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    Verfahren und eine Anordnung zur Abtastung mikroskopischer Objekte mit einer Scaneinrichtung
    21.
    发明专利
    Verfahren und eine Anordnung zur Abtastung mikroskopischer Objekte mit einer Scaneinrichtung 未知

    公开(公告)号：DE10058100B4

    公开(公告)日：2017-07-13

    申请号：DE10058100

    申请日：2000-11-23

    Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

    Inventor： ENGELHARDT JOHANN DR ,  KNEBEL WERNER DR

    IPC: G02B21/00

    Abstract: Verfahren zur Abtastung eines auf einem eine x/y-Ebene definierenden Probentisch (35) befindlichen mikroskopischen Objekts (15) mit einem konfokalen Scanmikroskop, das eine Optik (13) besitzt, die ein Scanfeld (52) definiert, das einen zu untersuchenden Objektbereich des Objekts (15) unvollständig umfasst, gekennzeichnet durch folgende Schritte: – Abtasten eines Teils des zu untersuchenden Objektbereiches mit einem ersten Scanfeld (521); – Verschieben des Probentisches (35) in der x/y-Ebene zur Abtastung weiterer Teile des zu untersuchenden Objektbereiches mit weiteren Scanfeldern (522 bis 52n) derart, dass der gesamte zu untersuchende Objektbereich innerhalb der Vielzahl der Scanfelder zu liegen kommt, und – Verknüpfen der aus der Vielzahl der Scanfelder (521, 522 ... 52n) gewonnenen Objektdaten, wobei der zu untersuchende Objektbereich mittels eines Kennzeichnungsmittels an einem Display mittels einer Markierungslinie (56) markiert wird, und an Hand der Markierungslinie (56) von einem PC (34) die Scanfelder (521, 522 ... 52n) automatisch derart auf den zu untersuchenden Objektbereich verteilt werden, dass der zu untersuchende Objektbereich innerhalb der Vielzahl der Scanfelder (521, 522 ... 52n) zu liegen kommt, und der PC (34) an Hand der automatisch verteilten Scanfelder (521, 522 ... 52n) Verstelldaten ermittelt, die an eine Steuereinheit (23) übergeben werden, welche den Probentisch (35) entsprechend automatisch verfährt.

    Verfahren und Vorrichtung zur Temperaturstabilisierung optischer Bauteile
    22.
    发明专利
    Verfahren und Vorrichtung zur Temperaturstabilisierung optischer Bauteile 未知

    公开(公告)号：DE10029167B4

    公开(公告)日：2015-04-30

    申请号：DE10029167

    申请日：2000-06-19

    Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

    Inventor： ENGELHARDT JOHANN DR

    IPC: G02F1/01 ,  G02B7/00 ,  G02B21/00 ,  G02F1/03 ,  G02F1/11 ,  G02F1/29 ,  G02F1/33 ,  G05D23/19

    Abstract: Verfahren zur Temperaturstabilisierung optischer, optisch aktiver, elektrooptischer oder akustooptischer Bauteile (1), wobei mit dem Bauteil (1) zur Beeinflussung der optischen Eigenschaften Energie wechselwirkt, dadurch gekennzeichnet, dass die mit dem Bauteil (1) wechselwirkende Energie (10) auch zur unmittelbaren Temperaturstabilisierung dient, wobei die Temperatur des Bauteils (1) geregelt wird und die mit dem Bauteil (1) wechselwirkende Energie (10) als Stellgröße dient und wobei die Temperaturmessung des Bauteils (1) über dessen optische Eigenschaften erfolgt, wobei hierzu geeignete Kalibrationsmessungen vorausgehen.

    25.
    发明专利
    未知

    公开(公告)号：DE50212631D1

    公开(公告)日：2008-09-25

    申请号：DE50212631

    申请日：2002-11-06

    Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

    Inventor： ENGELHARDT JOHANN DR

    IPC: G02B7/04 ,  G02B21/02 ,  G02B7/02 ,  G02B7/10 ,  G02B21/00 ,  G02B21/24

    Abstract: The microscope objective (1) has several lenses (7,9,11,13) together displaceable within an objective housing. A drive unit (17) displaces the lenses in the objective housing. Independent claims are included for the following: (a) the microscope; and (b) the imaging of a specimen using microscope objective.

    26.
    发明专利
    未知

    公开(公告)号：DE50012594D1

    公开(公告)日：2006-05-24

    申请号：DE50012594

    申请日：2000-09-02

    Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

    Inventor： ENGELHARDT JOHANN DR ,  ULRICH HEINRICH DR ,  HAY WILIAM C

    IPC: G01J3/44 ,  G01N21/63 ,  G02B21/00

    Abstract: The microscope has an illumination beam path between a laser light source (1,2) and an object (3), and a detection beam path (7) between the object and a detector (6). At least one reference beam path (9) is provided for reference measurements. Reference light is coupled from the illumination beam path into the reference beam path. The reference light is qualitatively and/or quantitively detected by the detector (6). A scattering optical component (11) and/or a beam deflector (25) may be arranged in the reference beam path. An Independent claim is included for a method of reference correction in a laser scanning microscope.

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