公开(公告)号：DE102013004561A1

公开(公告)日：2014-09-18

申请号：DE102013004561

申请日：2013-03-15

Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG

Inventor： HAMMERSCHMIDT DIRK

IPC: G01L1/18 ,  G01B7/14 ,  G01L1/14 ,  G01R31/00

Abstract: Eine Vorrichtung 100 zum Erkennen einer Krafteinwirkung umfasst zwei voneinander beabstandet verlaufende elektrische Leiter 110, einen zwischen den beiden elektrischen Leitern 110 angeordneten, verformbaren Abstandhalter 120, eine mit jeweils einem Ende der beiden elektrischen Leiter 110 elektrisch verbundene erste Messeinrichtung 130 und ein mit dem jeweils anderen Ende der beiden elektrischen Leiter 110 elektrisch verbundenes elektrisches Bauteil 140. Die erste Messeinrichtung 130 ist ausgelegt, um eine Veränderung einer durch die Messeinrichtung 130 messbaren Größe, die durch eine von einer Krafteinwirkung verursachte Veränderung des Abstands zwischen den beiden elektrischen Leitern 110 an zumindest einer Stelle entlang der beiden elektrischen Leiter 110 verursacht ist, zu detektieren, um die Krafteinwirkung zu erkennen.

公开(公告)号：DE102014102860A1

公开(公告)日：2014-09-11

申请号：DE102014102860

申请日：2014-03-04

Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG

Inventor： HAMMERSCHMIDT DIRK

IPC: G05F1/59

Abstract: Gemäß einer Ausführungsform beinhaltet ein Verfahren zum Regeln eines Leistungsversorgungsknotens das Messen einer Spannung des Leistungsversorgungsknotens, das Bestimmen eines ersten Stroms auf Basis des Messens, das Bestimmen eines ersten Stroms und eines zweiten Stroms auf Basis des Messens und das Summieren des ersten Stroms und des zweiten Stroms am Leistungsversorgungsknoten. Das Bestimmen des ersten Stroms beinhaltet das Betreiben eines ersten Reglers, der eine erste Bandbreite aufweist, und das Bestimmen des zweiten Stroms beinhaltet das Betreiben eines zweiten Reglers, der eine zweite Bandbreite aufweist, die größer als die erste Bandbreite ist.

公开(公告)号：DE102014100994A1

公开(公告)日：2014-07-31

申请号：DE102014100994

申请日：2014-01-28

Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG

Inventor： HAMMERSCHMIDT DIRK

IPC: G08C19/16 ,  G08C19/18 ,  G08C19/20 ,  G08C19/22

Abstract: Ein Signalgenerator weist eine Signalquelle und eine Signalverarbeitungseinheit auf. Die Signalquelle ist so konfiguriert, dass sie ein Sensorsignal bereitstellt, welches ein wiederholt detektiertes Ereignis anzeigt, das innerhalb unterschiedlicher Zeitintervalle eintritt. Die Signalverarbeitungseinheit ist so konfiguriert, dass sie ein Übertragungssignal basierend auf dem Sensorsignal erzeugt. Das Übertragungssignal weist Ereignisinformationen, die das zeitliche Eintreten des Ereignisses darstellen, und zusätzliche Informationen, die zusätzliche Daten darstellen, auf. Die Ereignisinformationen weisen Impulse oder Signalflanken im Zusammenhang mit den detektierten Ereignissen auf, wobei die Impulse oder Signalflanken zeitlich innerhalb des Übertragungssignals in Übereinstimmung mit den unterschiedlichen Zeitintervallen detektierter Ereignisse getrennt sind, sodass jedes Zeitintervall der unterschiedlichen Zeitintervalle einen Impuls oder eine Signalflanke im Zusammenhang mit einem detektierten Ereignis aufweist. Des Weiteren weisen die zusätzlichen Daten zumindest einen Rahmen auf, der eine vorbestimmte Anzahl an zusätzlichen Datenbits aufweist. Die Informationen der zusätzlichen Datenbits des zumindest einen Rahmens sind über zumindest zwei Zeitintervalle der unterschiedlichen Zeitintervalle verteilt.

公开(公告)号：DE102013109681A1

公开(公告)日：2014-04-03

申请号：DE102013109681

申请日：2013-09-05

Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG

Inventor： HAMMERSCHMIDT DIRK

IPC: H04L25/02

Abstract: Ausführungsbeispiele beziehen sich auf ein Sensorschnittstellenmodul (302), welches ein Linearisierungsmodul (316) aufweist, das die Größe eines linearen Bereichs eines von einer hochpegelseitigen Stromquelle (312a) ausgegebenen Stroms vergrößert. Das Sensorschnittstellenmodul (302) weist eine Referenzspannungsquelle (208) auf, welche eingerichtet ist, ein Referenzsignal (Vref) zu erzeugen. Eine Ausgangstreiberstufe (312) mit der hochpegelseitigen Stromquelle (312a) und einer zu dieser in Reihe an einem Ausgangsknoten des Sensorschnittstellenmoduls (302) geschaltete niederpegelseitige Stromquelle (312b) ist bereitgestellt. Eine geschlossene Regelschleife (310) ist eingerichtet, das Referenzsignal (Vref) zu empfangen und ein digitales Steuersignal (S1) zu erzeugen, welches die hochpegelseitige Stromquelle (312a) treibt. Ein Linearisierungsmodul (316) ist eingerichtet, die niederpegelseitige Stromquelle (312b) zu betreiben, um eine Nichtlinearität der hochpegelseitigen Stromquelle (312) zu approximieren und die approximierte Nichtlinearität zu benutzen, eine Kompensationsfunktion (Scomp) zu erzeugen, welche Nichtlinearitäten der hochpegelseitigen Stromquelle (312a) abmildert.

公开(公告)号：DE102011077926B4

公开(公告)日：2013-02-21

申请号：DE102011077926

申请日：2011-06-21

Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG

Inventor： GRANIG WOLFGANG ,  HAMMERSCHMIDT DIRK ,  MOTZ MARIO

IPC: G01D5/12 ,  G01D5/16 ,  G01D5/24 ,  G01R27/00 ,  G01R27/26

Abstract: Die offenbarte Erfindung liefert eine Struktur und ein Verfahren zum problemlosen Messen von kapazitiven und/oder ohmschen Komponenten eines Sensorsystems. Bei einem Ausführungsbeispiel weist die Struktur einen Signalgenerator auf, der dazu konfiguriert ist, einen Laststrom an ein Messelement auszugeben, das Messsensorelemente und eine parasitäre Kapazität enthält. Über eine Integration des Laststroms an der parasitären Kapazität wird eine steuerbare Anregungsspannung erzeugt und an die Messsensorelemente, die kapazitive und ohmsche Komponenten aufweisen, ausgegeben. Die gesteuerte Spannung durch die Messvorrichtung kann dahin gehend manipuliert werden, zu bewirken, dass die kapazitiven und ohmschen Komponenten einen Transienteneffekt aufweisen. Der resultierende Ausgangsstrom, der aus der Messvorrichtung bereitgestellt wird, weist somit Transientenansprechcharakteristika (z. B. die Einschwingzeit, Amplitude) auf, die seitens einer Messschaltung selektiv gemessen werden können, um ohne weiteres Werte der kapazitiven und ohmschen Messelemente zu ermitteln. Ferner können zweckgebundene Demodulationstechniken dazu verwendet werden, die kapazitiven und ohmschen Komponenten zu messen.

公开(公告)号：DE102009035156B4

公开(公告)日：2012-06-28

申请号：DE102009035156

申请日：2009-07-29

Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG

Inventor： HAMMERSCHMIDT DIRK ,  KLUG THOMAS

IPC: G01D5/24 ,  G01B7/14

Abstract: System (20; 100; 200), das folgende Merkmale aufweist: eine erste Elektrode (28; 134; 202); eine zweite Elektrode (30; 136; 204), die mit der ersten Elektrode (28; 134; 202) kapazitiv gekoppelt ist; eine erste Schaltung (24; 102; 206), die konfiguriert ist, um Daten über ein Netzwerk zu empfangen und ein Signal über die erste Elektrode (28; 134; 202) zu senden, wobei die erste Schaltung (24; 102; 206) konfiguriert ist, um basierend auf den Daten zu senden; und eine zweite Schaltung (26; 104; 208), die konfiguriert ist, um die Daten über das Netzwerk zu empfangen und einen Strom, der dem Signal entspricht, über die zweite Elektrode (30; 136; 204) zu empfangen, wobei die zweite Schaltung (26; 104; 208) konfiguriert ist, um basierend auf den Daten zu empfangen, wobei das System ausgelegt ist, um die Kapazität zwischen der ersten Elektrode (28; 134; 202) und der zweiten Elektrode...

公开(公告)号：DE102005047413B8

公开(公告)日：2012-06-06

申请号：DE102005047413

申请日：2005-10-04

Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG

Inventor： TATSCHL DAVID ,  HAMMERSCHMIDT DIRK ,  ZIMMER JUERGEN

IPC: H01L43/08 ,  G01D21/00 ,  G01R31/26 ,  G01R33/09 ,  H01L21/66 ,  H01L43/12

公开(公告)号：DE102010001153A1

公开(公告)日：2010-09-02

申请号：DE102010001153

申请日：2010-01-22

Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG

Inventor： HAMMERSCHMIDT DIRK

IPC: G01L9/12 ,  B60C23/04 ,  G01L27/00

Abstract: Ein Halbleiterbauelement umfasst eine Membran, ein Erfassungselement und eine Schaltung. Das Erfassungselement ist konfiguriert, um die Ablenkung der Membran zu erfassen. Die Schaltung ist konfiguriert, um die Membran zu erwärmen, um eine Ablenkung der Membran zu induzieren.

公开(公告)号：DE102009055150A1

公开(公告)日：2010-09-02

申请号：DE102009055150

申请日：2009-12-22

Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG

Inventor： HAMMERSCHMIDT DIRK

IPC: G01L15/00 ,  G01D5/12 ,  G01D5/24 ,  G01D21/00 ,  G01L9/12 ,  G01L27/00

Abstract: Ein Halbleiterbauelement umfasst ein erstes Sensorelement in einem ersten Zweig einer Wheatstone-Brücke und ein zweites Sensorelement in einem zweiten Zweig der Wheatstone-Brücke. Das Halbleiterbauelement umfasst ein erstes Referenzelement in dem ersten Zweig und ein zweites Referenzelement in dem zweiten Zweig. Das Halbleiterbauelement umfasst eine Schaltung, die konfiguriert ist, um das erste Sensorelement zu dem zweiten Zweig und das zweite Sensorelement zu dem ersten Zweig zu schalten.

公开(公告)号：DE102010000683A1

公开(公告)日：2010-08-12

申请号：DE102010000683

申请日：2010-01-05

Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG

Inventor： HAMMERSCHMIDT DIRK

IPC: G01R15/20 ,  G01R33/09

Abstract: Ein System, das Magneterfassungselemente und eine Schaltung umfasst. Die Magneterfassungselemente sind konfiguriert, um ein Magnetfeld zu erfassen, das über einen Strom erzeugt wird, und um Signale zu liefern, die dem Magnetfeld entsprechen. Die Schaltung ist konfiguriert, um Kalibrierungswerte auf Basis der Signale zu bestimmen und den Strom auf Basis der Signale zu messen.