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    Mikroskop mit einer Strahlteileranordnung
    12.
    发明专利
    Mikroskop mit einer Strahlteileranordnung 未知

    公开(公告)号：DE102014110606B4

    公开(公告)日：2017-10-19

    申请号：DE102014110606

    申请日：2014-07-28

    Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

    Inventor： EUTENEUER PETER ,  KRÜGER RALF

    IPC: G02B21/06 ,  G02B21/00

    Abstract: Mikroskop (10), umfassend – ein Autofokusmodul (40) mit einer Autofokus-Lichtquelle (30), die einen Beleuchtungsstrahlengang mit Licht in mehreren Wellenlängenbereichen erzeugt, – eine dichroitische Strahlteileranordnung (52) mit einer dichroitischen Spiegelfläche (54), die zwischen einer Objektivoptik (12) und einer Tubuslinse (24) in einem mehrere Wellenlängenbereiche umfassenden Strahlengangabschnitt (72) angeordnet ist, – und die durch Reflexion von Autofokus-Licht, das die Autofokus-Lichtquelle (30) auf die Strahlteileranordnung (52) aussendet, einen Reflexions-Teilstrahl (32) in Richtung eines Reflexionsstrahlengangs (66) erzeugt – und durch Transmission einen Transmissions-Teilstrahl (68) in Richtung eines Transmissionsstrahlengangs (70) erzeugt, dessen transmittierter Wellenlängenbereich von dem reflektierten Wellenlängenbereich des Reflexions-Teilstrahls (32) verschieden ist, – wobei die Strahlteileranordnung (52) die Ausbreitungsrichtung des Reflexions-Teilstrahls (32) gegenüber dem Beleuchtungsstrahlengang um einen vorbestimmten Ablenkwinkel (α) ändert, – die dichroitische Spiegelfläche (54) unter einem Winkel von 22,5° ± 7,5° im Strahlengangabschnitt (72) angeordnet ist – und die Strahlteileranordnung (52) mindestens einen weiteren, in dem Reflexionsstrahlengang (66) angeordneten Spiegel (56) aufweist, – wobei die Ausbreitungsrichtung des Reflexions-Teilstrahls (32) durch die Summe aller Reflexionen an der dichroitischen Spiegelfläche (54) und dem mindestens einen weiteren Spiegel (56) um den vorbestimmten Ablenkwinkel (α) geändert ist.

    14.
    发明专利
    未知

    公开(公告)号：DE502004008954D1

    公开(公告)日：2009-03-19

    申请号：DE502004008954

    申请日：2004-09-23

    Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

    Inventor： ULRICH HEINRICH ,  KNEBEL WERNER ,  MOELLMANN KYRA ,  EUTENEUER PETER

    IPC: G02B21/00 ,  G02B21/06 ,  G02B21/08

    Abstract: A microscope comprises an objective and a light source that produces an illumination light beam-in particular for evanescent illumination of a sample, which exhibits a focus in the plane of the objective pupil. To adjust the penetration depth, an adjustment mechanism is provided with which the spatial position of the focus within the plane of the objective pupil may be changed.

    15.
    发明专利
    未知

    公开(公告)号：DE50304284D1

    公开(公告)日：2006-08-31

    申请号：DE50304284

    申请日：2003-12-12

    Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

    Inventor： HUND ANDREAS ,  PAUSCH ARMIN ,  EUTENEUER PETER

    IPC: G02B21/24 ,  G02B7/24 ,  G02B21/00 ,  G02B23/16 ,  G02B25/00

    Abstract: The tube, to adapt a microscope, has a tube housing (3), an adaptation interface (4), a beam deflection unit (5), additional beam guides (7) and an operating interface (8). The deflection unit carries the light beam from the adaptation interface on an optical axis (6) generally on a given plane at least in sections, and from the additional beam guides to the operating interface. A relative movement of the tube housing together with the additional beam guides and the operating interface to the microscope (2) is on a direction parallel to the plane. The given plane is parallel to a tube exchange surface or parallel to an upper housing surface (9) of the microscope, or is generally horizontal.

    16.
    发明专利
    未知

    公开(公告)号：DE102004034846A1

    公开(公告)日：2006-02-16

    申请号：DE102004034846

    申请日：2004-07-19

    Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

    Inventor： EUTENEUER PETER ,  KRUEGER RALF

    IPC: G02B21/24

    Abstract: An inverted microscope ( 1 ) equipped with an ergotube ( 9 ) is disclosed. The ergotube ( 9 ) substantially comprises an eyepiece ( 9 a) and a tube housing ( 9 b). The microscope beam path ( 30 ) defined by the inverted microscope ( 1 ) is of U-shaped configuration. The U-shaped microscope beam path ( 30 ) is deflected into the eyepiece ( 9 a) by a single deflection element ( 74 ) that is embodied as a pivotable mirror.

    Verfahren und Vorrichtung zur Feststellung und Korrektur von sphärischen Abbildungsfehlern in einem mikroskopischen Abbildungsstrahlengang
    17.
    发明专利
    Verfahren und Vorrichtung zur Feststellung und Korrektur von sphärischen Abbildungsfehlern in einem mikroskopischen Abbildungsstrahlengang 未知

    公开(公告)号：DE102011084562B4

    公开(公告)日：2018-02-15

    申请号：DE102011084562

    申请日：2011-10-14

    Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

    Inventor： KNEBEL WERNER DR ,  BAUER TOBIAS ,  EUTENEUER PETER

    IPC: G02B21/00

    Abstract: Verfahren zur Feststellung eines sphärischen Fehlers eines Mikroskop-Abbildungsstrahlengangs (7) bei einer mikroskopischen Abbildung einer Probe (9) mittels eines ein Objektiv (10) aufweisenden Mikroskops (1), wobei ein die Probe (9) tragendes oder bedeckendes Deckglas (2) im Abbildungsstrahlengang angeordnet ist, dadurch gekennzeichnet, dass ein Messstrahl (130) dezentriert außerhalb der optischen Achse (8) des Objektivs (10) durch das Objektiv (10) auf die Probe (9) und der an der Grenzfläche (116) des Deckglases (2) zur Probe (9) reflektierte Messstrahl (132) über das Objektiv (10) auf einen Detektor (128) geleitet wird, der ein Intensitätsprofil des an der Grenzfläche (116) zwischen Deckglas (2) und Probe (9) reflektierten Messstrahls (132) aufnimmt, und dass durch Auswertung der Signalform dieses Intensitätsprofils das Vorliegen eines sphärischen Fehlers qualitativ und/oder quantitativ bestimmt wird.

    Mikroskop mit einer Strahlteileranordnung
    18.
    发明专利
    Mikroskop mit einer Strahlteileranordnung 未知

    公开(公告)号：DE102014110606A1

    公开(公告)日：2016-01-28

    申请号：DE102014110606

    申请日：2014-07-28

    Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

    Inventor： EUTENEUER PETER ,  KRÜGER RALF

    IPC: G02B21/06 ,  G02B21/00

    Abstract: Beschrieben ist ein Mikroskop (10), umfassend eine Lichtquelle oder mehrere Lichtquellen (30), die einzeln oder gemeinsam einen Beleuchtungsstrahlengang mit Licht in mehreren Wellenlängenbereichen erzeugen, eine dichroitische Strahlteileranordnung (52) mit einer dichroitischen Spiegelfläche (54), die zwischen einer Objektivoptik (12) und einer Tubuslinse (24) in einem mehrere Wellenlängenbereiche umfassenden Strahlengangabschnitt (72) angeordnet ist, und die durch Reflexion einen Reflexions-Teilstrahl (32) in Richtung eines Reflexionsstrahlengangs (66) erzeugt und durch Transmission einen Transmissions-Teilstrahl (68) in Richtung eines Transmissionsstrahlengangs (70) erzeugt, dessen transmittierter Wellenlängenbereich von dem reflektierten Wellenlängenbereich des Reflexions-Teilstrahls (32) verschieden ist, wobei die Strahlteileranordnung (52) die Ausbreitungsrichtung des Reflexions-Teilstrahls (32) gegenüber dem Beleuchtungsstrahlengang um einen vorbestimmten Ablenkwinkel (α) ändert. Die dichroitische Spiegelfläche (54) ist unter einem Winkel von 22,5 ± 7,5° im Strahlengangabschnitt (72) angeordnet, und die Strahlteileranordnung (52) weist mindestens einen weiteren, in dem Reflexionsstrahlengang (66) angeordneten Spiegel (56) auf, wobei die Ausbreitungsrichtung des Reflexions-Teilstrahls (32) durch die Summe aller Reflexionen an der dichroitischen Spiegelfläche (54) und dem mindestens einen weiteren Spiegel (56) um den vorbestimmten Ablenkwinkel (α) geändert ist.

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