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公开(公告)号:CN102449450A
公开(公告)日:2012-05-09
申请号:CN200980159543.5
申请日:2009-05-29
Applicant: 丰田自动车株式会社
IPC: G01J3/28
CPC classification number: G01J5/02 , G01J1/4204 , G01J3/02 , G01J3/0264 , G01J3/0289 , G01J3/2803
Abstract: 提供根据搭载于车辆等移动体的光谱传感器的摄影数据能够进行测定对象的高精度识别并且也能够进行摄影数据的实时处理的移动体用光谱测定装置。移动体用光谱测定装置(11)基于观测光的光谱数据,识别车辆(10)周边的测定对象。光谱传感器(14)能够测定波长信息和光强度信息。具备:词典数据存储部(16),其存储包含关于预先决定的多个测定对象的波长信息和光强度信息的光谱数据,作为词典数据;和运算装置(17),其基于观测光的光谱数据和词典数据存储部(16)所保存的光谱数据之间的比较运算来识别测定对象。运算装置(17)只参照作为词典数据所保存的光谱数据的一部分的波长波段,进行与观测光的光谱数据之间的比较运算。
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公开(公告)号:CN101680804B
公开(公告)日:2012-01-11
申请号:CN200880010754.8
申请日:2008-04-03
Applicant: 武藤工业株式会社
Inventor: 克里斯·布朗 , 布莱恩·T·普里德姆 , 约翰·彼得·科茨
IPC: G01J3/45
CPC classification number: G01J3/02 , G01J3/0205 , G01J3/0208 , G01J3/0218 , G01J3/0291 , G01J3/10 , G01J3/26 , G01J3/2803 , G01J3/50 , G01J3/501 , G01J2003/104
Abstract: 一种分光光度计,其包含布置成圆形阵列的多个LED,每一LED具有通过使用脉冲宽度调制来确定的经校准的功率输入,且每一LED具有通过利用唯一荧光磷光体涂层或透镜来确定的唯一波长带。所述LED中的至少一者包括无磷光体的高能量UV LED。通过利用线性可变滤光片和光电检测器将反射到所述分光光度计的光分成预定波长范围,其中通过使用自动距离修正增益技术将来自光电检测器的模拟信号转换为数字值。
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公开(公告)号:CN101675326B
公开(公告)日:2011-11-09
申请号:CN200880014165.7
申请日:2008-05-02
Applicant: 瑞尼斯豪公司
Inventor: 布赖恩·约翰·爱德华·史密斯
CPC classification number: G01J3/2803 , G01J3/44 , G01J2003/2893
Abstract: 样本(26)由激光照亮并且所产生的喇曼光谱(62)沿着CCD(34)的检测元件的一个或多个行或列以高光谱分辨率进行散射。产生的电荷在方向Y′上移位并且在CCD的输出寄存器(64)中被组合。散射光谱在X′方向上沿着所述行或列与电荷在输出寄存器的移位相同步地移动(箭头72)。因此,光谱中来自给定波数的数据在移动期间持续地累积在输出寄存器中。这使得来自于广谱的数据能够以高分辨率被收集,而不需要随后在计算机中对数据块进行组合,即使是在CCD设置为使得电荷朝着输出寄存器的逐行迁移与扩散方向相垂直的情况下也是如此。
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公开(公告)号:CN102171544A
公开(公告)日:2011-08-31
申请号:CN200980139151.2
申请日:2009-09-24
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
Inventor: R·A·M·希克梅特 , E·J·梅杰尔 , T·范伯梅尔
CPC classification number: G01J3/2803 , G01J3/02 , G01J3/0205 , G01J3/0224 , G01J3/0237 , G01J3/0259 , G01J3/0289 , G01J3/12 , G01J3/32 , G01J3/36 , G01J3/505 , G01J3/513 , G01J2003/1213 , G02B5/3016 , G02F1/13718 , G02F2001/133541 , G02F2001/13775
Abstract: 本发明涉及用于测量电磁频谱部分上的光特性的光谱检测器,所述光谱检测器包含胆甾型液晶材料和切换装置,所述切换装置能够改变胆甾型液晶材料的螺距,使得响应于所述切换装置而调整所述透射波长带的位置。光谱检测器可进一步包含至少一个光方向选择结构,用于选择入射到光谱检测器上的具有一定入射角度的光。本发明还涉及包括本发明的光谱检测器的发光系统。
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公开(公告)号:CN102027342A
公开(公告)日:2011-04-20
申请号:CN200980117280.1
申请日:2009-05-07
Applicant: 浜松光子学株式会社
CPC classification number: G01J3/0205 , G01J3/02 , G01J3/0208 , G01J3/0243 , G01J3/0259 , G01J3/0262 , G01J3/04 , G01J3/18 , G01J3/2803 , G02B7/027 , H01L31/18
Abstract: 本发明提供一种高可靠性的分光模块。在本发明所涉及的分光模块(1)中,向分光部(4)行进的光L1在通过光通过孔(50)的时候,穿过朝着基板(2)侧变得越来越窄的光入射侧部(51),只有入射到以与光入射侧部(51)的底面(51b)相对的形式形成的光出射侧部(52)的光从光出射开口(52a)出射。为此,入射到光入射侧部(51)的侧面(51c)或者底面(51b)的杂散光M被反射到与光出射侧部(52)相反的一侧,所以能够抑制杂散光入射到光出射侧部(52)。因此,能够提高分光模块(1)的可靠性。
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公开(公告)号:CN101680840A
公开(公告)日:2010-03-24
申请号:CN200880018636.1
申请日:2008-04-17
Applicant: 堀场乔宾伊冯公司
CPC classification number: G01N21/65 , G01J3/2803 , G01J3/2823 , G01J3/44 , G01N2021/656
Abstract: 一种用于探测样品(1)的表面(2)光谱成像方法和系统。该光谱成像系统包括:高倍放大或低倍放大装置,其包括物镜(5);外壳(6),其包括光谱仪;以及扫描装置(11),其设置在高倍放大或低倍放大装置的物镜(5)与光谱仪之间,且能够沿两个方向X和Y扫描样品表面(2),以照射样品表面(2)上的被扫描区域(3)。根据本发明,当在被扫描区域上扫描激发射束(8)期间,在探测装置(10)的像素上对在被扫描区域上测量的发射光束(9)的能量进行积分,产生每条像素线的平均光谱数据;存储装置(12)被连接到探测装置(10),每条像素线的所述平均光谱数据被传送到存储装置(12),并且所述存储装置(12)包括存储器,所述存储器能够存储M条像素线的平均光谱数据;并且成像装置(13)被连接到存储装置(12),M条像素线的所述平均光谱数据被同时发送到所述成像装置(13),以获得被扫描区域的平均光谱图像。
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公开(公告)号:CN101680804A
公开(公告)日:2010-03-24
申请号:CN200880010754.8
申请日:2008-04-03
Applicant: 武藤工业株式会社
Inventor: 克里斯·布朗 , 布莱恩·T·普里德姆 , 约翰·彼得·科茨
IPC: G01J3/45
CPC classification number: G01J3/02 , G01J3/0205 , G01J3/0208 , G01J3/0218 , G01J3/0291 , G01J3/10 , G01J3/26 , G01J3/2803 , G01J3/50 , G01J3/501 , G01J2003/104
Abstract: 一种分光光度计,其包含布置成圆形阵列的多个LED,每一LED具有通过使用脉冲宽度调制来确定的经校准的功率输入,且每一LED具有通过利用唯一荧光磷光体涂层或透镜来确定的唯一波长带。所述LED中的至少一者包括无磷光体的高能量UV LED。通过利用线性可变滤光片和光电检测器将反射到所述分光光度计的光分成预定波长范围,其中通过使用自动距离修正增益技术将来自光电检测器的模拟信号转换为数字值。
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公开(公告)号:CN101052868A
公开(公告)日:2007-10-10
申请号:CN200580026830.0
申请日:2005-06-29
Applicant: 斯埃诺公司
IPC: G01N21/21
CPC classification number: G01J3/2803 , G01N21/1717 , G01N21/21 , G01N2021/218
Abstract: 一种用于改进对样品的手征特性的检测的设备和方法,其首先以第一调制频率ω的探测光束调制,并用第二调制频率φ进一步调制。非线性光电检测器使该第一调制与该第二调制混合以在互调制边频带处分析频率分量,该非线性光电检测器可以包括多个检测器部分以形成平衡接收器,其中该互调制边频带级与该样品的手征光学特性相关。该互调制边频带可以为相加边频带或相减边频带。可以将锁相检测器用于接收从该非线性光电检测器输出的信号并产生不同调制频率的调制信号。另外,该非线性光检测器可以对该互调制边频带级的比值,例如(φ+2ω)/(φ+ω),进行分析,以获得与该样品的该手征特性线性相关的信号。
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公开(公告)号:CN1296684C
公开(公告)日:2007-01-24
申请号:CN01813502.1
申请日:2001-07-05
Applicant: 大塚电子株式会社
Inventor: 稻本直树
CPC classification number: G01J3/02 , G01J3/0262 , G01J3/2803
Abstract: 按照本发明的光谱检测设备,包括光电检测器(13)和覆盖该光电检测器(13)光接收表面(13a)的透光板(13b),又在该设备中,透光板(13b)的前表面(S)是倾斜的,且在入射光中,一旦被透光板(13b)后表面(T)反射的任何光,此后的传播都被透光板(13b)的前表面(S)和后表面(T)全反射,射向透光板(13b)的侧表面(13d)。任何杂散光都能够被阻止进入光电检测器(13)。
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公开(公告)号:CN1853091A
公开(公告)日:2006-10-25
申请号:CN200480026999.1
申请日:2004-09-15
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
CPC classification number: G01J1/42 , G01J3/2803 , G01J3/50 , H01L31/022416 , H01L31/035281 , H01L31/103 , Y02E10/50
Abstract: 在固态照明系统中用于色温控制的硅绝缘体(SOI)光电二极管光学监测的方法和系统。该方法包括下述步骤:提供多个SOI光电二极管,其中每个SOI光电二极管包括硅衬底、形成在硅衬底上的埋入氧化层以及形成在埋入氧化层上的硅层,并且其中每个SOI光电二极管的硅层具有不同的厚度;关于波长和硅层的厚度确定穿过每个SOI光电二极管到达硅衬底的入射光的比例;以及基于所确定的比例计算入射光的彩色分量强度。
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