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    31.
    发明专利
    未知

    公开(公告)号：DE10018255C2

    公开(公告)日：2003-08-28

    申请号：DE10018255

    申请日：2000-04-13

    Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

    Inventor： GANSER MICHAEL ,  WEIS ALBRECHT ,  STENZEL RUEDIGER

    IPC: G01N1/06 ,  B23K26/00 ,  B23K26/066 ,  G01N1/04 ,  G01N1/28 ,  G02B21/32 ,  G01N33/48 ,  G02B21/00

    Abstract: The invention relates to a method and a device for laser cutting microscopic samples. The device for laser cutting microscopic samples comprises a microscope (1) having at least one lens (6) for observing a sample (12) that is to be cut The lens (6) defines an optical axis (14) and a lens aperture (34). A laser (4) is also connected to the microscope (1). The laser (4) generates a laser beam (41) that is injected into the lens (6) by means of at least one optical system (16). A diaphragm (18) is provided, which generates a dimmed laser beam (4b), whereby the laser aperture (36) generated by the lens (6) is smaller than the lens aperture (34) of the lens (6) itself.

    34.
    发明专利
    未知

    公开(公告)号：DE19845603C2

    公开(公告)日：2000-08-17

    申请号：DE19845603

    申请日：1998-10-05

    Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

    Inventor： WEIS ALBRECHT ,  GANSER MICHAEL ,  RUEHL ERNST ,  GILBERT MANFRED

    IPC: G02B21/06 ,  G02B21/08

    Abstract: An illumination system (1) for a microscope, in which a first light source (2), a collector lens (3), an aperture diaphragm (4), and a condenser lens ((5) are arranged in the illumination beam path (6), is described. The illumination light is directed through the aperture diaphragm (4) via the condenser lens (5) into the object plane (9). Arranged in the illumination beam path (6) on the optical axis (20) is a second light source (8) that is imaged at infinity by the condenser lens (5).

    Mikroskopbeleuchtungsverfahren und Mikroskop
    35.
    发明专利
    Mikroskopbeleuchtungsverfahren und Mikroskop 未知

    公开(公告)号：DE102011079941A1

    公开(公告)日：2013-01-31

    申请号：DE102011079941

    申请日：2011-07-27

    Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

    Inventor： WEIS ALBRECHT ,  GANSER MICHAEL

    IPC: G02B21/06

    Abstract: Die Erfindung betrifft ein Mikroskopbeleuchtungsverfahren, ein Mikroskopbeleuchtungsset mit einer Weißlicht-LED (4) und einem Anpassungsfilter (6) sowie ein entsprechendes Mikroskopsystem (1) zur Untersuchung einer Probe (10) abwechselnd oder gleichzeitig in Durchlicht-Hellfeldbeleuchtung und Auflicht-Fluoreszenzbeleuchtung, wobei für die Durchlicht-Hellfeldbeleuchtung eine Weißlicht-LED (4) verwendet wird und sowohl bei Durchlicht-Hellfeldbeleuchtung als auch bei Auflicht-Fluoreszenzbeleuchtung ein Anpassungsfilter (6) an einem Ort des Beleuchtungsstrahlengangs der Durchlicht-Hellfeldbeleuchtung eingeschaltet wird, wobei das Anpassungsfilter (6) einen spektralen Transmissionsverlauf aufweist, der im Wellenlängenbereich zumindest eines Maximums des Spektrums der Weißlicht-LED (4) ein Minimum besitzt.

    Einrichtung zum Positionieren von optischen Komponenten in einem optischen Gerät
    36.
    发明专利
    Einrichtung zum Positionieren von optischen Komponenten in einem optischen Gerät 未知

    公开(公告)号：DE102009035365B3

    公开(公告)日：2011-03-17

    申请号：DE102009035365

    申请日：2009-07-30

    Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

    Inventor： GANSER MICHAEL ,  WEIS ALBRECHT

    IPC: G02B7/00 ,  G02B7/16 ,  G02B21/24

    Abstract: Beschrieben ist eine Einrichtung (40) zum Positionieren von optischen Komponenten (46, 48, 50, 52) in einem optischen Gerät (10), umfassend eine Haltevorrichtung (42), an der die optischen Komponenten (46, 48, 50, 52) gehalten sind und die in mehrere vorbestimmte Drehstellungen drehbar ist, in denen jeweils eine der optischen Komponenten (46, 48, 50, 52) in einer Zielposition angeordnet ist, einen Motor (70) mit einer Motorwelle (72) zum Drehen der Haltevorrichtung (42), und einen Übertragungsmechanismus zum Übertragen der Drehbewegung der Motorwelle (72) in eine Drehbewegung der Haltevorrichtung (42). Der Übertragungsmechanismus umfasst einen Zahnriemen (90), der mit einer an der Haltevorrichtung (42) angeordneten ersten Zahnung (80) und einer an der Motorwelle (72) angeordneten zweiten Zahnung (76) in Eingriff steht.

    37.
    发明专利
    未知

    公开(公告)号：DE60040960D1

    公开(公告)日：2009-01-15

    申请号：DE60040960

    申请日：2000-10-17

    Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

    Inventor： GANSER MICHAEL ,  WEISS ALBRECHT

    IPC: G01B11/06

    Abstract: A method and an apparatus for thickness measurement on transparent films is described. An illumination beam (4) is directed through an objective (5) onto an object (1) having a transparent film (2). A structured focusing aid (9) is arranged in the illumination beam (4), and a camera (13) in an imaging beam (12), each in locations conjugated with the focal plane (8) of the objective (5). The focal plane (8) of the objective (5) is displaced stepwise through the object (9). At each position, a camera image is recorded and its focus score is determined, the image of the focusing aid (9) being used as the sharpness indicator. The positions with maximal focus scores are assigned to the locations of the interfaces. The thickness of the transparent film (2) is calculated from the difference between the positions of its interfaces.

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