公开(公告)号：CN102016545B

公开(公告)日：2013-03-20

申请号：CN200980116698.0

申请日：2009-03-23

Applicant: 埃佩多夫股份公司

Inventor： S·艾克尔曼 ,  C·约利 ,  W·格曼-托斯

IPC: G01N21/03 ,  B01F13/00 ,  B01L3/00 ,  G01N21/01

CPC classification number: B01L3/5088 ,  B01L3/18 ,  B01L9/52 ,  B01L2200/021 ,  B01L2300/043 ,  B01L2300/0809 ,  G01J3/0267 ,  G01N21/03 ,  G01N21/0303 ,  G01N21/15 ,  G01N2021/0307 ,  G01N2021/035

Abstract: 本发明涉及一种试槽，包括至少一个具有两个测量面的嵌件和一个适配器和用于将所述至少一嵌件可拆式保持在适配器中的嵌件与适配器的装置，其中嵌件是一个测量尖端，该测量尖端在一个端部上具有所述两个测量面，该端部远离测量尖端的一个另外的端部，适配器用于插入一个光学测量装置的试槽井筒中，测量面彼此具有一个间距，用于在光学测量装置的一个横穿试槽井筒的光束通道中将一个样品定位在测量面之间。

公开(公告)号：CN101405586B

公开(公告)日：2013-03-20

申请号：CN200780010057.8

申请日：2007-03-23

Applicant: 丰田自动车株式会社

Inventor： 高木淳

IPC: G01J3/46

CPC classification number: G01J3/52 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0267 ,  G01J3/027 ,  G01J3/0278 ,  G01J3/0289 ,  G01J3/0291 ,  G01J3/46 ,  G01J3/524 ,  G01J2003/468

Abstract: 一种物体的测色方法，包括：参考色测定工序，在规定的测定环境下，采用光源色测定器(5)，在未将测定用光源照射于参考色部的情况下，测定从该参考色部向测定方向发出的光的分光放射亮度或者三刺激值、获取参考色测定值；对象部测定工序，在规定的测定环境下，采用光源色测定器(5)，在未将测定用光源照射于测定对象部的情况下，测定从该测定对象部向测定方向发出的光的分光放射亮度或者三刺激值、获取对象部测定值；和色确定工序，根据对象部测定值相对于参考色测定值的比，通过运算求出测定对象部的颜色。即便在对像含有荧光材料的物体那样反射率由于光源的种类而变化的物体的颜色进行测定的情况下，也能够正确测定出该物体的颜色。

公开(公告)号：CN102866120A

公开(公告)日：2013-01-09

申请号：CN201210236292.X

申请日：2012-07-06

Applicant: 爱科来株式会社

Inventor： 大久保章男 ,  中村勤

IPC: G01N21/31 ,  G01N21/01

CPC classification number: G01N21/274 ,  G01J3/0267 ,  G01J3/027 ,  G01J3/10 ,  G01J3/32 ,  G01J3/42 ,  G01N21/31 ,  G01N21/78

Abstract: 按照分光测定用具进行计测时，以光通过被检查物质的光路长度来校正吸光度。发光部（11）将多个波长的光向由分光测定用具（2）保持的被检查物质（3）照射。受光部（13）接受通过了被检查物质（3）的多个波长的光。检测部（14）根据由受光部（13）接受到的光来检测波长成分吸光度。光路长度计算部（16）将由检测部（14）检测到的波长成分吸光度中的对被检查物质（3）所包含的分析对象物质吸收的光的波长以外的波长的光进行吸收的色素所吸收的光的波长成分吸光度与该波长成分吸光度的确定了的值进行比较，算出通过被检查物质（3）的光路长度。校正部（17）以由光路长度计算部（16）算出的光路长度来校正色素吸收的光的波长以外的由检测部（14）检测到的波长成分吸光度，算出基准的光路长度的校正波长成分吸光度。

公开(公告)号：CN101896800A

公开(公告)日：2010-11-24

申请号：CN200880120055.9

申请日：2008-11-25

Applicant: 巴斯夫公司

Inventor： C·J·麦克拉纳汉 ,  J·P·索斯 ,  S·A·哈特福德

IPC: G01J3/46

CPC classification number: G01J3/46 ,  G01J3/0267 ,  G01J3/463

Abstract: 提供一种确定具有效果色素的颜料配方的系统和方法。该系统包括可以邻近于例如车辆的着色表面的着色表面放置的粗糙度量计。技术员对量计与着色表面进行比较以确定效果色素的粗糙度。这个粗糙度接着用于选择和/或调节颜料配方从而可以实现准确的匹配。

公开(公告)号：CN104508457B

公开(公告)日：2017-05-24

申请号：CN201380040934.1

申请日：2013-07-08

Applicant: 株式会社日立高新技术

Inventor： 能田弘行 ,  的场浩介 ,  山本浩司 ,  中岛莉乃

IPC: G01N21/27

CPC classification number: G01J3/0264 ,  G01J3/0267 ,  G01J3/0291 ,  G01J3/108 ,  G01J3/42 ,  G01J2003/102

Abstract: 本发明提供容易使用终端装置的分光光度计。本发明的分光光度计(1)的特征在于，具有：具有光源的光学系统部(3)、与上述光学系统部(3)邻接地设置并对试样进行保持的试样保持部(4)、以及对上述光学系统部(3)以及上述试样保持部(4)进行收放的壳体(2)，在形成上述壳体(2)的上表面的上表面部(21)具备至少能够供板状的部件载置且能够沿着从上述上表面部(21)分离的方向立起的支撑部件(22)。上述分光光度计(1)优选经由铰链(H)将上述支撑部件(22)的下端部(22u)安装于上述上表面部(21)，优选在上述支撑部件(22)以及上述上表面部(21)具备将上述支撑部件(22)的立起角度固定为预先设定的角度的固定机构(23)。作为上述板状的部件，优选具备无线或者有线连接的终端装置(D)。

公开(公告)号：CN104508457A

公开(公告)日：2015-04-08

申请号：CN201380040934.1

申请日：2013-07-08

Applicant: 株式会社日立高新技术

Inventor： 能田弘行 ,  的场浩介 ,  山本浩司 ,  中岛莉乃

IPC: G01N21/27

CPC classification number: G01J3/0264 ,  G01J3/0267 ,  G01J3/0291 ,  G01J3/108 ,  G01J3/42 ,  G01J2003/102

Abstract: 本发明提供容易使用终端装置的分光光度计。本发明的分光光度计(1)的特征在于，具有：具有光源的光学系统部(3)、与上述光学系统部(3)邻接地设置并对试样进行保持的试样保持部(4)、以及对上述光学系统部(3)以及上述试样保持部(4)进行收放的壳体(2)，在形成上述壳体(2)的上表面的上表面部(21)具备至少能够供板状的部件载置且能够沿着从上述上表面部(21)分离的方向立起的支撑部件(22)。上述分光光度计(1)优选经由铰链(H)将上述支撑部件(22)的下端部(22u)安装于上述上表面部(21)，优选在上述支撑部件(22)以及上述上表面部(21)具备将上述支撑部件(22)的立起角度固定为预先设定的角度的固定机构(23)。作为上述板状的部件，优选具备无线或者有线连接的终端装置(D)。

公开(公告)号：CN103477204A

公开(公告)日：2013-12-25

申请号：CN201180069793.7

申请日：2011-11-28

Applicant: 株式会社村田制作所

Inventor： 近藤孝志 ,  神波诚治

IPC: G01N21/01 ,  G01N21/25

CPC classification number: G01J3/0267 ,  G01J3/42 ,  G01N21/3586 ,  Y10T29/49

Abstract: 一种测定构造体，包括具有多个空隙部(11)的金属制的空隙配置构造体(1)和支承所述空隙配置构造体(1)的支承基材(2)，被用于如下的测定方法中：对保持着被测定物的所述测定构造体照射电磁波，检测透过了所述测定构造体的电磁波或从所述测定构造体反射的电磁波的频率特性，由此测定被测定物的特性，所述测定构造体的特征在于，所述空隙配置构造体(1)的所述支承基材(2)侧的主面(10b)的至少一部分与所述支承基材(2)接合，所述空隙配置构造体(1)的空隙部(11)的主面(11a，11b)中的所述支承基材(2)侧的主面(11b)的至少一部分不与所述支承基材(2)接触。

公开(公告)号：CN102187203B

公开(公告)日：2013-06-12

申请号：CN200980140897.5

申请日：2009-09-08

Applicant: 浜松光子学株式会社

Inventor： 渡边元之 ,  井口和也 ,  铃木健吾

IPC: G01N21/63 ,  G01J3/443

CPC classification number: G01N21/645 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0262 ,  G01J3/0267 ,  G01J3/0291 ,  G01J3/4406 ,  G01J3/443 ,  G01N2201/0632 ,  G01N2201/065

Abstract: 本发明涉及分光测定装置、分光测定方法以及分光测定程序。具备在内部配置试料(S)的积分球(20)、对来自试料(S)的被测定光进行分光从而取得波长光谱的分光分析装置(30)以及数据解析装置(50)从而构成分光测定装置(1A)。解析装置(50)具有在波长光谱中设定对应于激励光的第1对象区域以及对应于来自试料(S)的发光的第2对象区域的对象区域设定部、以及求得试料(S)的发光量子收率的试料信息解析部，根据参照测定以及样品测定的结果求得发光量子收率的测定值φ0，并且使用与参照测定中的杂散光相关的系数β、γ，并由φ＝βφ0+γ求得降低了杂散光的影响的发光量子收率的解析值φ。由此，实现了可以降低在分光器内所发生的杂散光的影响的分光测定装置、测定方法以及测定程序。

公开(公告)号：CN102544255A

公开(公告)日：2012-07-04

申请号：CN201110338190.4

申请日：2011-10-31

Applicant: 三星LED株式会社

Inventor： 尹相福 ,  严海龙 ,  权忠焕

IPC: H01L33/00 ,  H01L21/66

CPC classification number: G01J3/505 ,  G01J3/0267 ,  G01J3/06 ,  G01J3/506 ,  G01R31/2635

Abstract: 一种用于测量LED封装的光学性质的设备，包括：光检测单元，用于检测从LED封装阵列的多个LED封装输出的光，以便测量每个LED封装的光学性质；安装单元，用于在测量所述LED封装的光学性质时将LED封装阵列固定于其上；以及电压施加单元，用于在测量所述LED封装的光学性质时将驱动电压施加于LED封装阵列中的各个LED封装。

公开(公告)号：CN102232181A

公开(公告)日：2011-11-02

申请号：CN200980147668.6

申请日：2009-10-01

Applicant: 纳诺多普科技有限责任公司

Inventor： 查尔斯·W·罗伯逊 ,  卡特琳·T·威廉森

IPC: G01N21/01 ,  G01N21/03 ,  G01N33/18 ,  B01L9/06 ,  G01N21/25 ,  G01J1/00

CPC classification number: G01N21/03 ,  B01L9/00 ,  B01L2300/0654 ,  B01L2300/089 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0218 ,  G01J3/0267 ,  G01N21/01 ,  G01N21/0303 ,  G01N21/253 ,  G01N33/1806 ,  G01N2021/0346 ,  G01N2021/035 ,  G01N2021/036 ,  G01N2021/0367 ,  G01N2021/6484

Abstract: 介绍了有选择地测量在器皿(72)中的样品或保持于两个相对的基座(A’、A”)之间的表面张力模式下的样品(5、5’)的双模式方法和设备。在任一种配置下，上述模式还包括来自源系统、通过小容量或大容量样品、到达基于分光计的系统的光学路径。对于任意给定的波长，上述系统使用户能够测量具有从约0.005至约2.0吸光度单位的吸光度范围的样品。