公开(公告)号：CN101785375B

公开(公告)日：2013-05-08

申请号：CN200780100458.2

申请日：2007-09-14

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 西浦孝英

IPC: H05K7/20 ,  H01L23/473

CPC classification number: H01L23/473 ,  G01R31/2877 ,  H01L2924/0002 ,  H01L2924/09701 ,  H05K7/20254 ,  H01L2924/00

Abstract: 水套(50)具备可容纳MCM(22A)并可流通制冷剂的通路(51)，所述通路(51)在MCM(22A)上游具有与其它部分相比流路截面积小的缩颈部(54)。

公开(公告)号：CN103036125A

公开(公告)日：2013-04-10

申请号：CN201210374423.0

申请日：2012-09-27

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 中村阳登 ,  藤崎贵志

IPC: H01R33/74 ,  H01R13/193 ,  G01R31/28

CPC classification number: G01R1/0433 ,  G01R1/0466 ,  G01R1/0483 ,  G01R1/0735 ,  G01R31/2601 ,  G01R31/2886

Abstract: 本发明提供一种可抑制接触不良发生的插座，该插座11电连接于具有形成与晶片50的电极触头51相接触的突起324的基膜32、与突起324电连接的外部端子312的测试用载体，包含与外部端子312接触的接触器125和推压基膜32的突起形成部分32a以及突起周围部分32b的弹性部件131；弹性部件131具有第1弹性层132、比第1弹性层132柔软的层叠于第1弹性层132上的与基膜32接触的第2弹性层133。

公开(公告)号：CN102918407A

公开(公告)日：2013-02-06

申请号：CN201080066287.8

申请日：2010-04-22

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 川原贵夫 ,  中村隆之

IPC: G01R31/28 ,  H01L21/66

CPC classification number: G01R31/2851 ,  G01R31/2841

Abstract: 本发明涉及PIN卡及使用PIN卡的试验装置。在I/O端子（Pio）上连接有DUT1。交流试验单元（30）进行DUT1的交流试验。直流试验单元（40）进行DUT1的直流试验。光半导体开关（10）的第一端子（P1）与交流试验单元（30）连接，第二端子（P2）与I/O端子（Pio）连接。光半导体开关（10）根据输入到控制端子（P3、P4）的控制信号，可切换第一端子（P1）和第二端子（P2）之间的导通、切断状态。第一阻抗电路（20）设置在对正极控制端子（P3）的控制信号的信号路径上，第二阻抗电路（22）设置在对负极控制端子（P4）的控制信号的信号路径上。

公开(公告)号：CN102751226A

公开(公告)日：2012-10-24

申请号：CN201210108986.5

申请日：2012-04-13

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 小暮吉成 ,  藤崎贵志 ,  中村阳登

IPC: H01L21/683 ,  H01L21/66

CPC classification number: G01R1/0408 ,  G01R31/2893 ,  H01L2224/16235

Abstract: 本发明提供一种可确保高气密性的测试用载体10A，该测试用载体10A包含保持晶片90的基部基板21A和为覆盖晶片90而叠置在基部基板21A上的盖子基板31A，所述的测试用载体10A还具有介于基部基板21A和盖子基板31A之间，将晶片90包围的密封部件24。

公开(公告)号：CN102621379A

公开(公告)日：2012-08-01

申请号：CN201210020102.0

申请日：2012-01-21

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 长坂健 ,  基思·肖布 ,  安东尼·卢姆

IPC: G01R21/00 ,  G01R21/133

CPC classification number: G01R29/26 ,  G01R31/2822

Abstract: 本发明提供测定装置，利用测定装置进行连接被测定物的发送器和接收器的测试。测定装置(100)与具有发送部和接收部的被测定物连接，测定装置具备：输入端口(102)，其与发送部连接；输出端口(104)，其与接收部连接；信号输出部(132、134)，其输出输出信号；功率测定部(145、155)，其测定输入信号的功率；连接部(连接器(110)、开关(120～128))，其能够使与输入端口连接的部分为输出端口和功率测定部中的一方或两方，而且能够使与输出端口连接的部分为输入端口和信号输出部中的一方或两方；以及功率调整部(183、185)，其在输入端口与输出端口连接时调整从输出端口输出的输出端口信号的功率。

公开(公告)号：CN102576046A

公开(公告)日：2012-07-11

申请号：CN201080042423.X

申请日：2010-05-10

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 中村阳登 ,  小暮吉成

IPC: G01R31/26 ,  H01L21/60

CPC classification number: G01R31/2893 ,  G01R31/2891 ,  H01L21/6835 ,  H01L23/544 ,  H01L24/81 ,  H01L2223/5442 ,  H01L2223/54426 ,  H01L2224/81121 ,  H01L2224/81801 ,  H01L2924/01019 ,  H01L2924/09701 ,  H01L2924/12042 ,  H01L2924/14 ,  Y10T29/4913 ,  Y10T29/49131 ,  Y10T29/53174 ,  Y10T29/53183 ,  H01L2924/00

Abstract: 本发明涉及一种测试用载体10，该测试用载体具有两者之间插有晶片90的基部部件20A和盖子部件50A，其中基部部件20A的基膜40具有预先形成的第1布线图案41，和用于通过印刷而形成与第1布线图案41电连接的第2布线图案44的印刷范围22。

公开(公告)号：CN102423653A

公开(公告)日：2012-04-25

申请号：CN201110225577.9

申请日：2007-09-14

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 拉里·斯塔基

IPC: B01F13/06

Abstract: 本发明涉及一种控制设备温度的装置，具体而言，涉及一种高级热控接口。所述装置包括主体(500)，其具有以所述主体(500)的轴为基准基本上对称地隔开的多个腔(630)，其中多个腔(630)的每一个腔均包括上膜片(635)和下膜片(640)。所述装置还包括热传输元件(515)，该热传输元件(515)通过所述多个腔(630)连接在所述主体(500)上，以使所述多个腔(630)与所述热传输元件(515)流体连通。

公开(公告)号：CN102288790A

公开(公告)日：2011-12-21

申请号：CN201110118319.0

申请日：2011-05-09

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 小暮吉成

IPC: G01R1/04

CPC classification number: G01R31/2893

Abstract: 提供了一种能够分解测试用装载器的装载器分解装置。分解测试用装载器(60)的装载器分解装置(1)具备保持覆盖构件(80)的保持头(11)、保持基底构件(70)的保持台(20)、使保持头(11)远离保持台(20)并使覆盖构件(80)和基底构件(70)分离的第1搬送臂(16)，保持头(11)具有在保持头(11)和覆盖构件(80)之间形成第1密闭空间(13)的第1密闭构件(12)，保持台(20)具有在保持台(20)和基底构件(70)之间形成第2密闭空间(24)的第2密闭构件(21)，装载器分解装置(1)还具备对密闭空间(13，24)进行降压的真空泵(90)。

公开(公告)号：CN102244027A

公开(公告)日：2011-11-16

申请号：CN201110102030.X

申请日：2011-04-22

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 中村阳登 ,  小暮吉成

IPC: H01L21/683 ,  H01L21/66

CPC classification number: G01R1/0408

Abstract: 本发明提供一种可确保高气密性的测试用载体。测试用载体(10)包括将晶粒(90)夹在中间相互粘合在一起的盖子部件(50A)和基部部件(20A)，盖子部件(50A)可透过紫外线。

公开(公告)号：CN101278182B

公开(公告)日：2011-10-12

申请号：CN200680036738.7

申请日：2006-09-27

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 浮田润一 ,  松村尊

IPC: G01M11/00

CPC classification number: G01M11/3172

Abstract: 本发明即使不使用接收频带宽的光接收器，也能测定布里渊散射光。散射光测定装置(1)具有：连续光源(10)，产生连续光；光脉冲发生器(14)，将连续光转换为脉冲光；光移频器(20)，接收连续光并输出移位光，该移位光具有连续光、具有比连续光的光频率(F0)仅大规定光频率(Flo)的光频率的第一侧波带光、及具有比连续光的光频率(F0)仅小规定光频率(Flo)的光频率的第二侧波带光；功率降低部(22)，降低光移频器(20)所输出的移位光中的连续光的功率；以及外差式受光器(26)，从入射了脉冲光的光纤(2)的入射端(2a)接收散射光，而且从光移频器(20)接收移位光，并输出具有散射光的光频率与移位光的光频率之差的频率的电信号。