-
公开(公告)号：KR101691092B1
公开(公告)日：2016-12-30
申请号：KR1020100083044
申请日：2010-08-26
Applicant: 삼성전자주식회사
CPC classification number: G11C16/3445 , G11C16/0483 , G11C16/06 , G11C16/16 , H01L29/792
Abstract: 본발명은기판및 기판과교차하는방향으로적층된복수의메모리셀들을포함하는불휘발성메모리장치의동작방법에관한것이다. 본발명의동작방법은복수의스트링선택라인들에대응하는복수의메모리셀들을소거하는단계, 그리고소거된복수의메모리셀들을각 스트링선택라인의단위로소거검증하는단계로구성된다.
Abstract translation: 操作非易失性存储器件的方法包括对与多个串选择线（SSL）相关联的存储器单元执行擦除操作，与构成存储块的多个SSL相关联的存储器单元，以及将擦除操作 在对与第一SSL相关联的第一存储器单元进行擦除操作之后，与第二SSL相关联的第二存储器单元。
-
公开(公告)号：KR1020130007932A
公开(公告)日：2013-01-21
申请号：KR1020110068607
申请日：2011-07-11
Applicant: 삼성전자주식회사
CPC classification number: G11C16/3459 , G11C11/5628 , G11C16/0483 , G11C16/34 , G11C16/10
Abstract: PURPOSE: A nonvolatile memory device, an operating method thereof, and an electronic device including the same are provided to control a program verification operation according to a noise level of a common source line. CONSTITUTION: A plurality of additional offsets(2) are stored in a plurality of nonvolatile memory cells. One among the additional offsets is selected by corresponding to a CSL noise level(1) of the programmed memory cell. The selected additional offset is reflected in a two step verification voltage. The programmed memory cell is verified with a verification voltage.
Abstract translation: 目的：提供一种非易失性存储装置及其操作方法以及包括该非易失性存储装置的电子设备，以根据公共源极线的噪声电平来控制程序验证操作。 构成：多个附加偏移（2）存储在多个非易失性存储单元中。 通过对应于编程的存储器单元的CSL噪声电平（1）来选择附加偏移中的一个。 所选的附加偏移量反映在两步验证电压中。 使用验证电压验证编程的存储单元。
-
公开(公告)号：KR1020100101896A
公开(公告)日：2010-09-20
申请号：KR1020090020329
申请日：2009-03-10
Applicant: 삼성전자주식회사
CPC classification number: G11C16/0483 , G11C11/5642 , G11C16/24 , G11C16/26 , G11C16/3418 , G11C16/30
Abstract: PURPOSE: A non-volatile memory device and a reading method thereof are provided to improve the reading speed and the data reliability by implementing selective bit line precharge and sensing in reference to the state information of near cells during reading operation. CONSTITUTION: An array(110) comprises memory cells connected to the bit line and the word line. A row decoder(120) selects the word line in response to the row address. The row decoder transfers all kinds of the word line voltages supplied from a VCC generator(160) to the selected word lines. A page buffer(130) operates as a write driver or a sense amplifier according to the operation mode.
Abstract translation: 目的：提供一种非易失性存储器件及其读取方法，通过在读取操作期间参考近端单元的状态信息实现选择性位线预充电和感测来提高读取速度和数据可靠性。 构成：阵列（110）包括连接到位线和字线的存储单元。 行解码器（120）响应于行地址选择字线。 行解码器将从VCC发生器（160）提供的各种字线电压传送到所选择的字线。 页面缓冲器（130）根据操作模式作为写入驱动器或读出放大器工作。
-
公开(公告)号：KR1020100011751A
公开(公告)日：2010-02-03
申请号：KR1020080073092
申请日：2008-07-25
Applicant: 삼성전자주식회사
CPC classification number: G11C29/08 , G11C16/04 , G11C2029/0401 , G11C2029/0405 , G11C2029/0409
Abstract: PURPOSE: A test system and a method thereof are provided to rapidly detect a fault on data path by comparing an output data and a test pattern data. CONSTITUTION: A memory device(110) includes a data I/O part. The data I/O part(112) is connected to a data entry path and a data read path. The data entry path is necessary for writing a data in a memory cell array(111). The data read path is necessary for reading a data saved in the memory cell array. A test apparatus(120) compares a output data and a test pattern data of the data I/O part. A test apparatus detects a fault on a data entry path or a data read path.
Abstract translation: 目的：提供一种测试系统及其方法，通过比较输出数据和测试模式数据来快速检测数据路径上的故障。 构成：存储装置（110）包括数据I / O部分。 数据I / O部分（112）连接到数据输入路径和数据读取路径。 数据输入路径对于将数据写入存储单元阵列（111）是必要的。 数据读取路径对于读取保存在存储单元阵列中的数据是必要的。 测试装置（120）比较数据I / O部分的输出数据和测试模式数据。 测试装置检测数据输入路径或数据读取路径上的故障。
-
公开(公告)号：KR2020090006203U
公开(公告)日：2009-06-23
申请号：KR2020070020331
申请日：2007-12-18
Applicant: 삼성전자주식회사
IPC: F04C18/356
CPC classification number: F04C18/356 , F04C23/008 , F04C29/12 , F04C2210/26 , F04C2240/40 , Y10S415/00 , Y10S417/902
Abstract: 본 고안은, 케이싱과, 케이싱에 수용되어 구동력을 발생하는 구동부와, 구동부에 연결되어 편심 회전되는 롤러를 갖는 압축기에 관한 것으로서, 롤러를 수용하는 압축실을 형성하며, 압축실로 가스가 흡입되는 흡입구 및 롤러에 의해 압축된 가스를 배출하는 토출구를 가진 압축부와; 압축실을 압축공간 및 흡입공간으로 구획하는 돌출위치와 압축부에 수용되는 수용위치 사이에서 왕복 이동하며, 토출구에 접근 및 이격하여 흡입공간의 가스를 토출구로 안내하는 베인윙을 갖는 베인을 포함하는 것을 특징으로 한다. 이에 의하여, 베인의 일단에 토출구의 형상에 대응하는 베인윙을 마련하여, 보다 많은 압축가스를 토출구로 안내할 수 있고, 이에 따라 압축실 내의 잔류가스를 감소시킬 수 있다.
또한, 베인의 일단에 절곡 연장된 베인윙을 마련함으로써, 롤러와의 접촉 또는 가스의 압력에 의해 베인이 파손되는 것을 방지하여 제품의 신뢰성을 향상시킬 수 있다.
압축부, 토출구, 베인, 베인윙-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：KR2020090000892U
公开(公告)日：2009-01-30
申请号：KR2020070012272
申请日：2007-07-24
Applicant: 삼성전자주식회사
IPC: F04C18/00
CPC classification number: F04C29/0021 , F04C18/356 , F04C23/008 , F04C2210/26 , F04C2240/40 , F04C2240/805 , F16B5/02 , Y10S415/00 , Y10S417/902
Abstract: 본 고안은 로터리압축기에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 압축실을 밀폐하기 위하여 실린더 상부 및 하부에 상부 플랜지와 하부 플랜지를 결합함에 있어 체결부재의 사용에 의해 발생될 수 있는 실린더의 변형이 최소화되도록 한 로터리압축기에 관한 것이다.
본 고안은, 압축실을 형성하는 내벽이 형성된 실린더와, 상기 실린더의 상부 및 하부에 각각 결합되는 상부 플랜지 및 하부 플랜지와, 상기 상부 플랜지, 실린더 및 하부플랜지에 각각 형성되며 암나사부가 형성된 제1,2,3체결공과, 상기 제1,2,3체결공에 결합되는 체결부재를 포함하는 로터리 압축기에 있어서,
상기 제2체결공에는 상기 암나사부가 형성되지 않은 길이방향의 완충홈이 형성된 것을 특징으로 한다.-
公开(公告)号：KR1020080058884A
公开(公告)日：2008-06-26
申请号：KR1020060133079
申请日：2006-12-22
Applicant: 삼성전자주식회사
CPC classification number: G11C16/10 , G11C16/3454 , G11C2216/14
Abstract: A non-volatile memory device capable of reducing data program and verify time and a driving method thereof are provided to reduce data program and verify time, by not performing unnecessary scanning operation or sensing operation. A memory cell array(100) includes a plurality of memory cells. An input/output buffer(120) includes a storing part to store data inputted from the outside and an indicator bit indicating information about the data. A data scanning part(130) receives data in scan unit comprising n words, from the input/output buffer, and scans data to be programmed in a memory cell among the scan-unit inputted data. A control logic(170) controls to output the scan-unit data stored in the input/output buffer to the data scanning part selectively, according to the state of the indicator bit.
Abstract translation: 提供能够减少数据程序和验证时间的非易失性存储器件及其驱动方法，以通过不执行不必要的扫描操作或感测操作来减少数据程序和验证时间。 存储单元阵列（100）包括多个存储单元。 输入/输出缓冲器（120）包括用于存储从外部输入的数据的存储部分和指示关于数据的信息的指示符位。 数据扫描部分（130）从输入/输出缓冲器接收包括n个字的扫描单元的数据，并扫描单元输入数据中的存储单元中要编程的数据。 根据指示器位的状态，控制逻辑（170）控制有选择地将存储在输入/输出缓冲器中的扫描单元数据输出到数据扫描部分。
-
公开(公告)号：KR100811162B1
公开(公告)日：2008-03-07
申请号：KR1020060112936
申请日：2006-11-15
Applicant: 삼성전자주식회사
IPC: H04B1/06
CPC classification number: H03G3/3036
Abstract: A communication apparatus and a low noise amplifying method are provided to support various frequency bands defined in plural radio standards and generate load impedance without resistance, thereby reducing manufacturing costs and product sizes. A gain controller(143) performs gain controls for an inputted signal. A synthesizing unit(147) generates an output signal by using the signal where the gain control is performed by the gain controller. A feedback unit(149) feeds back a feedback signal, generated by using the output signal generated in the synthesizing unit, to an input terminal. An input matching unit(141) generates input impedance by using the feedback signal. The feedback unit feeds back the feedback signal to the input matching unit. An output matching unit(145) generates load impedance by using a resistance value, an inductor value and a capacitor value in a parallel RLC circuit.
Abstract translation: 提供一种通信装置和低噪声放大方法来支持多个无线电标准中定义的各种频带，并且产生无阻力的负载阻抗，从而降低制造成本和产品尺寸。 增益控制器（143）对输入的信号进行增益控制。 合成单元（147）通过使用由增益控制器执行增益控制的信号来产生输出信号。 反馈单元（149）将通过使用在合成单元中生成的输出信号生成的反馈信号反馈到输入端。 输入匹配单元（141）通过使用反馈信号来产生输入阻抗。 反馈单元将反馈信号反馈到输入匹配单元。 输出匹配单元（145）通过使用并联RLC电路中的电阻值，电感值和电容器值来产生负载阻抗。
-
公开(公告)号：KR100807218B1
公开(公告)日：2008-02-28
申请号：KR1020070011176
申请日：2007-02-02
Applicant: 삼성전자주식회사
IPC: H01L21/66
CPC classification number: G01N21/956 , G01J5/0003 , G01N21/55
Abstract: An apparatus for inspecting a wafer is provided to detect defects existing in a pattern formed on a wafer by irradiating a laser beam to a wafer and by analyzing a thermal signal generated by the irradiation of the laser beam. A light source(110) irradiate light(115) to a wafer(10). A detection part(120) detects radiation light emitted from the wafer by the irradiation of light to generate a signal. A signal analyzing part(130) analyzes the signal of the detection part to determine whether a defect exists in the wafer. The light can be irradiated to conductive patterns formed on the wafer and a bridge(30) remaining between the conductive patterns.
Abstract translation: 提供了一种用于检查晶片的装置，用于通过向晶片照射激光并通过分析由激光束的照射产生的热信号来检测存在于晶片上形成的图案中的缺陷。 光源（110）将光（115）照射到晶片（10）。 检测部件（120）通过照射光来检测从晶片发射的辐射光，以产生信号。 信号分析部分（130）分析检测部分的信号，以确定晶片中是否存在缺陷。 可以将光照射到形成在晶片上的导电图案和残留在导电图案之间的桥（30）。
-
公开(公告)号：KR100802017B1
公开(公告)日：2008-02-12
申请号：KR1020050026140
申请日：2005-03-29
Applicant: 삼성전자주식회사
IPC: F04C29/00 , F04C18/356
CPC classification number: F04C28/04 , F04C18/3564 , F04C23/001 , F04C29/0057
Abstract: 클러치핀이 회전축에 견고하게 고정될 수 있게 한 용량가변 회전압축기가 개시된다. 이 용량가변 회전압축기는 서로 다른 내용적을 가진 제 1 및 제 2 압축실, 회전축, 회전축의 외주면에 배치되는 제 1 및 제 2 편심부시, 두 편심부시 사이에 마련된 슬롯, 회전축에 반경방향으로 형성된 클러치홀에 결합되는 클러치핀, 회전축에 원주방향으로 형성되어 클러치홀과 연통되는 고정홀을 통해 클러치핀의 측면에 결합되는 고정핀을 구비한다. 클러치핀의 후단부에는 일정폭을 가진 그루브가 형성되어서 고정핀의 후단부가 회전축의 내부에서 그루브에 끼워져서 결합되게 된다.
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
70
records
(took 0.035 seconds)
