公开(公告)号：CN103582805B

公开(公告)日：2016-08-10

申请号：CN201280018232.9

申请日：2012-03-27

Applicant: 努拜欧有限公司

Inventor： D·特蕾西 ,  P·L·斯托克斯 ,  S·科伊阿尼

IPC: G01J3/12

CPC classification number: G01J3/42 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0216 ,  G01J3/0248 ,  G01J3/0291 ,  G01J3/06 ,  G01J3/08 ,  G01J3/10 ,  G01J3/14 ,  G01J3/18 ,  G01J3/2803 ,  G01J3/44 ,  G01J3/4406 ,  G01N15/1434 ,  G01N15/1459 ,  G01N15/1484 ,  G01N21/6456

Abstract: 本发明一般涉及用于检测和测量源自样品的光的光谱性质或同时可缩放检测和测量源自在多个样品之间存在的每个样品的光的光谱性质的系统、方法和套件，其中该系统包括：包括色散元件的光具组；以及图像传感器。检测和测量的光可以包括从样品散射的光、作为化学发光由样品内化学过程发射的光、由样品选择性吸收的光，或在激发之后作为荧光从样品发射的光。

公开(公告)号：CN103261782B

公开(公告)日：2016-05-04

申请号：CN201180056979.9

申请日：2011-09-16

Applicant: 麻省理工学院 ,  犹他大学研究基金会

Inventor： J.多敏格兹-卡巴尔莱罗 ,  R.梅农

IPC: F21V9/10 ,  G02F1/1335 ,  G02F1/01

CPC classification number: G02B27/1006 ,  F21S41/141 ,  G01J3/0205 ,  G01J3/0216 ,  G01J3/10 ,  G01J3/18 ,  G01J3/24 ,  G01J3/2803 ,  G01J2003/1286 ,  G02B5/32 ,  G02B27/1013 ,  G02B27/1086 ,  G02F1/133609 ,  G03H1/08 ,  G03H2001/262

Abstract: 本发明提供了通过多色物质的方式将光谱成分组合和分离的方法和装置。使用多色物质以将来自各源的多个射束组合成单个输出射束，从而提供对输出射束的亮度、色彩、色均匀性、发散角、准直度、偏振、焦距和束腰中的一个或多个特性的定义。源和多色物质的结合可用作隐私增强隐私显示器和用于将多个光谱成分的信号多路复用。在本发明的另外的实施方式中，多色物质用于衍射光谱成分以用于分光镜或解复用应用中。

公开(公告)号：CN104296868B

公开(公告)日：2016-03-02

申请号：CN201410545740.3

申请日：2014-10-15

Applicant: 清华大学深圳研究生院

Inventor： 倪凯 ,  周倩 ,  逄锦超 ,  张锦超 ,  田瑞 ,  许明飞 ,  董昊

IPC: G01J3/02 ,  G01J3/28

CPC classification number: G01J3/18 ,  G01J3/28 ,  G01J2003/1842

Abstract: 本发明公开了一种光谱仪的设计方法以及光谱仪，使用凹面光栅、三个入射狭缝和三个光探测器搭建光谱仪，包括以下步骤：1)确定第二入射狭缝的入射角以及凹面光栅的槽型周期；2)估算凹面光栅的闪耀角，确定凹面光栅的表面材料和槽型结构；3)获取入射角度为θA2时和多个角度下凹面光栅的波长-衍射效率曲线；4)确定入射角θAl和θA3的值以及波长λ2和λ3的值，并取λ4等于λ2；5)得到记录结构参数以及使用结构参数；6)确定凹面光栅的制作参数；7)确定三个入射狭缝和三个光探测器相对于所述凹面光栅的位置，从而搭建得到光谱仪。本发明的设计方法得到的光谱仪，在大部分光谱区域内具有较高的衍射效率，有效解决宽光谱区域内衍射效率较低的问题。

公开(公告)号：CN104819942A

公开(公告)日：2015-08-05

申请号：CN201510020487.4

申请日：2015-01-15

Applicant: 株式会社岛津制作所

Inventor： 丰后一

IPC: G01N21/31

CPC classification number: G01J3/10 ,  G01J3/027 ,  G01J3/18 ,  G01J3/28 ,  G01J3/2803 ,  G01J2003/102

Abstract: 提供了分光光度计，具有：样本收容器(30)；光源单元(10)，用于将测量光投射到样本收容器(30)中；光检测器(40)，用于检测从用测量光照射的样本收容器(30)得到的光；分光器(20)，放置在光源单元(10)和样本收容器(30)之间；A/D变换器(50)，用于将来自光检测器(40)的检测信号变换为数字信号；以及A/D变换时间控制器(65)，用于控制A/D变换器(50)中的A/D变换时间。在每段A/D变换时间上，A/D变换器(50)接收由光检测器(40)依次产生的检测信号，并依次输出与接收的信号量相对应的值。在分光器(20)的波长正确性验证期间，A/D变换时间控制器(65)将A/D变换时间控制为商用电源的周期的五倍(优选地，十倍)或更长。

公开(公告)号：CN104508439A

公开(公告)日：2015-04-08

申请号：CN201380039223.2

申请日：2013-04-23

Applicant: 雷神公司

Inventor： 伊恩·S·罗宾逊 ,  埃里克·M·莫斯昆 ,  莱西·G·库克

IPC: G01J3/02 ,  G01J3/18 ,  G01J3/28 ,  G01J3/36

CPC classification number: G01J3/18 ,  G01J3/0291 ,  G01J3/0294 ,  G01J3/2823 ,  G01J3/36

Abstract: 多通道成像光谱仪(100)及其使用方法。所述多通道成像光谱仪的一个示例包括单个入口狭缝(120)、双程反射三元组(110)和至少一对衍射光栅(150、160)。所述光谱仪配置为接收和校准来自入口狭缝的输入光束，使用分束器将校准光束分成两个光谱子波段，以及将每个子波段引导至所述一对衍射光栅中的一个。所述衍射光栅每个配置为将校准光束的接收部分色散成其组成颜色，并且重新引导色散输出通过所述反射三元组成像到位于与所述入口狭缝对准的焦平面(180)处的图像传感器中。

公开(公告)号：CN104422516A

公开(公告)日：2015-03-18

申请号：CN201410454212.7

申请日：2014-09-05

Applicant: 株式会社岛津制作所

Inventor： 湊浩之

IPC: G01J3/02 ,  G01J3/28

CPC classification number: G01J3/18 ,  G01J3/28 ,  G01J2003/2866

Abstract: 本发明涉及一种分光器所用的波长校准方法以及分光光度计。提供一种用于通过将来自发光强度包含预定周期的变化的标准光源的光照射到分光器的衍射光栅上并且测量该衍射光栅所反射的光的强度来进行具有衍射光栅的分光器的波长校准的方法。该方法包括以下步骤：在与包括标准光源所生成的亮线光谱光的峰值波长的范围的各波长相对应的衍射光栅的各转动位置处，在该周期内至少两次测量来自衍射光栅的反射光的强度；基于该转动位置处所获得的所有测量值来确定该转动位置处的强度值(201)；以及将强度值(201)最大的波长确定为亮线光谱光的峰值波长。

公开(公告)号：CN104145177A

公开(公告)日：2014-11-12

申请号：CN201380011702.3

申请日：2013-02-27

Applicant: 国立大学法人香川大学

Inventor： 石丸伊知郎

IPC: G01J3/453 ,  G01N21/45 ,  G01N21/49 ,  A61B5/145 ,  A61B5/1455

CPC classification number: A61B5/1455 ,  A61B5/14532 ,  A61B5/6887 ,  A61B5/7257 ,  A61B2562/0233 ,  G01B9/02041 ,  G01B9/02049 ,  G01B9/0207 ,  G01J3/0205 ,  G01J3/0229 ,  G01J3/0256 ,  G01J3/0272 ,  G01J3/10 ,  G01J3/18 ,  G01J3/4532 ,  G01J3/4535 ,  G01J2003/102 ,  G01J2003/4538 ,  G01N21/255 ,  G01N21/359 ,  G01N21/45 ,  G01N21/49 ,  G01N21/9501 ,  G01N2201/0612

Abstract: 本发明使从测量对象发出的测量光入射到固定反射镜部和可动反射镜部，形成被上述固定反射镜部反射的测量光与被上述可动反射镜部反射的测量光的干渉光。此时，通过使上述可动反射镜部进行移动来获得测量光的干渉光强度变化，基于该变化求出测量光的干涉图。另外，同时使作为测量光的波长频带的一部分的窄频带的波长的参考光入射到上述固定反射镜部和上述可动反射镜部，形成被该固定反射镜部反射的参考光与被该可动反射镜部反射的参考光的干涉光。此时，使上述可动反射镜部进行移动，由此基于参考光的干渉光强度变化的振幅以及上述测量光中的同上述参考光相同波长的测量光与上述参考光的相位差来校正上述测量光的干涉图，基于校正后的干涉图来求出上述测量光的光谱。

公开(公告)号：CN104114984A

公开(公告)日：2014-10-22

申请号：CN201280061394.0

申请日：2012-12-11

Applicant: 塞莫费雪科学(埃居布朗)有限公司

Inventor： F·德玛科 ,  J-L·道瑞尔 ,  E·豪拉斯

IPC: G01J3/02 ,  G01J3/443 ,  G01J3/28 ,  G01J3/18

CPC classification number: G01J3/443 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0229 ,  G01J3/024 ,  G01J3/0294 ,  G01J3/18 ,  G01J3/2803 ,  G01N21/67

Abstract: 一种火花光发射光谱仪，该光谱仪包括：一个用于引起来自一个样品的光的火花诱导发射的火花源；一个单一的入口狭缝；一个用于引导该光通过该单一入口狭缝的超环面反射镜；多个用于对已经由该反射镜引导通过该入口狭缝的光进行衍射的衍射光栅，在此该多个衍射光栅被同时地照射；以及至少一个用于检测来自该多个衍射光栅的衍射光的阵列检测器，其中，该反射镜用于引导该光通过该入口狭缝，使得来自该火花源中不同区域的光在这些光栅处的该光的一个图像中在空间上被分离，在此一个第一衍射光栅优先地由来自该火花源的一个第一区域的光照射且同时一个第二衍射光栅优先地由来自该火花源的一个第二区域的光照射。

公开(公告)号：CN103808408A

公开(公告)日：2014-05-21

申请号：CN201310557536.9

申请日：2013-11-11

Applicant: 恩德莱斯和豪瑟尔测量及调节技术分析仪表两合公司

Inventor： 拉尔夫·伯恩哈特

IPC: G01J3/02 ,  G01J3/10 ,  G01J1/02 ,  G01N21/25 ,  G01N21/31

CPC classification number: G01J3/10 ,  G01J3/12 ,  G01J3/14 ,  G01J3/18 ,  G01J3/42 ,  G01J2003/1286

Abstract: 本发明涉及一种用于测量介质的光学性质的测量装置，包括：用于发射光的至少第一光源和第二光源；用于接收至少具有第一接收波长和第二接收波长的光的至少一个光接收器；用于使光弯曲和/或折射的至少一个色散元件；其中，由所述光源发射的光撞击所述色散元件并且由所述色散元件转向，使得光撞击所述光接收器，其特征在于所述第一光源相对于所述色散元件以第一角度布置，并且所述第二光源相对于所述色散元件以第二角度布置，其中，所述第二角度不同于所述第一角度，其中，所述第一角度被实施为使得由所述色散元件转向的光的波长对应于所述第一接收波长，并且其中，所述第二角度被实施为使得由所述色散元件转向的光的波长对应于所述第二接收波长。

公开(公告)号：CN102435311B

公开(公告)日：2014-05-07

申请号：CN201110264333.1

申请日：2011-09-07

Applicant: 杭州远方光电信息股份有限公司

Inventor： 潘建根

IPC: G01J3/28

CPC classification number: G01J3/2823 ,  G01J3/0221 ,  G01J3/18

Abstract: 本发明公开了一种光纤束光谱仪，包括光纤束、色散元件、阵列探测器元件，通过将光纤束的输出端编排成光狭缝，并固定设置在色散元件的入射光路上，直接作为光谱仪的入射狭缝，能大幅减小取样光信号能量损失，大幅提高仪器灵敏度，并因此而降低了仪器的非线性、暗噪声和杂散光误差，具有较高的测量精度以及较快的测量速度。利用二维阵列探测器和光纤束输入端和输出端光纤单元的有序编排，以及多套子光纤束光谱仪的并接，本发明的光纤束光谱仪能够实现二维图像光谱测量和多目的光谱测量，具有无需机械扫描或切换机构、测量速度快、精度高、配置灵活、应用范围广等优点。