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    SPEKTROMETERANORDNUNG
    222.
    发明授权
    SPEKTROMETERANORDNUNG 有权

    公开(公告)号：EP2158460B1

    公开(公告)日：2012-04-04

    申请号：EP08759490.9

    申请日：2008-05-09

    Applicant: Leibniz - Institut für Analytische Wissenschaften - ISAS - E.V.

    Inventor： BECKER-ROSS, Helmut ,  OKRUSS, Michael ,  FLOREK, Stefan

    IPC: G01J3/02 ,  G01J3/08 ,  G01J3/18 ,  G01J3/22 ,  G01J3/28 ,  G01J3/32

    CPC classification number: G01J3/22 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/08 ,  G01J3/1809 ,  G01J3/2823 ,  G01J3/32

    Abstract: The invention relates to a spectrometer arrangement (10) having a spectrometer for producing a spectrum of radiation from a radiation source on a detector (34), comprising an imaging, optical Littrow arrangement (18, 20) for imaging the radiation entering the spectrometer arrangement (16) in an image plane, a first dispersion arrangement (28, 30) for the spectral decomposition of a first wavelength range of the radiation entering the spectrometer arrangement, a second dispersion arrangement (58, 60) for the spectral decomposition of a second wavelength range of the radiation entering the spectrometer arrangement, and a common detector (34) arranged in the image plane of the imaging optics, characterized in that the imaging optical arrangement (18, 20) comprises an element (20) that can be moved between two positions (20, 50), wherein the radiation entering the spectrometer arrangement in the first position is guided via the first dispersion arrangement and in the second position via the second dispersion arrangement.

    Abstract translation: 本发明涉及一种具有光谱仪的光谱仪装置（10），该光谱仪用于在检测器（34）上产生来自辐射源的辐射光谱，该光谱仪装置包括成像光学利特罗装置（18,20），用于对进入光谱仪装置 （16）;第二色散装置（28,30），用于对进入光谱仪装置的辐射的第一波长范围进行光谱分解;第二色散装置（58,60），用于将第二色散装置 进入光谱仪装置的辐射的波长范围以及布置在成像光学装置的图像平面中的公共检测器（34），其特征在于，成像光学装置（18,20）包括元件（20），该元件可以在 两个位置（20,50），其中在第一位置进入光谱仪装置的辐射经由第一分散装置被引导并且经由第二分散装置被引导至第二位置 e第二分散装置。

    ECHELLE-SPEKTROMETERANORDNUNG MIT INTERNER VORDISPERSION
    223.
    发明公开
    ECHELLE-SPEKTROMETERANORDNUNG MIT INTERNER VORDISPERSION 有权
    具有内部预分散的光谱仪安排

    公开(公告)号：EP2384424A2

    公开(公告)日：2011-11-09

    申请号：EP10701357.5

    申请日：2010-01-25

    Applicant: Leibniz - Institut Für Analytische Wissenschaften

    Inventor： BECKER-ROSS, Helmut ,  FLOREK, Stefan ,  OKRUSS, Michael

    IPC: G01J3/18 ,  G01J3/28 ,  G01J3/02

    CPC classification number: G01J3/1809 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0213 ,  G01J3/2803 ,  G01J2003/1828

    Abstract: An echelle spectrometer arrangement (10) with internal order separation contains an echelle grating (34) and a dispersing element (38) for order separation so that a two-dimensional spectrum having a plurality of separate orders (56) can be generated, an imaging optical system (18, 22, 28, 46), a flat-panel detector (16), and predispersion means (20) for predispersing the radiation into the direction of traverse dispersion of the dispersion element (38). The arrangement is characterized in that the predispersion means (20) comprise a predispersion element which is arranged along the optical path behind the inlet spacing (12) inside the spectrometer arrangement. The imaging optical system is designed in such a manner that the predispersed radiation can be imaged onto an additional image plane (24) which does not have any boundaries in the predispersion direction and which is arranged along the optical path between the predispersion element (20) and the echelle grating (34). Optical means (20, 68) in the area of the predispersed spectrum are arranged to influence the spatial and/or the spectral beam density distribution on the detector (16).

    Verfahren zur Auswertung von Echelle-Spektren
    227.
    发明公开
    Verfahren zur Auswertung von Echelle-Spektren 有权

    公开(公告)号：EP1783468A2

    公开(公告)日：2007-05-09

    申请号：EP07100392.5

    申请日：2001-11-03

    Applicant: Gesellschaft zur Förderung der Analytischen Wissenschaft e.V. ,  Gesellschaft zur Förderung angewandter Optik, Optoelektronik, Quantenelektronik und Spektroskopie e.V.

    Inventor： Florek, Stefan ,  Okruss, Michael ,  Becker-Ross, Helmut

    IPC: G01J3/18 ,  G01J3/28 ,  G01J3/06 ,  G01J3/02

    CPC classification number: G01J3/2803 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0202 ,  G01J3/06 ,  G01J3/1809 ,  G01J3/28 ,  G01J2003/2866

    Abstract: Ein Verfahren zur Wellenlängenkalibrierung von Echellespektren, bei denen sich die Wellenlängen auf eine Mehrzahl von Ordnungen verteilen, ist gekennzeichnet durch die Schritte: Aufnehmen eines linienreichen Referenzspektrums mit bekannten Wellenlängen für eine Vielzahl der Linien, Bestimmen der Lage einer Vielzahl von Peaks des Referenzspektrums in dem aufgenommenen Spektrum, Auswählen von wenigstens zwei ersten Linien mit bekannter Ordnung, Lage und Wellenlänge, Bestimmen einer Wellenlängenskala für die Ordnung, in welcher die bekannten Linien liegen, durch eine Fitfunktion λ m (x), Bestimmen einer vorläufigen Wellenlängenskala λ m±1 (x) für wenigstens eine benachbarte Ordnung m±1 durch Addition/Subtraktion einer Wellenlängendifferenz Δλ FSR , die einem freien Spektralbereich entspricht nach λ m±1 (x) = λ m (x) ± Δλ FSR , mit Δλ FSR =λ m (x)/m, Bestimmen der Wellenlängen von Linien in dieser benachbarten Ordnung m±1 mittels der vorläufigen Wellenlängenskala λ m±1 (x), Ersetzen der vorläufigen Wellenlänge von wenigstens zwei Linien durch die nach Schritt (a) vorgegebene Referenzwellenlänge dieser Linien, und Wiederholen der Schritte (d) bis (g) für wenigstens eine weitere benachbarte Ordnung.

    Abstract translation: 梯形光谱仪（10）具有用于设置光谱仪的光学部件的位置的设置装置，用于在输出平面（72）内的光谱线的位置调整，其包含具有图像元素的二维阵列的表面检测器 ，例如 CCD检测器，用于梯形图谱的波长校准。 该设置装置可以被计算机控制，并且包括至少一个被提供有调节设定电压的压电元件。 还包括以下独立权利要求：（a）梯级光谱仪中梯形光谱的转换的补偿方法; （b）用于确定电子表格检测器的装箱区域的方法; （c）梯形图谱的波长校准方法; （d）背景检测和宽带背景校正的方法。

    Spectrometer with a shaped oriented slit
    230.
    发明公开
    Spectrometer with a shaped oriented slit 失效
    Spektrometer mit einem orientiert-geformten Schlitz

    公开(公告)号：EP0833135A1

    公开(公告)日：1998-04-01

    申请号：EP97307356.2

    申请日：1997-09-22

    Applicant: VARIAN ASSOCIATES, INC.

    Inventor： Chien, Ring-Ling

    IPC: G01J3/04 ,  G01J3/18 ,  G01J3/28

    CPC classification number: G01J3/1809 ,  G01J3/189

    Abstract: An improved spectrometer comprises a slit in light blocking plate, an echelle grating, and a detector array. The slit is shaped and oriented to align an image of a light beam projected through the slit, onto the echelle grating and onto the detector in a desired orientation and shape relative to the detector array. Precise adjustment of the shape and orientation of the slit is dependent on the orientation of the detector with respect to the dispersion direction of the echelle grating. The spectrometer provides high detector resolution with reduced read-out time.

    Abstract translation: 改进的电子光谱仪包括遮光板中的狭缝，梯形光栅和检测器阵列。 狭缝被成形并定向成使得通过狭缝投射的光束的图像以相对于检测器阵列的期望的取向和形状对准到梯形栅格和检测器上。 狭缝的形状和取向的精确调整取决于检测器相对于梯形光栅的分散方向的取向。 梯形光谱仪提供高检测分辨率，减少读出时间。

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