1.
    发明专利
    未知

    公开(公告)号:DE102004024398B4

    公开(公告)日:2008-05-15

    申请号:DE102004024398

    申请日:2004-05-17

    Abstract: A method for adjusting a determination rule for an error compensation of an angle sensor is designed to detect a first component of a direction along a first axis and a second component of a direction along a second axis, and to determine an angle of the direction according to the determination rule based on the first and second components. The method includes: detecting values of component pairs consisting of two predetermined components for the calculation of offset and/or amplitude and/or axis-angle errors. One variant consists of entering the component value pairs into an ellipse equation system, determining at least one ellipse coefficient from the ellipse equation system, and adjusting the determination rule depending on the one determined ellipse coefficient or the plurality of determined ellipse coefficients. A further variant is the determination of selected points, extremums or zero points for the determination of the offset and/or amplitude and/or axis-angle errors.

    2.
    发明专利
    未知

    公开(公告)号:DE102004024398A1

    公开(公告)日:2005-12-15

    申请号:DE102004024398

    申请日:2004-05-17

    Abstract: A method for adjusting a determination rule for an error compensation of an angle sensor is designed to detect a first component of a direction along a first axis and a second component of a direction along a second axis, and to determine an angle of the direction according to the determination rule based on the first and second components. The method includes: detecting values of component pairs consisting of two predetermined components for the calculation of offset and/or amplitude and/or axis-angle errors. One variant consists of entering the component value pairs into an ellipse equation system, determining at least one ellipse coefficient from the ellipse equation system, and adjusting the determination rule depending on the one determined ellipse coefficient or the plurality of determined ellipse coefficients. A further variant is the determination of selected points, extremums or zero points for the determination of the offset and/or amplitude and/or axis-angle errors.

    Magnetoresistives Sensorelement und Verfaheren zum Durchführen eines On-Wafer-Funktionstests, sowie Verfahren zur Herstellung von Magnetfeldsensorelementen und Verfahren zur Herstellung von Magnetfeldsensorelementen mit On-Wafer-Funktionstest

    公开(公告)号:DE102005047413B4

    公开(公告)日:2012-01-05

    申请号:DE102005047413

    申请日:2005-10-04

    Abstract: Verfahren zur Herstellung von Magnetfeldsensorelementen, mit folgenden Schritten: Bereitstellen eines Trägers; Aufbringen einer Metall-Isolator-Anordnung auf eine Hauptoberfläche des Trägers, wobei die Metall-Isolator-Anordnung eine Mehrzahl strukturierter Metalllagen mit einem umgebenden Isolationsmaterial aufweist, Anordnen einer Mehrzahl von dauerhaft magnetisierbaren Magnetfeldsensorstrukturen auf dem Isolationsmaterial der Metall-Isolator-Anordnung, wobei die dauerhaft magnetisierbaren Magnetfeldsensorstrukturen eine Magnetisierungsmindesttemperatur aufweisen, wobei die strukturierte Metalllage, die der Mehrzahl von dauerhaft magnetisierbaren Magnetfeldsensorstrukturen benachbart ist, einen Stromleiter (106) mit einer Mehrzahl von elektrisch miteinander verbundenen Stromleiterstrukturen (106a-c; 106a–d) aufweist, und wobei jeder dauerhaft magnetisierbaren Magnetfeldsensorstruktur eine der Stromleiterstrukturen zugeordnet ist; Erzeugen einer lokalen permanenten Magnetisierung in jeder Magnetfeldsensorstruktur durch Erwärmen der dauerhaft magnetisierbaren Magnetfeldsensorstrukturen auf einen Temperaturwert oberhalb der Magnetisierungsmindesttemperatur; und Erzeugen eines Magnetisierungssignals in dem Stromleiter, um eine definierte Magnetisierungsmagnetfeldkomponente in jeder der dauerhaft magnetisierbaren Sensorstrukturen zu bewirken, so dass sich eine dauerhafte, lokale Magnetisierung in jeder Magnetfeldsensorstruktur einstellt, und jedes Magnetfeldsensorelement mit den...

    Verfahren zur Bestimmung der Winkelposition eines rotierenden Objekts und Drehgeber

    公开(公告)号:DE102004046803B4

    公开(公告)日:2011-08-18

    申请号:DE102004046803

    申请日:2004-09-27

    Abstract: Verfahren zur Bestimmung der Winkelposition eines um eine Rotationsachse in einer Rotationsrichtung rotierenden Objekts (1), das ein Kodierungsmuster aufweist, unter Verwendung eines das Kodierungsmuster abtastenden Sensors (2), der durch von dem Kodierungsmuster bewirkte Intersymbolinterferenzen beeinflusst wird, mit folgenden Schritten: – Ermitteln der groben Winkelposition des rotierenden Objekts (1) in Bezug auf den Sensor (2) unter Berücksichtigung des Kodierungsmusters zu einem ersten Zeitpunkt, und – Ermitteln der exakten Winkelposition des rotierenden Objekts (1) in Bezug auf den Sensor (2) unter Berücksichtigung der grob ermittelten Winkelposition sowie unter Berücksichtigung der Intersymbolinterferenzen, die zumindest von einem Abschnitt des Kodierungsmusters zu erwarten sind, der sich ausgehend von der der groben Winkelposition zugeordneten Stelle des Kodierungsmusters entgegen der Rotationsrichtung erstreckt, und – Bereitstellen eines Ausgangssignals (SA), das Informationen über die exakte Winkelposition des rotierenden Objekts (1) in Bezug auf den Sensor (2) enthält.

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