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    Phase filter, optical device and raster microscope
    11.
    发明专利
    Phase filter, optical device and raster microscope 有权
    相位滤波器，光学器件和RASTER MICROSCOPE

    公开(公告)号：JP2006023745A

    公开(公告)日：2006-01-26

    申请号：JP2005198661

    申请日：2005-07-07

    Applicant: Leica Microsystems Cms Gmbh ,  ライカ ミクロジュステムス ツェーエムエス ゲーエムベーハー

    Inventor： GUGEL HILMAR

    IPC: G02B21/06 ,  G02B5/04 ,  G02B5/30 ,  G02B21/00 ,  G02B21/14 ,  G02B26/06 ,  G02B26/10

    CPC classification number: G02B21/16

    Abstract: PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a filter and an optical device capable of forming a focused spot which hardly depends on wavelength.
    SOLUTION: The optical device comprises a focusing optical system for focusing a light beam in a focal plane and a focused spot shape forming means of the light beam, and is constituted so that the focused spot shape forming means produces a phase shift between a first part and a second part of the light beam. Therein, the focused spot shape forming means has a first boundary surface and a second boundary surface, the first boundary surface reflects the first part of the light beam and the second boundary surface reflects the second part of the light beam.
    COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI

    Abstract translation: 要解决的问题：提供能够形成几乎不依赖于波长的聚焦点的滤光器和光学装置。 解决方案：光学装置包括用于将光束聚焦在焦平面中的聚焦光学系统和光束的聚焦光斑形状形成装置，并且被构造成使得聚焦光点形状装置产生相位偏移 光束的第一部分和第二部分。 其中，聚焦点形状形成装置具有第一边界面和第二边界面，第一边界面反射光束的第一部分，第二边界面反射光束的第二部分。 版权所有（C）2006，JPO＆NCIPI

    INTERFERENCE MICROSCOPE AND METHOD OF OPERATION FOR THE SAME
    12.
    发明专利
    INTERFERENCE MICROSCOPE AND METHOD OF OPERATION FOR THE SAME 审中-公开

    公开(公告)号：JP2002221668A

    公开(公告)日：2002-08-09

    申请号：JP2002000500

    申请日：2002-01-07

    Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

    Inventor： BEWERSDORF JOERG ,  GUGEL HILMAR

    IPC: G02B21/34 ,  G02B21/06

    Abstract: PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an interference microscope which makes it possible to obtain a phase state of light to be subjected to interference in an object region and makes it possible to easily adjust (or control) the interference microscope at a low cost in accordance therewith and a method of operation for the same. SOLUTION: The interference microscope provided with at least one test article carrier unit disposed at a test article (sample), above all, a 4Pi- microscope, a Wellenfield microscope, I2M-microscope, I3M-microscope or I5M- microscope, is constituted in such a manner that at least one surface (29)-, more preferably (29)- of the test article carrier unit (22) is opto-microscopically detectable in order to determine an illumination state in the object region of the interference microscope.

    METHOD AND DEVICE FOR ILLUMINATING A SAMPLE IN A LASER MICROSOPE
    13.
    发明申请
    METHOD AND DEVICE FOR ILLUMINATING A SAMPLE IN A LASER MICROSOPE 审中-公开
    方法和设备的样品在激光显微镜照明

    公开(公告)号：WO2009024490A3

    公开(公告)日：2009-05-07

    申请号：PCT/EP2008060508

    申请日：2008-08-11

    Applicant: LEICA MICROSYSTEMS ,  SEYFRIED VOLKER ,  GUGEL HILMAR ,  THOMSEN CARSTEN L

    Inventor： SEYFRIED VOLKER ,  GUGEL HILMAR ,  THOMSEN CARSTEN L

    IPC: G02B21/00

    CPC classification number: G02B21/0032

    Abstract: The invention relates to a method and a device for illuminating or irradiating a sample (8), or the like, for the purpose of imaging or analysis, particularly for use in a laser microscope (1), preferably in a confocal microscope having a laser light source (2) emitting the illuminating light, the laser light being coupled directly or by means of a glass fiber into an illumination light path (4), characterized in that the laser light source (2) is switched on rapidly upon a trigger signal directly prior to the actual need, for example, directly prior to imaging.

    Abstract translation: 一种方法和用于图像记录或分析的目的样品（8）的照明或辐射的装置，特别适用于在激光显微镜使用（1）中，优选在共焦显微镜，其中的照明发光激光光源（2），其中，所述激光光 直接或通过在照明光束路径（4）的玻璃光纤耦合，其特征在于，所述激光光源（2）之前立即的实际需要，例如，紧接在图像记录前，迅速地导通，以触发信号。

    Scanmikroskopisches Verfahren und Scanmikroskop
    15.
    发明专利
    Scanmikroskopisches Verfahren und Scanmikroskop 未知

    公开(公告)号：DE102012101778A1

    公开(公告)日：2013-09-05

    申请号：DE102012101778

    申请日：2012-03-02

    Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

    Inventor： LEIMBACH VOLKER ,  GUGEL HILMAR

    IPC: G02B21/00

    Abstract: Die Erfindung betrifft ein Scanmikroskopisches Verfahren, bei dem eine Probe mit dem Fokus eines Beleuchtungslichtbündels durch Überlagerung wenigstens einer schnelleren Scanbewegung und einer langsameren Scanbewegung gescannt wird, und bei dem eine ortsabhängige Aberration korrigiert wird. Das Verfahren ist dadurch gekennzeichnet, dass die Scanbewegungen derart festgelegt werden, dass die ortsabhängige zu korrigierende Aberration überwiegend in Abhängigkeit von der langsameren Scanbewegung variiert und die Aberration in Abhängigkeit von der langsameren Scanbewegung korrigiert wird. Die Erfindung betrifft außerdem ein Scanmikroskop.

    17.
    发明专利
    未知

    公开(公告)号：DE502005002079D1

    公开(公告)日：2008-01-10

    申请号：DE502005002079

    申请日：2005-07-06

    Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

    Inventor： GUGEL HILMAR

    IPC: G02B21/00 ,  G02B5/04 ,  G02B5/30 ,  G02B26/06

    Abstract: The device causes a phase shift between first and second parts of a light beam and has first and second boundary surfaces (9,15). The first and second boundary surfaces reflect the first and second parts of the light beam respectively, whereby the first boundary surface is between first and second materials and the second is between the first material and a third material. Independent claims are also included for the following: (A) a raster microscope (B) and an optical device with a focusing optical arrangement.

    18.
    发明专利
    未知

    公开(公告)号：DE10340965A1

    公开(公告)日：2005-03-24

    申请号：DE10340965

    申请日：2003-09-05

    Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

    Inventor： GUGEL HILMAR

    IPC: G02B21/00 ,  G01N21/63

    Abstract: A scanning microscope includes an excitation light beam, a stimulation light beam, an objective, an optical component and an optical system, The excitation light beam optically excites a first area of a specimen. The stimulation light beam triggers a stimulated emission or an additional excitation in a second area of the specimen, the second area at least partially overlapping with the first area of the specimen. The objective focuses the excitation light beam and the stimulation light beam. The optical component influences a shape of the focus of the excitation light beam and/or of the stimulation light beam. The optical system images the optical component into the pupil of the objective and adjusts a size of an image of the optical component.

    Optisches Gerät mit mindestens einem spektral selektiven Bauelement
    19.
    发明专利
    Optisches Gerät mit mindestens einem spektral selektiven Bauelement 未知

    公开(公告)号：DE102016124004A1

    公开(公告)日：2018-06-14

    申请号：DE102016124004

    申请日：2016-12-09

    Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

    Inventor： GUGEL HILMAR

    IPC: G02B27/00 ,  G01J3/12 ,  G01N21/25 ,  G01N21/64 ,  G02B5/20 ,  G02B5/26 ,  G02B21/00 ,  G02B21/06 ,  G02B26/00 ,  G02B26/08 ,  G02B27/10

    Abstract: Beschrieben ist ein optisches Gerät mit einem optischen System und mindestens einem in einem Strahlengang angeordneten spektral selektiven Bauelement zur spektralen Beeinflussung von Licht, das längs des Strahlengangs propagiert. Das spektral selektive Bauelement weist eine Wirkfläche mit mindestens einer spektralen Kante auf, die mit dem Ort des Einfalls des Lichtes auf der Wirkfläche (12) variiert. Die Wirkfläche des spektral selektiven Bauelementes ist in dem Strahlengang an einer Stelle angeordnet, an der eine Variation der spektralen Kante der Wirkfläche, die durch eine Variation des Einfallswinkels, unter dem das Licht auf die Wirkfläche fällt, verursacht ist, zumindest teilweise durch eine gegenläufige Variation der spektralen Kante der Wirkfläche kompensiert ist, die durch eine Variation des Ortes, an dem das Licht auf die Wirkfläche fällt, verursacht ist. Alternativ ist die Wirkfläche in dem Strahlengang am Ort eines Bildes einer Pupille des optischen Systems angeordnet.

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