致密介质的微波热辐射特性测量装置及方法

    公开(公告)号:CN106225930A

    公开(公告)日:2016-12-14

    申请号:CN201610537290.2

    申请日:2016-07-08

    Applicant: 吉林大学

    CPC classification number: G01J5/0003 G01J5/0255 G01J5/06 G01J5/46 G01J2005/065

    Abstract: 本发明涉及一种致密介质微波热辐射特性测量装置及方法,致密介质微波热辐射特性测量装置包括微波辐射计及微波热辐射特性测量辅助装置,所述微波热辐射特性测量辅助装置包括用于盛放致密介质的第一不锈钢筒、顶端封闭件、底端封闭件、隔热材料、吸波材料及多个温度测孔;微波辐射计数据线,用于电性连接所述微波辐射计与便携式电脑;温度测量装置数据线,用于电性连接所述温度测量装置与所述便携式电脑;其中,所述微波辐射计的测量部分位于所述第一不锈钢筒的内部。致密介质微波辐射特性测量装置可以在不改变致密介质内部温度分布及其微波热辐射特性的条件下,测量致密介质内部的温度分布及其微波辐射亮温,并防止外界温度和辐射的干扰。

    一种基于辐射温度计的源尺寸效应抑制装置

    公开(公告)号:CN106969841A

    公开(公告)日:2017-07-21

    申请号:CN201710352951.9

    申请日:2017-05-18

    CPC classification number: G01J5/06 G01J2005/065

    Abstract: 本发明涉及的是一种基于辐射温度计的源尺寸效应抑制装置,属于辐射测温技术领域。本发明包括光阑反射镜安装盖、光阑反射镜、光阑反射镜安装支架、光路封装筒、消杂光阑和贯通螺纹。与传统的辐射温度计测温光路安装部件相比,本发明的源尺寸效应抑制装置将光阑反射镜及之后的准直汇聚光路整体封装在密闭空间内,避免辐射温度计中其他元件产生的杂散光进入探测器。与单一的消杂光阑安装部件相比,本发明源尺寸效应抑制装置可以在不同位置安装一个或多个不同直径的消杂光阑,对源尺寸效应的抑制效果更好。

    一种用于光学镜面的红外测温装置

    公开(公告)号:CN106289536A

    公开(公告)日:2017-01-04

    申请号:CN201610948496.4

    申请日:2016-10-26

    CPC classification number: G01J5/0806 G01J5/06 G01J2005/065

    Abstract: 本发明公开了一种用于光学镜面的红外测温装置,解决了现有红外测温仪器不能准确测量红外波段发射率低、反射率高的光学镜面温度的难题。该红外测温装置包括探测模块、聚辐射透镜、聚辐射罩壳和用于连接探测模块及聚辐射罩壳的罩壳座;所述罩壳座包括连接固定于探测模块端部的连接板,位于连接板一侧、与连接板一体的连接座;所述聚辐射罩壳呈锥台形,其直径较小一端设置与连接座连接的环形部;所述聚辐射透镜安装于聚辐射罩壳内;所述罩壳座的中心具有与探测模块的探头形状相应的通孔,探测模块的探头伸入连接座的通孔内;所述探头的光线入射端与连接座内表面的底面平齐。本发明可有效提镜面温度测量的精度。

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