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    AUTOMATED MULTIPLE LOCATION SAMPLING ANALYSIS SYSTEM
    181.
    发明申请
    AUTOMATED MULTIPLE LOCATION SAMPLING ANALYSIS SYSTEM 审中-公开
    自动多位置采样分析系统

    公开(公告)号：WO2014113680A3

    公开(公告)日：2015-03-26

    申请号：PCT/US2014012060

    申请日：2014-01-17

    Applicant: SCIAPS INC

    Inventor： DAY DAVID

    IPC: G01J3/02

    CPC classification number: G01J3/443 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/0237 ,  G01J3/0272 ,  G01J3/06 ,  G01J3/44 ,  H01L22/26

    Abstract: An analysis system (e.g., LIBS) includes a laser source generating a laser beam, a movable optic configured to move said laser beam to multiple locations on a sample, and a spectrometer responsive to photons emitted by the sample at those locations and having an output. A controller is responsive to a trigger signal and is configured in a moving spot cycle to adjust the moveable optic, activate the laser source sequentially generating photons at multiple locations on the sample, and process the spectrometer output at each location.

    Abstract translation: 分析系统（例如，LIBS）包括产生激光束的激光源，配置成将所述激光束移动到样品上的多个位置的可移动光学器件，以及响应于在那些位置的样品发射的光子的光谱仪，并具有输出 。 控制器响应于触发信号并且被配置成移动点周期以调整可移动光学元件，激活激光源在样本上的多个位置顺序地生成光子，并且处理每个位置处的光谱仪输出。

    MECHANISM FOR MOVEMENT OF A MIRROR IN AN INTERFEROMETER, AN INTERFEROMETER INCORPORATING THE SAME AND A FOURIER TRANSFORM SPECTROMETER INCORPORATING THE SAME
    182.
    发明申请
    MECHANISM FOR MOVEMENT OF A MIRROR IN AN INTERFEROMETER, AN INTERFEROMETER INCORPORATING THE SAME AND A FOURIER TRANSFORM SPECTROMETER INCORPORATING THE SAME 审中-公开
    用于在干涉仪中移动镜子的机构，与其同时进行的干涉仪和与其同时进行的FOURIER变换光谱仪

    公开(公告)号：WO2014179213A2

    公开(公告)日：2014-11-06

    申请号：PCT/US2014/035674

    申请日：2014-04-28

    Applicant: JACKSON, R

    Inventor： JACKSON, R

    CPC classification number: G01B9/02049 ,  G01J3/0202 ,  G01J3/0237 ,  G01J3/4535

    Abstract: A mechanism that allows for precise motion of the optics of an interferometer is comprised by two or more diaphragm flexures having high lateral stiffness, creating a superior performing Michelson interferometer. When coupled with precise precision control of a mirror surface and a reference laser, the above creates a superior performing Fourier transform spectrometer.

    Abstract translation: 允许干涉仪的光学器件的精确运动的机构由具有高横向刚度的两个或更多个隔膜弯曲构成，产生了优异的执行迈克尔逊干涉仪。 当与镜面和参考激光器的精确精确控制相结合时，上述产生了优异的执行傅立叶变换光谱仪。

    MICRO PURGE OF PLASMA REGION
    183.
    发明申请
    MICRO PURGE OF PLASMA REGION 审中-公开
    等离子体区域的微量元素

    公开(公告)号：WO2014113622A1

    公开(公告)日：2014-07-24

    申请号：PCT/US2014/011961

    申请日：2014-01-17

    Applicant: SCIAPS, INC.

    Inventor： DAY, David

    IPC: G01J3/28 ,  G01J3/30

    CPC classification number: G01J3/443 ,  G01J3/0205 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0237 ,  G01N21/718 ,  G01N2201/0221

    Abstract: An analysis system includes a laser source generating a laser beam for creating a plasma at a location on a sample. A spectrometer is responsive to photons emitted by the sample at said location and has an output. At least one nozzle is configured to deliver inert gas from a source locally to the location on the sample. A controller is responsive to a trigger signal and is configured to activate the laser source generating a series of laser pulses, open a valve to purge the location locally on the sample, and close the valve after one or more laser pulses.

    Abstract translation: 分析系统包括产生用于在样品上的位置处产生等离子体的激光束的激光源。 光谱仪响应于在所述位置处由样品发射的光子并且具有输出。 至少一个喷嘴构造成将惰性气体从源局部输送到样品上的位置。 控制器响应于触发信号并被配置为激活产生一系列激光脉冲的激光源，打开阀以在样本上局部清除位置，并且在一个或多个激光脉冲之后关闭阀。

    VERFAHREN UND ANORDNUNG, INSBESONDERE AUCH ZUR BILDGEBENDEN FOURIER- TRANSFORMATIONS-SPEKTROSKOPIE IM MOBILEN EINSATZ
    184.
    发明申请
    VERFAHREN UND ANORDNUNG, INSBESONDERE AUCH ZUR BILDGEBENDEN FOURIER- TRANSFORMATIONS-SPEKTROSKOPIE IM MOBILEN EINSATZ 审中-公开
    方法和系统，包括但干涉成像光谱TRANSFORMATIONS在移动使用中

    公开(公告)号：WO2014067651A1

    公开(公告)日：2014-05-08

    申请号：PCT/EP2013/003253

    申请日：2013-10-29

    Applicant: UNIVERSITÄT STUTTGART

    Inventor： KÖRNER, Klaus ,  HERKOMMER, Alois ,  OSTEN, Wolfgang

    IPC: G01J3/453 ,  G01J3/02 ,  G01B9/02

    CPC classification number: G01J3/0237 ,  G01B9/02061 ,  G01B2290/15 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/021 ,  G01J3/4535

    Abstract: Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Anordnung zur Fourier- Transformations-Spektroskopie, insbesondere auch zur bildgebenden Strahlungsquellen- und Stoff-Analyse aller Aggregatzustände sowie zur bildgebenden In-vivo-Gewebe-Diagnostik, einschließlich von Tumorgewebe. Die Anordnung ist insbesondere auch als mobiler Scout-Sensor oder als eine hochparallelisierte fest installierte Analyse-Station im jeweils dafür geeigneten Spektralbereich ausgebildet. Erfindungsgemäß wird mittels einer spektral breitbandigen Quelle elektromagnetischer Strahlung eine Bestrahlung mindestens eines länglichen Bereiches in den beiden Aperturflächen (A1, A2) des genutzten Zweistrahl-Interferometers mit Längsrichtung des bestrahlten länglichen Bereiches senkrecht zur Schnittebene V-M durchgeführt. Dabei sind die Endreflektoren in Hybrid-Form mit partiellen Retro-Reflexionseigenschaften ausgebildet. Es ergibt sich ein Vorteil für die Robusfheit des Zweistrahl-Interferometers auch unter widrigen Bedingungen, da unerwünschter Tilt und unerwünschte Shear von Wellenfronten eingeschränkt und/oder auch zur numerischen Kompensation erfasst werden. Somit können zuverlässige Interferogramm-Daten zur Spektrenberechnung bereitgestellt werden.

    Abstract translation: 本发明涉及一种方法和用于傅立叶排列变换光谱，特别是用于体内组织诊断成像Strahlungsquellen-和聚集的所有状态的质量分析以及用于成像，包括肿瘤组织。 所述布置被设计尤其是作为移动侦察传感器或作为每个光谱范围内的高度并行固定分析站适合于该目的。 根据本发明，在与照射的细长区域的纵向方向中使用的双光束干涉仪的两个开口面积（A1，A2）的至少一个细长的区域的照射垂直于切割平面V-M通过电磁辐射的光谱宽带光源来进行。 以混合形式的端部反射器与部分后向反射特性形成的。 这导致用于双光束干涉仪的Robusfheit如下优点：即使在不利条件下，不受欢迎的和不期望的倾斜剪切的波阵面的限制和/或也被识别到数值的补偿。 因此，可以提供用于计算光谱可靠干涉数据。

    SPECTROMETRIC SYSTEMS AND METHODS FOR IMPROVED FOCUS LOCALIZATION OF TIME-AND SPACE-VARYING MEASUREMENTS
    186.
    发明申请
    SPECTROMETRIC SYSTEMS AND METHODS FOR IMPROVED FOCUS LOCALIZATION OF TIME-AND SPACE-VARYING MEASUREMENTS 审中-公开
    用于改进时间和空间变化测量的焦点定位的光谱系统和方法

    公开(公告)号：WO2013165888A2

    公开(公告)日：2013-11-07

    申请号：PCT/US2013/038623

    申请日：2013-04-29

    Applicant: MAYO FOUNDATION FOR MEDICAL EDUCATION AND RESEARCH ,  GILBERT, Barry, K. ,  HAIDER, Clifton, R. ,  DELP, Gary, S. ,  ROSE, James, A.

    Inventor： GILBERT, Barry, K. ,  HAIDER, Clifton, R. ,  DELP, Gary, S. ,  ROSE, James, A.

    IPC: G01N21/49 ,  A61B5/00 ,  A61B5/145 ,  A61B5/1455

    CPC classification number: G01J3/42 ,  A61B5/0075 ,  A61B5/14532 ,  A61B5/14552 ,  G01J3/0237 ,  G01N21/49 ,  G01N33/4925

    Abstract: A system and method of dynamically localizing a measurement of parameter characterizing tissue sample with waves produced by spectrometric system at multiple wavelengths and detected at a fixed location of the detector of the system. The parameter is calculated based on impulse response of the sample, reference data representing characteristics of material components of the sample, and path lengths through the sample corresponding to different wavelengths. Dynamic localization is effectuated by considering different portions of a curve representing the determined parameter, and provides for the formation of a spatial map of distribution of the parameter across the sample. Additional measurement of impulse response at multiple detectors facilitates determination of change of the measured parameter across the sample as a function of time.

    Abstract translation: 一种系统和方法，用于通过在多个波长处的光谱测量系统产生的波形来动态地定位参数表征组织样本的测量并在系统的检测器的固定位置处检测。 该参数基于样品的脉冲响应，表示样品的材料成分的特征的参考数据和对应于不同波长的样品的路径长度来计算。 通过考虑表示确定的参数的曲线的不同部分来实现动态定位，并且提供在样本上形成参数分布的空间图。 在多个检测器处的​​脉冲响应的附加测量有助于确定作为时间的函数的样品上的测量参数的变化。

    分光器におけるチルト補正方法
    189.
    发明申请
    分光器におけるチルト補正方法 审中-公开
    用于校正光谱中倾斜的方法

    公开(公告)号：WO2012056776A1

    公开(公告)日：2012-05-03

    申请号：PCT/JP2011/066925

    申请日：2011-07-26

    Applicant: コニカミノルタホールディングス株式会社 ,  原 吉宏

    Inventor： 原　吉宏

    IPC: G01J3/45

    CPC classification number: G01J3/45 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/0237 ,  G01J3/4535 ,  G02B26/0858

    Abstract: 　分光測定前の粗調工程では、移動鏡を移動させ（＃１１）、移動鏡での反射光と固定鏡での反射光との干渉光を４分割センサで受光したときの各分割素子の出力を合算して、干渉光のコントラストの変化を検出するとともに（＃１２）、そのコントラストの変化に基づいて、両反射光の相対的なチルト量を検知して（＃１３）、初期のチルト誤差を補正する（＃１４）。一方、分光測定前の微調工程では、両反射光の干渉光を４分割センサで受光したときの各分割素子の出力の位相差に基づいて、両反射光の相対的なチルト量およびチルト方向を検知して初期のチルト誤差を補正する。

    Abstract translation: 在光谱学前的粗略调整步骤中，移动反射镜（＃11），已经接收到移动反射镜上的反射光的干涉光的四段传感器的各分割元件的输出和 检测固定镜并检测干涉光的对比度变化（＃12），基于对比度的变化（＃13）检测两个反射光的相对倾斜量，并且初始 倾斜误差得到纠正（＃14）。 另一方面，在光谱学前的微调步骤中，根据四分之一分割元件的分离元件的输出的相位差来检测两个反射光的倾斜相对倾斜方向和相对倾斜方向， 已经接收到两个反射光的干涉光以校正初始倾斜误差的段传感器。

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