公开(公告)号：CN105445191A

公开(公告)日：2016-03-30

申请号：CN201510852016.X

申请日：2015-11-30

Applicant: 中国科学院长春应用化学研究所

Inventor： 赖宇晴

IPC: G01N21/01 ,  G01N23/201

CPC classification number: G01N21/01 ,  G01N23/201

Abstract: 本发明提供一种多通道原位测量气氛池，属于材料测试装置领域。解决现有的气氛池密闭效果差、不易控制且应用范围窄的问题。该多通道原位测量气氛池包括池体、底座和温控装置，所述的温控装置设置在池体和底座之间，池体的顶壁、左侧壁、右侧壁、前侧壁和后侧壁上分别设置五个光学窗口，前侧壁和后侧壁上的光学窗口倾斜对称设置，池体中央设置一个样品台，池体的左侧壁上对称设置两个通孔，其中一个通孔与气体快速接头连接，另一个通孔与液体管或注射管连接。本发明的气氛池可以同时用于三种光谱仪器设备的原位、同步测量，密闭性好，能耐住强腐蚀有机溶剂气氛的使用。

公开(公告)号：CN104807841A

公开(公告)日：2015-07-29

申请号：CN201410544535.5

申请日：2014-10-15

Applicant: 财团法人工业技术研究院

Inventor： 傅尉恩 ,  吴文立

IPC: G01N23/201

CPC classification number: G01N23/201

Abstract: 本揭露提供一种增加穿透式小角度X光散射(tSAXS)的散射强度的装置，包含:增强光栅元件，设置于与待测光栅元件相距在入射X光的纵向相干长度内；以及提供纳米级精确度的放置机构，可调置增强光栅元件与待测光栅元件的横向及纵向相对对位或位置，达纳米级精确度。

公开(公告)号：CN104603603A

公开(公告)日：2015-05-06

申请号：CN201280075529.9

申请日：2012-12-06

Applicant: 韩国原子力研究院

Inventor： 河长镐 ,  金暎洙 ,  金汉洙 ,  余淳穆

IPC: G01N23/04 ,  G01N23/20

CPC classification number: G01N23/201 ,  G01N23/04 ,  G01N23/06 ,  G01N23/083 ,  G01N23/087 ,  G01N23/20 ,  G01N23/202

Abstract: 本发明涉及一种能够获取物元信息以及基于图像的选择的放射线成像装置，本发明的目的在于提供一种能够获取物元信息以及基于图像的选择的放射线成像装置，其利用放射线和物质之间相互作用方式来获取图像，从而提高图像分辨率以及检测效率。本发明的另一目的在于提供一种能够获取物元信息以及基于图像的选择的放射线成像装置，尤其利用单一光子三维跟踪技术，从而只用单一能量的放射源能够获取三维图像的同时能够区分被摄物体的元素。

公开(公告)号：CN101512385B

公开(公告)日：2012-06-20

申请号：CN200780033596.3

申请日：2007-07-03

Applicant: 通用电气公司

Inventor： 杰弗里·哈丁

IPC: G01V5/00

CPC classification number: G01N23/201 ,  G01V5/0025

Abstract: 描述了一种用于生成改进的衍射略图的系统。所述系统包括：至少一个x射线源，配置为生成x射线；以及主准直仪，输出第一x射线束到第一焦点和输出第二x射线束到第二焦点。所述主准直仪从所述x射线生成所述第一x射线束和第二x射线束。所述系统还包括：容器；以及第一散射检测器，配置为检测在所述第一x射线束和所述容器相交时生成的第一组散射射线，以及检测在所述第二x射线束和所述容器相交时生成的第二组散射射线。由所述第一散射检测器检测的第一组散射射线的散射角最多是由所述第一散射检测器检测的第二组散射射线的散射角的一半。

公开(公告)号：CN101256160B

公开(公告)日：2011-07-27

申请号：CN200810095161.8

申请日：2008-01-17

Applicant: 帕纳科有限公司

Inventor： V·科根

IPC: G01N23/207

CPC classification number: G01N23/20025 ,  G01N23/201 ,  G01N23/207

Abstract: 本发明公开了一种包括壳体(14)的X射线散射腔室(12)，其可安装在位于X射线源(2)与X射线检测器(4)之间的X射线衍射装置中，例如安装在测角器臂(6)上。该壳体(14)包括样品架(16)和射线束调节光学器件(22、24)，而且该系统还使用壳体外部的初级光学器件(10)。该装置适用于SAXS和/或SAXS-WAXS。

公开(公告)号：CN101606083A

公开(公告)日：2009-12-16

申请号：CN200780048227.1

申请日：2007-10-26

Applicant: 洛斯阿拉莫斯国家安全股份有限公司

Inventor： 克里斯托弗·L·莫里斯 ,  马克·F·马凯拉

IPC: G01T1/20 ,  G01T1/00

CPC classification number: G01N23/201 ,  G01N23/20 ,  G01V5/0025 ,  G01V5/0075 ,  G06F17/18

Abstract: 一种用于检测粒子例如μ介子的技术、设备和系统。在一个实施例中，一种监测系统具有带多个漂移单元的宇宙射线产生的带电粒子跟踪器。漂移单元可以是例如铝漂移管，至少可以布置在待扫描的体积的上面和下面以从而跟踪入射和出射的带电粒子例如宇宙射线产生的μ介子，尽管也可检测γ射线。该系统可以选择性地从通过所述体积的带电粒子的多次散射检测占据体积的装置或者材料，例如铁、铅、金和/或钨，并可以从由那里发出的γ射线检测占据体积的任何放射源。如有必要，漂移管可以被密封以去除对气体处理系统的需要。该系统可以被采用来检测在越境处的有载车辆的核威胁物质。

公开(公告)号：CN101512385A

公开(公告)日：2009-08-19

申请号：CN200780033596.3

申请日：2007-07-03

Applicant: 通用电气公司

Inventor： 杰弗里·哈丁

IPC: G01V5/00

CPC classification number: G01N23/201 ,  G01V5/0025

Abstract: 描述了一种用于生成改进的衍射略图的系统。所述系统包括：至少一个x射线源，配置为生成x射线；以及主准直仪，输出第一x射线束到第一焦点和输出第二x射线束到第二焦点。所述主准直仪从所述x射线生成所述第一x射线束和第二x射线束。所述系统还包括：容器；以及第一散射检测器，配置为检测在所述第一x射线束和所述容器相交时生成的第一组散射射线，以及检测在所述第二x射线束和所述容器相交时生成的第二组散射射线。由所述第一散射检测器检测的第一组散射射线的散射角最多是由所述第一散射检测器检测的第二组散射射线的散射角的一半。

公开(公告)号：CN1946342A

公开(公告)日：2007-04-11

申请号：CN200580012421.5

申请日：2005-04-12

Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司

Inventor： J·-P·施洛姆卡

IPC: A61B6/02 ,  A61B6/03 ,  G01N23/201

CPC classification number: A61B6/5282 ,  A61B6/032 ,  A61B6/4291 ,  A61B6/483 ,  G01N23/201 ,  G01V5/0025 ,  G01V5/005

Abstract: 已知的相干散射CT扫描器使用扇束。然而，这需要附加的校准装置，并且这减少了施加于探测器的光子通量。因此，可能需要较长的测量时间。此外，几何结构与已知的锥束CT扫描器不兼容。根据本发明的一个典型实施例，提供一种使用能量分辨探测器的锥束CSCT扫描器，所述能量分辨探测器具有布置在所述探测器上的准直器，该准直器允许散射函数的空间分辨重建。有利地，这可以允许在行李检查或医学应用中扫描速度的提高。

公开(公告)号：CN1293382C

公开(公告)日：2007-01-03

申请号：CN02812998.9

申请日：2002-06-17

Applicant: 理学电机株式会社

Inventor： 表和彦

IPC: G01N23/201

CPC classification number: G01N23/20 ,  G01N23/201 ,  G01N23/203

Abstract: 在本发明的解析密度不均匀实验材料内的颗粒状物的分布状态的密度不均匀实验材料解析方法中，实际测量X射线散射曲线是基于面内衍射测量的面内X射线散射曲线，进行该面内X射线散射曲线和模拟X射线散射曲线的拟合，将模拟X射线散射曲线和面内X射线散射曲线一致时的拟合参数的值作为密度不均匀实验材料内的颗粒状物的面内方向的分布状态。同时通过上述方法，还能够提供能够简单并且高精度地解析具有各向异性的密度不均匀实验材料内的颗粒状物的面内方向的分布状态的密度不均匀实验材料解析装置和系统。

公开(公告)号：CN106062542B

公开(公告)日：2019-06-07

申请号：CN201580011600.0

申请日：2015-02-02

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 表和彦 ,  伊藤和辉

IPC: G01N23/201 ,  G21K1/06

CPC classification number: G01N23/201 ,  G01N2223/054 ,  G01N2223/056 ,  G01N2223/315 ,  G21K1/06 ,  G21K1/10

Abstract: 本发明提供以紧凑的结构及高信号背景比同时获得各向异性的像的微小射束生成单元以及小角度X射线散射装置。微小射束生成单元(110)生成向试样照射的束斑尺寸微小的X射线，以便利用一维检测器或者二维检测器检测衍射X射线，所述微小射束生成单元具备：狭缝(115)，其设置在X射线光路上，将X射线修整为平行射束；以及两个切槽晶体单色器(117、118)，它们配置为(+，‑，‑，+)，除去利用狭缝修整后的平行射束的寄生散射。由此，能够以紧凑的结构及高信号背景比同时获得各向异性的像。