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公开(公告)号：DE102012219239A1
公开(公告)日：2014-04-24
申请号：DE102012219239
申请日：2012-10-22
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor： SCHUMANN CHRISTIAN , KRÜGER RALF , BAUER TOBIAS , SCHULZ CHRISTIAN
IPC: G02B21/06
Abstract: Die Erfindung betrifft eine Beleuchtungseinrichtung für ein optisches Gerät, insbesondere ein Mikroskop oder Makroskop, wobei von einer Beleuchtungsquelle emittiertes Licht über einen Beleuchtungsstrahlengang auf ein zu beleuchtendes Objekt, wobei wenigstens eine in dem Beleuchtungsstrahlengang positionierbare transparente oder semitransparente, selbstleuchtende Schicht, welche mit einer Anzahl von einzeln ansteuerbaren Bereichen zur Bereitstellung einer positionsabhängigen Beleuchtungskorrektur ausgebildet ist.
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公开(公告)号：DE102014110606B4
公开(公告)日：2017-10-19
申请号：DE102014110606
申请日：2014-07-28
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor： EUTENEUER PETER , KRÜGER RALF
Abstract: Mikroskop (10), umfassend – ein Autofokusmodul (40) mit einer Autofokus-Lichtquelle (30), die einen Beleuchtungsstrahlengang mit Licht in mehreren Wellenlängenbereichen erzeugt, – eine dichroitische Strahlteileranordnung (52) mit einer dichroitischen Spiegelfläche (54), die zwischen einer Objektivoptik (12) und einer Tubuslinse (24) in einem mehrere Wellenlängenbereiche umfassenden Strahlengangabschnitt (72) angeordnet ist, – und die durch Reflexion von Autofokus-Licht, das die Autofokus-Lichtquelle (30) auf die Strahlteileranordnung (52) aussendet, einen Reflexions-Teilstrahl (32) in Richtung eines Reflexionsstrahlengangs (66) erzeugt – und durch Transmission einen Transmissions-Teilstrahl (68) in Richtung eines Transmissionsstrahlengangs (70) erzeugt, dessen transmittierter Wellenlängenbereich von dem reflektierten Wellenlängenbereich des Reflexions-Teilstrahls (32) verschieden ist, – wobei die Strahlteileranordnung (52) die Ausbreitungsrichtung des Reflexions-Teilstrahls (32) gegenüber dem Beleuchtungsstrahlengang um einen vorbestimmten Ablenkwinkel (α) ändert, – die dichroitische Spiegelfläche (54) unter einem Winkel von 22,5° ± 7,5° im Strahlengangabschnitt (72) angeordnet ist – und die Strahlteileranordnung (52) mindestens einen weiteren, in dem Reflexionsstrahlengang (66) angeordneten Spiegel (56) aufweist, – wobei die Ausbreitungsrichtung des Reflexions-Teilstrahls (32) durch die Summe aller Reflexionen an der dichroitischen Spiegelfläche (54) und dem mindestens einen weiteren Spiegel (56) um den vorbestimmten Ablenkwinkel (α) geändert ist.
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：DE102014110606A1
公开(公告)日：2016-01-28
申请号：DE102014110606
申请日：2014-07-28
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor： EUTENEUER PETER , KRÜGER RALF
Abstract: Beschrieben ist ein Mikroskop (10), umfassend eine Lichtquelle oder mehrere Lichtquellen (30), die einzeln oder gemeinsam einen Beleuchtungsstrahlengang mit Licht in mehreren Wellenlängenbereichen erzeugen, eine dichroitische Strahlteileranordnung (52) mit einer dichroitischen Spiegelfläche (54), die zwischen einer Objektivoptik (12) und einer Tubuslinse (24) in einem mehrere Wellenlängenbereiche umfassenden Strahlengangabschnitt (72) angeordnet ist, und die durch Reflexion einen Reflexions-Teilstrahl (32) in Richtung eines Reflexionsstrahlengangs (66) erzeugt und durch Transmission einen Transmissions-Teilstrahl (68) in Richtung eines Transmissionsstrahlengangs (70) erzeugt, dessen transmittierter Wellenlängenbereich von dem reflektierten Wellenlängenbereich des Reflexions-Teilstrahls (32) verschieden ist, wobei die Strahlteileranordnung (52) die Ausbreitungsrichtung des Reflexions-Teilstrahls (32) gegenüber dem Beleuchtungsstrahlengang um einen vorbestimmten Ablenkwinkel (α) ändert. Die dichroitische Spiegelfläche (54) ist unter einem Winkel von 22,5 ± 7,5° im Strahlengangabschnitt (72) angeordnet, und die Strahlteileranordnung (52) weist mindestens einen weiteren, in dem Reflexionsstrahlengang (66) angeordneten Spiegel (56) auf, wobei die Ausbreitungsrichtung des Reflexions-Teilstrahls (32) durch die Summe aller Reflexionen an der dichroitischen Spiegelfläche (54) und dem mindestens einen weiteren Spiegel (56) um den vorbestimmten Ablenkwinkel (α) geändert ist.
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公开(公告)号：DE102006044214B4
公开(公告)日：2016-11-17
申请号：DE102006044214
申请日：2006-09-15
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor： KRÜGER RALF
Abstract: Mikroskop (1) mit einem Beleuchtungsstrahlengang (15) und einem Abbildungsstrahlengang (16), der sich von einem Objekt zu einem Detektor und/oder einem Tubus (122) erstreckt und in dem ein erstes und ein zweites Ablenkmittel (23, 24) und eine ein Objekt abbildende Abbildungsoptik (6) angeordnet sind, wobei der Abbildungsstrahlengang (16) in Form eines Weitfeld-Abbildungsstrahlengangs ausgebildet ist, wobei das erste Ablenkmittel (23) einen ersten Teil des Abbildungslichts in eine erste Richtung (25) ablenkt, das zweite Ablenkmittel (24) einen zweiten Teil des Abbildungslichts in eine zweite Richtung (26) ablenkt und beide Ablenkmittel (23, 24) einen dritten Teil des Abbildungslichts zur visuellen Betrachtung durch einen Bediener des Mikroskops (1) durchlassen und das erste und das zweite Ablenkmittel (23, 24) den ersten und den zweiten Teil des Abbildungslichts hin zu einem Dokumentationsabgang (30) des Mikroskops (1) ablenken, an dem mindestens eine Detektionseinrichtung (27) angebaut ist, wobei das von den beiden Ablenkmitteln (23, 24) abgelenkte Abbildungslicht simultan mit der Detektionseinrichtung (27) detektierbar ist, wobei die Abbildungsoptik (11) im Strahlengang des dritten Teils des Abbildungslichts mindestens ein Zwischenbild (12) des Objekts erzeugt und wobei zwischen den beiden Ablenkmitteln (23, 24) und der mindestens einen Detektionseinrichtung (27) keine Mittel vorgesehen sind, die ein weiteres Zwischenbild erzeugen.
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公开(公告)号：DE102010039950B4
公开(公告)日：2021-07-22
申请号：DE102010039950
申请日：2010-08-30
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor： EUTENEUER PETER , KRÜGER RALF
IPC: G02B21/00
Abstract: Mikroskop (18)mit einem Objektivrevolver (14) zur Befestigung von mindestens einem Mikro-Objektiv (15) und einem Makro-Objektiv (5), das in eine Arbeitsstellung auf eine optische Achse (3) einschwenkbar ist,mit einer Beobachtungsoptik (9) in einem Abbildungsstrahlengang (29),mit einem Makro-Objektiv (5) bestehend aus mehreren optischen Teilsystemen (5a, 5b), wobei ein erstes optisches Teilsystem (5a) am Objektivrevolver (14) befestigbar ist und ein zweites optisches Teilsystem (5b) zwischen dem Objektivrevolver (14) und der Beobachtungsoptik (9) in den Abbildungsstrahlengang einfügbar ist, wenn das erste optische Teilsystem (5a) in seine Arbeitsstellung auf der optischen Achse (3) geschwenkt ist,dadurch gekennzeichnet,dass eine einen Beleuchtungsstrahlengang (28) erzeugende Auflichtbeleuchtungseinrichtung (20) mit einem Srahlteiler (12) zur Einkopplung des Beleuchtungsstrahlengangs (28) in den Abbildungsstrahlengang (29) vorgesehen ist, mit der sowohl durch ein in seiner Arbeitsstellung befindliches Mikro-Objektiv (15) als auch alternativ durch das in seiner Arbeitsstellung befindliche erste optische Teilsystem (5a) des Makro-Objektivs (5) jeweils ein telezentrischer Beleuchtungsstrahlengang (28) mit einer objektivseitigen Beleuchtungspupille (26) erzeugbar ist,und dass im Falle des in seine Arbeitsstellung eingeschwenkten Makro-Objektivs (5) eine Anpassungsoptik (2) mit positiver Brechkraft in den Beleuchtungsstrahlengang (28) einbringbar ist, welche die Beleuchtungspupille (26) an die hintere Austrittspupille (27) des Makro-Objektivs (5) verlagert, die zwischen dem ersten optischen Teilsystem (5a) und dem Strahlteiler (12) liegt.
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公开(公告)号：DE102006017350B4
公开(公告)日：2016-06-02
申请号：DE102006017350
申请日：2006-04-11
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor： KRÜGER RALF
Abstract: Abbildungsvorrichtung zum Abbilden mikroskopischer oder makroskopischer Objekte (5), mit einer Lichtquelle (2), einem Beleuchtungsstrahlengang (6), einem Abbildungsstrahlengang (7) und einer in Form eines Objektivs ausgebildeten Abbildungsoptik (4), wobei der Beleuchtungsstrahlengang (6) sich von der Lichtquelle (2) zum Objekt (5) erstreckt, wobei der Abbildungsstrahlengang (7) sich vom Objekt (5) zu einem Detektor oder einem Tubus (3) erstreckt, wobei im Beleuchtungsstrahlengang (6) mindestens ein Polarisationsmittel (9) vorgesehen ist, mit welchem das Licht der Lichtquelle (2) in einen vorgebbaren Polarisationszustand überführbar ist, wobei im Abbildungsstrahlengang (7) ein Analysatormittel (10) vorgesehen ist, wobei das Analysatormittel (10) und das Polarisationsmittel (9) derart relativ zueinander einstellbar sind, dass das in den Abbildungsstrahlengang (7) eintretende, vom Polarisationsmittel (9) polarisierte Licht das Analysatormittel (10) nicht passieren kann, dadurch gekennzeichnet, dass im Beleuchtungsstrahlengang (6) und/oder im Abbildungsstrahlengang (7) zwischen dem Polarisationsmittel (9) und dem Analysatormittel (10) ein einstellbares optisches Bauteil (11) vorgesehen ist, mit welchem in Abhängigkeit seiner Einstellung das zur Objektbeleuchtung dienende polarisierte Licht entweder depolarisierbar oder in Teilstrahlen aufspaltbar ist.
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公开(公告)号：DE102010030430B4
公开(公告)日：2015-01-29
申请号：DE102010030430
申请日：2010-06-23
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor： KRÜGER RALF
Abstract: Triangulierende Autofokuseinrichtung (21) für ein Mikroskop (40) mit einer Autofokus-Aperturblende (5, 6), die lediglich eine Blendenöffnung (3, 4) zur Begrenzung des Querschnitts eines in Richtung der optischen Achse (18) der Autofokuseinrichtung (21) verlaufenden Messstrahlenbündels (34) und zur Erzeugung eines Autofokus-Messstrahls (36) aufweist, und mit einer Autofokussieroptik (25, 26), um unter Verwendung eines Objektivs (10) des Mikroskops (40) mittels des Autofokus-Messstrahls (36) ein Messmuster auf einem Objekt zu erzeugen, wobei die Blendenöffnung (3, 4) der Autofokus-Aperturblende (5, 6) dezentriert mit Abstand zur optischen Achse (18) der Autofokuseinrichtung (21) angeordnet ist, wobei durch die Blendenöffnung (3, 4) in einer Hälfte des Querschnitts (17) des Messstrahlenbündels (34) ein dezentrierter Autofokus-Messstrahl (36) erzeugbar ist, dadurch gekennzeichnet, dass mindestens zwei unterschiedliche Autofokus-Aperturblenden (5, 6) vorgesehen und alternativ auswählbar und in den Messstrahlengang einsetzbar sind, deren jeweilige Blendenöffnungen (3, 4) in unterschiedlichen Abständen zur optischen Achse (18) der Autofokuseinrichtung (21) angeordnet sind, wobei die Blendenöffnungen (3, 4) zweier der mindestens zwei Autofokus-Aperturblenden (5, 6) sich in ihrer Projektion auf den Querschnitt (17) des Messstrahlengangs (34) nicht überlappen.
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