合在已经由摄像头（16）拍摄并且存储在存储器（24）中的基准介质的静止图像信息的基准图像上。通过在通过在两个图像彼此几乎完全重叠时测量评估图像中的测量点获得的测量数据与存储器（24）中存储的基准图像中的测量点的测量数据之间执行比较，能够容易地执行对齐并且执行测量数据的比较。

公开(公告)号：CN105392269A

公开(公告)日：2016-03-09

申请号：CN201510559287.6

申请日：2015-09-02

Applicant: 株式会社岛津制作所

Inventor： 土生俊也

IPC: H05H1/46 ,  H02M7/5383

CPC classification number: G01J3/10 ,  G01J3/027 ,  G01J3/443 ,  H01J37/244 ,  H01J37/321 ,  H01J37/32174 ,  H01J37/32183 ,  H05H1/0037 ,  H05H1/36 ,  H05H1/46 ,  H05H2001/4652 ,  H05H2001/4682

Abstract: 本发明提供一种能够通过廉价的结构来准确地控制等离子体接入功率的高频电源装置。通过电压检测部(101)以及电流检测部(102)来分别检测针对串联谐振电路的高频输入电压(V)以及高频输入电流(I)，根据所检测到的高频输入电压(V)以及高频输入电流(I)，通过等离子体接入功率检测部(111)来检测等离子体接入功率。这样，通过直接检测等离子体接入功率，无论等离子体生成用气体、分析试样的状态等如何，都能够准确地控制等离子体接入功率。另外，通过使用包含半导体元件的开关电路，与使用真空管等的结构相比，能够做成更廉价的结构。

公开(公告)号：CN102540311B

公开(公告)日：2015-11-18

申请号：CN201110406763.2

申请日：2011-12-08

Applicant: 精工爱普生株式会社

Inventor： 松下友纪 ,  松野靖史

IPC: G02B5/28 ,  G01J3/02

CPC classification number: G02B5/28 ,  G01J3/027 ,  G01J3/10 ,  G01J3/26 ,  G01J3/51 ,  G02B26/002

Abstract: 一种可变波长干涉滤波器、光模块以及光分析装置。该可变波长干涉滤波器具备：第一电极，其设在第一基板上；第二电极，其设在具有可动部的第二基板上，并与第一电极对置；第一电极线，其被设置成从第一电极向第一基板的外周边缘延伸出；第二电极线，其被设置成从第二电极向第二基板的外周边缘延伸出；第一对置电极线，其被设置成与第一电极线相对且与第二电极绝缘；以及第一导通部，其导通第一电极线和第一对置电极线，其中，第二电极线和第一对置电极线在从第二基板的厚度方向看的俯视图中，被形成为沿通过以可动部的中心点为中心的假想圆的中心点、并以等角度间隔分割假想圆的方向延伸出。