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11.
公开(公告)号:DE102014010658A1
公开(公告)日:2015-01-22
申请号:DE102014010658
申请日:2014-07-17
Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG
Inventor: OSSIMITZ PETER , MCCONNELL RODERICK , BARRENSCHEEN JENS
Abstract: Ein Beispiel betrifft eine Schaltungsanordnung, die einen ersten Kontakt, der mit einer Energieversorgung verbunden ist, eine erste Vergleichseinheit, die mit dem ersten Kontakt und mit einem ersten Referenzsignal verbunden ist, aufweist, wobei die erste Vergleichseinheit dazu ausgebildet ist, eine Spannung an dem ersten Kontakt mit dem ersten Referenzsignal zu vergleichen und ein erstes Ausgangssignal zur Weiterverarbeitung bereitzustellen.
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公开(公告)号:DE10335809B4
公开(公告)日:2010-07-01
申请号:DE10335809
申请日:2003-08-05
Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG
Inventor: OSSIMITZ PETER , ARNOLD RALF
IPC: G01R31/3193 , G01R31/3183 , G01R31/3185
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公开(公告)号:DE102005015319B4
公开(公告)日:2008-04-10
申请号:DE102005015319
申请日:2005-04-01
Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG
Inventor: OSSIMITZ PETER
IPC: G11C29/24
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公开(公告)号:DE102004039831A1
公开(公告)日:2005-03-31
申请号:DE102004039831
申请日:2004-08-17
Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG
Inventor: FRANKOWSKY GERD , OSSIMITZ PETER
IPC: G01R31/3185 , G11C29/00 , H01L23/02
Abstract: A multi-chip module (1) has a semiconductor store (2) with a number of storage cells and an integrated circuit (3) coupled to at least one integrated semiconductor store (2) and comprises further at least one non-volatile store (7) for long term storage of an address of a defective memory cell, a comparator (8) coupled to the non-volatile store (7) and compares a stored address at the input during a write/read access to the integrated semiconductor store (2) with the address stored in the non-volatile store (7). A multiplexer is used and is driven by the comparator (8) independent of the comparison result in the comparator to provide a write/read access either at the memory cell in the integrated semiconductor memory cell (2) or at a storage cell in the volatile store (10). An independent claim is also included for a method for testing a multi-chip module.
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15.
公开(公告)号:DE102014016319B4
公开(公告)日:2022-05-12
申请号:DE102014016319
申请日:2014-11-04
Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG
Inventor: OSSIMITZ PETER
Abstract: Package (300, 350, 360, 370, 410, 412, 413) für eine integrierte Schaltung (IC), mit:einem Package-Kern (200), der einen ersten Satz von Pads mit einer Kontaktbelegung aufweist, die mit einem Chip-Kern (100) einer Produktfamilie kompatibel ist; undeinem zweiten Satz von Pads für eine außerhalb des Chip-Kerns (100) befindliche Schaltung, wobei sich der zweite Satz von Pads in derselben Ebene wie der erste Satz von Pads und in mindestens zwei entgegengesetzten Richtungen außerhalb des Package-Kerns (200) befindet, und wobei die Pads des zweiten Satzes von Pads in Bezug auf den Package-Kern (200) asymmetrisch in den mindestens zwei entgegengesetzten Richtungen außerhalb des Package-Kerns (200) angeordnet sind.
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公开(公告)号:DE102013202355B8
公开(公告)日:2021-04-15
申请号:DE102013202355
申请日:2013-02-13
Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG
Inventor: OSSIMITZ PETER , DAAK MATTHIAS VON , HESIDENZ DIRK
IPC: H01L23/522 , G11C5/06 , H01L21/58 , H01L21/60 , H01L23/50
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17.
公开(公告)号:DE102014112330B4
公开(公告)日:2020-07-09
申请号:DE102014112330
申请日:2014-08-27
Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG
Inventor: SCHAEFER JÜRGEN , CHEN LIU , DINKEL MARKUS , MACHEINER STEFAN , OSSIMITZ PETER
Abstract: Eine elektronische Vorrichtung, aufweisend:• ein Substrat;• mindestens einen elektronischen Chip, der an dem Substrat montiert und elektrisch mit dem Substrat verbunden ist und als eine Systemsteuereinheit zum Steuern eines verbundenen Systems konfiguriert ist;• eine Wärmeableitstruktur, die thermisch mit dem mindestens einen elektronischen Chip verbunden ist und zum Ableiten von Wärme, die von dem mindestens einen elektronischen Chip bei Betrieb der elektronischen Vorrichtung erzeugt wird, konfiguriert ist; und• eine Überspritzstruktur, die zum mindestens teilweisen Verkapseln des mindestens einen elektronischen Chips und des Substrats konfiguriert ist; wobei der mindestens eine elektronische Chip eine erste Hauptoberfläche und eine zweite Hauptoberfläche gegenüberliegend der ersten Hauptoberfläche aufweist, wobei der mindestens eine elektronische Chip mit seiner ersten Hauptoberfläche an dem Substrat montiert ist und mit seiner zweiten Hauptoberfläche an der Wärmeableitstruktur montiert ist;wobei die Wärmeableitstruktur eine Vorkehrung zur mechanischen Befestigung aufweist, die zum mechanischen Befestigen der Vorrichtung an einer Montagebasis des verbundenen Systems konfiguriert ist;wobei die Wärmeableitstruktur verformbar ist, um eine unterschiedliche Höhe, die durch Höhenabmessungen unterschiedlicher elektronischer Chips hervorgerufen wird, auszugleichen.
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公开(公告)号:DE102014016319A1
公开(公告)日:2015-06-03
申请号:DE102014016319
申请日:2014-11-04
Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG
Inventor: OSSIMITZ PETER
Abstract: Ein Package für eine integrierte Schaltung (IC) umfasst ein Package mit einem ersten Satz von Pads mit einer Kontaktbelegung, die mit einem Chip-Kern einer Produktfamilie kompatibel ist. Ein zweiter Satz von Pads befindet sich im Wesentlichen in derselben Ebene wie der erste Satz von Pads und außerhalb des Package-Kerns. Der zweite Satz von Pads ist so konfiguriert, dass er eine Schaltung außerhalb des Chip-Kerns aufnimmt. Der geometrische Mittelpunkt des Package-Kerns unterscheidet sich von dem geometrischen Mittelpunkt des IC-Package.
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公开(公告)号:DE102014100512A1
公开(公告)日:2014-07-24
申请号:DE102014100512
申请日:2014-01-17
Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG
Inventor: OSSIMITZ PETER
IPC: H01L23/50 , H01L21/822 , H01L23/48 , H01L23/49
Abstract: Ein Chip-Gehäuse umfasst einen Chip mit integriertem Schaltkreis. Eine erste Gruppe von Anschlusspads des Chip-Gehäuses ist elektrisch mit dem Chip mit integriertem Schaltkreis verbunden und eine zweite Gruppe von Anschlusspads des Chip-Gehäuses ist elektrisch mit dem Chip mit integriertem Schaltkreis verbunden. Die ersten und zweiten Gruppen von Anschlusspads sind auf einer gemeinsamen Anschlussfläche des Chip-Gehäuses angeordnet. Eine Padgröße eines Anschlusspads der ersten Gruppe von Anschlusspads ist größer als eine Padgröße eines Anschlusspads der zweiten Gruppe von Anschlusspads.
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公开(公告)号:DE102012100982A1
公开(公告)日:2012-09-20
申请号:DE102012100982
申请日:2012-02-07
Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG
Inventor: OSSIMITZ PETER
IPC: H01L21/66 , G01R31/28 , H01L21/683
Abstract: Eine Vorrichtung zum lösbaren Aufnehmen eines vereinzelten Halbleiterchips mit einer ersten Hauptoberfläche und einer zweiten Hauptoberfläche gegenüberliegend zur ersten Hauptoberfläche wird offenbart. Die Vorrichtung beinhaltet eine Stützstruktur. Mindestens ein elastisches Element ist an der Stützstruktur angeordnet. Elektrische Kontaktelemente sind an dem mindestens einen elastischen Element angeordnet und angepasst, mit der ersten Hauptoberfläche des Halbleiterchips kontaktiert zu werden. Eine Folie ist angepasst, über der zweiten Hauptoberfläche des Halbleiterchips angeordnet zu werden.
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