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公开(公告)号：CN115493705A
公开(公告)日：2022-12-20
申请号：CN202110672172.3
申请日：2021-06-17
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01J5/12
Abstract: 本发明提供了一种弥散条件下高温物体表面温度测量装置及方法，装置包括光收集模块、分光模块、n个探测器、反演模型模块、温度获取模块和温度处理模块；光收集模块用于收集被测高温物体辐射的光，并将辐射的光入射至分光模块；分光模块用于将入射光分为n路不同波段的光，并分别投影至对应的探测器；反演模型模块用于获取被测高温物体对应的反演系数；温度获取模块用于获取n个探测器上每个像素点位置对应的辐射亮温，得到n个探测器上每个像素点位置对应的修正后的辐射亮温；温度处理模块用于获取被测高温物体的表面温度。本发明能解决现有测温方法无法满足航空航天热试验和冶金铸造生产等领域对水雾等弥散介质条件下的红外辐射测温需求的问题。
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公开(公告)号：CN113916386B
公开(公告)日：2022-11-08
申请号：CN202010644796.X
申请日：2020-07-07
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01J9/00
Abstract: 一种基于气体电离室的真空紫外波长校准装置，包括：真空紫外光源为气体放电光源，前端窗口为氟化镁窗口，用来提供覆盖120nm～200nm波段范围的光谱能量；真空紫外单色分光系统包括入射狭缝、分光光栅、出射狭缝，真空紫外光源的光经入射狭缝进入，经分光光栅分光形成单色光，经出射狭缝出射；真空紫外准直系统包括多片光学镜片，使得真空紫外准直系统的焦面位置与真空紫外单色分光系统的出射狭缝位置重合，对真空紫外单色分光系统的出射光进行准直，形成平行光出射；真空紫外漫射系统为长方形，铝基底材料进行打磨制成，其表面为漫反射表面；真空紫外切换机构为圆形转台或平移导轨，可将漫射系统移入移出。
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公开(公告)号：CN114688990A
公开(公告)日：2022-07-01
申请号：CN202011576170.6
申请日：2020-12-28
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01B11/24
Abstract: 本发明提供了一种基于光场相机的多参数三维测量装置、系统及方法，所述装置包括：脉冲激光组件、滤光组件、光场相机以及处理单元；其中，所述脉冲激光组件发出脉冲光束以对待测目标进行周期性的照明，且所述待测目标能够在脉冲激光组件发出脉冲光束时，根据脉冲光束形成反射光；滤光组件用于根据脉冲光束对反射光进行滤光，以及对待测目标的自发光进行滤光；光场相机基于滤光后的反射光以及自发光采集待测目标的图像以分别获得速度光场图像以及温度光场图像；处理单元用于根据所述速度光场图像获取待测目标的速度，以及根据温度光场图像获取待测目标的温度。上述装置既可以获取温度，也可以获取速度，适用于发动机试车试验中开展多参数测量工作。
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公开(公告)号：CN114303686A
公开(公告)日：2022-04-12
申请号：CN202011055301.6
申请日：2020-09-30
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: A01G7/06
Abstract: 本发明提供了一种农作物顶端优势去除装置及方法，所述装置包括：光纤激光器组件、传输光纤、扩束准直组件以及F‑θ镜；所述光纤激光器组件通过所述传输光纤将激光束传入所述扩束准直组件；所述扩束准直组件依据所述F‑θ镜与农作物顶芽之间的距离调整所述激光束的发散角、腰斑半径及腰斑位置，使所述激光束经过F‑θ镜后聚焦到所需去除的农作物顶芽所在的区域去除农作物顶芽。本发明的农作物顶端优势去除装置及方法，通过高能量的激光进行精准切割，不会对切割区域外的农作物植株造成损伤，精准控制激光的作用范围和强度，提高了打顶效率，保护农作物等植株，增加农作物的产量和品质。
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公开(公告)号：CN114252239A
公开(公告)日：2022-03-29
申请号：CN202011023204.9
申请日：2020-09-25
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明提供了一种多光谱复合光电探测设备光轴校准装置，包括复合光源、靶标、准直光学系统，复合光源采用积分球构型，用于输出宽光谱范围的复合光束；靶标固定在所述准直光学系统的焦平面位置处，靶标中心开设圆孔，且圆孔中心位于准直光学系统的零像差点上；准直光学系统用于复合光束的反射、准直及出射。本发明可以实现红外探测器光轴、可见光探测器光轴、激光发射/接收光轴的一致性调试与测量，解决多光谱复合探测光电传感器实验室内快速、高精度光轴一致性校准的问题，特别适用于光学导引头、光电侦查吊舱等多光轴高精度校准。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN110017900B
公开(公告)日：2021-01-08
申请号：CN201810017158.8
申请日：2018-01-09
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
Abstract: 本发明提供了一种高低温红外成像系统检测装置，高低温红外成像系统检测装置包括平台支撑组件、目标黑体组件、背景黑体组件、靶标组件、高低温光学组件、第一消热差机构和第二消热差机构，目标黑体组件、背景黑体组件和靶标组件均可拆卸地设置在平台支撑组件上，目标黑体组件所产生的目标红外辐射和背景黑体组件所产生的背景红外辐射均通过靶标组件进入高低温光学组件以形成带有背景的红外目标，第一消热差机构用于保证靶标组件和次镜单元之间的距离不变，第二消热差机构用于保证次镜单元和主镜单元之间的距离不变。应用本发明的技术方案，以解决现有技术中红外成像系统检测装置无法实现深空背景、复杂背景、宽温范围下的目标仿真测试的技术问题。
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公开(公告)号：CN110501023A
公开(公告)日：2019-11-26
申请号：CN201810464935.3
申请日：2018-05-16
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01C25/00
Abstract: 本发明提供了一种用于星敏感器的量子效率标定装置，该装置包括：激光器、光阑、起偏器、半波片、非线性晶体、待标定星敏感器、标准星敏感器、第一滤光片、第二滤光片、杂光陷阱、符合计数模块和数据处理及分析模块，非线性晶体在偏振状态调整后的激光的作用下产生纠缠光子对，纠缠光子对的一个光子经过第一滤光片进入待标定星敏感器，纠缠光子对的另一个光子经过第二滤光片进入标准星敏感器，符合计数模块用于对待标定星敏感器和标准星敏感器进行符合计数，数据处理及分析模块用于根据符合计数结果完成待标定星敏感器的量子效率标定。应用本发明的技术方案，以解决现有技术中星敏感器在极弱星光照度条件下的量子效率无法标定的技术问题。
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公开(公告)号：CN107655833A
公开(公告)日：2018-02-02
申请号：CN201710853728.2
申请日：2017-09-20
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
Abstract: 本发明涉及一种低导热率非导体材料高温半球发射率测量方法与系统。该方法利用材料常温、高温、法向、半球发射率的关系，通过测量常温半球发射率、常温法向发射率及高温法向发射率，导出材料高温半球发射率。测量系统包括常温半球发射率测量装置、常温法向发射率测量装置及高温法向发射率测量装置。本发明通过间接测量的方式，得出高温半球发射率，实现了低导热率非导体材料高温半球发射率测量途径，测量过程科学，结果准确可靠。
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公开(公告)号：CN106767160A
公开(公告)日：2017-05-31
申请号：CN201611068607.9
申请日：2016-11-29
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: F41G3/32
CPC classification number: F41G3/32
Abstract: 本发明涉及一种射频/光学波束合成器，包括由基板和镀层组成的方形单元结构，基板采用光学材料，基板正面镀有镀层，镀层采用高反射率金属，镀层上有周期性重复的镂空图形。上述波束合成器在光学材料表面镀制FSS平面，保证表面质量、确保光学信号的高反射率，同时可以使射频信号由FSS表面透射，避免偏振态的改变。
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公开(公告)号：CN106679826A
公开(公告)日：2017-05-17
申请号：CN201510760903.4
申请日：2015-11-10
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01J5/20
Abstract: 本发明提供一种微型成像式红外温度场测量系统，包括：红外成像模块，用于收集被测目标的红外辐射；N个辐射匀化单元，用于将所述红外辐射进行匀化处理，其中N为大于等于2的整数；与所述N个辐射匀化单元对应的N个单波长滤光单元，每个单波长滤光单元包括M个滤光片，用于分别获取不同波长的红外辐射，其中M为波长数量；红外探测器，用于检测不同波长的红外辐射并输出测量信号；将多波长辐射测温理论应用到微型成像式红外温度场测量系统，解决了目前微型成像式红外温度场测量系统抗干扰能力低、测量精度差的问题。
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