公开(公告)号：TW201441666A

公开(公告)日：2014-11-01

申请号：TW102114712

申请日：2013-04-24

Applicant: 鴻海精密工業股份有限公司 ,  HON HAI PRECISION INDUSTRY CO., LTD.

Inventor： 吳開文 ,  WU, KAI WEN

IPC: G02B27/18 ,  G02B27/10 ,  G03B21/14 ,  H04N5/74

CPC classification number: G03B21/2033 ,  G01J3/021 ,  G01J3/10 ,  G01J2003/104 ,  G03B21/2013 ,  G03B21/2066

Abstract: 一種雷射投影裝置，包括一基板、設置於該基板上的第一發光晶片、第二發光晶片、第三發光晶片以及設置於基板上且位於所述發光晶片出光路徑上的分光鏡，所述分光鏡包括一第一側面、一第二側面以及連接第一側面及第二側面的第三側面，所述第一側面、第二側面以及第三側面分別於所述三個發光晶片一一對應設置，所述發光晶片發出的光線經由所述分光鏡校正至相同的方向出射並混合。

Abstract in simplified Chinese: 一种激光投影设备，包括一基板、设置于该基板上的第一发光芯片、第二发光芯片、第三发光芯片以及设置于基板上且位于所述发光芯片出光路径上的分光镜，所述分光镜包括一第一侧面、一第二侧面以及连接第一侧面及第二侧面的第三侧面，所述第一侧面、第二侧面以及第三侧面分别于所述三个发光芯片一一对应设置，所述发光芯片发出的光线经由所述分光镜校正至相同的方向出射并混合。

公开(公告)号：TW201246733A

公开(公告)日：2012-11-16

申请号：TW100144392

申请日：2011-12-02

Applicant: 康寧公司 ,  普林斯頓大學理事會

Inventor： 王茵 ,  維索齊吉拉德帕瓦爾 ,  謝峰 ,  石鍾恩

IPC: H01S

CPC classification number: H01S5/0042 ,  B82Y20/00 ,  G01J1/0403 ,  G01J1/0407 ,  G01J1/0414 ,  G01J3/021 ,  G01J3/1804 ,  G01J2001/4247 ,  G01R31/2635 ,  H01S5/141 ,  H01S5/3401

Abstract: 一種用於對自一半導體晶圓分離之一半導體雷射條上的複數個外部共振腔半導體雷射晶片自動進行特性分析之系統及程序。該系統包括:一繞射光柵,該繞射光柵安裝於一旋轉平臺上以用於在一定範圍之繞射角度內旋轉該繞射光柵;一轉向鏡,該轉向鏡安裝於該旋轉平臺上且經定向而垂直於該繞射光柵之一表面;以及一雷射分析器;以及一雷射條定位平臺。該定位平臺自動地以每次一個晶片地移動,使該平臺上之一雷射條中的每一雷射晶片與該繞射光柵對準,使得自該雷射條中之一雷射晶片發射之雷射射束的一部分藉由該光柵之一階繞射而反射回至同一雷射晶片,以鎖定雷射發光波長,且由該轉向鏡反射之該雷射射束之其餘部分,由該雷射分析器接收且進行特性分析。對於每一雷射晶片,該旋轉平臺以相對於該雷射晶片發射之該雷射射束之一定範圍的繞射角度自動旋轉,以旋轉該繞射光柵,且該雷射分析器對每一繞射角度下之諸如光譜、功率或空間模式之雷射光學性質自動進行特性分析。

Abstract in simplified Chinese: 一种用于对自一半导体晶圆分离之一半导体激光条上的复数个外部共振腔半导体激光芯片自动进行特性分析之系统及进程。该系统包括:一绕射光栅,该绕射光栅安装于一旋转平台上以用于在一定范围之绕射角度内旋转该绕射光栅;一转向镜,该转向镜安装于该旋转平台上且经定向而垂直于该绕射光栅之一表面;以及一激光分析器;以及一激光条定位平台。该定位平台自动地以每次一个芯片地移动,使该平台上之一激光条中的每一激光芯片与该绕射光栅对准,使得自该激光条中之一激光芯片发射之激光射束的一部分借由该光栅之一阶绕射而反射回至同一激光芯片,以锁定激光发光波长,且由该转向镜反射之该激光射束之其余部分,由该激光分析器接收且进行特性分析。对于每一激光芯片,该旋转平台以相对于该激光芯片发射之该激光射束之一定范围的绕射角度自动旋转,以旋转该绕射光栅,且该激光分析器对每一绕射角度下之诸如光谱、功率或空间模式之激光光学性质自动进行特性分析。

公开(公告)号：TW201219766A

公开(公告)日：2012-05-16

申请号：TW100130796

申请日：2011-08-26

Applicant: 聖高拜塑膠製品公司

Inventor： 法米利亞 阿齊茲 馬赫富德 ,  夏克力福德 大衛 ,  梅克希利夫 奈費 ,  司馬曼 邁克

IPC: G01N

CPC classification number: G01J3/021 ,  G01J3/0245 ,  G01J3/42 ,  G01N15/082 ,  G01N21/3554 ,  G01N21/39 ,  G01N2021/399

Abstract: 本發明針對利用了一種光腔衰蕩光譜(CRDS)技術的系統和方法，該技術用於對蒸氣透過率進行測量。在一實施方式中，有待測量的蒸氣成分包含一光學空腔之內。然後將光注入到該空腔內直到一臨界水準，並且對所注入的光的衰減時間進行測量。在所注入的光的波長與該蒸氣的吸收特徵共振時，衰減時間隨著蒸氣含量的變化而增加。以此方式，蒸氣含量引起了更長的衰減時間，並且因此蒸氣穿過該薄膜(薄膜滲透率)的量可以即時測定。

Abstract in simplified Chinese: 本发明针对利用了一种光腔衰荡光谱(CRDS)技术的系统和方法，该技术用于对蒸气透过率进行测量。在一实施方式中，有待测量的蒸气成分包含一光学空腔之内。然后将光注入到该空腔内直到一临界水准，并且对所注入的光的衰减时间进行测量。在所注入的光的波长与该蒸气的吸收特征共振时，衰减时间随着蒸气含量的变化而增加。以此方式，蒸气含量引起了更长的衰减时间，并且因此蒸气穿过该薄膜(薄膜渗透率)的量可以实时测定。

公开(公告)号：TW201140006A

公开(公告)日：2011-11-16

申请号：TW099129756

申请日：2010-09-02

Applicant: 濱松赫德尼古斯股份有限公司

Inventor： 柴山勝己 ,  能野隆文

IPC: G01J

CPC classification number: G01J3/0262 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0259 ,  G01J3/0291 ,  G01J3/18 ,  G01J3/2823

Abstract: 本發明之分光模組中,以較衍射層6厚的方式,沿著衍射層6之周緣6a一體形成凸緣部7,且在透鏡部3之曲面3a中與凸緣部7接觸之部分為粗面。藉此,由與曲面3a之接著性高之凸緣部7包圍衍射層6。因此,即使將衍射層6薄型化,亦可防止衍射層6從透鏡部3之凸狀曲面3a剝離。再者,該分光模組中,在凸緣部7中與透鏡部3之曲面3a對向之後面7a呈平坦面。藉此,即使光入射至凸緣部7內,該光亦會到達凸緣部7之平坦面即後面7a。因此,可減少作為雜散光直接成像於光檢測元件之光檢測部之光。

Abstract in simplified Chinese: 本发明之分光模块中,以较衍射层6厚的方式,沿着衍射层6之周缘6a一体形成凸缘部7,且在透镜部3之曲面3a中与凸缘部7接触之部分为粗面。借此,由与曲面3a之接着性高之凸缘部7包围衍射层6。因此,即使将衍射层6薄型化,亦可防止衍射层6从透镜部3之凸状曲面3a剥离。再者,该分光模块中,在凸缘部7中与透镜部3之曲面3a对向之后面7a呈平坦面。借此,即使光入射至凸缘部7内,该光亦会到达凸缘部7之平坦面即后面7a。因此,可减少作为杂散光直接成像于光检测组件之光检测部之光。

公开(公告)号：TW200602674A

公开(公告)日：2006-01-16

申请号：TW093120621

申请日：2004-07-09

Applicant: 鴻海精密工業股份有限公司 HON HAI PRECISION INDUSTRY CO., LTD.

Inventor： 陳杰良 CHEN, GA-LANE

IPC: G02B ,  G01J

CPC classification number: G01J3/40 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0229 ,  G01J3/0232 ,  G01J3/0235

Abstract: 本發明涉及一種光柵光譜機，依照光路經過該光譜機各元件之次序，該光譜機包括：一光源；一準直透鏡，使來自光源之光束平行；一繞射光學光柵，接收並使光束色散；一聚焦透鏡，聚焦上述色散光束，形成繞射光譜；一非球面透鏡，對上述繞射光譜進行分離；一數位微鏡設備，具有複數反射鏡片，反射上述繞射光譜；一色轉輪，合成上述繞射光譜圖；一投影鏡頭；及一顯示屏幕。本發明之光柵光譜機由於採用數位微鏡設備，無須將光信號轉換為電信號而可直接獲得較大光譜響應波長範圍之光譜訊息。

Abstract in simplified Chinese: 本发明涉及一种光栅光谱机，依照光路经过该光谱机各组件之次序，该光谱机包括：一光源；一准直透镜，使来自光源之光束平行；一绕射光学光栅，接收并使光束色散；一聚焦透镜，聚焦上述色散光束，形成绕射光谱；一非球面透镜，对上述绕射光谱进行分离；一数码微镜设备，具有复数反射镜片，反射上述绕射光谱；一色转轮，合成上述绕射光谱图；一投影镜头；及一显示屏幕。本发明之光栅光谱机由于采用数码微镜设备，无须将光信号转换为电信号而可直接获得较大光谱响应波长范围之光谱消息。

公开(公告)号：TW200532174A

公开(公告)日：2005-10-01

申请号：TW094107553

申请日：2005-03-11

Applicant: 娛樂世界太平洋股份有限公司 JOY WORLD PACIFIC CO., LTD.

Inventor： 花松憲光 HANAMATSU, NORIMITSU ,  小野浩之 ONO, HIROYUKI ,  小田桐英夫 ODAGIRI, HIDEO ,  澤隆裕 SAWA, TAKAHIRO ,  三浦克之 MIURA, KATSUYUKI

IPC: G01K

CPC classification number: G01N21/4738 ,  G01G19/4146 ,  G01J3/02 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0232 ,  G01J3/0264 ,  G01J3/027 ,  G01J3/108 ,  G01J3/1256 ,  G01J3/42 ,  G01N21/3563 ,  G01N21/359 ,  G01N33/02 ,  G01N2021/151 ,  G01N2201/0618 ,  G01N2201/067 ,  G01N2201/0696 ,  G01N2201/1293

Abstract: 使可以利用近紅外線而測定卡路里，藉由非破壞性方法以短時間且簡易實現物體之卡路里測定。具備有：擁有載置被檢對象之物體M之台2的物體保持部1；和照射近紅外區域之光至被載置在台2上之被檢對象物體M上的光源部20；接受來自該物體M之反射光或是透過光的受光部30；和根據受光部30所接受到之光的吸光度算出物體M之卡路里的控制部40，在控制部40中，藉由被照射到事先已知卡路里之樣品物體M，且自樣品物體M被反射或是透過之近紅外線之吸光度中的二次微分光譜之複迴歸分析所算出的迴歸式，和受光部30所接受到之光的吸光度，運算物體M之卡路里。

Abstract in simplified Chinese: 使可以利用近红外线而测定卡路里，借由非破坏性方法以短时间且简易实现物体之卡路里测定。具备有：拥有载置被检对象之物体M之台2的物体保持部1；和照射近红外区域之光至被载置在台2上之被检对象物体M上的光源部20；接受来自该物体M之反射光或是透过光的受光部30；和根据受光部30所接受到之光的吸光度算出物体M之卡路里的控制部40，在控制部40中，借由被照射到事先已知卡路里之样品物体M，且自样品物体M被反射或是透过之近红外线之吸光度中的二次微分光谱之复回归分析所算出的回归式，和受光部30所接受到之光的吸光度，运算物体M之卡路里。

公开(公告)号：TW200515009A

公开(公告)日：2005-05-01

申请号：TW093127328

申请日：2004-09-09

Applicant: 綜合醫院股份有限公司 THE GENERAL HOSPITAL CORPORATION

Inventor： 勇錫亨 YUN, SEOK-HYUN ,  布瑪布列特E BOUMA, BRETT E. ,  提爾內吉勒摩 J TEARNEY, GUILLERMO J. ,  戴柏爾約翰尼斯菲茲格拉德 DEBOER, JOHANNES FITZGERALD

IPC: G02B

CPC classification number: H01S5/5045 ,  A61B5/0059 ,  A61B5/0066 ,  A61B5/7257 ,  G01B9/02002 ,  G01B9/02004 ,  G01B9/02043 ,  G01B9/02075 ,  G01B9/02081 ,  G01B9/02083 ,  G01B9/02084 ,  G01B9/0209 ,  G01B9/02091 ,  G01B2290/45 ,  G01B2290/70 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0218 ,  G01J3/0264 ,  G01J3/453 ,  G01J9/0215 ,  G01N21/4795 ,  G02B6/3604 ,  G02B26/12 ,  G02B27/48 ,  G02F1/093 ,  G02F1/11 ,  H01S3/0071 ,  H01S3/0078 ,  H01S3/08009 ,  H01S3/08063 ,  H01S3/105 ,  H01S3/1068 ,  H01S5/0071 ,  H01S5/0078 ,  H01S5/1025 ,  H01S5/14 ,  H01S5/141 ,  H01S5/146

Abstract: 本發明提供一種設備及方法。尤其是可提供至少一第一電磁輻射至一樣本，且提供至少一第二電磁輻射至一非反射性參考。該第一及／或第二輻射之頻率隨時間變化。一干涉會在有關第一輻射之至少一第三輻射，及有關第二輻射之至少第四輻射間偵測到。另一選擇是，該第一電磁輻射及／或第二電磁輻射具有之頻譜隨時間變化。該頻譜在一特定時間可含有多數頻率。此外，可在一第一極化狀態中偵測到介於該第三輻射與該第四輻射間之干涉信號。再者，最好於一與第一極化狀態不同之第二極化狀態中，偵測在第三輻射與第四輻射間之進一步的干涉信號。該第一及／或第二電磁輻射可具有一頻譜，該頻譜之平均頻率實質上以大於每毫秒100兆赫(TeraHertz)之調整速度連續地隨時間變化。

Abstract in simplified Chinese: 本发明提供一种设备及方法。尤其是可提供至少一第一电磁辐射至一样本，且提供至少一第二电磁辐射至一非反射性参考。该第一及／或第二辐射之频率随时间变化。一干涉会在有关第一辐射之至少一第三辐射，及有关第二辐射之至少第四辐射间侦测到。另一选择是，该第一电磁辐射及／或第二电磁辐射具有之频谱随时间变化。该频谱在一特定时间可含有多数频率。此外，可在一第一极化状态中侦测到介于该第三辐射与该第四辐射间之干涉信号。再者，最好于一与第一极化状态不同之第二极化状态中，侦测在第三辐射与第四辐射间之进一步的干涉信号。该第一及／或第二电磁辐射可具有一频谱，该频谱之平均频率实质上以大于每毫秒100兆赫(TeraHertz)之调整速度连续地随时间变化。

公开(公告)号：TW201710652A

公开(公告)日：2017-03-16

申请号：TW104129405

申请日：2015-09-04

Applicant: 財團法人國家實驗研究院 ,  NATIONAL APPLIED RESEARCH LABORATORIES

Inventor： 施至柔 ,  SZE, JYH ROU ,  陳柏睿 ,  CHEN, PO JUI ,  林群富 ,  LIN, CHUN FU

IPC: G01J3/18 ,  G01J3/02

CPC classification number: G02B5/1861 ,  G01J1/08 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0291 ,  G01J3/1804 ,  G02B17/008 ,  G02B27/1086 ,  G02B27/30 ,  G02B27/4244

Abstract: 一種多波段光譜分離裝置，包含第一拋物面反射鏡、複數個平面反射鏡、光柵以及第二拋物面反射鏡。第一拋物面反射鏡用以壓縮入射光訊號的發散角為準直光束；複數個平面反射鏡用以分別調整準直光束入射於光柵的入射角；光柵用以將不同波長成份的光學訊號予以分離；第二拋物面反射鏡用以聚焦不同波長成份的光束於焦平面；其中複數個平面反射鏡具有不同的放置位置與角度。

Abstract in simplified Chinese: 一种多波段光谱分离设备，包含第一抛物面反射镜、复数个平面反射镜、光栅以及第二抛物面反射镜。第一抛物面反射镜用以压缩入射光信号的发散角为准直光束；复数个平面反射镜用以分别调整准直光束入射于光栅的入射角；光栅用以将不同波长成份的光学信号予以分离；第二抛物面反射镜用以聚焦不同波长成份的光束于焦平面；其中复数个平面反射镜具有不同的放置位置与角度。

公开(公告)号：TW201706100A

公开(公告)日：2017-02-16

申请号：TW104125931

申请日：2015-08-10

Applicant: 亞東技術學院 ,  ORIENTAL INSTITUTE OF TECHNOLOGY

Inventor： 賴金輪 ,  LAI, CHIN LUN ,  陳俊宏 ,  CHEN, JUN HORNG

IPC: B29B17/02

CPC classification number: B29B17/02 ,  B07C5/3422 ,  B07C2501/0054 ,  B29B2017/0203 ,  B29B2017/0279 ,  B29L2031/712 ,  G01J3/00 ,  G01J3/021 ,  G01J3/42 ,  G01N21/31 ,  G01N33/00 ,  G01N2033/0081 ,  Y02W30/622

Abstract: 本發明實施例提供一種廢塑膠容器回收系統及其方法，其利用多個塑膠材質具有不同的光譜特性來判斷欲回收的廢容器之光譜是否為多個塑膠材質之光譜的其中之一，以區分不同塑膠材質的廢容器。據此，本發明實施例提供一種廢塑膠容器回收系統及其方法可準確地判斷不同塑膠材質的廢容器，且不會受到廢容器外觀或標籤毀損、變形或被遮罩而無法辨識。

Abstract in simplified Chinese: 本发明实施例提供一种废塑胶容器回收系统及其方法，其利用多个塑胶材质具有不同的光谱特性来判断欲回收的废容器之光谱是否为多个塑胶材质之光谱的其中之一，以区分不同塑胶材质的废容器。据此，本发明实施例提供一种废塑胶容器回收系统及其方法可准确地判断不同塑胶材质的废容器，且不会受到废容器外观或标签毁损、变形或被遮罩而无法辨识。

公开(公告)号：TW201702574A

公开(公告)日：2017-01-16

申请号：TW104122825

申请日：2015-07-14

Applicant: 龍彩科技股份有限公司 ,  HC PHOTONICS CORP.

Inventor： 周明賢 ,  CHOU, MING HSIEN ,  蕭建隆 ,  XIAO, JIAN LONG ,  莊雅雯 ,  CHUANG, YA WEN ,  施至柔 ,  SZE, JYH ROU ,  陳柏睿 ,  CHEN, PO JUI ,  林群富 ,  LIN, CHUN FU ,  李龍正 ,  LEE, LONG JENG ,  張君勵 ,  CHANG, CHUN LI ,  黃吉宏 ,  HUANG, CHI HUNG ,  劉達人 ,  LIU, DA REN

IPC: G01N21/64

CPC classification number: G01J3/4406 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0218 ,  G01J3/0237 ,  G01J3/06 ,  G01J3/2823 ,  G01J2001/442 ,  G01J2003/063 ,  G01N21/6408 ,  G01N21/6456 ,  G01N2021/6421 ,  G01N2201/0697 ,  G01N2201/10

Abstract: 本發明為一種即時空間與時間光譜量測系統及其量測模組，其中即時空間與時間光譜量測系統包括激發光源及量測模組。激發光源用以激發螢光樣品，量測模組則接收並分析螢光樣品受激發後發出之螢光。量測模組包括單光子線性掃瞄偵測器及線性CCD光譜儀，單光子線性掃瞄偵測器能選擇性攔截螢光分光分波後具有多個波長的多波長光束中的特定波長，以產生單波長時間解析訊號，而線性CCD光譜儀則能接收多波長光束並產生螢光全光譜訊號。藉由本發明之實施，可以同時觀測螢光全光譜訊號與單波長時間解析訊號，進而提高螢光光譜儀的使用便利性。

Abstract in simplified Chinese: 本发明为一种实时空间与时间光谱量测系统及其量测模块，其中实时空间与时间光谱量测系统包括激发光源及量测模块。激发光源用以激发萤光样品，量测模块则接收并分析萤光样品受激发后发出之萤光。量测模块包括单光子线性扫瞄侦测器及线性CCD光谱仪，单光子线性扫瞄侦测器能选择性拦截萤光分光分波后具有多个波长的多波长光束中的特定波长，以产生单波长时间解析信号，而线性CCD光谱仪则能接收多波长光束并产生萤光全光谱信号。借由本发明之实施，可以同时观测萤光全光谱信号与单波长时间解析信号，进而提高萤光光谱仪的使用便利性。