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公开(公告)号：KR100128016B1
公开(公告)日：1998-04-04
申请号：KR1019940015935
申请日：1994-07-04
Applicant: 한국과학기술연구원
IPC: G01L1/24
Abstract: The minute pressure measuring method is comprised of (a) preparing a remote measuring apparatus(2) composing a light source(5), an optical detector(6), an electronic circuit(7) for position detection and an output displaying part(8), and transmitting the light irradiated from the light source through an optical fiber bundle(3) to a place to be measured, then receiving again the light transmitted through a glass tube(1a) with a measuring probe(4) to transmit light to the remote measuring apparatus(2) through the optical fiber bundle; (b) performing real-time tracking the change of a liquid surface level based on light transmitted to the remote measuring apparatus(2), digitalizing it to display the liquid surface level and a minute pressure on the output displaying part(8).
Abstract translation: 微压力测量方法包括：（a）制备构成光源（5）的远程测量装置（2），光学检测器（6），用于位置检测的电子电路（7）和输出显示部分（8） ），并将从光源照射的光通过光纤束（3）传输到待测量的位置，然后再次接收通过测量探针（4）透射通过玻璃管（1a）的光以透射光 远程测量装置（2）通过光纤束; （b）基于传输到所述远程测量装置（2）的光，实时跟踪液面水平的变化，数字化以在所述输出显示部分（8）上显示液面水平和微小压力。
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公开(公告)号：KR1020010077673A
公开(公告)日：2001-08-20
申请号：KR1020000005629
申请日：2000-02-07
Applicant: 한국과학기술연구원
IPC: H01S5/20
Abstract: PURPOSE: A wavelength transformation system for increasing an extinction ratio and a wavelength transformation bandwidth of an optical signal is provided to increase an extinction ratio and a wavelength transformation bandwidth of an optical signal by coupling a wavelength transformation process due to a four-wave mixing phenomenon of a semiconductor optical amplifier and a wavelength transformation process due to a four-wave mixing phenomenon of a distributed transaction fiber. CONSTITUTION: The first wavelength transformer(100) receives a DFB(Distributed FeedBack) semiconductor laser beam and a variable wavelength semiconductor laser beam and performs a wavelength transformation process due to a four-wave mixing phenomenon of a semiconductor optical amplifier. The second wavelength transformer(110) receives an output signal of the first wavelength transformer(100) and the variable wavelength semiconductor laser beam and performs a wavelength transformation process due to the four-wave mixing phenomenon of a distributed transaction fiber.
Abstract translation: 目的：提供一种用于增加光信号消光比和波长变换带宽的波长变换系统，通过耦合由于四波混频现象引起的波长变换过程来增加光信号的消光比和波长变换带宽 的半导体光放大器和由于分布式事务光纤的四波混频现象引起的波长变换处理。 构成：第一波长变换器（100）接收DFB（分布式反馈）半导体激光束和可变波长半导体激光束，并且由于半导体光放大器的四波混频现象而进行波长变换处理。 第二波长变换器（110）接收第一波长变换器（100）的输出信号和可变波长半导体激光束，并且由于分布式交易光纤的四波混频现象而进行波长变换处理。
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公开(公告)号：KR100178331B1
公开(公告)日：1999-05-15
申请号：KR1019960007553
申请日：1996-03-20
Applicant: 한국과학기술연구원
IPC: G02B6/00
Abstract: 본 발명은 저온 용융 광섬유 인출 장치에 관한 것으로, 수직형 전기로의 내부에 금속으로 된 보조 온도 조절 수단을 설치하여 다중 조성 화합물 또는 할라이드계 화합물의 길이 10cm 정도의 소형 광섬유 모재를 안정적으로 인출할 수 있게 한 것이다. 보조 온도 조절 수단은 원주형 금속의 윗면과 밑면에 중심부를 향한 원추형 홈부를 형성하여 전기로 내부에서의 기류의 흐름이, 하부에서는 아래로 흐르게 하고 상부에서는 위로 흐르게 하며 복사열의 반사경 역할을 하게 하여 수직형 전기로의 온도 특성을 향상시킨다. 보조 온도 조절 수단은 전기로 내부에서의 위치를 상하로 조절가능하게 설치함으로써 전리로의 최고 온도 위치를 조절할 수 있고, 일반적인 전기로와 비교하여 온도 분포의 반치폭을 1/3, 외부의 환경 변화에 대한 온도 변화를 1/2로 감소시킬 수 있는 것이다.
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：KR1019990002608A
公开(公告)日：1999-01-15
申请号：KR1019970026264
申请日：1997-06-20
Applicant: 한국과학기술연구원
IPC: G01R31/00
Abstract: 반도체 광 증폭기내에서의 부분 축퇴된 4관파 혼합 현상과 전압 구동형 광노정 지연기를 이용하여 수 피코초 이하의 시간폭을 갖는 극초단 광 펄스열의 펄스폭과 펄스 파형을 측정하는 본 발명에 따른 장치는, 광 샘플림용 극초단 광 펄스열을 일정 시간 지연시키기 위한 전압 구동형 광 노정 지연기와, 이 전압 구동형 광노정 지연기에 수 Hz의 전압 변화를 출력하는 신호 발생기와, 측정하려고 하는 극초단 광 펄스열과 상기 광 노정 지연기에 의해 일정 시간 지연된 광 샘플링용 극초단 광 펄스열을 혼합하여, 4광파 혼합 광 신호 펄스열을 생성하는 반도체 광증폭기와, 상기 4광파 혼합광만을 투과시키는 광파장 필터와, 상기 4광파 혼합 광 신호 펄스열의 평균 전압 출력을 구하기 위한 광 검출기와, 상기 광 검출기로부터 얻어지는 측정용 전압 신호를 증 폭시키는 증폭기와, 상기 증폭된 전압 신호의 펄스폭과 그 파형을 측정하기 위한 파형 측정 장비를 포함한다.
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公开(公告)号：KR1019930022068A
公开(公告)日：1993-11-23
申请号：KR1019920006307
申请日：1992-04-15
Applicant: 한국과학기술연구원
IPC: G01K11/20
Abstract: 본 발명은 주파수 발생원리에 따라 형광물질의 여기동작을 제어하여, 그 형광 물질의 여기주기에 따른 주파수를 측정함으로써 온도를 측정할 수 있게한 광학을 이용한 온도 측정장치에 관한것으로, 종래에는 형광의 빛 세기가 감쇄하기 시작한 직후의 형광의 빛 세기를 측정하고, 그 세기에 대하여 일정한 비율로 형광의 빛 세기가 줄어든 때의 시간을 측정하여 두 측정위치의 시간차를 구하고, 그 시간차로부터 온도를 산출하게 되므로, 그의 구조가 복잡하여 질뿐만 아니라 그 산출 과정이 복잡하였다.
이러한 점을 감안하여, 비교전압을 기준전압과 비교하는 비교기와, 이 비교기의 출력 신호에 따라 여기광을 발생하는 광원과, 이 광원에서 발생되는 여기광에 의해 여기되어 형광을 발생하는 형광물질과, 이 형광 물질에서 발생되는 형광을 전기적인 신호로 검출한 후 증폭하여 상기 비교기에 비교전압으로 인가하는 광검지기와, 상기 비교기의 출력신호로부터 주파수를 측정한 후 온도를 산출하는 주파수 측정 및 연산 장치로 온도측정장치를 구성함으로써 그의 구성이 간단하여지고, 그 온도 연산과정이 간단해지게 된다.-
公开(公告)号：KR100350231B1
公开(公告)日：2002-08-27
申请号：KR1020000005630
申请日：2000-02-07
Applicant: 한국과학기술연구원
IPC: G02B26/00
Abstract: 본 발명은 광섬유 격자를 이용한 반도체 광증폭기의 이득조절 장치에 관한 것으로, 반도체 광스위칭 소자나 파장변환기에 사용되는 반도체 광증폭기를 광섬유 격자를 이용하여 그 이득을 용이하게 조절할 수 있는 광섬유 격자를 이용한 반도체 광증폭기의 이득조절 장치에 관한 것이다.
본 발명은 광신호를 입력받는 입력부와, 증폭된 광신호를 출력하기 위한 출력부와, 상기 입력부 및 출력부에 연결되어 입력 광신호 및 출력 광신호의 경로 설정을 하기 위한 입력측 광 고립기 및 출력측 광고립기를 구비하는 광섬유 격자를 이용한 반도체 광증폭기의 이득조절 장치에 있어서, 상기 입력측 광고립기에 연결되어, 반사 중심파장을 미세 조정할 수 있는 인장 조절 가능 광섬유 격자와, 상기 인장 조절 가능 광섬유 격자와 연결되어, 광신호를 증폭시키는 반도체 광증폭기와, 상기 반도체 광증폭기에 전원을 공급해주는 광증폭기 구동용 전원 공급기와, 상기 반도체 광증폭기에 연결되어, 소정의 반사 중심파장을 가지는 광섬유 격자를 포함한다.
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