用于运行显微光谱仪的方法和显微光谱仪

    公开(公告)号:CN109891204A

    公开(公告)日:2019-06-14

    申请号:CN201780067294.1

    申请日:2017-10-02

    Abstract: 本发明涉及一种用于运行显微光谱仪(102)的方法,其中所述方法具有如下步骤:在使用显微光谱仪(102)的可调制的发射装置(106)的情况下,以具有第一脉冲特性(118)的第一频谱强度分布(120)和至少一个具有第二脉冲特性(122)的第二频谱强度分布(124)来照射所要测量的测量对象(130);在使用显微光谱仪(102)的可调谐的滤波装置(108)的情况下,使由测量对象(130)重新发射的频谱反射强度分布(132)中的分配给第一频谱强度分布(120)的第一波长范围(134)和分配给第二频谱强度分布(124)的第二波长范围(136)通过;在使用显微光谱仪(102)的探测装置(110)的情况下,在探测信号(138)中描绘第一波长范围(134)和第二波长范围(136)的辐射强度;以及在使用第一脉冲特性(118)和第二脉冲特性(122)的情况下对探测信号(138)进行解调,以便获得分配给第一波长范围(134)的第一强度值(140)和分配给第二波长范围(136)的第二强度值(142)。

    用于运行光谱仪的方法和设备以及光谱仪

    公开(公告)号:CN110207820A

    公开(公告)日:2019-09-06

    申请号:CN201910146089.5

    申请日:2019-02-27

    Abstract: 本发明涉及一种用于运行光谱仪(100)的方法,其中所述光谱仪(100)具有用于照射试样(104)的光源(102)、用于检测由试样(104)反射和/或透射的光的强度的检测器(108)以及连接在所述检测器(108)之前的、能够调节的光学滤波器(106)。在所述方法中首先确定用于在检测器(108)处生成恒定的信号(110)所必需的光功率谱,其中所述光功率谱代表了光源(102)的、根据从光学滤波器(106)所透射的波长的理论光功率。接着在使用光功率谱作为调节量的情况下改变光源(102)的实际光功率,以便这样再调节实际光功率,即在检测器(108)处生成对于在光学滤波器(106)处透射的波长来说恒定的信号(110)。

    用于求取时段的时间测量器和方法

    公开(公告)号:CN107015474A

    公开(公告)日:2017-08-04

    申请号:CN201610840369.2

    申请日:2016-09-22

    Inventor: S.诺尔 C.舍林

    Abstract: 时间测量器(8),包括:装置(1),该装置在该时间上改变该装置的状态;以及评估单元(2),在该评估单元中存放有参考状态(3),其特征在于,所述置(1)包括结构(4),该结构的电阻在时间上改变并且所述评估单元(2)被设置用于:通过比较代表所述结构(4)的电阻的值(例如电压或电流)与所述参考状态(3)求取时段(t)。

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