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公开(公告)号：DE102011000835C5
公开(公告)日：2019-08-22
申请号：DE102011000835
申请日：2011-02-21
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor： KNEBEL WERNER DR , GISKE ARNOLD
Abstract: Abtastmikroskop (10) miteiner Beleuchtungseinheit (12, 15) zum Aussenden eines Beleuchtungslichtstrahls (24),einem Objektiv (34) zum Erzeugen eines länglichen Beleuchtungsfokus (62) in einem abzubildenden Objekt (40), undeiner Abtastvorrichtung (20, 22, 26, 28, 30, 38, 58) zum Bewegen des Beleuchtungsfokus (62) über einen zu beleuchtenden Zielbereich des Objektes (40) durch Ändern der Einfallsrichtung, in der der Beleuchtungslichtstrahl (24) in eine Eintrittspupille (36) des Objektivs (34) fällt,wobei die Abtastvorrichtung (20, 22, 26, 28, 30, 38, 58) den Beleuchtungslichtstrahl (24) zum Schrägstellen des Beleuchtungsfokus (62) relativ zur optischen Achse (O) des Objektivs (34) auf einen aus der Pupillenmitte versetzten Teilbereich der Eintrittspupille (36) richtet und zum Bewegen des Beleuchtungsfokus (62) über den zu beleuchtenden Zielbereich die Einfallsrichtung des Beleuchtungslichtstrahls (24) innerhalb dieses Teilbereichs ändert,wobei der bewegte Beleuchtungsfokus (62) ein den Zielbereich beleuchtendes Lichtblatt (42) bildet,wobei der Beleuchtungslichtstrahl (24) aus einem Anregungslichtstrahl (14) und einem Abregungslichtstrahl (16) zusammengesetzt ist, die vor Eintritt in die Abtastvorrichtung (20, 22, 26, 28, 30, 38, 58) einander überlagert sind, und dass das Objektiv (34) aus dem Anregungslichtstrahl (14) einen Anregungsfokus (64) und aus dem Abregungslichtstrahl (16) einen Abregungsfokus (66) erzeugt, die einander zu dem Beleuchtungsfokus (62) überlagert sind.
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公开(公告)号：DE102011084562B4
公开(公告)日：2018-02-15
申请号：DE102011084562
申请日：2011-10-14
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor： KNEBEL WERNER DR , BAUER TOBIAS , EUTENEUER PETER
IPC: G02B21/00
Abstract: Verfahren zur Feststellung eines sphärischen Fehlers eines Mikroskop-Abbildungsstrahlengangs (7) bei einer mikroskopischen Abbildung einer Probe (9) mittels eines ein Objektiv (10) aufweisenden Mikroskops (1), wobei ein die Probe (9) tragendes oder bedeckendes Deckglas (2) im Abbildungsstrahlengang angeordnet ist, dadurch gekennzeichnet, dass ein Messstrahl (130) dezentriert außerhalb der optischen Achse (8) des Objektivs (10) durch das Objektiv (10) auf die Probe (9) und der an der Grenzfläche (116) des Deckglases (2) zur Probe (9) reflektierte Messstrahl (132) über das Objektiv (10) auf einen Detektor (128) geleitet wird, der ein Intensitätsprofil des an der Grenzfläche (116) zwischen Deckglas (2) und Probe (9) reflektierten Messstrahls (132) aufnimmt, und dass durch Auswertung der Signalform dieses Intensitätsprofils das Vorliegen eines sphärischen Fehlers qualitativ und/oder quantitativ bestimmt wird.
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23.发明专利
公开(公告)号：DE10058100B4
公开(公告)日：2017-07-13
申请号：DE10058100
申请日：2000-11-23
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor： ENGELHARDT JOHANN DR , KNEBEL WERNER DR
IPC: G02B21/00
Abstract: Verfahren zur Abtastung eines auf einem eine x/y-Ebene definierenden Probentisch (35) befindlichen mikroskopischen Objekts (15) mit einem konfokalen Scanmikroskop, das eine Optik (13) besitzt, die ein Scanfeld (52) definiert, das einen zu untersuchenden Objektbereich des Objekts (15) unvollständig umfasst, gekennzeichnet durch folgende Schritte: – Abtasten eines Teils des zu untersuchenden Objektbereiches mit einem ersten Scanfeld (521); – Verschieben des Probentisches (35) in der x/y-Ebene zur Abtastung weiterer Teile des zu untersuchenden Objektbereiches mit weiteren Scanfeldern (522 bis 52n) derart, dass der gesamte zu untersuchende Objektbereich innerhalb der Vielzahl der Scanfelder zu liegen kommt, und – Verknüpfen der aus der Vielzahl der Scanfelder (521, 522 ... 52n) gewonnenen Objektdaten, wobei der zu untersuchende Objektbereich mittels eines Kennzeichnungsmittels an einem Display mittels einer Markierungslinie (56) markiert wird, und an Hand der Markierungslinie (56) von einem PC (34) die Scanfelder (521, 522 ... 52n) automatisch derart auf den zu untersuchenden Objektbereich verteilt werden, dass der zu untersuchende Objektbereich innerhalb der Vielzahl der Scanfelder (521, 522 ... 52n) zu liegen kommt, und der PC (34) an Hand der automatisch verteilten Scanfelder (521, 522 ... 52n) Verstelldaten ermittelt, die an eine Steuereinheit (23) übergeben werden, welche den Probentisch (35) entsprechend automatisch verfährt.
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公开(公告)号：DE10243449B4
公开(公告)日：2014-02-20
申请号：DE10243449
申请日：2002-09-19
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor： KNEBEL WERNER DR
Abstract: Mikroskop für die CARS-Mikroskopie mit Mitteln zur Erzeugung eines Pumplichtstrahls und eines Stokeslichtstrahls, die koaxial durch eine Mikroskopoptik auf eine Probe richtbar sind, und mit einem Detektor zur Detektion des von der Probe ausgehenden Detektionslichtes, dadurch gekennzeichnet, dass die Mittel zur Erzeugung des Pumplichtstrahls und des Stokeslichtstrahls einen Laser und ein mikrostrukturiertes optisches Element umfassen, das das Licht des Lasers spektral verbreitert und aus dem der Pumplichtstrahl und der Stokeslichtstrahl austreten.
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公开(公告)号：DE50205325D1
公开(公告)日：2006-01-26
申请号：DE50205325
申请日：2002-06-28
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor： ENGELHARDT DR , KNEBEL WERNER DR
Abstract: A scanning microscope examines a specimen (31). An optical component (89) has a characteristic that depends on wavelengths. A device uses wavelengths to perform detection that picks up measurement values in two wavelength ranges each characterized by spectral width and position. An Independent claim is also included for a method for using wavelengths to detect light emitted from a specimen by means of a scanning microscope.
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：DE102005007756B4
公开(公告)日：2022-09-29
申请号：DE102005007756
申请日：2005-02-18
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor： KNEBEL WERNER DR
Abstract: Scanmikroskop mit einer Scaneinrichtung (11) für einen Beleuchtungs- und/oder Detektionslichtstrahl und einem eine optische Achse aufweisenden Objektiv (17),wobei eine Beleuchtungseinrichtung (21) zur Erzeugung eines auf die Probe (19) fokussierbaren Beleuchtungslichtstrahls vorgesehen ist,dadurch gekennzeichnet, dass der Fokus des Beleuchtungslichtstrahls eine zur optischen Achse geneigte Beleuchtungsrichtung aufweist, dass die Pupille (16) des Objektivs (17) vom Beleuchtungslichtstrahl einseitig unterleuchtet ist, dass der Beleuchtungslichtstrahl schräg und/oder zu einem Detektionslichtstrahl versetzt in die Scaneinrichtung eingekoppelt ist und dass der Fokus (1) des Beleuchtungslichtstrahls und ein Detektionsfokus (2) synchronisiert sind.
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27.发明专利
公开(公告)号：DE102005046638B4
公开(公告)日：2022-01-27
申请号：DE102005046638
申请日：2005-09-29
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor： KNEBEL WERNER DR
Abstract: Scanmikroskop (1) mit einer Lichtquelle (3), die einen Beleuchtungslichtstrahl (5) zum Beleuchten einer Probe (7) emittiert, der entlang eines Beleuchtungsstrahlengangs (9) verläuft, und der mit einer Strahlablenkeinrichtung (11) über oder durch die Probe (7) führbar ist, und mit einer weiteren Lichtquelle (13), die einen Manipulationslichtstrahl (15), der entlang eines Manipulationsstrahlengangs (16) verläuft, erzeugt, wobei der Manipulationslichtstrahl (16) einen Manipulationsstrahlfokus (18) ausgebildet hat, der ebenfalls von der Strahlablenkeinrichtung (11) über oder durch die Probe (7) führbar ist, dadurch gekennzeichnet, dass ein optisches Mittel (20) der weiteren Lichtquelle (13) außerhalb des Beleuchtungsstrahlengangs (9) und im Manipulationslichtstrahl (15) nachgeschaltet ist, mit dem die Größe des Manipulationsstrahlfokus (18) veränderbar ist, und dass das optische Mittel (20) mit einer Steuereinheit (30) verbunden ist, die die Änderung der Größe des Manipulationsstrahlfokus (18) in Abhängigkeit von der Zeit erlaubt.
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公开(公告)号：DE10043986B4
公开(公告)日：2020-01-16
申请号：DE10043986
申请日：2000-09-05
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor： ENGELHARDT JOHANN DR , HOFFMANN JÜRGEN DR , KNEBEL WERNER DR
Abstract: Verfahren zur Untersuchung einer Probe (11) mittels eines konfokalen Scan-Mikroskops mit mindestens einer Lichtquelle (1) zur Erzeugung eines Beleuchtungslichtstrahls (4) für die Probe (11) und einer Strahlablenkeinrichtung (9) zur Führung des Beleuchtungslichtstrahls (4) über die Probe (11), mit den folgenden Verfahrensschritten:- Aufnehmen eines Voransichtsbilds (19, 30);- Markieren mindestens eines interessierenden Bereichs (16, 17; 27, 28) im Voransichtsbild (19, 30);- Zuordnen individueller Beleuchtungslichtstrahl-Wellenlängen und/oder Beleuchtungslichtstrahl-Leistungen zu dem Bereich (16, 17; 27, 28) oder den Bereichen (16, 17; 27, 28);- Beleuchten des Bereichs (24, 25) oder der Bereiche (24, 25) der Probe (11) gemäß der Zuordnung, wobei durch das Beleuchten mindestens eine Manipulation in mindestens einem Bereich (25) durchgeführt wird,wobei der Beleuchtungslichtstrahl (4) derart geführt wird, dass im Wesentlichen nur der markierte Bereich (24, 25) oder die markierten Bereiche (24, 25) der Probe (11) beleuchtet werden, wobei die Strahlablenkung außerhalb des Bereichs (24, 25) oder der Bereiche (24, 25) oder zwischen den Bereichen (24, 25) von einer sägezahn-, sinus- oder mäanderförmigen Strahlablenkung abweicht undwobei während der Manipulation in mindestens einem Bereich (25) dieser Bereich (25) oder diese Bereiche (25) und/oder mindestens ein anderer Bereich (24) im Wesentlichen simultan beobachtet wird.
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公开(公告)号：DE102010060121B4
公开(公告)日：2018-11-08
申请号：DE102010060121
申请日：2010-10-22
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor： KNEBEL WERNER DR , OESTREICHER WOLFGANG DR
IPC: G02B21/06
Abstract: SPIM-Mikroskop mit-einer Beleuchtungsquelle (4), welche einen Beleuchtungs-Lichtstrahl (5, 41) aus einer y-Richtung auf ein abzubildendes Objekt (2) sendet; und miteiner Kamera (16), welche in z-Richtung als einer ersten Detektionsrichtung von einem Objekt (2) ausgesendetes Fluoreszenzlicht und/oder reflektiertes Licht erfasst, wobei sich die z-Richtung im Wesentlichen senkrecht zur y-Richtung erstreckt,gekennzeichnet durcheinen x-Scanner (12), welcher durch Scannen des Beleuchtungs-Lichtstrahls (5, 41) in einer x-Richtung sequenziell ein Lightsheet (1) erzeugt, wobei sich die x-Richtung im Wesentlichen senkrecht zur y-Richtung und zur z-Richtung erstreckt und das Lightsheet (1) entsprechend sequenziell in einer von der x-Richtung und y-Richtung aufgespannten Ebene aufgebaut wird; und durcheine Beleuchtungsoptik mit einer im Strahlengang des Beleuchtungs-Lichtstrahls (5, 41) angeordneten Zoomoptik (13) mittels welcher die Fokuslänge des Beleuchtungs-Lichtstrahls (5, 41) variierbar ist.
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公开(公告)号：DE10050529B4
公开(公告)日：2016-06-09
申请号：DE10050529
申请日：2000-10-11
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor： ENGELHARDT JOHANN DR , KNEBEL WERNER DR
Abstract: Verfahren zur Strahlsteuerung in einem Scanmikroskop mit folgenden Schritten: • Aufnehmen eines Voransichtsbildes (7); • Markieren mindestens eines interessierenden Bereichs (27, 29) im Voransichtsbild (7); • Verschieben des Scanfeldes (31, 33) auf den interessierenden Bereich (27, 29) mittels einer ersten Strahlablenkeinrichtung (43, 67, 78); und • Aufnehmen eines Bildes durch mäanderförmiges Abtasten des interessierenden Bereichs (27, 29) mit einer zweiten Strahlablenkeinrichtung (49, 72, 82, 94), dadurch gekennzeichnet, dass die erste und die zweite Strahlablenkeinrichtung (72, 78, 82, 94) mit je zwei Strahlablenkmodulen (71 und 75, 81 und 83, 77 und 79, 93 und 95) ausgestaltet sind und dass die Strahlablenkmodule (71 und 75, 81 und 83, 77 und 79, 93 und 95) durch einen kardanisch aufgehängten Spiegel oder einen Mikrospiegel oder einen Akusto-Optischen-Deflektor oder einen Galvanometerspiegel oder ein resonant schwingendes Spiegelsystem gebildet sind.
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